一种射线源组件的漏射线测试方法及设备技术

本发明专利技术提供了一种射线源组件的漏射线测试方法及设备，能够以尽可能低的成本来实现漏射线测试。本发明专利技术的方法包括：在与焦点相距预定距离的位置设一探头；控制探头执行多个以焦点为球心、在经线和纬线维度上运动的运动周期，以无缝包络出第一半球面；将射线源组件翻转后，无缝包络出第二半球面，合并形成整个球面。本发明专利技术的设备包括第一回转臂、第二回转臂、一个探头、射线源组件的安装座、第一驱动单元和第二驱动单元，安装座、第一回转臂和第二回转臂依次可转动连接，探头安装于第二回转臂的转动端，用于测量其停留过的各位置的漏射线数值；第一回转臂和第二回转臂的回转轴垂直，并与探头的主体轴线相交于射线源的焦点，探头距焦点预定距离。

Method and equipment for testing radiation ray of radiation source component

The invention provides a method and a device for measuring the radiation ray of a radiation source assembly, capable of performing a radiation leakage test at the lowest possible cost. The method of the invention comprises: at a predetermined distance apart and focus position is provided with a control probe probe; the implementation of a number of focus as the center of the sphere, the warp and weft motion in the dimensions of the movement cycle, with the half spherical seamless envelope; X-ray source assembly will flip out of the second half spherical envelope, seamless, and form the whole spherical. The device of the invention includes a first rotating arm, rotating arm second, a probe, X-ray source assembly seat, a first driving unit and the second driving unit, installing seat, the first rotary arm and the rotary arm second are rotatably connected, rotating end probe mounted on second rotary arm, for measuring the position of numerical radiation leakage the stay of the first and second rotary arm; rotary arm of the rotary axis, and the main focus of the probe axis intersect in a radiation source, a predetermined distance from the probe focus.

【技术实现步骤摘要】
一种射线源组件的漏射线测试方法及设备
本专利技术涉及漏射线测试
，特别是涉及一种射线源组件的漏射线测试方法及设备。
技术介绍
射线源组件是由射线源和限束器组成的，它是CT产品中重要的组成部分，对射线源组件进行漏射线测试是CT产品所必需的一项测试。按照相关法规关于漏射线测试的要求，所需的测量范围为以被测射线源组件中射线源的焦点为球心，半径为1米的一个球面。现有技术的一种方式，是通过将18个符合法规要求的方形探头交错排布成一个半圆形的探头组，使得所有探头到该半圆形探头组的圆心的距离均为1米；以该半圆形探头组的直径作为转轴，射线源组件被安装在该转轴上，射线源的焦点与该探头组的圆心重合，此时，探头组位于射线源组件的左右方向的一侧。测量过程中，探头组不动，射线源组件绕转轴旋转360°进行测试，由于射线源组件的下方安装有支架，该支架会影响探头对漏射线的接收，因此只有上半部分的测量是有效的，故此时只能完成半个球面的测试。然后，将射线源组件整体翻转180°，即由射线源在下限束器在上变成限束器在下射线源在上，再次将射线源组件绕转轴旋转360°，形成另一半球面，此时，两次测量形成一个完整的球面。现有技术的另一种方式，是将第一种方式做少许变更，将半圆形的探头组相对地面绕其圆心整体水平旋转90°，使其位于射线源组件的正上方。测量过程中，探头组不动，射线源组件绕转轴旋转180°来实现半个球面的测试，然后将射线源组件整体翻转180°，既由射线源在下限束器在上变成限束器在下射线源在上，再次测量180°，形成另一半球面，两次测量形成一个完整的球面。可见，现有技术中包含有18个测量探头，且全部探头每三个月需付费校准一次，设备的采购成本及后期的维护成本均比较高昂。因此，亟需设计一种射线源组件的漏射线测试方法及设备，以尽可能低的成本来实现漏射线测试。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种射线源组件的漏射线测试方法及设备，能够以尽可能低的成本来实现漏射线测试。为实现上述目的，本专利技术提供了一种射线源组件的漏射线测试方法，包括以下步骤：在与被测射线源组件中射线源的焦点相距预定距离的位置设置一个探头；控制所述探头执行多个以所述焦点为球心、在经线维度和纬线维度上进行运动的运动周期，以使得所述探头停留过的位置无缝包络出第一半球面，并通过所述探头测量所述第一半球面内各位置的漏射线数值；将所述射线源组件翻转后，控制所述探头按照上一步骤无缝包络出第二半球面，并通过所述探头测量所述第二半球面内各位置的漏射线数值，所述第二半球面与所述第一半球面合并形成整个球面。本专利技术的漏射线测试方法，使用单个探头，将现有技术中射线源组件相对探头的运动转化为探头相对射线源组件的运动，可以简化测试设备，降低了测试设备的购置和维护成本；尤其是，本专利技术将探头的运动划分为经线维度和纬线维度，通过对探头在经线维度和纬线维度上运动的控制，限定探头每次停留的位置，借助探头在全部停留位置进行测量时测量面积的重合，无缝包络出一个完整的球面测试范围，在降低成本的同时兼顾了测试精度和测试效率。可选地，在各所述运动周期中，控制所述探头在纬线维度以第一预定角度旋转多次，以使得所述探头停留过的位置无缝包络出一个纬线弧，然后控制所述探头在经线维度旋转第二预定角度，所述第一预定角度和所述第二预定角度均小于预定值。可选地，所述纬线弧为半圆弧或整圆弧；和/或，所述探头以所述第一半球面的直径最大的圆圈上的任一点作为初始位置。可选地，所述第一预定角度和所述第二预定角度相等。可选地，在一个所述运动周期中，所述探头无缝包络出一个所述纬线弧后，反向旋转至所述纬线弧的起点位置，再进行经线维度的旋转。可选地，所述探头在经线维度的旋转方向固定不变。本专利技术还提供了一种射线源组件的漏射线测试设备，包括第一回转臂、第二回转臂、一个探头、用于安装射线源组件的安装座、驱动所述第一回转臂的第一驱动单元和驱动所述第二回转臂的第二驱动单元，所述安装座、所述第一回转臂和所述第二回转臂依次可转动连接，所述探头安装于所述第二回转臂的转动端，用于测量其停留过的各位置的漏射线数值；所述第一回转臂和所述第二回转臂的回转轴垂直，并与所述探头的主体轴线相交于所述射线源组件中射线源的焦点，所述探头与所述焦点相距预定距离。本专利技术的漏射线测试设备，使用单个探头，将现有技术中射线源组件相对探头的运动转化为探头相对射线源组件的运动，与现有技术中采用多个探头进行漏射线测试相比，本专利技术的漏射线测试设备由于探头数量的减少在较大程度上降低了设备的购置成本，同时，单个探头的校准周期大大延长，可以由现有技术的每三个月校准一次转变为每年校准一次，节约了很大一笔校准费用。相对于现有技术中驱动射线源组件运动，采用单个探头完成球面测试更加简单便捷，从而简化了漏射线测试设备的结构。尤其是，本专利技术将探头设于第二回转臂，并设置探头、两回转臂与射线源的焦点的相对位置，对测试条件进行精确控制，采用第一回转臂和第二回转臂相互配合，设置两者的回转轴相互垂直，进而实现探头在经线维度和纬线维度上运动的分别控制，以使得探头在各停留位置的测量面积相互叠加，从而无缝包络出一个完整球面的测量范围，实现漏射线测试。可见，本专利技术的漏射线测试设备不仅结构简单，购置和维护成本低，还能够对测量过程进行精确控制，无缝包络出一个完整球面的测量范围，避免出现测量死角，满足漏射线测试对于准确度的要求；同时，由于在经线维度和纬线维度的运动可以通过两个回转臂进行分别控制，进而对测量面积的叠加范围进行控制，在保证测量准确度的同时，兼顾测试效率。可选地，所述第一驱动单元可将所述第一回转臂定位在任一旋转位置；和/或，所述第二驱动单元可将所述第二回转臂定位在任一旋转位置。可选地，所述第二回转臂在与其转动端相对的另一端设有配重件。可选地，所述第二回转臂为折线型的细杆，所述探头设有安装柄，所述第二回转臂的一端与所述安装柄固定连接形成所述转动端，另一端安装有所述配重件。可选地，所述第一驱动单元处于所述第一回转臂的回转轴的一侧；和/或，所述第二驱动单元处于所述第二回转臂朝向所述焦点的一侧。可选地，还包括支撑座，所述支撑座设有脚轮和支撑结构，并通过所述支撑结构与所述脚轮可变换地支撑所述漏射线测试设备。可选地，所述第一回转臂呈L型，并以其横部与所述安装座铰接，以其竖部与所述第二回转臂铰接并垂直于所述第二回转臂的回转轴设置。可选地，还包括立柱和设于所述立柱顶端的托板，所述立柱的中轴线与所述第一回转臂的回转轴重合，所述立柱的下端与所述第一回转臂铰接，所述安装座可拆卸地设于所述托板，以便于更换所述安装座而安装翻转前后的所述射线源组件。可选地，所述第一回转臂以其横部的中部与所述立柱铰接。可选地，所述托板还设有用于安装漏射线测试所需附件的安装部。可选地，所述第一回转臂呈折线型，包括由上至下延伸的第一臂和由所述第一臂的下端朝向所述焦点弯折的第二臂，所述第一臂的上端与所述第二回转臂铰接，所述第二臂连接有上下延伸的转轴，作为所述第一回转臂的回转轴。可选地，还包括处于所述转轴一侧的支撑梁，所述支撑梁设有两个以上上下间隔设置的转动板，以便与所述转轴的上下两端转动连接。可选地，所述支撑梁还设有朝向所述焦点延伸的连接板，所述连接板设有与所述转轴同轴设置且独立于所述转轴本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种射线源组件的漏射线测试方法，其特征在于，包括以下步骤：在与被测射线源组件中射线源的焦点相距预定距离的位置设置一个探头；控制所述探头执行多个以所述焦点为球心、在经线维度和纬线维度上进行运动的运动周期，以使得所述探头停留过的位置无缝包络出第一半球面，并通过所述探头检测所述第一半球面内各位置的漏射线数值；将所述射线源组件翻转后，控制所述探头按照上一步骤无缝包络出第二半球面，并通过所述探头检测所述第二半球面内各位置的漏射线数值，所述第二半球面与所述第一半球面合并形成整个球面。

【技术特征摘要】
1.一种射线源组件的漏射线测试方法，其特征在于，包括以下步骤：在与被测射线源组件中射线源的焦点相距预定距离的位置设置一个探头；控制所述探头执行多个以所述焦点为球心、在经线维度和纬线维度上进行运动的运动周期，以使得所述探头停留过的位置无缝包络出第一半球面，并通过所述探头检测所述第一半球面内各位置的漏射线数值；将所述射线源组件翻转后，控制所述探头按照上一步骤无缝包络出第二半球面，并通过所述探头检测所述第二半球面内各位置的漏射线数值，所述第二半球面与所述第一半球面合并形成整个球面。2.如权利要求1所述的漏射线测试方法，其特征在于，在各所述运动周期中，控制所述探头在纬线维度以第一预定角度旋转多次，以使得所述探头停留过的位置无缝包络出一个纬线弧，然后控制所述探头在经线维度旋转第二预定角度，所述第一预定角度和所述第二预定角度均小于预定值。3.如权利要求2所述的漏射线测试方法，其特征在于，所述纬线弧为半圆弧或整圆弧；和/或，所述探头以所述第一半球面的直径最大的圆圈上的任一点作为初始位置。4.如权利要求2所述的漏射线测试方法，其特征在于，在一个所述运动周期中，所述探头无缝包络出一个所述纬线弧后，反向旋转至所述纬线弧的起点位置，再进行经线维度的旋转。5.如权利要求4所述的漏射线测试方法，其特征在于，所述探头在经线维度的旋转方向固定不变。6.一种射线源组件的漏射线测试设备，其特征在于，包括第一回转臂(2)、第二回转臂(3)、一个探头(1)、用于安装射线源组件的安装座(4)、驱动所述第一回转臂(2)的第一驱动单元(5)和驱动所述第二回转臂(3)的第二驱动单元(6)，所述安装座(4)、所述第一回转臂(2)和所述第二回转臂(3)依次可转动连接，所述探头(1)安装于所述第二回转臂(3)的转动端，用于测量其停留过的各位置的漏射线数值；所述第一回转臂(2)和所述第二回转臂(3)的回转轴垂直，并与所述探头(1)的主体轴线相交于所述射线源组件中射线源的焦点，所述探头(1)与所述焦点相距预定距离。7.如权利要求6所述的漏射线测试设备，其特征在于，所述第一驱动单元(5)可将所述第一回转臂(2)定位在任一旋转位置；和/或，所述第二驱动单元(6)可将所述第二回转臂(3)定位在任一...

【专利技术属性】
技术研发人员：李双学，祝一鸣，于军，
申请(专利权)人：沈阳东软医疗系统有限公司，
类型：发明
国别省市：辽宁,21