The invention belongs to the technical field of laser precision detection, and discloses an optical path system for a laser probe component analyzer. The optical system includes a laser control module, laser monitoring module and illumination module, wherein the laser spectrum acquisition module, control module, the laser monitoring module, the lighting module and the imaging module is arranged coaxially. The laser control module is used to control the laser energy and the laser spot; monitoring module for real-time monitoring of laser energy; the spectrum acquisition module for real-time acquisition of plasma spectroscopy; the lighting module for measuring illumination of the sample surface, the surface to ensure the sample to be tested are clearly visible; the imaging module is used for the the surface of the tested sample imaging. The optical path system realizes stable spectral information acquisition and clear surface imaging simultaneously.
【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于激光精密检测相关
,更具体地,涉及一种用于激光探针成分分析仪的光路系统。
技术介绍
激光探针,又称为激光诱导击穿光谱(Laser-inducedbreakdownspectroscopy,简称LIBS),是一种物质成分分析方法。激光探针利用激光在待测样品表面烧蚀产生等离子体,再通过分析等离子体发射光谱实现对物质元素成分的测量。从科研化走向工业化的过程中,激光探针需要一种成熟的光路系统,在保证稳定光谱采集的同时,获得样品表面成像信息,使用户能够对样品表面特定位置的原位信息进行采集,保证可见即所得。目前,本领域相关技术人员已经做了一些研究,如公开号为CN103267746B的专利、公开号为CN101587074B的专利、授权公告号为CN101587074B的专利分别公开了不同的激光探针分析仪,以上所公开的激光探针分析仪均集成了激光探针光谱分析和同轴样品表面成像的功能,为激光探针光路系统的典型实例。但是上述实例皆存在以下几点不足:1.没有样品表面的同轴照明装置,对于表面光滑或者色彩较暗的样品,特别是在显微分析高倍成像时,难以保证样品表面清晰可见;2.成像系统中,没有考虑对激光的滤除,同轴成像过程样品表面反射的激光很容易将成像相机损坏;3.没有激光能量实时调节和监控系统,既无法对激光光斑进行整形获得更适合激光探针使用的光束,也无法对激光能量波动和衰减效应进行实时校正、调节及监控;4.光谱采集器前面没有滤除激光,样品表面反射的激光容易将光纤采集头损坏。
技术实现思路
针对现有技术的以上缺陷或改进需求,本专利技术提供了一种用于激光探针成分分析仪的光路 ...
【技术保护点】
一种用于激光探针成分分析仪的光路系统,其包括光谱采集模块及成像模块,其特征在于:所述光路系统还包括激光控制模块、激光监测模块及照明模块,所述光谱采集模块、所述激光控制模块、所述激光监测模块、所述照明模块及所述成像模块是同轴设置的;所述激光控制模块用于控制激光能量及光斑;所述激光监测模块用于实时监测激光能量,以便所述激光控制模块对激光能量波动及衰减效应进行实时校正;所述光谱采集模块用于实时采集等离子光谱;所述照明模块用于对待测样品表面进行照明,以保证所述待测样品的表面清晰可见;所述成像模块用于对所述待测样品表面成像。
【技术特征摘要】
1.一种用于激光探针成分分析仪的光路系统,其包括光谱采集模块及成像模块,其特征在于:所述光路系统还包括激光控制模块、激光监测模块及照明模块,所述光谱采集模块、所述激光控制模块、所述激光监测模块、所述照明模块及所述成像模块是同轴设置的;所述激光控制模块用于控制激光能量及光斑;所述激光监测模块用于实时监测激光能量,以便所述激光控制模块对激光能量波动及衰减效应进行实时校正;所述光谱采集模块用于实时采集等离子光谱;所述照明模块用于对待测样品表面进行照明,以保证所述待测样品的表面清晰可见;所述成像模块用于对所述待测样品表面成像。2.如权利要求1所述的用于激光探针成分分析仪的光路系统,其特征在于:所述激光控制模块、所述光谱采集模块、所述照明模块及所述成像模块共同具有物镜;所述激光控制模块、所述激光监测模块、所述照明模块及所述成像模块共同具有分束镜;所述激光控制模块及所述成像模块共同具有激光反射镜;所述照明模块及所述成像模块共同具有分光镜。3.如权利要求2所述的用于激光探针成分分析仪的光路系统,其特征在于:所述激光控制模块还包括激光器、激光扩束镜、谐波分束镜、第一激光窗口、第一激光吸收体、半波片、偏振分束镜、第二激光窗口、第二激光吸收体、光闸及光阑;所述第一激光窗口位于所述谐波分束镜及所述第一激光吸收体之间;所述半波片位于所述偏振分束镜前方;所述第二激光窗口位于所述偏振分束镜及所述第二激光吸收体之间;所述物镜位于所述分束镜及所述待测样品之间。4.如权利要求3所述的用于激光探针成分分析仪的光路系统,其特征在于:所述半波片是可旋转的。5.如权利要求3所述的用于激光探针成分分析仪的光路系统,其特征在于:所述激光监测模块还包括第一线偏振片及激光能量计,所述第一线偏振片位于...
【专利技术属性】
技术研发人员:李祥友,李嘉铭,熊佛关,朱志豪,郝中骐,沈萌,郭连波,曾晓雁,陆永枫,
申请(专利权)人:华中科技大学,武汉新瑞达激光工程有限责任公司,
类型:发明
国别省市:湖北;42
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