The present invention provides an array substrate preparation method of panel preparation method and display, belonging to the field of display technology, which can solve the planarization layer of the existing dry etching process will inevitably damage to the organic film morphology, surface roughness caused by organic membrane increased, the organic film layer and the sealing frame glue interface therefore more prone to bubbles, resulting in high temperature and high pressure test in the sealant relaxation adverse problems occurred off. The preparation method comprises the array substrate of the invention: forming an organic film on a substrate; forming a protective layer of organic film covering the surrounding area, and the formation of the first electrode located in the display area; a planarization layer is formed; forming in the display area of the second electrode, while removing the protective layer located in the surrounding area.
【技术实现步骤摘要】
阵列基板的制备方法及显示面板的制备方法
本专利技术属于显示
,具体涉及一种阵列基板的制备方法和显示面板的制备方法。
技术介绍
薄膜晶体管液晶显示器(TFT-LCD)的彩膜基板和阵列基板通过周边一圈封框胶粘合在一起,粘合的牢固与否决定了最终产品的信赖性,因此是产品开发时需要重点考虑的要素之一。有机膜层(ORG)是一层厚度约为2um的绝缘薄膜,适用于分辨率(PPI)较高的高级超维场转换(AdvancedSuperDimensionSwitch,简称ADS)显示面板产品中,作用为降低各个电极之间的寄生电容,从而使得TFT-LCD易于驱动。实际生产中,应用了有机膜技术的ADS模式的TFT-LCD模组,在高温压力锅测试(Pressurecookertest)中容易出现封框胶松脱的不良,原因是封框胶和阵列基板的界面粘合不牢固。现有的一种技术采用封框胶与有机膜直接接触的方式解决粘合问题,因此需挖除整个封框胶区域的平坦化层(PVX),以防止因平坦化层脱落造成的封框胶松脱。此种技术提出的封框胶区域的截面示意图如图1所示。然而,这种技术在阵列基板的制程中有一个难以避免的缺陷,平坦化层的干刻工序中不可避免的会损伤到有机膜形貌,造成有机膜的表面粗糙度上升,有机膜层与封框胶的界面因此更容易出现气泡,导致高温高压测试中封框胶松脱的不良发生。
技术实现思路
本专利技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一,提供一种解决有机膜层与封框胶的界面接触不平整,导致高温高压测试中封框胶松脱的不良发生的阵列基板的制备方法和显示面板的制备方法。解决本专利技术技术问题所采用的技术方案是一种阵列基板 ...
【技术保护点】
一种阵列基板的制备方法,所述阵列基板划分为显示区域和环绕所述显示区域的周边区域,其特征在于,所述制备方法包括:在基底上形成有机膜层;形成覆盖所述周边区域的有机膜层的保护层,以及形成位于所述显示区域的第一电极;形成平坦化层;形成位于所述显示区域的第二电极,同时去除位于所述周边区域的保护层。
【技术特征摘要】
1.一种阵列基板的制备方法,所述阵列基板划分为显示区域和环绕所述显示区域的周边区域,其特征在于,所述制备方法包括:在基底上形成有机膜层;形成覆盖所述周边区域的有机膜层的保护层,以及形成位于所述显示区域的第一电极;形成平坦化层;形成位于所述显示区域的第二电极,同时去除位于所述周边区域的保护层。2.根据权利要求1所述的阵列基板的制备方法,其特征在于,所述形成覆盖所述周边区域的有机膜层的保护层,以及形成位于所述显示区域的第一电极是采用同一次构图工艺完成的。3.根据权利要求1所述的阵列基板的制备方法,其特征在于,所述去除位于所述周边区域的保护层的步骤包括:采用湿法刻蚀工艺,去除位于所述周边区域的保护层。4.根据权利要求1所述的阵列基板的制...
【专利技术属性】
技术研发人员:王梓轩,王飞,宋博韬,
申请(专利权)人:京东方科技集团股份有限公司,合肥鑫晟光电科技有限公司,
类型:发明
国别省市:北京,11
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