传感器布置，测量装置和测量方法制造方法及图纸

用于压接连接的测量设备包括信号处理单元(150)、基于使用光辐射的测距传感器布置(100)以及使形成的压接连接(104)和测距传感器布置(100)相对于彼此移动的移动机构(102)。当测距传感器布置(100)与移动机构(102)相对于彼此移动时，测距传感器布置(100)测量测距传感器布置(100)与压接连接(104)之间的距离。信号处理单元(150)基于测量的距离生成表面轮廓数据，使用压接连接(104)的表面轮廓数据来确定压接连接(104)的质量，并且显示与压接连接(104)有关的数据。

Sensor arrangement, measuring device and measuring method

For the pressure measuring equipment connection includes a signal processing unit (150), the use of optical radiation based on distance sensor arrangement (100) and the formation of the crimp connection (104) and (100) relative to the distance sensor arrangement of moving mechanism to move each other (102). When the ranging sensor arrangement (100) moves with the moving mechanism (102) relative to each other, the ranging sensor arrangement (100) measures the distance between the distance sensor arrangement (100) and the crimp connection (104). The signal processing unit (150) generates distance measurement based on surface profile data, the use of pressure connection (104) surface profile data to determine the pressure connection (104) quality, and display and crimp connection (104) related data.

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】传感器布置，测量装置和测量方法
本专利技术涉及传感器布置，测量装置和测量方法。
技术介绍
压接连接器可以附接到电导体的端部。重要的是能够测量压接连接的质量，以便确保连接的导电性和机械强度以及足够均匀的质量等。通过使用机械测量工具手动测量连接的质量。例如，可以用游标卡尺或测微螺旋进行测量。在这种情况下，测量连接器的外部尺度以发现连接器是被过度、充分还是过小地压接。还可以确定连接器是否具有正确的形状。连接的质量也可以以破坏性方式测量。破坏性测量包括横截面测量和拉伸测量。在横截面测量中，连接器在横向方向上被物理切割成两半，从横截面或其图像测量尺度、形状和导体位置等。在拉伸测量中，将导体从连接中拉出并测量分离它所需的力。这表明，连接是否机械正常。机械测量缓慢且不精确，测量者影响结果。破坏性测量实际上破坏了连接，并且测量过的连接不再是可用的。当使用破坏性测量时，特别是未测量的连接将用于最终产品中，这意味着它们的质量不能通过测量来确保。因此，需要进一步开发导体的压接连接的测量。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种改进的方案。通过根据权利要求1所述的传感器布置来实现该方案。本专利技术还涉及根据权利要求6所述的用于压接连接的测量设备。本专利技术还涉及根据权利要求11所述的测量方法。本专利技术的优选实施例在从属权利要求中公开。根据本专利技术的仪器和方法提供了几个优点。压接连接可以在不用测量装置接触压接连接的情况下，手动或自动测量。此外，可以在不破坏用于测量的压接连接或者在测量期间不破坏压接连接的情况下测量压接连接。附图说明现在将结合优选实施例并参考附图更详细地描述本专利技术，其中：图1示出了传感器布置的示例；图2示出了测量导体的端部的示例；图3示出了测量未压接的压接连接器的示例；图4示出了同时进行两个压接连接的示例；图5A示出了两个导体之间的压接连接的示例；图5B示出了两个导体之间的压接连接的另一示例；图6示出了压接装置的示例；图7示出了压接连接的表面轮廓的示例；图8示出了压接之前的压接连接器和导体的示例；图9A示出了压接之后的压接连接器和导体的示例；图9B示出了压接连接的扫描测量的示例；以及图10示出了测量方法的模型流程图。具体实施方式以下实施例以示例的方式给出。尽管描述可能在不同点处指“一个”实施例或多个实施例，但是这并不一定意味着每个这样的参考是指相同的一个或多个实施例，或者该特征仅适用于一个实施例。不同实施例的各个特征也可以组合以使得其它实施例成为可能。图1示出了用于测量压接连接的传感器布置的示意性示例。传感器布置包括基于使用光辐射的测距传感器布置100和相对于测距传感器布置100移动由压接形成的压接连接104的移动机构102。在图1中，测距传感器布置100包括两个测距传感器100A和100B，但是通常可以存在一个或多个测距传感器。测距传感器100A可以是例如通常包括两个激光传感器的单个测量单元。测距传感器100B可以相应地为例如通常包括两个激光传感器的单个测量单元。压接连接104包括连接器160和至少一个导体162，每个导体也可以称为导线。至少一个导体162又可以包括一个或多个导线束。压接连接器162中的导体162的数量和布置可以自由地变化。连接器160可以由金属制成。一个或多个导体也可以由金属或一些其它导电材料制成。至少一个导体162的金属可以包括以下中的至少一种，例如：铜、银和金，但不限于这些。在本专利申请中，光辐射又指约10nm至500μm的电磁辐射波长范围。在一个实施例中，使用紫外光、可见光和/或红外光。在一个实施例中，使用可见光和/或近红外光。测距传感器布置100测量测距传感器布置100与压接连接104之间的距离。在一个实施例中，测距传感器布置100的操作可以基于三角测量原理。测距传感器布置100可以包括由SICK制成的OD精密系列中的传感器OD5-30T05。传感器的控制器可以是例如SICK的控制器AOD5-PI。在光学三角测量中，光发射器发射窄光束，其在被测量的物体的表面上形成发光点。光束的方向可以改变，在这种情况下，发光点在被测量的表面上的不同点处形成。从被测量的表面的不同点，光被反射并且以点形式撞击在被检测的表面上的不同点，其可以包括像素矩阵。像素矩阵又可以为半导体组件。被检测表面上的发光点的位置与光发射器和被检测表面之间的距离以及光束的方向一起限定了被测量表面相对于光发射器和/或被检测表面的距离。这种类型的测量原理本身是已知的。工业使用的装置的测量精度非常好，具有甚至小于1μm的不精确度。通常，例如约1/100mm或仅1/10mm的不精确度是足够的。光学三角测量原理通常被用在处于至多一米距离处的物体上，因此，该测量原理非常适合于测量压接连接，因为通常压接连接的尺寸范围是毫米、厘米或至多几十厘米。然而，本方案并不限于光学三角测量，还可以使用其它光学测量原理。其它已知的光学测量原理的示例是传播时间测量和相位差测量。在一个实施例中，移动机构102可以例如包括电动机和由电动机移动的可能的传动机构。因此，测距传感器布置100可以像激光扫描器那样操作，通过该测量传感器布置100可以在三个不同维度(即x、y和z坐标)中测量被测量物体的甚至大量点中的每个点的坐标值。通常，存在许多测量点，例如从几十到数百万，这使得可以形成针对被测量物体的表面轮廓。激光扫描器等可以对压接连接104扫描以形成关于压接连接104或导体162的横截面的线状轮廓的信息。在一个实施例中，可能仅需要一次扫描。代替实际的激光器，光辐射源可以为LED或甚至普通的灯。压接连接104的表面上的几个点的测距可以通过相对于测距传感器布置100移动压接连接104来执行。测量压接连接装置104中的几个位置需要压接连接104相对于测距传感器100的移动包括与压接连接104表面的一个位置的法线不同的方向的分量。换句话说，仅将测距传感器布置100和压接连接104彼此间隔开和/或使它们彼此更靠近仅允许对一个点处于不同的距离进行测量。当压接连接104相对于测距传感器布置100移动时，测距传感器布置100将测距引导到压接连接104表面的不同点，因此可以测量压接连接104表面的不同点相对于测距传感器布置100的距离。测量距离数据可以用来确定压接连接104的质量。该质量可以指可测量物理性质。在一个实施例中，移动机构102可以至少部分地相对于测距传感器布置100旋转压接连接104。在一个实施例中，旋转中心X可以在压接连接104内。在一个实施例中，旋转中心可以在压接连接104与测距传感器布置100之间。在一个实施例中，旋转中心不在压接连接104与测距传感器布置100之间或者不在压接连接104内，换句话说，旋转中心在另一个位置而不是在压接连接104与测距传感器布置100之间或在压接连接104内。在一个实施例中，移动机构102可以在测量期间相对于测距传感器布置100旋转压接连接104。旋转中心X然后可以在压接连接104内。在一个实施例中，移动机构102可以在包括若干测量事件的测量过程期间沿导体162的纵向轴线的方向移动压接连接104。一个测量事件是指为了形成一个测量点的测距结果而执行的测量。在一个实施例中，每个测量点的测距事件可以在压接连接104的移动期间执行。在一个实施例中，测距可以通本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于测量压接连接的传感器布置，其特征在于，所述传感器布置包括基于使用光辐射的测距传感器布置(100)和被布置成相对于所述测距传感器布置(100)移动所形成的压接连接(104)的移动机构(102)，并且所述测距传感器布置(100)被布置成当所述压接连接(104)相对于所述测距传感器布置(100)移动时测量所述测距传感器布置(100)与所述压接连接(104)的表面的多个点之间的距离，以确定以下所列项中的至少一个：所述压接连接(104)的尺度和所述压接连接(104)的形状。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2014.06.11 FI 201455361.一种用于测量压接连接的传感器布置，其特征在于，所述传感器布置包括基于使用光辐射的测距传感器布置(100)和被布置成相对于所述测距传感器布置(100)移动所形成的压接连接(104)的移动机构(102)，并且所述测距传感器布置(100)被布置成当所述压接连接(104)相对于所述测距传感器布置(100)移动时测量所述测距传感器布置(100)与所述压接连接(104)的表面的多个点之间的距离，以确定以下所列项中的至少一个：所述压接连接(104)的尺度和所述压接连接(104)的形状。2.根据权利要求1所述的传感器布置，其特征在于，所述测距布置(100)被配置为在相对于所述压接连接(104)的导体(162)的纵向轴线在横向方向上对所述压接连接(104)执行一次距离测量扫描。3.根据权利要求1所述的传感器布置，其特征在于，在测量所形成的压接连接(104)之前，所述移动机构(102)被布置成相对于所述测距传感器布置(100)移动导体(162)；并且所述测距传感器布置(100)被布置成当所述导体(162)相对于所述测距传感器布置(100)移动时测量所述测距传感器布置(100)与所述导体(162)的表面的多个点之间的距离，以确定以下所列项中的至少一个：所述导体(162)的尺度和所述导体(162)的形状。4.根据权利要求1所述的传感器布置，其特征在于，所述移动机构(102)被布置成在测距期间在所述导体(162)的纵向轴线的方向上单向移动所述压接连接(104)。5.根据权利要求1所述的传感器布置，其特征在于，所述测距传感器布置(100)包括至少两个测距传感器(100A、100B)，每个测距传感器被布置成从相对于一个或多个其它测距传感器(100A、100B)的不同方向测量所述压接连接(104)的每个测量点。6.一种用于压接连接的测量设备，其特征在于，所述测量设备包括信号处理单元(150)、基于使用光辐射的传感器布置(100)以及被布置成使所形成的压接连接(104)与所述测距传感器布置(100)相对于彼此移动的移动机构(102)；所述测距传感器布置(100)被布置成当所述压接连接(104)相对于所述测距传感器布置(100)移动时测量所述测距传感器布置(100)与所述压接连接(104)的多个点之间的距离，并且所述信号处理单元(150)被布置成基于测量的所述距离生成表面轮廓数据，并且使用所述压接连接(104)的所述表面轮廓数据来确定以下特性中的至少一种：所述压接连接(114)的尺度和所述压接连接(104)的形状，并且显示与所述压接连接(104)的至少一个确定的特性相关的数据。7.根据权利要求6所述的测量设备，其特征在于，所述信号处理单元(...

【专利技术属性】
技术研发人员：J·奈瑟，
申请(专利权)人：PKC布线系统公司，
类型：发明
国别省市：芬兰,FI