大电流导电装置的应用方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种大电流导电装置的应用方法，包括以下步骤：将至少一个电元件固定于测试设备上；将电元件插头分别与电元件的电极连接；将探针插座与测试设备的测试台连接，并使探针插座和/或探针通过导电结构与测试设备电连接，探针插座的位置与电元件插头的位置一一对应；控制测试台靠近电元件，使电元件插头与探针插座插接，并使探针与电元件的电极电连接。本发明专利技术提供的大电流导电装置的应用方法，在电元件上安装电元件插头，配合统一固定于测试台上的探针插座，使得导电装置的结构简单化，装配过程简单化，导电性能好，通过控制测试台的进退，能在测试前实现快速插接，且能同时测试多件电元件，降低人员劳动强度，适应自动化的检测需求。

Application method of large current conducting device

The invention provides an application method of high current conduction device, which comprises the following steps: at least one electrical component fixed on the test equipment; electrical components and electrical components of the electrode plug are respectively connected to the test platform; probe socket and connection of test equipment, and make the probe socket and / or probe through the connection the electrical conductive structure and test equipment, location and electrical plug socket of the probe element corresponding to position control; test bench near the electrical components, electrical components plug and socket probe, and electrode probe and electrical connection element. The application method of large current conducting device provided by the invention, the installation of electric components in electric plug components, with the unified test probe is fixed on the socket on the stage, so it has a simple structure of conductive device, simple assembling process, good conductivity, through the back control test platform, to achieve rapid insertion before testing at the same time, and can test pieces of electrical components, reduce labor intensity, to adapt to the demand of the automatic detection.

【技术实现步骤摘要】
大电流导电装置的应用方法
本专利技术属于电元件检测
，更具体地说，是涉及一种大电流导电装置的应用方法。
技术介绍
随着社会的发展，电子产品被越来越多的使用，其中的电元件(例如电池)需要检测合格后才能够出厂组装。目前，对电元件进行检测的主要内容包括测试、分容、化成等，进行这些检测时，都需要使用导电装置与电元件进行电连接，进行电流、电压等电信号的传输。对于较大型的电元件，目前所使用的导电装置结构复杂，装配过程复杂，导致测试的装配过程周期较长，难以适应自动化的检测工艺，影响测试效率。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种大电流导电装置的应用方法，旨在解决现有技术中存在的较大型的电元件在测试时，其对应的导电装置装配过程复杂，难以适应自动化的检测工艺的问题。为实现上述目的，本专利技术采用的技术方案是：提供一种大电流导电装置的应用方法，所述大电流导电装置包括探针插座、探针及电元件插头，所述探针插座能与所述电元件插头插接，所述探针插座套装于所述探针的外部并与所述探针沿所述探针的中轴方向滑动连接，所述探针插座与所述电元件插头之间还设有弹性导电连接结构，所述应用方法包括以下步骤：将至少一个电元件固定于测试设备上；将所述电元件插头分别与所述电元件的电极连接；将所述探针插座与所述测试设备的测试台连接，并使所述探针插座和/或所述探针通过导电结构与所述测试设备电连接，所述探针插座的位置与所述电元件插头的位置一一对应；控制所述测试台靠近所述电元件，使所述电元件插头与所述探针插座插接，并使所述探针与所述电元件的电极电连接。进一步地，所述测试设备上设有用于固定电元件的固定板。具体地，所述电元件在所述固定板上为矩形阵列式均匀分布或环形阵列式均匀分布。进一步地，所述电元件插头与所述电极螺纹连接。具体地，所述电元件插头为内螺纹套筒，所述内螺纹套筒的前端设有探测开口，所述探测开口与所述内螺纹套筒同轴设置且所述探测开口的内径小于所述内螺纹套筒的内径，所述内螺纹套筒的后端设有第一限位凸台，所述电极处对应的设有外螺柱。具体地，所述电元件插头为插接柱，所述插接柱的后端设有与所述电极匹配的外螺纹，所述插接柱的中部设有第二限位凸台，所述电极处对应的设有内螺孔。进一步地，所述测试台与所述探针插头螺纹连接。具体地，所述探针插座包括插座本体、能使所述探针沿自身中轴方向在预设范行程范围内运动的限位导向机构及外螺纹导线连接柱，所述插座本体后部设有插接孔，所述探针贯穿所述插座本体的前部且所述探针的探测端伸入所述插接孔内，所述探针与所述插座本体之间设有所述限位导向机构，所述插座本体的前部设有外螺纹导线连接柱，所述测试台上设有与所述外螺纹导线连接柱相匹配的内螺纹连接孔。进一步地，所述弹性导电连接结构为卡圈式弹性导电环。具体地，所述弹性导电连接结构包括至少一圈与所述插接孔同轴设置的卡槽及与所述卡槽卡接的金属弹性卡圈。本专利技术提供的大电流导电装置的应用方法的有益效果在于：与现有技术相比，本专利技术大电流导电装置的应用方法通过将电元件统一固定，在其电极上安装电元件插头，探针插座统一固定于测试台上且位置与电元件插头一一对应，其与电元件插头之间具有插接结构，使得导电装置的结构简单化，装配过程简单化，并且导电性能好，能够同时测量大电流信号及小电流信号，通过控制测试台的进退，能够在测试前实现快速插接，且能同时测试多件电元件，有效降低测试人员连接电元件的劳动强度，提高测试效率，更能适应自动化的检测需求。附图说明图1为本专利技术实施例一提供的应用方法的流程图；图2为本专利技术实施例二提供的应用方法的原理图；图3为本专利技术实施例三提供的应用方法的流程图；图4为本专利技术实施例四提供的应用方法的流程图；图5为本专利技术实施例五提供的应用方法的流程图；图6为本专利技术实施例六提供的应用方法的原理图；图7为本专利技术实施例提供的大电流导电装置的主视结构示意图；图8为本专利技术实施例提供的大电流导电装置的立体结构示意图一；图9为本专利技术实施例提供的大电流导电装置的立体结构示意图二；图10为图7所示的大电流导电装置的A-A剖视图；图11为图7中电元件插头的实施例一的结构示意图；图12为图11的B-B剖视图；图13为图7中电元件插头的实施例二的结构示意图；图14为图13的C-C剖视图；图15为图7中探针插座及探针的装配结构示意图；图16为图15的D-D剖视图。图中：1、探针插座；2、探针；3、内螺纹套筒；4、探测开口；5、第一限位凸台；6、导向锥面；7、插接柱；8、外螺纹；9、第二限位凸台；10、插座本体；11、限位导向机构；12、插接孔；13、导向通孔；14、第一限位环；15、第二限位环；16、压簧；17、固定夹；18、容置腔；19、外螺纹导线连接柱；20、卡槽；21、弹簧圈；22、定位圈；23、固定板；24、测试台；25、电元件。具体实施方式为了使本专利技术所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。请一并参阅图1至图10，现对本专利技术提供的大电流导电装置的应用方法进行说明。包括探针插座1、探针2及电元件插头，探针插座1能与电元件插头插接，探针插座1套装于探针2的外部并与探针2沿探针2的中轴方向滑动连接，所述大电流导电装置包括探针插座1、探针2及电元件插头，探针插座1与电元件插头之间还设有弹性导电连接结构，所述应用方法包括以下步骤：根据实际测试情况，将至少一个电元件25固定于测试设备上；将电元件插头分别与电元件25的电极连接；将探针插座1与测试设备的测试台24连接，并使探针插座1和/或探针2通过导电结构与测试设备电连接，探针插座1的位置与电元件插头的位置一一对应；控制测试台24靠近电元件25，使电元件插头与探针插座1插接，并使探针2与电元件25的电极电连接，此时弹性导电连接结构能实现电元件插头与探针插座1的电连接，传递电信号。应当注意的是，测试时探针2主要用于进行小电流信号传导，电元件插头及探针插座1之间的电连接主要用于进行大电流信号传导。本专利技术提供的大电流导电装置的应用方法与现有技术相比，通过将电元件统一固定，在其电极上安装电元件插头，探针插座统一固定于测试台上且位置与电元件插头一一对应，其与电元件插头之间具有插接结构，使得导电装置的结构简单化，装配过程简单化，并且导电性能好，弹性导电连接结构不仅能对探针插座1及电元件插头之间的连接起到紧固作用，还能进行良好的导电，起到对大电流进行传导的作用，与探针结合能够起到同时测量大电流信号及小电流信号的目的，通过控制测试台的进退，能够在测试前实现快速插接，且能同时测试多件电元件，有效降低测试人员连接电元件的劳动强度，提高测试效率，更能适应自动化的检测需求，尤其是配合自动化的测试设备后，能实现自动移动测试台24以及自动测试数据等功能。探针2可与探针插座1滑动连接，在装配过程中，探针2能沿自身中轴方向进行移动，以适应测试位置的深度，防止装配时与探针2的探测端接触的位置与探针2硬性接触损坏探针2。通过设置探针插座与电元件插头的插接结构，使得探针与电元件之间的连接结构稳定，且插拔方便，能够有效简化导电装置的结构、提高连接效率，有利于保证测试的准确度。进一步地，请一并参本文档来自技高网...

【技术保护点】
大电流导电装置的应用方法，所述大电流导电装置包括探针插座、探针及电元件插头，所述探针插座能与所述电元件插头插接，所述探针插座套装于所述探针的外部并与所述探针沿所述探针的中轴方向滑动连接，所述探针插座与所述电元件插头之间还设有弹性导电连接结构，其特征在于，所述应用方法包括以下步骤：将至少一个电元件固定于测试设备上；将所述电元件插头分别与所述电元件的电极连接；将所述探针插座与所述测试设备的测试台连接，并使所述探针插座和/或所述探针通过导电结构与所述测试设备电连接，所述探针插座的位置与所述电元件插头的位置一一对应；控制所述测试台靠近所述电元件，使所述电元件插头与所述探针插座插接，并使所述探针与所述电元件的电极电连接。

【技术特征摘要】
1.大电流导电装置的应用方法，所述大电流导电装置包括探针插座、探针及电元件插头，所述探针插座能与所述电元件插头插接，所述探针插座套装于所述探针的外部并与所述探针沿所述探针的中轴方向滑动连接，所述探针插座与所述电元件插头之间还设有弹性导电连接结构，其特征在于，所述应用方法包括以下步骤：将至少一个电元件固定于测试设备上；将所述电元件插头分别与所述电元件的电极连接；将所述探针插座与所述测试设备的测试台连接，并使所述探针插座和/或所述探针通过导电结构与所述测试设备电连接，所述探针插座的位置与所述电元件插头的位置一一对应；控制所述测试台靠近所述电元件，使所述电元件插头与所述探针插座插接，并使所述探针与所述电元件的电极电连接。2.如权利要求1所述的大电流导电装置的应用方法，其特征在于：所述测试设备上设有用于固定电元件的固定板。3.如权利要求2所述的大电流导电装置的应用方法，其特征在于：所述电元件在所述固定板上为矩形阵列式均匀分布或环形阵列式均匀分布。4.如权利要求1所述的大电流导电装置的应用方法，其特征在于：所述电元件插头与所述电极螺纹连接。5.如权利要求4所述的大电流导电装置的应用方法，其特征在于：所述电元件插头为内螺纹套筒，所述内螺纹套筒的前端设有探测开口，所述探测开口与所...

【专利技术属性】
技术研发人员：毛广甫，
申请(专利权)人：深圳市瑞能实业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44