GIP信号测试电路、GIP信号测试方法和显示装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种GIP信号测试电路、GIP信号测试方法和显示装置，其中GIP信号测试电路包括：一信号测试线、一时钟信号线、一个第一晶体管、多个第二晶体管、多个第三晶体管、多个电容以及多级GIP信号；所述第二晶体管、第三晶体管、电容以及GIP信号一一对应；所述第一晶体管连接在所述时钟信号线与信号测试线之间；所述信号测试线通过多个第二晶体管、多个第三晶体管以及多个电容分别接收多级GIP信号，并根据所述多级GIP信号输出测试信号，从而只需要一条信号测试线就能够对每一级GIP信号进行检测，使得显示装置在基本不增加走线的基础上确保了GIP电路的可靠性，同时提高了不良解析的效率。

GIP signal testing circuit, GIP signal testing method and display device

The invention provides a GIP signal test circuit, GIP signal testing method and display device, wherein the GIP signal test circuit comprises a signal test line, a clock signal line, a first transistor, a second transistor, a third transistor, a capacitor and a multi-stage GIP signal; the second transistor, third transistors, capacitors and a corresponding GIP signal; the first transistor is connected with the signal test in the clock signal line; the signal test line through a plurality of second transistors, a plurality of third transistors and a plurality of capacitor multilevel respectively receives the GIP signal, and according to the multistage GIP signal output test signal, thereby only need a signal test line can be detected for each level of the GIP signal, the display device to ensure that the GIP does not increase in the basic foundation on the line The reliability of the circuit, while improving the efficiency of poor parsing.

【技术实现步骤摘要】
GIP信号测试电路、GIP信号测试方法和显示装置
本专利技术涉及平板显示
，具体涉及一种GIP信号测试电路、GIP信号测试方法和显示装置。
技术介绍
近年来，随着信息技术、无线移动通讯和信息家电的快速发展与应用，人们对电子产品的依赖性与日俱增，更带来各种显示技术及显示装置的蓬勃发展。平板显示装置具有完全平面化、轻、薄、省电等特点，因此得到了广泛的应用。目前，随着平板显示技术的发展，出现了一种将平板显示装置的栅极驱动器通过掩模板镀膜技术直接制作在玻璃基板上的新型技术—GIP(GateinPanel，门面板)技术。目前，GIP技术是把扫描芯片集成在显示面板上，达到节省扫描芯片，降低材料成本，减少工艺步骤并缩短工艺时间，从而降低面板成本、实现更窄边框的目的。但是，显示面板在制造过程中存在许多不良，解析的时候就需要测试GIP信号是否正常，然而，随着屏体分辨率越来越高，不可能每一级均用引线引出以供信号测量使用。现有技术中，一般采用引线引出第一级GIP信号以及最后一级GIP信号进行测量。请参考图1，其为现有技术中GIP信号测试电路的结构示意图。如图1所示，栅极驱动电路包括第一级级联结构、第二级级联结构…第n级级联结构(最后一级的级联结构)，所述级联结构通常是移位寄存器。所述栅极驱动电路根据外部电路输入的信号sin，产生多级GIP信号，采用引线引出第1级GIP信号S1以及最后一极的GIP信号Sn，对第一级GIP信号S1以及最后一级GIP信号Sn进行测试，其余级GIP信号均不能进行测试。因此，即使其余各级GIP信号出现异常，也无法进行确认。基于此，如何解决现有的平板显示装置无法在不增加走线的情况下对每一级GIP信号进行测试的问题，成了本领域技术人员亟待解决的一个技术问题。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种GIP信号测试电路、GIP信号测试方法和显示装置，以解决现有技术中显示装置无法在不增加走线的情况下对每一级GIP信号进行测试的问题。为实现上述目的，本专利技术提供一种具有GIP信号测试电路，包括：一信号测试线、一时钟信号线、一个第一晶体管、多个第二晶体管、多个第三晶体管、多个电容以及多级GIP信号；所述第二晶体管、第三晶体管、电容以及GIP信号一一对应；所述第一晶体管连接在所述时钟信号线与信号测试线之间；所述信号测试线通过多个第二晶体管、多个第三晶体管以及多个电容分别接收多级GIP信号，并根据所述多级GIP信号输出测试信号。可选的，所述第一晶体管的第一电极连接至所述时钟信号线，所述第一晶体管的第二电极连接至所述信号测试线，所述第一晶体管的栅极连接至所述信号测试线。可选的，所述第二晶体管的第一电极连接至所述信号测试线，所述第二晶体管的第二电极连接相对应的所述GIP信号；所述第二晶体管的栅极连接至相对应的第三晶体管的第二电极。可选的，所述第三晶体管的第一电极连接至所述时钟信号线，所述第三晶体管的第二电极与栅极均连接至相对应的所述电容的一端，所述电容的另一端连接至相对应的所述GIP信号。可选的，所述第一电极为源极，所述第二电极为漏极；或者，所述第一电极为漏极，所述第二电极为源极；所述第一晶体管至第三晶体管均为薄膜场效应晶体管。相应的，本专利技术还提供一种GIP信号测试方法，采用上述的GIP信号测试电路进行测试,包括:向所述GIP信号测试电路提供时钟信号和多级GIP信号；以及通过所述GIP信号测试电路输出多级GIP信号的测试信号。可选的，每一级GIP信号的下降沿较所述时钟信号的下降沿延迟，每一级GIP信号的上升沿较所述时钟信号的上升沿提前。可选的，测试周期包括五个阶段：在第一时间段，所述时钟信号与某一级GIP信号均为高电位，所述第一晶体管、第三晶体管打开，所述第二晶体管关闭，所述测试信号为高电位；在第二时间段，所述GIP信号为高电位，所述时钟信号为低电位，所述第一晶体管、第二晶体以及第三晶体管均关闭，所述测试信号维持高电位；在第三时间段，所述GIP信号为低电位，所述时钟信号为低电位，所述第一晶体管与第三晶体管关闭，所述第二晶体管打开，所述测试信号为低电位；在第四时间段，所述GIP信号为高电位，所述时钟信号为低电位，所述第一晶体管、第二晶体以及第三晶体管均关闭，所述测试信号为低电位；在第五时间段，所述GIP信号为高电位，所述时钟信号为高电位，所述第一晶体管与第三晶体管打开，所述第二晶体管关闭，所述测试信号为高电位。可选的，所述测试信号的每个低电位对应一级GIP信号。可选的，本专利技术还提供一种显示装置，包括：GIP电路、多条扫描线以及上述的GIP信号测试电路；所述GIP电路通过所述多条扫描线与所述GIP信号测试电路连接，用于向所述GIP信号测试电路提供多级GIP信号，所述GIP信号测试电路根据所述多级GIP信号输出测试信号。与现有技术相比，本专利技术提供的GIP信号测试电路、GIP信号测试方法和显示装置，采用新型的GIP信号测试电路，只需要一条信号测试线就能够对每一级GIP信号进行检测，使得显示装置在基本不增加走线的基础上确保了GIP电路的可靠性，同时提高了不良解析的效率。附图说明图1为现有技术中GIP信号测试电路的结构示意图。图2为本专利技术一实施例提供的GIP信号测试电路的结构示意图。图3为本专利技术一实施例提供的多级GIP信号、时钟信号以及测试信号的波形图。具体实施方式为使本专利技术的内容更加清楚易懂，以下结合说明书附图，对本专利技术的内容做进一步说明。当然本专利技术并不局限于该具体实施例，本领域的技术人员所熟知的一般替换也涵盖在本专利技术的保护范围内。其次，本专利技术利用示意图进行了详细的表述，在详述本专利技术实例时，为了便于说明，示意图不依照一般比例局部放大，不应对此作为本专利技术的限定。请参考图2所示，其为本专利技术一实施例提供的GIP信号测试电路的结构示意图。如图2所示，GIP信号测试电路包括：一信号测试线TestLine、一时钟信号线CK、一个第一晶体管T1和多个第二晶体管(T21至T2n)、多个第三晶体管(T31至T3n)、多个电容(C1至Cn)以及多级GIP信号。所述第二晶体管(T21至T2n)、第三晶体管(T31至T3n)、电容(C1至Cn)以及GIP信号一一对应。所述第一晶体管T1连接在所述时钟信号线CK与信号测试线TestLine之间；所述信号测试线TestLine通过多个第二晶体管(T21至T2n)、多个第三晶体管(T31至T3n)以及多个电容(C1至Cn)分别接收多级GIP信号，并根据所述多级GIP信号输出测试信号。所述多级GIP信号分别由第一扫描线S1至第n扫描线Sn提供；所述第二晶体管(T21至T2n)、第三晶体管(T31至T3n)、电容(C1至Cn)以及GIP信号一一对应是指：所述第二晶体管(T21至T2n)、第三晶体管(T31至T3n)以及电容(C1至Cn)的数量相等，且与所述GIP信号的级数也相等，并且，一个第二晶体管对应连接一个第三晶体管、一个电容以及一条扫描线。例如：第一扫描线S1提供第一级GIP信号，第一级GIP信号与所述第二晶体管T21、第三晶体管T31、电容C1相对应，第二扫描线S2提供第二级GIP信号，第二级GIP信号与所述第二晶体管T22、第三晶体管T32、电容C2相对应，以此类推，第n扫描线Sn提供第n级GI本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种GIP信号测试电路，其特征在于，包括：一信号测试线、一时钟信号线、一个第一晶体管、多个第二晶体管、多个第三晶体管、多个电容以及多级GIP信号；所述第二晶体管、第三晶体管、电容以及GIP信号一一对应；所述第一晶体管连接在所述时钟信号线与信号测试线之间；所述信号测试线通过多个第二晶体管、多个第三晶体管以及多个电容分别接收多级GIP信号，并根据所述多级GIP信号输出测试信号。

【技术特征摘要】
1.一种GIP信号测试电路，其特征在于，包括：一信号测试线、一时钟信号线、一个第一晶体管、多个第二晶体管、多个第三晶体管、多个电容以及多级GIP信号；所述第二晶体管、第三晶体管、电容以及GIP信号一一对应；所述第一晶体管连接在所述时钟信号线与信号测试线之间；所述信号测试线通过多个第二晶体管、多个第三晶体管以及多个电容分别接收多级GIP信号，并根据所述多级GIP信号输出测试信号。2.如权利要求1所述的GIP信号测试电路，其特征在于，所述第一晶体管的第一电极连接至所述时钟信号线，所述第一晶体管的第二电极连接至所述信号测试线，所述第一晶体管的栅极连接至所述信号测试线。3.如权利要求2所述的GIP信号测试电路，其特征在于，所述第二晶体管的第一电极连接至所述信号测试线，所述第二晶体管的第二电极连接相对应的所述GIP信号；所述第二晶体管的栅极连接至相对应的第三晶体管的第二电极。4.如权利要求3所述的GIP信号测试电路，其特征在于，所述第三晶体管的第一电极连接至所述时钟信号线，所述第三晶体管的第二电极与栅极均连接至相对应的所述电容的一端，所述电容的另一端连接至相对应的所述GIP信号。5.如权利要求1～4中任一项所述的GIP信号测试电路，其特征在于，所述第一电极为源极，所述第二电极为漏极；或者，所述第一电极为漏极，所述第二电极为源极；所述第一晶体管至第三晶体管均为薄膜场效应晶体管。6.一种采用如权利要求1～5中任一项所述的GIP信号测试电路进行GIP信号测试的方法，其特征在于，包括：向所述GIP信号测试电路提供时钟信号和多级GIP...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡小叙，
申请(专利权)人：昆山国显光电有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32