一种金属化薄膜膜厚观察装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种金属化薄膜膜厚观察装置，属于电容器检测装置技术领域，包括检测平台，所述检测平台上铺设有金属化薄膜，所述检测平台上位于金属化薄膜两侧对称设置有反射装置，所述反射装置上开设有楔形反射槽，所述检测平台两侧的反射装置对角线位置设置有激光发射装置和激光接收装置，所述激光发射装置发射的激光倾斜射入到金属化薄膜表面、经过楔形反射槽反射后以曲折路径反射到激光接收装置上。上述技术方案通过激光发射装置对金属化薄膜的激光发射，经过多次曲折反射后，金属化薄膜上经过多点检测后，激光接收装置对信号进行接收，若膜厚出现异常，则激光接收装置上的接收信号位置会发生改变，并以此来判断电容器薄膜的质量。

Device for observing film thickness of metallized film

The invention relates to a metallic thin film thickness observation device, belonging to the technical field of capacitor detection device, comprising a detection platform, the test platform is paved with a metal film, the detection platform is located on both sides of the metallized film is symmetrically provided with a reflecting device, the reflection device is provided with a wedge groove reflection, reflection the diagonal position of both sides of the device detection platform is provided with a laser emitting device and a laser receiving device, the laser emitting laser emission device inclined into metal film surface, after reflection reflection in a zigzag slot wedge path reflected to the laser receiving device. The technical scheme of laser emission of metal film by laser emission device, after several twists and turns after the reflection of metal film by multi point detection, laser receiving device for receiving the signal, if the film thickness is abnormal, the laser receiving position signal on the device will be changed, and to judge the quality of capacitor for the film.

【技术实现步骤摘要】
一种金属化薄膜膜厚观察装置
本专利技术涉及一种金属化薄膜膜厚观察装置，属于电容器检测装置

技术介绍
目前电容器在电力电子、通讯设施及轨道运输等领域应用广泛，随着科技水平的发展，电容器凭借其良好的电力性能和高可靠性，成为推动上述行业领域更新换代不可或缺的电子元件，其中薄膜电容器由于体积小、安全性高，极大的推动了电容器
的发展。现有技术中薄膜电容器的通用制法是将金属薄膜与聚乙酯、聚丙烯、聚苯乙烯或聚碳酸酯等塑料薄膜从两端重叠后，卷绕成圆筒状的金属化薄膜电极，然后放置到电容器外壳中，注入绝缘油和环氧树脂，再经过组装后得到薄膜电容器。其中，金属化薄膜在蒸镀过程中会出现镀层厚薄不均、飞溅点、蛇纹、氧化层等缺陷，该类缺陷薄膜在卷绕成薄膜电极后容易出现损耗过大，产品质量难以控制，严重时甚至引发电容器爆炸。其中，电容器厚度检测设备可以分为在线测厚设备和非在线测厚设备两大类。这两类测厚设备如果能够配合使用是最理想的，但是在线测厚设备检测设备较为复杂，并且采用非接触式检测，容易出现薄膜表面平整性不好而引起的数据波动较大的情况，而非在线测厚设备可以提供接触式测量方法，有效弥补了在线测厚的这一不足。但是在电容器薄膜领域，非在线测厚设备容易造成金属化薄膜镀层的损坏，因此以在线厚度检测为主。
技术实现思路
为此，本专利技术提供了一种金属化薄膜膜厚观察装置，具体技术方案如下：一种金属化薄膜膜厚观察装置，包括检测平台，所述检测平台上铺设有金属化薄膜，所述检测平台上位于金属化薄膜两侧对称设置有反射装置，所述反射装置上开设有楔形反射槽，所述检测平台两侧的反射装置对角线位置设置有激光发射装置和激光接收装置，所述激光发射装置发射的激光倾斜射入到金属化薄膜表面、经过楔形反射槽反射后以曲折路径反射到激光接收装置上。作为上述技术方案的改进，所述检测平台上靠近金属化薄膜一侧的位置设置有侧光灯。作为上述技术方案的改进，所述检测平台底部设置有支撑腿。作为上述技术方案的改进，所述检测平台后接有切膜装置，所述切膜装置包括龙门架，所述龙门架上悬挂有驱动机构，所述驱动机构下方设置有刀架，所述刀架下方固定有刀头。上述技术方案通过激光发射装置对金属化薄膜的激光发射，在金属化薄膜膜厚正常时，经过反射装置的楔形反射槽的反射，激光信号将反射到金属化薄膜上的另一个检测点，经过多次曲折反射后，金属化薄膜上经过多点检测后，激光接收装置对信号进行接收，若膜厚出现异常，则激光接收装置上的接收信号位置会发生改变，并产生相应警报提示，并以此来判断电容器薄膜的质量，具有有益的技术效果和显著的实用价值。附图说明图1为本专利技术一种金属化薄膜膜厚观察装置的结构示意图；图2为本专利技术一种金属化薄膜膜厚观察装置在俯视角度的示意图；图3为本专利技术中反射装置之间的激光折射路径示意图。具体实施方式如图1、图2、图3所示，本专利技术提供了一种金属化薄膜膜厚观察装置，包括检测平台20，所述检测平台20上铺设有金属化薄膜10，所述检测平台20上位于金属化薄膜10两侧对称设置有反射装置41，所述反射装置41上开设有楔形反射槽411，所述检测平台20两侧的反射装置41对角线位置设置有激光发射装置40和激光接收装置42，所述激光发射装置40发射的激光倾斜射入到金属化薄膜10表面、经过楔形反射槽411反射后以曲折路径反射到激光接收装置42上。该技术方案通过激光发射装置40对金属化薄膜10的激光发射，在金属化薄膜10膜厚正常时，经过反射装置41的楔形反射槽411的反射，激光信号将反射到金属化薄膜10上的另一个检测点，经过多次曲折反射后，金属化薄膜10上经过多点检测后，激光接收装置42对信号进行接收，若膜厚出现异常，则激光接收装置42上的接收信号位置会发生改变，并产生相应警报提示，并以此来判断电容器薄膜的质量。进一步的，所述检测平台20上靠近金属化薄膜10一侧的位置设置有侧光灯30，该侧光灯30的设计能够在激光接收装置42检测到膜厚异常时发光，通过视觉观察具体判断出金属化薄膜10的厚度缺陷，该技术方案的优点在于，在线检测时若完全依靠检测人员的视检，人力成本投入较大，而采用本专利技术的装置，则可以在激光接收装置42检测到膜厚异常时，再辅助以检测人员的视检，大大降低人员工作量。更进一步的，所述检测平台20底部设置有支撑腿21，该支撑腿21的目的是对检测平台20以及沿检测平台20滑动的金属化薄膜10进行支撑。更进一步的，所述检测平台20后接有切膜装置，所述切膜装置包括龙门架50，所述龙门架50上悬挂有驱动机构51，所述驱动机构51下方设置有刀架52，所述刀架52下方固定有刀头53。该优选方案通过增设裁切装置，在视检观察装置检查出缺陷，并人工标记后，及时将有缺陷的薄膜裁切掉，避免缺陷薄膜流入后道分切卷绕环节，提高产品合格率。以上对本专利技术的实施例进行了详细说明，但所述内容仅为本专利技术的较佳实施例，不能被认为用于限定本专利技术的实施范围，凡依本专利技术范围所作的均等变化与改进等，均应仍归属于本专利技术涵盖范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种金属化薄膜膜厚观察装置，其特征在于，包括检测平台（20），所述检测平台（20）上铺设有金属化薄膜（10），所述检测平台（20）上位于金属化薄膜（10）两侧对称设置有反射装置（41），所述反射装置（41）上开设有楔形反射槽（411），所述检测平台（20）两侧的反射装置（41）对角线位置设置有激光发射装置（40）和激光接收装置（42），所述激光发射装置（40）发射的激光倾斜射入到金属化薄膜（10）表面、经过楔形反射槽（411）反射后以曲折路径反射到激光接收装置（42）上。

【技术特征摘要】
1.一种金属化薄膜膜厚观察装置，其特征在于，包括检测平台（20），所述检测平台（20）上铺设有金属化薄膜（10），所述检测平台（20）上位于金属化薄膜（10）两侧对称设置有反射装置（41），所述反射装置（41）上开设有楔形反射槽（411），所述检测平台（20）两侧的反射装置（41）对角线位置设置有激光发射装置（40）和激光接收装置（42），所述激光发射装置（40）发射的激光倾斜射入到金属化薄膜（10）表面、经过楔形反射槽（411）反射后以曲折路径反射到激光接收装置（42）上。2.如权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员：沈艺辉，
申请(专利权)人：铜陵市铜创电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽,34