The invention discloses a test data compression method, cycle turning steps include the original test vectors for vector sorting, the first test vector sorted as seed, and the seed of a cycle turning test subset of the original test vectors and test subsets were compared with test vectors remove the strong compatibility in test subset, generate a new test set. The above operation is repeated until the test set is empty. Compared with the prior art, the turnover cycle test data provided by the invention is simple, compression and decompression protocol has high compression efficiency, each generation of 4L 4 seed extract test vector decompression only need to flip a test, low power consumption.
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及的是一种集成电路测试技术，尤其涉及的是一种交替循环翻转的测试数据压缩方法。
技术介绍
在系统芯片(System-on-a-Chip,SoC)设计中，越来越高的电路密度导致测试数据量急剧增加。更大的测试数据规模不仅要求更高的内存需求，而且还增加测试时间。ITRS2013报告显示，SOC-CP-ConsumerSOC进行测试的最小测试数据量10年增加了近4倍，最低压缩比10年增加了近6倍。测试数据压缩技术通过减少测试数据量来解决这个问题，而不会影响系统的整体性能。测试数据压缩技术能有效地减少测试数据量，一方面可以降低测试功耗，另一方面可以缩短测试应用时间，节约测试成本。常见的测试数据压缩技术有：测试集紧缩技术、编码压缩技术、线性压缩技术等。(1)测试集紧缩技术。测试集紧缩(TestSetCompaction)技术运用自动测试模式生成算法，对部分确定的测试向量实行紧缩，以达到减少测试数据量的目的。通常它不需要额外的硬件投资，测试集紧缩的结果将使得用于芯片测试向量数目的减少，它的不利之处在于其非模型故障的覆盖率要受到影响。通常测试集的紧缩可用动态或静态的途径来实现。(2)编码压缩技术。编码压缩技术就是压缩预先计算的测试集TD，而得到比TD小的测试集TE，并将其存储在ATE的存储器中。测试应用时，利用芯片上的硬件，解压存储在ATE中的TE而还原得到TD，再将其应用到被测电路。由于只需传输最终压缩后的编码数据，因而更能节省测试时间，并可有效降低对ATE数据传输带宽的要求。编码压缩技术的优点是在不降故障覆盖率的情况下，降低了对ATE性能的要求，能有效地保...
【技术保护点】
一种交替循环翻转的测试数据压缩方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤一：将原始测试向量进行向量排序，获得测试集T0；步骤二：取T0中的第一个测试向量v1作为种子s1，对种子s1做一位交替循环翻转，获得测试子集C1，将种子s1从T0中删除并加入种子集S中，删除种子s1后的测试集标记为T1；步骤三：将T1中的每个测试向量vi逐一与测试子集C1进行比较，若vi强相容于测试子集C1中的某一向量cj，则将vi从T1中删除，获得T2；步骤四：取T2中的第一个测试向量vj作为种子，重复执行步骤二、步骤三，直至测试集为空，得到种子集S即为压缩结果。
【技术特征摘要】
1.一种交替循环翻转的测试数据压缩方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤一：将原始测试向量进行向量排序，获得测试集T0；步骤二：取T0中的第一个测试向量v1作为种子s1，对种子s1做一位交替循环翻转，获得测试子集C1，将种子s1从T0中删除并加入种子集S中，删除种子s1后的测试集标记为T1；步骤三：将T1中的每个测试向量vi逐一与测试子集C1进行比较，若vi强相容于测试子集C1中的某一向量cj，则将vi从T1中删除，获得T2；...
【专利技术属性】
技术研发人员：吴海峰，江健生，程一飞，吴琼，詹文法，
申请(专利权)人：吴海峰，
类型：发明
国别省市：安徽;34
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