电阻器抗辐照能力无损筛选方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种电阻器抗辐照能力无损筛选方法及装置，方法包括：获取作为随机子样的电阻器辐照前的电阻值和1/f噪声电压功率谱幅值；获取作为随机子样的电阻器经过辐照后的电阻值；基于辐照前的电阻器的电阻值和经过辐照后的电阻器的电阻值，计算辐照前后的电阻值漂移量；以1/f噪声电压功率谱幅值作为信息参数，以电阻值漂移量作为辐照性能参数，建立多元线性回归方程，并计算线性回归方程中的系数向量；基于系数向量，建立信息参数和辐照性能参数之间的无损筛选回归预测方程；利用所述无损筛选回归预测方程，对同批其他电阻器器件进行筛选。本发明专利技术能够实现在对电阻器无损坏的前提下，进行对元器件准确、高效的抗辐照能力的测试筛选。

Nondestructive screening method and device for resistance to radiation of resistor

The invention provides a resistor anti radiation ability of nondestructive screening method and device. The method comprises the following steps: acquiring as random sample before irradiation resistor resistance value and 1/f noise voltage power spectrum amplitude; random sample after obtaining as a resistor resistance value after irradiation; based on the resistance value of the resistor before irradiation and after resistance resistor after irradiation, the value of the calculation of resistance value before and after irradiation with 1/f drift; noise voltage power spectrum amplitude information as parameters, the resistance value to drift as the irradiation parameters, establish multiple linear regression equation, and calculate the linear regression coefficient vector equation; based on the coefficient vector regression equation is established between the non destructive screening information the parameters and performance parameters of irradiation; nondestructive screening of regression equation using the same batch of other devices for screen resistors Selected. The invention can realize the test and screening of the accurate and high efficiency of the radiation resistance of the component under the condition that the resistor is not damaged.

【技术实现步骤摘要】
电阻器抗辐照能力无损筛选方法及装置
本专利技术涉及电子电器
，具体而言，涉及一种电阻器抗辐照能力无损筛选方法及装置。
技术介绍
对应用于太空环境的电阻器，往往要受到太空环境的各种辐射干扰，包括空间辐射、电磁辐射和α粒子辐射，并且由于空间设备在太空中处于无法维修状态，要求其电子元器件具备寿命长的特点；因此对于空间设备所用电子元器件的可靠性要求远比在其它电子系统中的要求更为苛刻，由于上述原因，必须在上机前或者发射前对航天用电阻器的抗辐射能力进行有效的检测、评价和筛选。现有技术中，对航天用电阻器的抗辐照能力的测试和筛选的方式主要有两种，包括：“辐照-退火”方法和多元回归分析法；其中，辐照-退火筛选方法都采用美军标MIL-STD-883D给出的具体的实验方法，具体过程如图1所示，首先对待筛选器件进行额定剂量的辐照；然后选择一种或者几种灵敏电参数，在两小时内完成测量，筛选掉不符合要求的器件；接着进行50％额定剂量的辐照；接着加压退火后再次进行电测试；最后筛选出合适的器件。这种方法具有检测成本高、检测时间长和具有一定的破坏性的缺陷；并且由于采用大剂量率试验来等效空间低剂量率辐照环境的方法，模拟结果往往不准确。现有技术中的多元回归分析方法的技术难点是如何选择敏感的信息参数，既可以实现辐照前的抗辐照能力预测，又与器件的微观损伤紧密联系，通常的做法是选用辐照前电阻值漂移作为信息参数，辐照后的电阻值漂移作为辐照性能参数，此种方法忽视了噪声幅值B的变化直接反映器件中的缺陷状态的这一特征，导致回归预测方程不够准确，最终影响电阻器的筛选的准确性和可靠性。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术实施例的目的在于提供一种电阻器抗辐照能力无损筛选方法及装置，以解决上述问题。第一方面，本专利技术实施例提供了一种电阻器抗辐照能力无损筛选方法，包括：获取作为随机子样的电阻器辐照前的电阻值和1/f噪声电压功率谱幅值；获取所述作为随机子样的电阻器经过辐照后的电阻值；基于辐照前的电阻器的电阻值和经过辐照后的电阻器的电阻值，计算辐照前后的电阻值漂移量；对数据进行预处理，以所述1/f噪声电压功率谱幅值作为信息参数，以所述电阻值漂移量作为辐照性能参数，建立多元线性回归方程，并计算线性回归方程中的系数向量；基于所述系数向量，建立所述信息参数和辐照性能参数之间的无损筛选回归预测方程；利用所述无损筛选回归预测方程，预测单个电阻器件的抗辐照性能，对同批其他电阻器器件进行筛选。结合第一方面，本专利技术实施例提供了第一方面的第一种可能的实施方式，其中：所述获取随机子样电阻器的1/f噪声电压功率谱幅值包括：设置电阻器两端的偏置电流；在电阻器输出端引出噪声信号；对所述噪声信号进行前置放大，得到前置放大信号；采集所述前置放大信号，计算得到1/f噪声电压功率谱幅值。结合第一方面，本专利技术实施例提供了第一方面的第二种可能的实施方式，其中：所述利用所述无损筛选回归预测方程，测试单个电阻器的抗辐照性能，对同批电阻器进行筛选，包括：获取待筛选电阻器的电阻值和低频噪声幅值；基于所述电阻值和低频噪声幅值，利用所述回归预测方程，得到此电阻器的电阻值漂移量预测值；将所述电阻值漂移量预测值和此批电阻器的电阻漂移容限进行比较，如果所述预测值在此类电阻器的电阻值漂移容限之内，则认为此电阻器为合格产品；反之，如果所述预测值不在此类电阻器的电阻值漂移容限之内，则认为此电阻器为不合格产品。第二方面，本专利技术实施例提供了一种电阻器抗辐照能力无损筛选装置，包括：第一获取单元，用于获取作为随机子样的电阻器辐照前的电阻值和1/f噪声电压功率谱幅值；第二获取单元，用于获取所述作为随机子样的电阻器经过辐照后的电阻值；计算单元，用于基于辐照前的电阻器的电阻值和经过辐照后的电阻器的电阻值，计算辐照前后的电阻值漂移量；线性回归方程建立单元，对数据进行预处理，以所述1/f噪声电压功率谱幅值作为信息参数，以所述电阻值漂移量作为辐照性能参数，建立多元线性回归方程，并计算线性回归方程中的系数向量；无损筛选回归预测方程建立单元，用于基于所述系数向量，建立所述信息参数、1/f噪声电压功率谱幅值和辐照性能参数之间的无损筛选回归预测方程；测试单元，用于预测单个电阻器件的抗辐照性能，对同批其他电阻器器件进行筛选。本专利技术实施例所提供的方法以及装置，能够实现在对电阻器无损坏的前提下，进行对电阻器抗辐照能力进行检验，进而实现准确、高效的筛选出抗辐照能力强的电阻器元器件。为使本专利技术的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本专利技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。图1示出了现有技术中“辐照-退火”方法流程示意图；图2示出了本专利技术实施例所提供的一种电阻器抗辐照能力无损筛选方法的方法流程示意图；图3示出了本专利技术实施例所提供的1/f噪声电压功率谱幅值B的测量系统的结构示意图；图4示出了本专利技术实施例所提供的一种电阻器抗辐照能力无损筛选装置的结构示意图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本专利技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本专利技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本专利技术的范围，而是仅仅表示本专利技术的选定实施例。基于本专利技术的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。对于应用于航天系统的电阻器件，从微观机制上分析可得的，电阻值的变化与其载流子数N和载流子迁移率的变化关系密切，噪声幅值B的变化直接反映器件中的缺陷状态。噪声幅值随辐照剂量的增加相应增大，表明随辐照剂量的增多，器件产生的缺陷增多即造成的损伤也就越严重。但是现有的电阻器筛选方法没有选取与器件缺陷变化关系密切的信息参数，这必然导致回归预测方程的不够精确，使筛选出来的器件中可能包含有具有缺陷的器件；基于此，本专利技术实施例所提供的方法能够在做到对电阻器无损伤的前提下，通过使用噪声幅值这一参数进行回归分析，提高了测试准确度，保证被筛选电阻器元器件的可靠性。下面通过具体实施例进行对本专利技术技术方案的详细介绍。如图1所示，本专利技术实施例提供了一种电阻器抗辐照能力无损筛选方法，包括如下步骤：S201、获取作为随机子样的电阻器辐照前的电阻值R和1/f噪声电压功率谱幅值B；进行上述步骤中之前，首先需从一批电阻器的抽样母体中按照简单随机抽样原则抽取n个随机子样，n大于等于20；测量这些随机子样电阻器的电阻值R和1/f噪声电压功率谱幅值B，并记录测试条件；上述获取随机子样电阻器的1/f噪声电压功率谱幅值B包括如下步骤：a、设置电阻器两端的偏置电压；b、在电阻器输出端引出噪声信号；c、对上述噪声信号进行前置放大，得到前置放大信号；d、采集所述的前置放大信号，计算得到1/f噪声电压功率谱幅值。S202、获取所述作为随机子样的电本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电阻器抗辐照能力无损筛选方法，其特征在于，包括：获取作为随机子样的电阻器辐照前的电阻值和1/f噪声电压功率谱幅值；获取所述作为随机子样的电阻器经过辐照后的电阻值；基于辐照前的电阻器的电阻值和经过辐照后的电阻器的电阻值，计算辐照前后的电阻值漂移量；对数据进行预处理，以所述1/f噪声电压功率谱幅值作为信息参数，以所述电阻值漂移量作为辐照性能参数，建立多元线性回归方程，并计算线性回归方程中的系数向量；基于所述系数向量，建立所述信息参数和辐照性能参数之间的无损筛选回归预测方程；利用所述无损筛选回归预测方程，预测单个电阻器件的抗辐照性能，对同批其他电阻器器件进行筛选。

【技术特征摘要】
1.一种电阻器抗辐照能力无损筛选方法，其特征在于，包括：获取作为随机子样的电阻器辐照前的电阻值和1/f噪声电压功率谱幅值；获取所述作为随机子样的电阻器经过辐照后的电阻值；基于辐照前的电阻器的电阻值和经过辐照后的电阻器的电阻值，计算辐照前后的电阻值漂移量；对数据进行预处理，以所述1/f噪声电压功率谱幅值作为信息参数，以所述电阻值漂移量作为辐照性能参数，建立多元线性回归方程，并计算线性回归方程中的系数向量；基于所述系数向量，建立所述信息参数和辐照性能参数之间的无损筛选回归预测方程；利用所述无损筛选回归预测方程，预测单个电阻器件的抗辐照性能，对同批其他电阻器器件进行筛选。2.根据权利要求1所述的一种电阻器抗辐照能力无损筛选方法，其特征在于，所述获取随机子样电阻器的1/f噪声电压功率谱幅值包括：设置电阻器两端的偏置电流；在电阻器输出端引出噪声信号；对所述噪声信号进行前置放大，得到前置放大信号；采集所述前置放大信号，计算得到1/f噪声电压功率谱幅值。3.根据权利要求1所述的一种电阻器抗辐照能力无损筛选方法，其特征在于，所述利用所述无损筛选回归预测方程，测试单个电阻器的抗辐照性能，对同批电阻器进行筛选，包括：获取待筛选...

【专利技术属性】
技术研发人员：石强，李兆成，
申请(专利权)人：深圳市量为科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44