The invention discloses a method for processing a DDR test waveform data file and processing system, DDR test waveform data file processing method, which comprises the following steps: S1, the original data files of all DDR test waveforms and the formation of a list of tree traversal execution; S2, the original data file format conversion and the first parameter screening, the selected data as test data; S3, the direct test data using second parameters into the indirect test data; S4, the test data and the test data were compared with the indirect evaluation standard of the corresponding data. The processing method of the present invention DDR test waveform data file and processing system can automatically extract on DDR waveform data file data, and the test results are automatically and automatically output test report, high reliability.
【技术实现步骤摘要】
DDR测试波形数据文件的处理方法及处理系统
本专利技术涉及DDR测试
,特别涉及一种DDR测试波形数据文件的处理方法及处理系统。
技术介绍
现有的DDR(双倍速率同步动态随机存储器)测试数据采用人工处理,测试人员依照测试波形,依次抄录数据,并写入Excel表格内,耗费大量时间,尤其是当DDR颗粒数较多时。另外,首先,现有测试数据处理需要依据直接测试数据,生成间接测试数据,此过程人工输入公式或计算,可能存在错误,导致最终判定异常;其次,需要人工判定直接测试数据以及间接测试数据是否全部符合要求,两者均符合要求方可认定成功,可能存在人为错误,导致最终判定异常,且需要大量时间;最后,不同人员人工输入测试结果,存在测试结果不统一问题,比如小数点位数设置,是否带单位,字体描述等等。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是为了克服现有技术中对DDR进行测试的测试波形采用人工处理导致存在工作量大及容易出现错误的缺陷,提供一种DDR测试波形数据文件的处理方法及处理系统。本专利技术是通过下述技术方案来解决上述技术问题:一种DDR测试波形数据文件的处理方法,包括以下步骤:S1、将在测试数据文件夹中的所有DDR测试波形的原始数据文件执行遍历并形成树形列表;S2、将所述原始数据进行格式转换并采用第一参数进行筛选,将筛选出的数据作为直接测试数据;S3、将所述直接测试数据采用第二参数转换为间接测试数据;S4、将所述直接测试数据和所述间接测试数据分别与对应的标准评测数据进行对比。较佳地,在步骤S4之前,还包括:步骤S34、对所述直接测试数据和所述间接测试数据分别进行行列变换和格式转 ...
【技术保护点】
一种DDR测试波形数据文件的处理方法,其特征在于,包括以下步骤:S1、将所有DDR测试波形的原始数据文件执行遍历并形成树形列表;S2、将所述原始数据文件进行格式转换并采用第一参数进行筛选,将筛选出的数据作为直接测试数据;S3、将所述直接测试数据采用第二参数转换为间接测试数据;S4、将所述直接测试数据和所述间接测试数据分别与对应的标准评测数据进行对比。
【技术特征摘要】
1.一种DDR测试波形数据文件的处理方法,其特征在于,包括以下步骤:S1、将所有DDR测试波形的原始数据文件执行遍历并形成树形列表;S2、将所述原始数据文件进行格式转换并采用第一参数进行筛选,将筛选出的数据作为直接测试数据;S3、将所述直接测试数据采用第二参数转换为间接测试数据;S4、将所述直接测试数据和所述间接测试数据分别与对应的标准评测数据进行对比。2.如权利要求1所述的DDR测试波形数据文件的处理方法,其特征在于,在步骤S4之前,还包括:步骤S34、对所述直接测试数据和所述间接测试数据分别进行行列变换和格式转换。3.如权利要求2所述的DDR测试波形数据文件的处理方法,其特征在于,在步骤S4之后,还包括:步骤S5、输出测试报告。4.如权利要求1所述的DDR测试波形数据文件的处理方法,其特征在于,所述第一参数包括标准高电平值、标准低电平值、频率、占空比、上升斜率、下降斜率、最大值和最小值,所述第二参数包括上冲、下冲、正冲和负冲;所述第二参数采用所述第二参数获得。5.一种DDR测试波形数据文件的处理系统,其特征在于,包括:遍历模块...
【专利技术属性】
技术研发人员:赵志强,
申请(专利权)人:上海剑桥科技股份有限公司,
类型:发明
国别省市:上海,31
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