天线检测系统及方法技术方案

本发明专利技术提供一种天线检测系统，用以检测一待测天线，天线检测系统包括网络分析仪与测试装置。测试装置包括第一基板、第二基板及标准天线。第二基板与第一基板平行设置。待测天线可移除地设置在第二基板。标准天线固设在第一基板上，且接收来自网络分析仪的第一端口的测试信号并根据测试信号发送辐射信号。待测天线可接收辐射信号并传送待测信号至网络分析仪的第二端口。网络分析仪根据测试信号及待测信号得到S21参数，并比较S21参数与通过对应待测天线的工作频率及固定间距所计算出的理论值以输出待测天线的检测结果。利用本发明专利技术的天线检测系统，可以快速且准确地判定待测天线的实际增益是否符合需求，进而大幅提升检测作业的效率以及天线的质量。

Antenna detection system and method

The invention provides an antenna detection system for detecting an antenna to be tested. The antenna detection system comprises a network analyzer and a test device. The testing device comprises a first substrate, a second substrate and a standard antenna. The second substrate is arranged in parallel with the first substrate. The antenna to be measured may be removably disposed on the second substrate. The standard antenna is fixed on the first base board and receives the test signal from the first port of the network analyzer and transmits the radiation signal according to the test signal. The antenna can receive the radiation signal and transmit the tested signal to the second port of the network analyzer. The network analyzer based on the test signal and the signal to be measured by the S21 parameter, the detection results to the measured output of the antenna and S21 parameters and the working frequency to be measured by the corresponding antenna and fixed distance calculated by the theoretical value. The antenna detection system of the invention can rapidly and accurately judge whether the actual gain of the antenna to be measured meets the requirement, and thereby greatly improving the efficiency of the detection operation and the quality of the antenna.

【技术实现步骤摘要】
天线检测系统及方法
本专利技术是关于一种检测系统及方法，特别是指一种天线检测系统及方法。
技术介绍
随着无线通信产业的快速发展，应用于无线通信产业的天线需求量也越来越大，举凡收音机、电视机、移动电话等，均需要经由天线才能将声音、影像或其他数据进行传送。如此可见，天线的良劣是影响通讯质量非常关键的因素，因此，天线在制造完成后的检测过程十分重要。目前量测天线主要的方式，大多是通过一网络分析仪量测天线的回波损耗(S11参数)，再由网络分析仪或测试人员根据量测到的回波损耗来判断天线的质量。然而，S11参数并无法实际反应出天线真正的增益值，因而影响所应用的无线通信产品的通讯质量与良率。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术提供一种天线检测系统及方法，用以检测一待测天线。在一实施例中，一种天线检测系统包括网络分析仪与测试装置。测试装置包括第一基板、第二基板及标准天线。第二基板与第一基板平行设置。待测天线可移除地设置在第二基板。标准天线固设在第一基板上，且接收来自网络分析仪的第一端口的测试信号并根据测试信号发送辐射信号。待测天线设置于第二基板上并与网络分析仪的第二端口电性连接，使得待测天线可接收辐射信号。且标准天线与待测天线的间具有固定间距。其中，待测天线接收辐射信号产生待测信号，并传送至网络分析仪的第二端口。网络分析仪根据测试信号及待测信号得到S21参数(正向穿透系数)，并比较S21参数与理论值以输出待测天线的检测结果。其中，理论值是通过固定间距与对应待测天线的工作频率计算出而得。在一实施例中，一种天线检测方法包括通过工作频率及固定间距计算出理论值，工作频率对应待测天线、通过测试装置使待测天线与标准天线保持固定间距、由网络分析仪输出测试信号至标准天线、由标准天线根据测试信号发射辐射信号、由待测天线接收辐射信号并根据辐射信号产生待测信号、由网络分析仪根据测试信号与待测信号得到待测天线的S21参数(正向穿透系数)、比较S21参数与理论值，以输出待测天线的检测结果。综上，本专利技术实施例的天线检测系统及方法是通过测试装置将待测天线与标准天线保持固定间距，以供网络分析仪进行待测天线的S21参数的量测及比对，借以快速且准确地判定待测天线的实际增益是否符合需求，进而大幅提升检测作业的效率以及天线的质量。【附图说明】图1为本专利技术一实施例的天线检测系统的立体图。图2为本专利技术一实施例的测试装置的分解立体图。图3为本专利技术一实施例的测试装置的剖视图。图4为本专利技术一实施例的天线检测系统的电路方框图。图5为图1天线检测系统的限位件一实施例的作动图(一)。图6为图1天线检测系统的限位件一实施例的作动图(二)。图7为本专利技术另一实施例的天线检测系统的电路方框图。图8为图7的供电电路一实施例的电路示意图。图9为本专利技术一实施例的天线检测系统的检测结果示意图。图10为本专利技术第一实施例的天线检测方法的流程图。图11为本专利技术第二实施例的天线检测方法的流程图。图12为本专利技术第三实施例的天线检测方法的流程图。【具体实施方式】图1及图2为本专利技术天线检测系统一实施例的立体图与分解立体图。参照图1及图2，此天线检测系统1是用以检测待测天线2。于一些实施例中，待测天线2较佳为一主动天线，但也可为被动天线或其他种类的天线，此并不局限。在本实施例中，天线检测系统1包括网络分析仪10与测试装置20。网络分析仪10用以量测各种主动或被动组件的特性。网络分析仪10可包括两个以上的端口。为方便说明，在此，以两个端口为例，以下分别称之为第一端口11与第二端口12。其中，第一端口11是用以发射信号，而第二端口12是用以接收信号。于一些实施例中，网络分析仪10还可包括有处理单元(图未表示)、显示屏幕13及操作接口14。处理单元能执行一种以上的检测程序。于任一种检测程序中，处理单元可通过执行韧体或软件算法接收到待测对象所发出的信号、基于接收到的信号进行运算作业以得到对应的检测结果，并将检测结果显示在显示屏幕13上。上述处理单元可为微处理器、微控制器、数字信号处理器、微型计算器、中央处理器、场编程门阵列、可编程逻辑设备、状态器、逻辑电路、模拟电路或数字电路。测试装置20包括有第一基板21、第二基板22及标准天线23。其中第一基板21与第二基板22是平行设置，且待测天线2可移除地设置在第二基板22。换言之，待测天线2是组装在第二基板22而可拆卸取出。标准天线23是固设在第一基板21上。于一些实施例中，标准天线23可为一被动天线，但也可为主动天线或其他种类的天线，此并不局限。另外，于一些实施例中，标准天线23也可组装于第一基板21上而呈可拆卸状态。于一些实施例中，第一基板21与第二基板22的间固接有立向且长度相同的二支撑柱25，使得第一基板21与第二基板22的间的距离固定并相互平行。另外，于一些实施例中，第二基板22可位于第一基板21的上方。于一些实施例中，二支撑柱25可分别靠近第一基板21与第二基板22的相对二边缘，而能够获得较稳固的支撑效果。但实际上，上述支撑柱25的数量、长度或位置都可以依实际的需求调整例如，第一基板21与第二基板22之间也可仅连接有一个支撑柱25或二个以上的支撑柱25，以上仅为示例，而非用以限制。此外，于一些实施例中，各支撑柱25可通过嵌卡或锁固的方式组接于第一基板21与第二基板22，使各支撑柱25、第一基板21及第二基板22呈可拆卸分离型态。或者，于一些实施例中，各支撑柱25也可通过黏着的方式固接于第一基板21与第二基板22。于一些实施例中，第一基板21的底部还可一体形成或组接有若干个底脚211，使测试装置20放置在平面上时，第一基板21与平面能保持一段距离，达到在安装对象(如标准天线23)于第一基板21的过程中，安装人员的手部能够有更大的操作空间，使组装过程更加快速、方便。于一些实施例中，标准天线23可接收来自网络分析仪10的第一端口11的测试信号S1，且标准天线23根据测试信号S1发送一辐射信号S2。待测天线2可与网络分析仪10的第二端口12电性连接，使得待测天线2可接收标准天线23发出的辐射信号S2。于一些实施例中，第一基板21的顶面(也就是面向第二基板22的表面)设置有凹槽212与接线槽213，标准天线23是嵌入或放置于凹槽212中而固设在第一基板21上。接线槽213连通于凹槽212与第一基板21的一侧面，所述接线槽213穿设有一第一传输线214(如缆线或一般信号传输线)，第一传输线214一端是电性连接于标准天线23，第一传输线214的另一端则电性连接于网络分析仪10的第一端口11，使标准天线23能够接收来自网络分析仪10的第一端口11的测试信号S1。于一些实施例中，第二基板22具有上表面221、下表面222及容置槽223，下表面222是面向第一基板21，上表面221相对于下表面222远离第一基板21(也就是说，上表面221是面向上方)，容置槽223是凹设于上表面221。于一些实施例中，待测天线2可放置于容置槽223中而呈可拆卸状态，待测试完毕后，能够取出并放入另一个待测天线2进行测试作业，使得测试人员对于大量测试时，可快速更换待测天线2。请对照图3所示，为本专利技术一实施例测试装置20的剖视图，在本实施例中，第二基板22还具有一贯孔225，所述贯孔22本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种天线检测系统，用以检测一待测天线，其特征在于，包括：一网络分析仪；以及一测试装置，包括：一第一基板；一第二基板，与该第一基板平行设置，其中该待测天线可移除地设置在该第二基板；以及一标准天线，固设在该第一基板上，接收来自该网络分析仪的一第一端口的一测试信号并根据该测试信号发送一辐射信号，其中该待测天线设置于该第二基板上并与该网络分析仪的一第二端口电性连接，使得该待测天线可接收该辐射信号，且该标准天线与该待测天线之间具有一固定间距；其中，该待测天线接收该辐射信号产生一待测信号，并传送至该网络分析仪的该第二端口，该网络分析仪根据该测试信号及该待测信号得到一S21参数，并比较该S21参数与一理论值以输出该待测天线的一检测结果；其中，该理论值通过该固定间距与对应该待测天线的一工作频率计算出而得。

【技术特征摘要】
1.一种天线检测系统，用以检测一待测天线，其特征在于，包括：一网络分析仪；以及一测试装置，包括：一第一基板；一第二基板，与该第一基板平行设置，其中该待测天线可移除地设置在该第二基板；以及一标准天线，固设在该第一基板上，接收来自该网络分析仪的一第一端口的一测试信号并根据该测试信号发送一辐射信号，其中该待测天线设置于该第二基板上并与该网络分析仪的一第二端口电性连接，使得该待测天线可接收该辐射信号，且该标准天线与该待测天线之间具有一固定间距；其中，该待测天线接收该辐射信号产生一待测信号，并传送至该网络分析仪的该第二端口，该网络分析仪根据该测试信号及该待测信号得到一S21参数，并比较该S21参数与一理论值以输出该待测天线的一检测结果；其中，该理论值通过该固定间距与对应该待测天线的一工作频率计算出而得。2.如权利要求1所述的天线检测系统，其特征在于，该第二基板具有一上表面、一下表面及一容置槽，该下表面面向该第一基板，该上表面相对于该下表面远离该第一基板，该容置槽是位于该上表面，该待测天线可移除地位于该容置槽内。3.如权利要求2所述的天线检测系统，其特征在于，该第二基板还具有一线槽，该线槽位于该上表面且连通该容置槽与该上表面的一侧边。4.如权利要求2所述的天线检测系统，其特征在于，该第二基板还具有一贯孔，该贯孔位于该容置槽的底部且贯穿至该下表面，当该待测天线位于该容置槽内时，该待测天线的一天线单元是位于该贯孔内。5.如权利要求1所述的天线检测系统，其特征在于，该测试装置还包括一限位件，该限位件位于该第二基板，并且当该待测天线位于该容置槽内时，该限位件可选择性地固定或释放该待测天线。6.如权利要求5所述的天线检测系统，其特征在于，该限位件包括一压块，该压块可转动地连接于该第二基板。7.如权利要求1所述的天线检测系统，其特征在于，该测试装置还包括至少一支撑柱，各该支撑柱位于该第一基板与该第二基板之间，各该支撑柱的一端固接于该第一基板，且各该支撑柱的另一端则固接于该第二基板。8.如权利要求1所述的天线检测系统，其特征在于，该标准天线为一被动天线。9.如权利要求1所述的天线检测系统，其特征在于，该待测天线为一主动天线。10.如权利要求1所述的天线检测系统，其特征在于，该理论值为以下列公式表示：I＝G1+FSPL+G2；其中，I为该理论值，G1为该标准天线...

【专利技术属性】
技术研发人员：李彦庆，黄嘉民，
申请(专利权)人：神讯电脑昆山有限公司，神基科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32