The invention relates to a method for monitoring the offset of an identification code. The method includes monitoring identification code offset: Step 1, making the bottom, forming alignment marks on the back end of the corresponding two-dimensional code identification code of the preset position around; step 2, in the background to create identification code, the offset according to the relative position of the alignment mark and the two-dimensional code the code to monitor the identification code. The method for monitoring the offset of the identification code of the invention can improve the monitoring of the offset of the mark code along the long edge of the back bottom.
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及液晶显示
,尤其涉及一种监控标识码偏移量的方法。
技术介绍
在液晶显示器制造工艺中,为了产线生产自动化,确定将每一片基板资讯后流,每片基板都有唯一对应的ID(标识码),例如,玻璃基板(Glass)具有GlassID,芯片(Chip)具有ChipID。每一个ID一般包含两个部分ORC(字符)+2DCode(二维码),一般整体的大小大约为10毫米×2毫米,字符供人识别,二维码供机器识别。ID长的方向上大概为10毫米,在最小倍率的监控设备下也无法整体显示,因此长方向偏移监控不方便。如图1所示,其为目前主流的ID设计方式示意图。背底(Subtone)10可为青色,可由曝光机在基板上做出来;图1中字符11全部以字母A表示,二维码12以方块表示,字母和方块为ID内容,可为彩色,可由刻号机在背底10上做出来。由于背底10和由字符11和二维码12组成的标识码这两个部分由不同的机台做出来,相对位置保持就很重要,当标识码和背底10位置错位时将会无法读取。图2所示为目前主流的ID设计方式中短边方向位置不佳的示意图,相较于图1中的设计位置,实际加工时,字符11和二维码12组成的标识码在背底10的短边方向发生位置错位。图3所示为目前主流的ID设计方式中长边方向位置不佳的示意图,相较于图1中的设计位置,实际加工时,字符11和二维码12组成的标识码在背底10的长边方向发生位置错位。图4所示为图2的监控视野示意图。监控视野13是有限的,图4中以虚线框表示监控视野13;根据图4,标识码沿背底10短边的位置不佳很容易识别,并可以通过ID尺寸计算出偏移量。图5所示为图3的 ...
【技术保护点】
一种监控标识码偏移量的方法,其特征在于,包括:步骤1、制作背底,并在该背底上对应标识码的二维码的预设位置周围形成对位标记;步骤2、在该背底上制作出标识码后,根据该对位标记和该标识码的二维码的相对位置监控该标识码的偏移量。
【技术特征摘要】
1.一种监控标识码偏移量的方法,其特征在于,包括:步骤1、制作背底,并在该背底上对应标识码的二维码的预设位置周围形成对位标记;步骤2、在该背底上制作出标识码后,根据该对位标记和该标识码的二维码的相对位置监控该标识码的偏移量。2.如权利要求1所述的监控标识码偏移量的方法,其特征在于,根据该对位标记和该标识码的二维码沿该背底长边方向的距离间隔监控该标识码沿该背底长边方向的偏移量。3.如权利要求1所述的监控标识码偏移量的方法,其特征在于,根据该对位标记和该标识码的二维码沿该背底短边方向的距离间隔监控该标识码沿该背底短边方向的偏移量。4.如权利要求1所述的监控标识码偏移量的方法,其特征在于,该对位标记包括位置对应于...
【专利技术属性】
技术研发人员:龚成波,
申请(专利权)人:武汉华星光电技术有限公司,
类型:发明
国别省市:湖北;42
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