本申请提供了一种膜层修复方法及系统,用以提高膜层涂覆均一性,从而避免LCD画质不均、白点、暗点等不良发生,提升产品良率和市场竞争力,本申请提供的一种膜层修复方法包括:检测膜层是否有缺陷区域,在检测到所述膜层有缺陷区域时,确定各缺陷区域的第一尺寸和第一位置坐标;根据所述各缺陷区域的第一尺寸,确定修复各缺陷区域的修复参数;根据确定的修复各缺陷区域的修复参数和各缺陷区域的第一位置坐标,修复所述膜层。
【技术实现步骤摘要】
一种膜层修复方法及系统
本申请涉及显示
,特别是涉及一种膜层修复方法及系统。
技术介绍
薄膜晶体管液晶显示器(ThinFilmTransistorLiquidCrystalDisplay,TFT-LCD)具有体积小、功耗低、无辐射等优点,近年来得到了飞速的发展,已经成为市场上显示器的主流。聚酰亚胺(PI)是液晶显示装置配向过程中的关键材料之一,而PI膜层涂覆时,例如在TFT侧存在大量的有机膜(ORG)过孔、矩阵(Matrix)孔等,导致TFT侧膜层厚度差异较大,PI膜层涂覆时孔洞附近处PI膜层厚度相对较薄,PI膜层的表面不平整,即存在PI膜层涂覆不均问题。但目前还无有效的处理方式用于解决PI膜层涂覆不均问题,而PI膜层涂覆不均将导致的LCD画质不均、白点、暗点等不良发生,严重影响产品良率和市场竞争力。当然,对于其他的膜层(例如保护层(OverCoat,OC膜层))也同样存在膜层涂覆不均问题,同样影响产品良率和市场竞争力。基于此,如何解决膜层涂覆不均问题,是本领域技术人员亟待解决的技术问题。
技术实现思路
本申请实施例提供了一种膜层修复方法及系统,用以提高膜层涂覆均一性,从而避免LCD画质不均、白点、暗点等不良发生,提升产品良率和市场竞争力。本申请实施例提供的一种膜层修复方法包括:检测膜层是否有缺陷区域,在检测到所述膜层有缺陷区域时,确定各缺陷区域的第一尺寸和第一位置坐标;根据所述各缺陷区域的第一尺寸,确定修复各缺陷区域的修复参数;根据确定的修复各缺陷区域的修复参数和各缺陷区域的第一位置坐标,修复所述膜层。本申请实施例提供的膜层修复方法,通过检测膜层是否有缺陷区域,在检测到所述膜层有缺陷区域时,确定各缺陷区域的第一尺寸和第一位置坐标;根据所述各缺陷区域的第一尺寸,确定修复各缺陷区域的修复参数;根据确定的修复各缺陷区域的修复参数和各缺陷区域的第一位置坐标,修复所述膜层,因此可以提高膜层涂覆均一性,从而避免LCD画质不均、白点、暗点等不良发生,提升产品良率和市场竞争力。较佳地,所述检测膜层是否有缺陷区域,包括:采集所述膜层的图片信息,将该图片信息与预先存储的无缺陷膜层图片信息进行比较,确定所述膜层是否有缺陷区域。较佳地,所述根据所述各缺陷区域的第一尺寸,确定修复各缺陷区域的修复参数,包括:根据所述各缺陷区域的第一尺寸,以及预先设定的缺陷等级判定信息确定各缺陷区域的第一缺陷等级;根据所述各缺陷区域的第一缺陷等级,以及预先设定的缺陷等级与修复参数的对应关系,确定修复各缺陷区域的修复参数。较佳地,在确定各缺陷区域的第一缺陷等级后,且在确定修复各缺陷区域的修复参数之前,该方法还包括:将所述具有缺陷区域的膜层的图片信息与预先存储的无缺陷膜层图片信息进行比较,确定各缺陷区域的第二尺寸和第二位置坐标,根据所述各缺陷区域的第二尺寸,以及预先设定的缺陷等级判定信息确定各缺陷区域的第二缺陷等级,将每一个缺陷区域的第二缺陷等级与第一缺陷等级进行比较,以及将每一个缺陷区域的第二位置坐标与第一位置坐标进行比较,若两者均相同,则执行确定修复各缺陷区域的修复参数的步骤,否则,提示用户处理。通过该方法,在确定修复各缺陷区域的修复参数之前,对各缺陷区域的缺陷等级和位置坐标进行检验,以防止出现误判,从而可以提高检测的准确性。较佳地,在确定各缺陷区域的第一缺陷等级后,该方法还包括:将具有不同的缺陷等级的缺陷区域标记为不同的颜色,并展示所述具有缺陷区域的膜层的图片。通过该方法,将具有不同的缺陷等级的缺陷区域标记为不同的颜色,并展示具有缺陷区域的膜层的图片,这样可以直观地给用户展示缺陷信息。本申请实施例还提供了一种膜层修复系统,该系统包括:检测单元,用于检测膜层是否有缺陷区域;缺陷区域信息确定单元,用于在检测到所述膜层有缺陷区域时,确定各缺陷区域的第一尺寸和第一位置坐标;修复参数确定单元,用于根据所述各缺陷区域的第一尺寸,确定修复各缺陷区域的修复参数;修复单元,用于根据确定的修复各缺陷区域的修复参数和各缺陷区域的第一位置坐标,修复所述膜层。本申请实施例提供的膜层修复系统,通过检测膜层是否有缺陷区域,在检测到所述膜层有缺陷区域时,确定各缺陷区域的第一尺寸和第一位置坐标;根据所述各缺陷区域的第一尺寸,确定修复各缺陷区域的修复参数;根据确定的修复各缺陷区域的修复参数和各缺陷区域的第一位置坐标,修复所述膜层,因此可以提高膜层涂覆均一性,从而避免LCD画质不均、白点、暗点等不良发生,提升产品良率和市场竞争力。较佳地,所述检测单元具体用于:采集所述膜层的图片信息,将该图片信息与预先存储的无缺陷膜层图片信息进行比较,确定所述膜层是否有缺陷区域。较佳地,所述修复参数确定单元包括:第一修复参数确定子单元和第二修复参数确定子单元;其中,所述第一修复参数确定子单元用于:根据所述各缺陷区域的第一尺寸,以及预先设定的缺陷等级判定信息确定各缺陷区域的第一缺陷等级;所述第二修复参数确定子单元用于:根据所述各缺陷区域的第一缺陷等级,以及预先设定的缺陷等级与修复参数的对应关系,确定修复各缺陷区域的修复参数。较佳地,所述第二修复参数确定子单元还用于:将所述具有缺陷区域的膜层的图片信息与预先存储的无缺陷膜层图片信息进行比较,确定各缺陷区域的第二尺寸和第二位置坐标,根据所述各缺陷区域的第二尺寸,以及预先设定的缺陷等级判定信息确定各缺陷区域的第二缺陷等级,将每一个缺陷区域的第二缺陷等级与第一缺陷等级进行比较,以及将每一个缺陷区域的第二位置坐标与第一位置坐标进行比较,若两者均相同,则执行确定修复各缺陷区域的修复参数的步骤,否则,提示用户处理。由于本申请实施例提供的膜层修复系统在确定修复各缺陷区域的修复参数之前,对各缺陷区域的缺陷等级和位置坐标进行检验,以防止出现误判,从而可以提高检测的准确性。较佳地,所述膜层修复系统还包括:展示单元;所述展示单元用于:将具有不同的缺陷等级的缺陷区域标记为不同的颜色,并展示所述具有缺陷区域的膜层的图片。由于展示单元可以将具有不同的缺陷等级的缺陷区域标记为不同的颜色,并展示具有缺陷区域的膜层的图片,这样可以直观地给用户展示缺陷信息。附图说明图1为本申请实施例提供的一种膜层修复方法的流程示意图;图2为本申请实施例提供的第一种膜层修复系统的结构示意图;图3为本申请实施例提供的第二种膜层修复系统的结构示意图;图4为本申请实施例提供的第三种膜层修复系统的结构示意图;图5为本申请实施例提供的膜层修复系统中膜层修复装置的第一种结构示意图;图6为本申请实施例提供的膜层修复系统中膜层修复装置的第二种结构示意图;图7为本申请实施例提供的膜层修复系统中膜层修复装置的第三种结构示意图;图8为本申请实施例提供的膜层修复系统中膜层修复装置的第四种结构示意图;图9为本申请实施例提供的PI膜层修复的整体流程示意图。具体实施方式本申请实施例提供了一种膜层修复方法及系统,用以提高膜层涂覆均一性,从而避免LCD画质不均、白点、暗点等不良发生,提升产品良率和市场竞争力。下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种膜层修复方法,其特征在于,该方法包括:检测膜层是否有缺陷区域,在检测到所述膜层有缺陷区域时,确定各缺陷区域的第一尺寸和第一位置坐标;根据所述各缺陷区域的第一尺寸,确定修复各缺陷区域的修复参数;根据确定的修复各缺陷区域的修复参数和各缺陷区域的第一位置坐标,修复所述膜层。
【技术特征摘要】
1.一种膜层修复方法,其特征在于,该方法包括:检测膜层是否有缺陷区域,在检测到所述膜层有缺陷区域时,确定各缺陷区域的第一尺寸和第一位置坐标;根据所述各缺陷区域的第一尺寸,确定修复各缺陷区域的修复参数;根据确定的修复各缺陷区域的修复参数和各缺陷区域的第一位置坐标,修复所述膜层。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述检测膜层是否有缺陷区域,包括:采集所述膜层的图片信息,将该图片信息与预先存储的无缺陷膜层图片信息进行比较,确定所述膜层是否有缺陷区域。3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述各缺陷区域的第一尺寸,确定修复各缺陷区域的修复参数,包括:根据所述各缺陷区域的第一尺寸,以及预先设定的缺陷等级判定信息确定各缺陷区域的第一缺陷等级;根据所述各缺陷区域的第一缺陷等级,以及预先设定的缺陷等级与修复参数的对应关系,确定修复各缺陷区域的修复参数。4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,在确定各缺陷区域的第一缺陷等级后,且在确定修复各缺陷区域的修复参数之前,该方法还包括:将所述具有缺陷区域的膜层的图片信息与预先存储的无缺陷膜层图片信息进行比较,确定各缺陷区域的第二尺寸和第二位置坐标,根据所述各缺陷区域的第二尺寸,以及预先设定的缺陷等级判定信息确定各缺陷区域的第二缺陷等级,将每一个缺陷区域的第二缺陷等级与第一缺陷等级进行比较,以及将每一个缺陷区域的第二位置坐标与第一位置坐标进行比较,若两者均相同,则执行确定修复各缺陷区域的修复参数的步骤,否则,提示用户处理。5.根据权利要求3或4所述的方法,其特征在于,在确定各缺陷区域的第一缺陷等级后,该方法还包括:将具有不同的缺陷等级的缺陷区域标记为不同的颜色,并展示所述具有缺陷区域的膜层的图片。6.一种膜层修复系统,其特征在于,该系统包括:检测单元,用于检...
【专利技术属性】
技术研发人员:臧远生,王春,陈俊生,
申请(专利权)人:京东方科技集团股份有限公司,合肥京东方光电科技有限公司,
类型:发明
国别省市:北京,11
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