一种Type‑C检测方法技术

本发明专利技术公开了一种Type‑C检测方法，包括ADC模块和轮询模块对Type‑C的CC引脚的数据进行轮询采样，ADC模块和轮询模块位于处理模块内，轮询模块位于所述ADC模块前面；处理模块对所述采样数据进行比较，判断Type‑C的连接状态、主从关系、插入方向或电流模式。本发明专利技术摒弃了传统的增设多个比较器的方法，利用本发明专利技术公开的技术方案，实现了节约硬件成本和降低功耗的技术效果；同时，实现了提高设计的灵活性和降低设计的复杂度、风险性的技术效果。

A method for the detection of C Type

The invention discloses a Type C detection methods, including ADC module and Type module of C polling the CC pin data sampling module and ADC polling, polling module in processing module, polling module is positioned on the ADC front module; sampling data processing module in comparison to the judge, Type C connection status, master-slave relationship, insertion direction or current mode. The present invention abandons the method of adding a plurality of comparators, the traditional use of the technical proposal of the invention can save the hardware cost and reduce the power consumption of the technical effect; at the same time, can improve the flexibility of design and reduce the design complexity and the risk of technical effect.

【技术实现步骤摘要】
一种Type-C检测方法
本专利技术属于电子
，特别涉及一种Type-C检测方法。
技术介绍
随着Type-C技术广泛应用，越来越多的便携设备支持Type-C技术。Type-C技术为便携设备的充放电提供了一种有效的通信途径。Type-C全称USBType-C接口，其中CC1和CC2是两个关键引脚。Type-C具有检测连接状态、确定插入方向、确立主从关系和检测电流能力等主要功能，这些功能都要通过检测CC脚上的电压来实现。现有的CC引脚的电压的检测方法，普遍利用多个固定在USB接口芯片内部的比较器和相应的参考电压结构，造成了硬件成本高、功耗大的技术问题，此外，比较器固定在芯片内部，一经流片，无法更改，造成了设计灵活性低、难度高、风险大的技术问题。
技术实现思路
针对上述存在的技术问题，本专利技术提供一种Type-C检测方法，通过复用现有单片机通常应有的ADC模块和轮询模块的轮询采样功能，解决了硬件成本高、功耗大和设计灵活性低、难度高、风险大的技术问题。本专利技术Type-C检测方法的技术方案包括：步骤1、ADC模块和轮询模块对Type-C的CC引脚的数据进行轮询采样，所述ADC模块和轮询模块位于处理模块内，所述轮询模块位于所述ADC模块前面；`步骤2、所述处理模块对所述采样数据进行比较，判断Type-C的连接状态、主从关系、插入方向或电流模式。所述CC引脚的数据包括CC引脚的电压值。所述处理模块包括MCU。所述轮询模块包括多路模拟开关。所述CC引脚包括CC1引脚和CC2引脚。本专利技术与现有技术相比，摒弃了传统的增设多个比较器的方法，实现了节约硬件成本和降低功耗的有益效果；同时，对于软件上的更改、添加或删减，可以在芯片设计过程中，或者芯片流片后的任何阶段完成，对于芯片本身的硬件结构和性能不造成任何影响，实现了提高了设计的灵活性和降低设计的复杂度、风险性的技术效果。附图说明图1为本专利技术实施例Type-C检测方法流程图；具体实施方式为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。结合附图1对本专利技术公开的一种实现Type-C部分检测功能的方法详细描述如下：步骤101中，使用处理模块内的轮询模块和ADC模块，对Type-C的CC引脚的数据进行轮询采样，轮询模块是多路模拟开关；处理模块还包括MCU，MCU系统具有可控制的上拉电阻和下拉电阻，CC引脚包括CC1引脚和CC2引脚，CC引脚的数据是电压值。步骤102中，MCU对CC引脚的电压值等数据进行判断比较，实现对Type-C的连接状态、主从关系、插入方向或电流模式的检测功能。关于主从关系的检测，主要是针对DRP(DualRolePort，双角色端口)的，在DRP未连接时，自身作为主设备和从设备来回切换；当DRP连接到UFP(UpstreamFacingPort,上行端口)时，将自身作为DFP(DownstreamFacingPort，下行端口)使用；当DRP连接到DFP时，将自身作为UFP使用。关于连接状态的检测，当USB作为DFP时，CC1引脚和CC2引脚的电压会被上拉到5V；当连接成功时，CC1引脚和CC2引脚的其中之一会被下拉，在这种情况下，处理模块通过检测被下拉引脚的电压，判断是否连接成功。关于插入方向的检测，对于DFP，判断CC1引脚和CC2引脚之中哪一个引脚被下拉，通过判断被下拉的引脚的电压来实现插入方向的检测；对于UFP，是通过判断CC1引脚和CC2引脚之中哪一个引脚检测到上拉电阻来实现插入方向的检测。关于电流模式的检测，Type-C有三种电流模式，即1.5A，3A和默认USB电源模式(500mA或者900mA)；三种电流模式由CC引脚来检测；对于UFP来说，需要检测CC引脚上的电压来获取对方DFP的电流输出能力。本专利技术方案所公开的技术手段不仅限于上述实施方式所公开的技术手段，还包括由以上技术特征任意组合所组成的技术方案。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种Type‑C检测方法，其特征在于，包括以下步骤，步骤1、ADC模块和轮询模块对Type‑C的CC引脚的数据进行轮询采样，所述ADC模块和轮询模块位于处理模块内，所述轮询模块位于所述ADC模块前面；步骤2、所述处理模块对所述采样数据进行比较，判断Type‑C的连接状态、主从关系、插入方向或电流模式。

【技术特征摘要】
1.一种Type-C检测方法，其特征在于，包括以下步骤，步骤1、ADC模块和轮询模块对Type-C的CC引脚的数据进行轮询采样，所述ADC模块和轮询模块位于处理模块内，所述轮询模块位于所述ADC模块前面；步骤2、所述处理模块对所述采样数据进行比较，判断Type-C的连接状态、主从关系、插入方向或电流模式。2.根据权利要求1所述的Typ...

【专利技术属性】
技术研发人员：王春华，
申请(专利权)人：南京异或科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32