低功耗SRAM单元电路结构制造技术

技术编号:15398518 阅读:221 留言:0更新日期:2017-05-22 14:08
本发明专利技术公开了一种低功耗SRAM单元电路结构,包括由四个MOS管构成的锁存器,所述锁存器两侧为门控管,锁存器一端通过一写字线管连接电源,另一端通过一反信号管接地。存储数据的读取通过两个额外的下拉管来完成。本发明专利技术电路简单,控制容易。整个电路工作电压可以降低到和普通数字逻辑电路完全一样,从而大大减小工作功耗。对SRAM写电路的驱动能力要求降低,可以简化相关电路设计。对SRAM读电路的灵敏放大器(sense amplifier)要求降低,可以简化相关电路设计。

Low power SRAM cell circuit structure

The invention discloses a low power SRAM unit circuit structure comprises four MOS tube latches, the latch on both sides of gated pipe, the latch end through a write line pipe is connected with a power supply, the other end of the counter tube signal grounding. The read of storage data is accomplished by two additional pull-down tubes. The circuit of the invention is simple and easy to control. The working voltage of the whole circuit can be reduced to the same as that of the ordinary digital logic circuit, thus greatly reducing the work power consumption. The ability to reduce the driving capability of a SRAM write circuit can simplify the design of related circuits. SRAM to read sensitive amplifier circuit (sense amplifier) required to reduce, can simplify the circuit design.

【技术实现步骤摘要】
低功耗SRAM单元电路结构
本专利技术涉及静态存储器领域,具体而言,涉及一种低功耗SRAM单元电路结构。
技术介绍
CMOS集成电路工艺中的静态存储器(SRAM),一般由6个管子组成,这一结构面积较小,但由于这一单元在读写的时候都会受到干扰,从而对工作电压提出了较高的要求,已经成为集成电路SOC中降低工作电压,降低功耗的难点。参照图1所示,最常见的SRAM存储单元由6个MOS构成,WL表示字线,BL/BLB表示位线。读的时候WL打开,存储端为“0”的位线将缓慢下拉,当BL和BLB的电压差到达一定的数值以后,灵敏放大器会将数据读出。这个存储单元会有一些干扰和竞争的问题。现有技术对干扰问题进行了改进。参照图2所示,是一个类似消除读干扰的专利技术,它的问题是没有消除写的竞争。现有的利用6个MOS组成的SRAM单元,写的时候,连接WL的Passgate会和上拉的PMOS竞争,读的时候,WL打开,传输管会和下拉管形成分压,使“0”值升高,降低了静态噪声容限,这些都使传统6TSRAM的工作电压不能太低,是整个芯片工作电压降低的瓶颈,也是降低功耗的瓶颈。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服现有技术存在的以上问题,提供一种低功耗SRAM单元电路结构,。为实现上述技术目的,达到上述技术效果,本专利技术通过以下技术方案实现:一种低功耗SRAM单元电路结构,包括由四个MOS管构成的锁存器,所述锁存器两侧为门控管,锁存器一端通过一写字线管连接电源,另一端通过一反信号管接地。进一步的,所述写字线管为PMOS管,所述反信号管为NMOS管。进一步的,还包括第一读取管、第二读取管,所述第二读取管接地,第二读取管栅极连接于所述一侧的门控管与锁存器之间。进一步的,所述第一读取管、第二读取管为NMOS管。本专利技术的有益效果是:本专利技术在写的时候,利用WWL和WWLB把中间锁存器的电源完全关死,从而有效避免了写的竞争,当电压写入存储节点后,写字线变低,门控管关断,而电源和地的开关打开,锁存器将自发稳定在写入的状态。读的时候则利用单独的两个下拉读取管,使得读的时候对存储的数据完全没有影响。这样这一存储单元的工作电压能做到和普通逻辑电路(nand,nor,inverter)等完全一样的低电压。本专利技术电路简单,控制容易。整个工作电压可以降低到和普通数字逻辑电路完全一样,从而大大减小工作功耗。对SRAM写电路的驱动能力要求降低,可以简化相关电路设计。对SRAM读电路的灵敏放大器(senseamplifier)要求降低,可以简化相关电路设计。上述说明仅是本专利技术技术方案的概述,为了能够更清楚了解本专利技术的技术手段,并可依照说明书的内容予以实施,以下以本专利技术的较佳实施例并配合附图详细说明如后。本专利技术的具体实施方式由以下实施例及其附图详细给出。附图说明此处所说明的附图用来提供对本专利技术的进一步理解,构成本申请的一部分,本专利技术的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术,并不构成对本专利技术的不当限定。在附图中:图1为现有技术的SRAM单元电路结构图一;图2为现有技术的SRAM单元电路结构图二;图3为本专利技术所述的低功耗SRAM单元电路结构图。具体实施方式下面将参考附图并结合实施例,来详细说明本专利技术。参照图3所示,一种低功耗SRAM单元电路结构,包括由四个MOS管构成的锁存器1,所述锁存器1两侧为门控管2,锁存器1一端通过一写字线管5连接电源,字线管5的栅极接到写字线WWL上,锁存器1另一端通过一反信号管6接地,信号管6的栅极接到写字线WWL的反信号WWLB上。还包括第一读取管3、第二读取管4,所述第二读取管4接地,第二读取管4栅极连接于所述一侧的门控管2与锁存器1之间所述第一读取管的栅极连接于读字线RWL上,第一读取管的漏极连接于读位线RBL上。所述写字线管5为PMOS管,所述反信号管6为NMOS管。所述第一读取管3、第二读取管4为NMOS管。本专利技术在写的时候,写字线WWL变高,门控管2打开,同时写字线管5和反信号管6把中间锁存器1的电源完全关死,从而有效避免了写的竞争,当电压写入存储节点后,写字线WWL变低,门控管2关断,而电源和地的开关重新打开,锁存器将自发稳定在写入的状态。读的时候则利用单独的两个读取下拉管3和4,读字线RWL变高,第一读取管3打开,存储单元的数据传输到读位线RBL上,避免了读位线RBL对内部存储数据的影响。这样这一存储单元的工作电压能做到和普通逻辑电路(nand,nor,inverter)等完全一样的低电压。以上所述仅为本专利技术的优选实施例而已,并不用于限制本专利技术,对于本领域的技术人员来说,本专利技术可以有各种更改和变化。凡在本专利技术的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本专利技术的保护范围之内。本文档来自技高网...
低功耗SRAM单元电路结构

【技术保护点】
一种低功耗SRAM单元电路结构,其特征在于:包括由四个MOS管构成的锁存器(1),所述锁存器(1)两侧为门控管(2),锁存器(1)一端通过一写字线管(5)连接电源,另一端通过一反信号管(6)接地;还包括第一读取管(3)、第二读取管(4),所述第二读取管(4)接地,第二读取管(4)栅极连接于所述一侧的门控管(2)与锁存器(1)之间,所述第一读取管的栅极连接于读字线RWL上,第一读取管的漏极连接于读位线RBL上。

【技术特征摘要】
1.一种低功耗SRAM单元电路结构,其特征在于:包括由四个MOS管构成的锁存器(1),所述锁存器(1)两侧为门控管(2),锁存器(1)一端通过一写字线管(5)连接电源,另一端通过一反信号管(6)接地;还包括第一读取管(3)、第二读取管(4),所述第二读取管(4)接地,第二读取管(4)栅极连接于所述一侧的门控管(2)与锁存器(1)...

【专利技术属性】
技术研发人员:张建杰张泳培
申请(专利权)人:苏州无离信息技术有限公司
类型:发明
国别省市:江苏,32

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