The embodiment of the invention provides a contraposition control method for a substrate processing equipment and a substrate to be processed, which relates to the field of semiconductor technology. The utility model can solve the problem that the result of the contraposition is inaccurate when the substrate processing equipment is aligned with the processing substrate, because of the poor reflection performance of the contraposition mark. The substrate processing equipment comprises a loading platform which is used for carrying the substrate to be processed, a contraposition mark on the substrate to be processed, and a contraposition mark marked as a shading material. The light source is arranged on the side of the carrier. The image sensor is arranged on the other side of the platform. The source for the substrate to be processed to emit light, and light from the processed substrate to reach the image sensor, so that the image sensor acquisition includes image alignment marks; surrounded by the outer edge of the irradiated region at least marks of the light source.
【技术实现步骤摘要】
一种基板加工设备及待加工基板的对位控制方法
本专利技术涉及半导体
,尤其涉及一种基板加工设备及待加工基板的对位控制方法。
技术介绍
TFT-LCD(ThinFilmTransistor-LiquidCrystalDisplay,薄膜晶体管液晶显示器)通常包括相互对盒的阵列基板和彩膜基板,以及密封设置在相互对盒的阵列基板和彩膜基板之间的液晶层。在液晶显示面板上具有用于形成电场的像素电极和公共电极,通过施加电压在像素电极和公共电极之间产生电场,以控制液晶层的液晶分子的偏转方向并控制入射光的偏振,从而产生图像显示。在制作薄膜晶体管液晶显示器的过程中,需要对组成薄膜晶体管液晶显示器的阵列基板和彩膜基板进行蒸镀、曝光、刻蚀等多个工序的加工制作,进行上述工序的加工生产时,在加工操作前,首先都需要对待加工基板进行放置位置的准确对位,在确定待加工基板正确放置后再进行相应的加工操作,这样能够减少由于加工位置偏移而导致的残次品,提升待加工基板的加工质量,提高待加工基板的制造良品率。现有的基板加工设备中进行对位时,通常是在待加工基板上的特定位置加工有由不透光且能够反光的材质制作的对位标记,对放置在基板加工设备载台上的待加工基板提供正面光照,正面光照在对位标记上会产生反光,通过CCDCamera(ChargeCoupledDeviceCamera,电荷耦合器件照相机)对待加工基板进行正面拍照,正面摄取待加工基板的数字图像信号,其中对应对位标记位置处由于能够反射光照的光线而呈现为亮度较高的状态,对应待加工基板的其他位置处由于光照直接透过而呈现为亮度较低的状态,通过对电荷耦合器 ...
【技术保护点】
一种基板加工设备,其特征在于,包括:载台,用于承载待加工基板,所述待加工基板上设有对位标记,所述对位标记为遮光材质;光源,设置于所述载台的一侧;图像传感器,设置于所述载台的另一侧;其中,所述光源用于朝向所述待加工基板发出光线,且所述光线经所述待加工基板到达所述图像传感器,以便所述图像传感器采集包含所述对位标记的图像;所述光源的照射区域至少将所述对位标记的外边缘包围在内。
【技术特征摘要】
1.一种基板加工设备,其特征在于,包括:载台,用于承载待加工基板,所述待加工基板上设有对位标记,所述对位标记为遮光材质;光源,设置于所述载台的一侧;图像传感器,设置于所述载台的另一侧;其中,所述光源用于朝向所述待加工基板发出光线,且所述光线经所述待加工基板到达所述图像传感器,以便所述图像传感器采集包含所述对位标记的图像;所述光源的照射区域至少将所述对位标记的外边缘包围在内。2.根据权利要求1所述的基板加工设备,其特征在于,还包括控制器,用于将包含所述对位标记的图像与标准图像进行比对,并输出比对结果。3.根据权利要求1所述的基板加工设备,其特征在于,所述光源的照射区域覆盖整个所述待加工基板,所述图像传感器用于采集整个所述待加工基板的图像。4.根据权利要求1所述的基板加工设备,其特征在于,所述光源的照射区域覆盖部分所述待加工基板,部分所述待加工基板由所述对位标记以及包围所述对位标记的周边部分构成,所述图像传感器用于采集部分所述待加工基板的图像。5.根据权利要求4所述的基板加工设备,其特征在于,所述待加工基板上的对位标记设置有至少两个,且分别设置于所述待加工基板的角部,所述光源以及所述图像传感器与所述对位标记的设置数量相同,每一个所述光源的照射区域对应于一个所述对位标记所在的待加工基板的角部,所...
【专利技术属性】
技术研发人员:李世维,樊超,王新华,易熊,
申请(专利权)人:京东方科技集团股份有限公司,重庆京东方光电科技有限公司,
类型:发明
国别省市:北京,11
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