一种阵列基板、显示面板与显示装置制造方法及图纸

本发明专利技术实施例公开了一种阵列基板、显示面板和显示装置，其中，所述阵列基板包括显示区域和围绕所述显示区域的非显示区域，还包括衬底；所述非显示区域设置有至少两个测试单元，所述测试单元包括设置在所述衬底上的导电金属层以及位于所述导电金属层上远离所述衬底一侧的钝化层，所述钝化层上形成有开口，所述开口用于在进行测试时容纳测试电路板的金手指。采用上述技术方案，可以保证测试时测试单元与测试电路板良好接触，提高测试准确性。

Array substrate, display panel and display device

The embodiment of the invention discloses an array substrate, a display panel and a display device, wherein, the array substrate includes a display area and a non display area surrounding the display area, also includes a substrate; the non display region is provided with at least two test unit, the test unit comprises a conductive metal layer on the substrate and positioned in the conductive metal layer from the substrate side of the passivation layer, an opening is formed on the passivation layer, the opening for receiving a test circuit board under test finger. By adopting the technical proposal, the test unit can be in good contact with the test circuit board, and the test accuracy can be improved.

【技术实现步骤摘要】

本专利技术实施例涉及半导体
，尤其涉及一种阵列基板、显示面板与显示装置。
技术介绍
在有机发光二极管显示面板或液晶显示面板的制备工艺过程中，当显示面板制备完毕后需要对显示面板的性能进行测试。在现有显示面板设计中，为便于测试和良品筛选，一般会在显示面板的阵列基板上设置测试单元，通过对阵列基板上的测试单元输入测试信号来对显示面板进行性能测试。上述测试过程中，由于需要将测试单元与测试电路板进行压合后再测试，在压合过程中可能存在压合不良的情况，导致测试单元和测试电路板接触不良，降低测试的准确性，影响生产效率。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术实施例提供一种阵列基板、显示面板与显示装置，以解决现有技术中阵列基板测试时测试单元与测试电路板接触不良，测试不准确的技术问题。第一方面，本专利技术实施例提供了一种阵列基板，包括显示区域和围绕所述显示区域的非显示区域，还包括：衬底；所述非显示区域设置有至少两个测试单元，所述测试单元包括设置在所述衬底上的导电金属层以及位于所述导电金属层上远离所述衬底一侧的钝化层，所述钝化层上形成有开口，所述开口用于在进行测试时容纳测试电路板的金手指。第二方面，本专利技术实施例还提供了一种显示面板，包括本专利技术任意实施例提供的阵列基板，还包括与所述阵列基板相对设置的对向基板。第三方面，本专利技术实施例还提供了一种显示装置，包括本专利技术任意实施例提供的显示面板。本专利技术实施例提供的阵列基板、显示面板和显示装置，阵列基板的非显示区域上设置有至少两个测试单元，测试单元自下而上依次包括衬底、导电金属层和钝化层，钝化层上形成有开口，所述开口用于在进行测试时容纳测试电路板的金手指，保证进行测试时钝化层上的开口可以完全容纳测试电路板的金手指，保证金属导电层与金手指形成良好接触，进而保证测试的准确性，提升阵列基板的制备良率。附图说明为了更加清楚地说明本专利技术示例性实施例的技术方案，下面对描述实施例中所需要用到的附图做一简单介绍。显然，所介绍的附图只是本专利技术所要描述的一部分实施例的附图，而不是全部的附图，对于本领域普通技术人员，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图得到其他的附图。图1是本专利技术实施例提供的一种阵列基板的结构示意图；图2是本专利技术实施例提供的一种阵列基板测试示意图；图3是图2中A-A’位置的剖面结构示意图；图4是本专利技术实施例提供的一种阵列基板测试时的剖面结构示意图；图5是本专利技术实施例提供的开口与金手指在衬底上的垂直投影示意图；图6是本专利技术实施例提供的开口与导电金属层在衬底上的垂直投影示意图；图7是本专利技术实施例提供的一种显示面板的结构示意图；图8是本专利技术实施例提供的一种显示装置的结构示意图。具体实施方式为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚，以下将结合本专利技术实施例中的附图，通过具体实施方式，完整地描述本专利技术的技术方案。显然，所描述的实施例是本专利技术的一部分实施例，而不是全部的实施例，基于本专利技术的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下获得的所有其他实施例，均落入本专利技术的保护范围之内。图1是本专利技术实施例提供的一种阵列基板的结构示意图，如图1所示，该阵列基板包括显示区域10和围绕显示区域10的非显示区域20，非显示区域上设置有至少两个测试单元30。现有显示面板设计中，为便于测试和良品筛选，一般会在显示面板的阵列基板上设置测试单元30，测试单元30可以为可视测试衬垫(VisualTestpad，VTpad)，通过对阵列基板上的VTpad输入测试信号来对显示面板进行性能测试，这种测试方式为VT测试。VTpad一般由导电金属层制成，当进行VT测试时，将测试电路板40与面板上的VTpad进行压合，使测试信号经由测试电路板40和VTpad传导到显示面板上，对显示面板实现点亮测试，如图2所示。图3是是图2中A-A’位置的剖面结构示意图，参考图3，测试单元30可以包括衬底301、位于衬底301上的导电金属层302，位于导电金属层302上远离衬底301一侧的钝化层303，钝化层303用于对导电金属层302进行保护。测试电路板40可以包括柔性衬底401和位于柔性衬底401上的金手指402，钝化层303上形成有开口304，通过开口304露出导电金属层302，以便在测试时通过开口304将金手指402与导电金属层302形成电连接，使测试信号经由金手指402和导电金属层302传导到显示面板上，对显示面板进行测试。上述压合为“假压”方式，即阵列基板上的导电金属层302与金手指402并没有直接连接，而是在压力作用下将导电金属层302与金手指402进行压合连接，无类似导电凸块的材料介于导电金属层302与金手指402中间，因此在压合时，由于导电金属层302处于钝化层之下，在假压时容易造成金手指402与导电金属层302接触不良；或者由于在形成开口304的过程中由于开口304内壁不光滑或者内壁存在凸起的情况下，同样容易导致金手指402与导电金属层302接触不良，无法将测试信号通过金手指402传导到导电金属层302上，影响测试的准确性，降低产品良率并影响生产效率。针对上述问题，本专利技术实施例还提供了一种阵列基板，同样参考图1，所述阵列基板包括显示区域10和围绕显示区域10的非显示区域20，在非显示区域20上设置有至少两个测试单元30，图4是本专利技术实施例提供的一种阵列基板测试时的剖面结构示意图，阵列基板测试时阵列基板的非显示区域20上的测试单元30与测试电路板40连接。可选的，测试单元30可以包括：衬底301；位于衬底301上的导电金属层302；位于导电金属层302上远离衬底301一侧的钝化层303以及形成在钝化层303上的开口304。测试电路板40可以为柔性印刷电路板(FlexiblePrintedCircuit，FPC)，测试电路板40可以包括柔性衬底401和位于柔性衬底401上的金手指402。可选的，开口304可以用于在进行测试时容纳测试电路板40的金手指402，金手指402位于开口304中，与导电金属层302电连接。并且，开口304在衬底301上的垂直投影覆盖金手指402在衬底301上的垂直投影。示例性的，衬底301可以为柔性衬底，其材料可以包括聚酰亚胺、聚对苯二甲酸乙二醇酯、聚萘二甲酸乙二醇酯、聚碳酸酯、聚芳酯以及聚醚砜中的至少一种；衬底301还可以为刚衬底，具体可以为玻璃衬底或者其他刚性衬底。本专利技术实施例不对衬底的种类以及材料进行限定。导电金属层302位于衬底301上，导电金属层302的材料可以包括钛、铝以及铜中的至少一种，这里不对导电金属层302的材料进行限定，只需可以正常传导测试信号即可。钝化层303位于导电金属层302上，用于对导电金属层302进行保护，避免导电金属层302受到水汽或者氧气侵蚀，发生腐蚀或者氧化现象。可选的，钝化层303的材料可以为氧化硅、氮化硅、氮氧化硅以及氧化铝中的至少一种。并且，钝化层303上形成有开口304，且开口304完全贯穿钝化层303，以便通过开口304可以露出导电金属层302，这样在进行测试时，可以保证导电金属层302与测试电路板40上的金手指402良好接触，保证测试信号良好传输至阵列基板的显示区域。可选的，钝化层303上形成有开口304，可以是通过刻蚀钝化层303的方式形成开口304本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种阵列基板，所述阵列基板包括显示区域和围绕所述显示区域的非显示区域，其特征在于，包括衬底；所述非显示区域设置有至少两个测试单元，所述测试单元包括设置在所述衬底上的导电金属层以及位于所述导电金属层上远离所述衬底一侧的钝化层，所述钝化层上形成有开口，所述开口用于在进行测试时容纳测试电路板的金手指。

【技术特征摘要】
1.一种阵列基板，所述阵列基板包括显示区域和围绕所述显示区域的非显示区域，其特征在于，包括衬底；所述非显示区域设置有至少两个测试单元，所述测试单元包括设置在所述衬底上的导电金属层以及位于所述导电金属层上远离所述衬底一侧的钝化层，所述钝化层上形成有开口，所述开口用于在进行测试时容纳测试电路板的金手指。2.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述开口在所述衬底上的垂直投影覆盖所述金手指在所述衬底上的垂直投影。3.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述测试电路板为柔性印刷电路板，所述柔性印刷电路板包括柔性衬底以及位于所述柔性衬底上方的金手指，当对所述阵列基版进行测试时，所述金手指位于所述开口中，与所述导电金属层电连接。4.根据权利要去3所述的阵列基板，其特征在于，所述钝化层的厚度小于或等于所述金手指的厚度。5.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述钝化层的厚度为100nm-1000nm。6.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述开口在所述衬底上的垂直投影覆盖所述导电金属层在所述衬底上的垂直投影。7.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述测试单元的形状为矩形。8.根据权利要求7所述的阵列基板，其特征在于，至少两个...

【专利技术属性】
技术研发人员：姜文鑫，张骏，
申请(专利权)人：上海天马微电子有限公司，天马微电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31