本实用新型专利技术公开了一种射频发射线圈谐振点的检测系统,所述检测系统包括检测控制模块和阻抗匹配模块。本实用新型专利技术通过检测控制模块将频率可调的测试信号通过阻抗匹配模块输出给射频发射线圈;由阻抗匹配模块对内置的匹配电阻与所述射频发射线圈进行阻抗匹配,并将所述射频发射线圈因阻抗不匹配产生的反射信号输出。由此,根据测试信号的频率和反射信号的大小判断当前测试信号的频率是否为射频发射线圈的谐振频率,只需连续调整测试信号的频率即可找到射频发射线圈的谐振点,非常简单快捷,无需使用网络分析仪,降低了谐振点的检测成本。
【技术实现步骤摘要】
一种射频发射线圈谐振点的检测系统
本技术涉及核磁共振
,特别涉及一种射频发射线圈谐振点的检测系统。
技术介绍
核磁共振的射频发射线圈在与对应磁体频率进行检测时,其谐振点(谐振频率)的调试与检测,一般都是使用网络分析仪查看回波损耗和阻抗,来判断谐振点。但是网络分析仪价格昂贵,携带不方便,长期搬运容易损坏。因而现有技术还有待改进和提高。
技术实现思路
鉴于上述现有技术的不足之处,本技术的目的在于提供一种射频发射线圈谐振点的检测系统,旨在降低谐振点的检测的成本。为了达到上述目的,本技术采取了以下技术方案:一种射频发射线圈谐振点的检测系统,包括:用于将频率可调的测试信号通过阻抗匹配模块输出给射频发射线圈的检测控制模块;用于对内置的匹配电阻与所述射频发射线圈进行阻抗匹配,并将所述射频发射线圈因阻抗不匹配产生的反射信号输出的阻抗匹配模块;所述检测控制模块通过阻抗匹配模块连接所述射频发射线圈。所述的射频发射线圈谐振点的检测系统中,所述检测系统还包括用于显示所述反射信号的波形的显示模块,所述显示模块与所述阻抗匹配模块的输出端连接。所述的射频发射线圈谐振点的检测系统中,所述检测系统还包括:用于计算所述反射信号与测试信号的功率比,在所述功率比小于1:10时,判断所述测试信号的频率为射频发射线圈的谐振频率的判断模块;所述判断模块与所述阻抗匹配模块的输出端连接。所述的射频发射线圈谐振点的检测系统中,所述阻抗匹配模块包括巴伦线圈、匹配电阻和用于将所述反射信号进行放大的信号放大单元;所述巴伦线圈的输入端连接检测控制模块,所述巴伦线圈的输出端连接信号放大单元,所述巴伦线圈的第一平衡端连接射频发射线圈,所述巴伦线圈的第二平衡端连接匹配电阻。所述的射频发射线圈谐振点的检测系统中,所述巴伦线圈包括第一共模电感和与所述第一共模电感串联的第二共模电感,所述第一共模电感包括第一电感和第二电感,所述第二共模电感包括第三电感和第四电感;所述第一电感的一端为巴伦线圈的输入端,连接检测控制模块;所述第一电感的另一端为巴伦线圈的第一平衡端,连接射频发射线圈和第三电感的一端;所述第二电感的一端接地,所述第二电感的另一端为巴伦线圈的第二平衡端、连接第四电感的一端并通过匹配电阻接地;所述第三电感的另一端为巴伦线圈的输出端,连接第四电感的另一端和信号放大单元。所述的射频发射线圈谐振点的检测系统中,所述检测系统还包括用于通过检测控制模块来改变所述测试信号的频率的数字编码开关,所述数字编码开关与所述检测控制模块连接。所述的射频发射线圈谐振点的检测系统中,所述测试信号为正弦波信号。所述的射频发射线圈谐振点的检测系统中,所述检测控制模块包括:用于根据所述数字编码开关输出的信号,控制正弦信号发生器产生的正弦波信号的频率的频率控制单元;用于产生正弦波信号的正弦信号发生器;用于为正弦信号发生器输出的正弦波信号进行滤波的七阶带通滤波器;所述频率控制单元的输入端连接数字编码开关,所述频率控制单元的输出端通过正弦信号发生器连接七阶带通滤波器的输入端,所述七阶带通滤波器的输出端连接所述阻抗匹配模块。相较于现有技术,本技术提供的射频发射线圈谐振点的检测系统中,所述检测系统包括检测控制模块和阻抗匹配模块。本技术通过检测控制模块将频率可调的测试信号通过阻抗匹配模块输出给射频发射线圈;由阻抗匹配模块对内置的匹配电阻与所述射频发射线圈进行阻抗匹配,并将所述射频发射线圈因阻抗不匹配产生的反射信号输出。由此,根据测试信号的频率和反射信号的大小判断当前测试信号的频率是否为射频发射线圈的谐振频率,只需连续调整测试信号的频率即可找到射频发射线圈的谐振点,非常简单快捷,无需使用网络分析仪,降低了谐振点的检测的成本。附图说明图1为本技术提供的射频发射线圈谐振点的检测系统的结构框图。图2为本技术提供的射频发射线圈谐振点的检测系统中,频率控制单元的电路图。图3为本技术提供的射频发射线圈谐振点的检测系统中,阻抗匹配模块的电路图。图4为本技术提供的射频发射线圈谐振点的检测系统中,正弦信号发生器和七阶带通滤波器的电路图。图5为本技术提供的射频发射线圈谐振点的检测方法的流程图。具体实施方式本技术提供一种射频发射线圈谐振点的检测系统。为使本技术的目的、技术方案及效果更加清楚、明确,以下参照附图并举实施例对本技术进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅用以解释本技术,并不用于限定本技术。请参阅图1,本技术提供的射频发射线圈谐振点的检测系统,包括检测控制模块20和阻抗匹配模块30。所述检测控制模块20通过阻抗匹配模块30连接所述射频发射线圈40。所述检测控制模块20,用于将频率可调的测试信号通过阻抗匹配模块30输出给射频发射线圈40。本实施例中,所述测试信号为正弦波信号。当然,在其他实施例中,也可以是余弦波信号。所述阻抗匹配模块30,用于对内置的匹配电阻320与所述射频发射线圈40进行阻抗匹配,并将所述射频发射线圈40因阻抗不匹配产生的反射信号输出。由于射频发射线圈40在谐振频率下,所有的输入信号,最终都全部经过射频发射线圈发射40出去,其反射信号最小。因此,结合本技术,只需根据测试信号的频率和反射信号的大小即可判断当前测试信号的频率是否为射频发射线圈的谐振频率,换而言之,只需连续调整测试信号的频率即可找到射频发射线圈的谐振点,实现谐振点的检测,过程非常简单快捷,无需使用网络分析仪,降低了谐振点的检测的成本。在本实施例中,所述检测系统还包括与所述阻抗匹配模块30的输出端连接的显示模块50,所述显示模块50用于显示所述反射信号的波形。即操作人员在显示模块50上看到反射信号的波形,可直观的判断当前测试信号的频率是否为射频发射线圈的谐振点,非常快捷方便。优选的,所述显示模块50为示波器。在另一实施例中,所述检测系统还包括判断模块(图中未示出),所述判断模块连接所述阻抗匹配模块30的输出端。所述判断模块用于计算所述反射信号与测试信号的功率比,在所述功率比小于1:10时,判断(认为)所述测试信号的频率为射频发射线圈的谐振频率,并将判断结果输出。进一步的,所述判断模块还用于在所述功率比小于1:10时,将所述反射信号最弱时对应的测试信号频率作为射频发射线圈的谐振频率输出。进一步的,所述检测系统还包括与所述检测控制模块20连接的数字编码开关10,所述数字编码开关10用于通过检测控制模块20来改变所述测试信号的频率。优选的,所述数字编码开关10为旋转编码开关。本技术通过输入正弦波信号,模拟射频发射线圈在工作时候的状态,并通过所述数字编码开关来控制调频,并观测反射信号的变化,当发射信号处于最小时,即检测到射频发射线圈当前的谐振点。本技术具备低成本、体积小、反应迅速等特点;能够直观并动态的观测在某一设定频率下,射频发射线圈不匹配时的反射信号的波形。所述检测控制模块20包括:电源滤波电路(图中未示出),频率控制单元210,正弦信号发生器220和七阶带通滤波器230。所述频率控制单元210的输入端连接数字编码开关10,所述频率控制单元210的输出端通过正弦信号发生器220连接七阶带通滤波器230的输入端,所述七阶带通滤波器230的输出端连接所述本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种射频发射线圈谐振点的检测系统,其特征在于,包括:用于将频率可调的测试信号通过阻抗匹配模块输出给射频发射线圈的检测控制模块;用于对内置的匹配电阻与所述射频发射线圈进行阻抗匹配,并将所述射频发射线圈因阻抗不匹配产生的反射信号输出的阻抗匹配模块;所述检测控制模块通过阻抗匹配模块连接所述射频发射线圈。
【技术特征摘要】
1.一种射频发射线圈谐振点的检测系统,其特征在于,包括:用于将频率可调的测试信号通过阻抗匹配模块输出给射频发射线圈的检测控制模块;用于对内置的匹配电阻与所述射频发射线圈进行阻抗匹配,并将所述射频发射线圈因阻抗不匹配产生的反射信号输出的阻抗匹配模块;所述检测控制模块通过阻抗匹配模块连接所述射频发射线圈。2.根据权利要求1所述的射频发射线圈谐振点的检测系统,其特征在于,所述检测系统还包括用于显示所述反射信号的波形的显示模块,所述显示模块与所述阻抗匹配模块的输出端连接。3.根据权利要求1所述的射频发射线圈谐振点的检测系统,其特征在于,所述检测系统还包括:用于计算所述反射信号与测试信号的功率比,在所述功率比小于1:10时,判断所述测试信号的频率为射频发射线圈的谐振频率的判断模块;所述判断模块与所述阻抗匹配模块的输出端连接。4.根据权利要求1、2或3所述的射频发射线圈谐振点的检测系统,其特征在于,所述阻抗匹配模块包括巴伦线圈、匹配电阻和用于将所述反射信号进行放大的信号放大单元;所述巴伦线圈的输入端连接检测控制模块,所述巴伦线圈的输出端连接信号放大单元,所述巴伦线圈的第一平衡端连接射频发射线圈,所述巴伦线圈的第二平衡端连接匹配电阻。5.根据权利要求4所述的射频发射线圈谐振点的检测系统,其特征在于,所述巴伦线圈包括第一共模电感和与所述第一共模电...
【专利技术属性】
技术研发人员:吴志刚,
申请(专利权)人:深圳安科高技术股份有限公司,
类型:新型
国别省市:广东,44
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。