一种器件稳定性测试方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术属于工业测控技术领域，提供器件稳定性测试方法及装置，旨在解决现有技术中对数据波形的判定缺乏量化标准，从而导致不同方、不同人，尤其是制造方和客户之间标准模糊的问题。相对于现有技术中对器件(例如元器件、传感器)性能方面的了解一般凭主观判断，缺乏具体量化标准而言，本发明专利技术提供的技术方案在了解器件稳定性等性能方面采用数学公式量化了表征器件在数据波形相似性方面的指标，因此更具客观性，使不同方、不同人，尤其是制造方和客户之间对器件的性能标准更容易达成一致。

Device stability testing method and device

The invention belongs to the technical field of industrial control, provide a method and apparatus for testing the stability of the device, aiming to solve the existing technology in the determination of waveform data lack of quantitative criteria, which lead to different parties, different people, especially the fuzzy standard between manufacturing and customer problems. Compared with the existing technology of devices (such as components and sensors) to understand the general performance of the subjective judgment, the lack of specific quantitative criteria, the technical scheme of the invention adopts mathematical formula to quantify the similarity index characterizing device in the data waveform in the understanding of the performance of the device stability etc. Therefore, more objective, so that different parties and different people, especially between the manufacturer and customer performance standards for devices are more likely to agree.

【技术实现步骤摘要】
一种器件稳定性测试方法及装置
本专利技术属于工业测控
，尤其涉及一种器件稳定性测试方法及装置。
技术介绍
在工业测控领域，器件产品(例如元器件、传感器)的性能测试(例如热稳定性测试、灵敏度测试、数据波形的相似性测试)对于了解器件相关方面的性能尤为重要。专利技术人发现现有的技术中部分性能测试指标，例如数据波形的相似性，一般凭主观判断，缺乏具体的量化标准。
技术实现思路
一种器件稳定性测试方法及装置，旨在解决现有技术中对数据波形的判定缺乏量化标准，从而导致不同方、不同人，尤其是制造方和客户之间标准模糊的问题。本专利技术实施例的第一方面，提供一种器件稳定性测试方法，所述方法包括：采用皮尔逊相关系数公式计算同一器件在第一条件和第二条件下输出的数据波形之间的相关系数的值，所述r为所述相关系数的值，所述∑表示求和，所述n为每种条件下输出的所述数据波形的总个数，所述xi为第一种条件下第i次输出的所述数据波形，所述yi为第二种条件下第i次输出的所述数据波形，所述为所述xi的期望，所述为所述yi的期望，所述i符合条件1≤i≤n；若所述相关系数的值属于第一预设阈值范围，则判定所述器件的性能稳定。本专利技术实施例的另一方面，提供一种器件稳定性测试装置，所述装置包括：相关系数计算模块，用于采用皮尔逊相关系数公式计算同一器件在第一条件和第二条件下输出的数据波形之间的相关系数的值，所述r为所述相关系数的值，所述∑表示求和，所述n为每种条件下输出的所述数据波形的总个数，所述xi为第一种条件下第i次输出的所述数据波形，所述yi为第二种条件下第i次输出的所述数据波形，所述为所述xi的期望，所述为所述yi的期望，所述i符合条件1≤i≤n；判定模块，用于若所述相关系数的值属于第一预设阈值范围，则判定所述器件的性能稳定。本专利技术提供的技术方案与现有技术相比存在的有益效果是：提供一种器件稳定性测试方法，采用皮尔逊相关系数公式计算同一器件在第一条件和第二条件下输出的数据波形之间的相关系数的值；若所述相关系数的值属于第一预设阈值范围，则判定所述器件的性能稳定。相对于现有技术中对器件(例如元器件、传感器)性能方面的了解一般凭主观判断，缺乏具体量化标准而言，本专利技术提供的技术方案在了解器件稳定性等性能方面采用数学公式量化了表征器件在数据波形相似性方面的指标，因此更具客观性，使不同方、不同人，尤其是制造方和客户之间对器件的性能标准更容易达成一致。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是本专利技术一实施例提供的器件稳定性测试方法实现流程图；图2-a示出了本专利技术一实施例提供的计算第一器件在第一条件和第二条件下输出的数据波形的相关系数的示意图；图2-b示出了本专利技术一实施例提供的计算第二器件在第一条件和第二条件下输出的数据波形的相关系数的示意图；图3-a示出了本专利技术一实施例提供的计算第一器件在第一条件和第二条件下输出的数据波形的弗雷歇距离的示意图；如图3-b示出了本专利技术一实施例提供的计算第二器件在第一条件和第二条件下输出的数据波形的弗雷歇距离的示意图；图4是本专利技术另一实施例提供的器件稳定性测试装置结构示意图；图5是本专利技术另一实施例提供的器件稳定性测试装置结构示意图；具体实施方式为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本专利技术进行进一步详细说明。以下描述中，为了说明而不是为了限定，给出了诸多技术特征的说明示意图，以便透切理解本专利技术实施例。然而，本领域的技术人员应当清楚，在没有这些具体细节的其它实施例中也可以实现本专利技术。在其它情况中，省略对众所周知的装置以及方法的详细说明，以免不必要的细节妨碍本专利技术的描述。本专利技术实施例中器件可以是包括传感器在内的各种电子元器件，在此不作限定。为了有效解决现有技术中对数据波形的判定缺乏量化标准，从而导致不同方、不同人，尤其是制造方和客户之间标准模糊的问题，本专利技术实施例提供的器件稳定性测试方法包括：采用皮尔逊相关系数公式计算同一器件在第一条件和第二条件下输出的数据波形之间的相关系数的值，所述r为所述相关系数的值，所述∑表示求和，所述n为每种条件下输出的所述数据波形的总个数，所述xi为第一种条件下第i次输出的所述数据波形，所述yi为第二种条件下第i次输出的所述数据波形，所述为所述xi的期望，所述为所述yi的期望，所述i符合条件1≤i≤n；若所述相关系数的值属于第一预设阈值范围，则判定所述器件的性能稳定。以下分别进行详细说明。图1示出了本专利技术一实施例提供的器件稳定性测试方法实现流程图，其执行主体可以是器件稳定性测试装置，例如，器件稳定性测试装置的应用程序。为了便于说明，图1仅示出了与本实施例相关的部分，其过程主要包括步骤S101和S102，详述如下：S101，采用皮尔逊相关系数公式计算同一器件在第一条件和第二条件下输出的数据波形之间的相关系数的值，r为相关系数的值，∑表示求和，n为每种条件下输出的数据波形的总个数，xi为第一种条件下第i次输出的数据波形，yi为第二种条件下第i次输出的数据波形，为xi的期望，为yi的期望，i符合条件1≤i≤n。需要说明的是，第一条件和第二条件为输出波形的生成条件，二者是不同的，第一条件和第二条件的不同可以体现为温度、湿度，气压、振动、电源电压和电源频率中的至少一个不同。如图2-a示出了本专利技术一实施例提供的第一器件在第一条件和第二条件下输出的数据波形的示意图，如图2-b示出了本专利技术一实施例提供的第二器件在第一条件和第二条件下输出的数据波形的示意图，图2-a和图2-b中只是示例性地各给出了一个xi和一个yi曲线，事实上，xi和yi各表示的是一组曲线，图2-a和图2-b中实线表示xi曲线组中的某个曲线，图2-a和图2-b中虚线表示yi曲线组中的某个曲线。图2-a中实线表示的是在第一条件下第一器件的输出量，图2-a中虚线表示的是在第二条件下第一器件的输出量。图2-b中实线表示的是在第一条件下第二器件的输出量，图2-b中虚线表示的是在第二条件下第二器件的输出量。通过计算可知，第一器件在第一条件和第二条件下输出的数据波形之间的相关系数的值r为0.99848430，而第二器件在第一条件和第二条件下输出的数据波形之间的相关系数的值r为0.99509519。S102，若相关系数的值属于第一预设阈值范围，则判定器件的性能稳定。例如，图2-a中计算的第一器件的相关系数r为0.99848430，图2-b中计算的第二器件的相关系数r为0.99509519，二者均属于第一预设阈值范围[0.98，1]，说明第一器件和第二器件的性能均稳定。需要说明的是，相关系数的值用来判定第一条件和第二条件下输出的数据波形的走向趋势，相关系数的值越大，则第一条件和第二条件下输出的数据波形越相似，器件的性能相对越稳定。从图2-a和图2-b中分别计算的相关系数的值r可知，图2-a中第一器件的相关系数的值r大于图2-b中第二器件的相关系数的值r，则说明第一器件相对第二器件而言，数据波形的走向趋势更一致或更相似，性能相对更本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种器件稳定性测试方法，其特征在于，所述方法包括：采用皮尔逊相关系数公式

【技术特征摘要】
1.一种器件稳定性测试方法，其特征在于，所述方法包括：采用皮尔逊相关系数公式计算同一器件在第一条件和第二条件下输出的数据波形之间的相关系数的值，所述r为所述相关系数的值，所述∑表示求和，所述n为每种条件下输出的所述数据波形的总个数，所述xi为第一种条件下第i次输出的所述数据波形，所述yi为第二种条件下第i次输出的所述数据波形，所述为所述xi的期望，所述为所述yi的期望，所述i符合条件1≤i≤n；若所述相关系数的值属于第一预设阈值范围，则判定所述器件的性能稳定。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述若所述相关系数的值属于第一预设阈值范围，则判定所述器件的性能稳定之后，所述方法还包括：采用计算公式计算所述输出的数据波形之间的弗雷歇距离，所述cm为所述弗雷歇距离，所述∑表示求和，所述n'为每种条件下输出的所述数据波形的总个数，所述x′i为第一种条件下第i'次输出的所述数据波形，所述y′i为第二种条件下第i'次输出的所述数据波形，所述i'符合条件1≤i′≤n′；若所述弗雷歇距离属于第二预设阈值范围，则判断所述器件的性能更稳定。3.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述相关系数的值用来判定所述第一条件和第二条件下输出的数据波形的走向趋势，所述相关系数的值越大，则所述第一条件和第二条件下输出的数据波形越相似，所述器件的性能相对越稳定。4.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述弗雷歇距离用来判断所述第一条件和第二条件下输出的数据波形之间的差异，所述弗雷歇距离越小，则所述第一条件和第二条件下输出的数据波形越相似，所述器件的性能相对越稳定。5.如权利要求2或4所述的方法，其特征在于，所述n和所述n'均大于预设值。...

【专利技术属性】
技术研发人员：董扬辉，
申请(专利权)人：深圳怡化电脑股份有限公司，深圳市怡化时代科技有限公司，深圳市怡化金融智能研究院，
类型：发明
国别省市：广东,44