一种适用于多器件辐照评估试验的测试板制造技术

本实用新型专利技术公开了一种适用于多器件辐照评估试验的测试板，包括电路板(1)、固定于所述电路板(1)上的多个分立夹具(2)和包括用于外接电源的正极端(7)和负极端(8)的正负极接口(3)，所述每一分立夹具(2)包括双列直插插座(4)及分别与其各管脚一一对应的排插(5)和保护电阻(6)，所述每一排插(5)包括相互绝缘的与所述负极端(8)电连接的第一端子(9)，与所述双列直插插座(4)的相应管脚电连接的第二端子(10)和与相应的保护电阻(6)的一端电连接的第三端子(11)，所述保护电阻(6)的另一端与所述测试板的正极端(7)电连接，本实用新型专利技术可同时完成多个不同型号的电子器件的辐照评估试验。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及微电子测试
更具体地，涉及一种适用于多器件辐照评估试验的测试板。
技术介绍
应用于辐射环境中的电子器件，易受到环境中的α射线、β射线等各种射线的影响，产生一些辐射效应，进而会导致电子器件参数发生变化，严重时会导致电子器件损坏，使电路失效，进而使电子设备不能正常的工作、运行。因此，需要针对这些应用于辐照环境进行辐照损伤评估试验，从而得到关于集成电路芯片的一些参数结果来摸底其抗辐射能力，测试板在试验中作为电子器件的载体，对电子器件的辐照损伤评估试验起到非常重要的作用。现有的制造技术对每种电子器件单独设计一个仅适合它本身的测试板，其他型号的电子器件不能通用，多个电子器件也不能同时试验，会造成制造和试验成本高，产品试验周期长等问题。因此，需要设计一种适用于多器件辐照评估试验的测试板来满足不同型号的多个电子器件同时进行辐照评估试验的要求，提高产业效率。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种可供不同型号的多个电子器件同时进行辐照评估试验的测试板。为达到上述目的，本技术采用下述技术方案：一种适用于多器件辐照评估试验的测试板，其特征在于，包括电路板、固定于所述电路板上的多个分立夹具和正负极接口；所述分立夹具包括双列直插插座、分别与双列直插插座的各管脚一一对应的排插和保护电阻；所述正负极接口包括用于外接电源的正极端和负极端；每一排插包括相互绝缘的第一端子、第二端子和第三端子，其中，第一端子，与所述测试板的负极端电连接；第二端子，与所述双列直插插座的相应管脚电连接；第三端子，与相应的保护电阻的一端电连接；所述保护电阻的另一端与所述测试板的正极端电连接。优选的，该测试板进一步包括多个用于短接第一端子和第二端子或用于短接第二端子和第三端子的跳线帽。优选的，当所述跳线帽短接第一端子和第二端子时，所述双列直插插座对应管脚为低电位；当所述跳线帽短接第二端子和第三端子时，所述双列直插插座对应管脚为高电位；当所述排插不插接所述跳线帽时，所述双列直插插座对应管脚呈悬空状态。优选的，所述多个分立夹具为对称布置在所述电路板上的偶数个分立夹具。优选的，所述多个分立夹具为4、6、8或10个分立夹具。优选的，所述各保护电阻与正极端的连接布线位于所述电路板的第一面上，各排插第一端子与负极端的连接布线位于所述电路板的第一和第二面上。优选的，各排插第一端子引出线形成在电路板的第二面上，通过设置于所述电路板中央的多个通孔电连接至电路板第一面并布线至所述负极端。优选的，所述双列直插插座包括20个管脚。优选的，所述双列直插插座用于插接封装形式为DIP型的芯片。优选的，所述保护电阻的阻值为10K。附图说明下面结合附图对本技术的具体实施方式作进一步详细的说明。图1示出了测试板的总体设计版图。图2示出了每个分立夹具的电路原理图。具体实施方式为了更清楚地说明本技术，下面结合优选实施例和附图对本技术做进一步的说明。附图中相似的部件以相同的附图标记进行表示。本领域技术人员应当理解，下面所具体描述的内容是说明性的而非限制性的，不应以此限制本技术的保护范围。如图1所示，本技术公开了一种适用于多器件辐照评估试验的测试板，包括电路板1、固定于所述电路板1上的多个分立夹具2和正负极接口3。分立夹具2和正负极接口3可采用焊接的形式固定于所述电路板1上，所述正负极接口3包括用于外接电源的正极端7和负极端8，所述分立夹具2为对称布置在电路板1上的偶数个分立夹具2，优选的，分立夹具2的个数可为4、6或8个，更优选，分立夹具2的个数为6。分立夹具2包括双列直插插座4、与双列直插插座4的各管脚一一对应的排插5和保护电阻6，其中双列直插插座4的管脚可为20，可用于插接封装形式为DIP型的芯片，封装形式为DIP型的芯片管脚数可为14、16或20。每个排插5包括相互绝缘的第一端子9、第二端子10和第三端子11，其中第一端子9与测试板的负极端8电连接；第二端子10与双列直插插座4的相应管脚电连接；第三端子11与相应的保护电阻6的一端电连接，保护电阻6的另一端与测试板的正极端7电连接，保护电阻6可选阻值为10K的电阻。每个排插5上可插接用于短接第一端子9和第二端子10或用于短接第二端子10和第三端子11的跳线帽。如图2所示，当所述跳线帽短接第一端子9和第二端子10时，所述双列直插插座4对应管脚为低电位；当所述跳线帽短接第二端子10和第三端子11时，所述双列直插插座4对应管脚为高电位；当排插5上不插接跳线帽时，所述双列直插插座4对应管脚为悬空状态。所述各保护电阻6与正极端7的连接布线12位于所述电路板1的第一面上，各排插5第一端子9与负极端8的连接布线13位于所述电路板1的第一和第二面上。具体地，各排插5第一端子9引出线形成在电路板1的另一面上，通过设置于所述电路板1中央的多个通孔电连接至电路板1第一面并在第一面上布线至所述正极端7。在电路板1两面上的与正极端7和负极端8电连接的布线关系反之亦然。在优选实施例中，测试板上设置了三列通孔，每列32个，其中三列通孔每一列一端的15个通孔用于电连接所述各保护电阻6与正极端7的连接布线12，另一端的15个通孔用于电连接所述各排插5第一端子9与负极端8的连接布线13。电路板1的尺寸取决于分立夹具2的尺寸和数量。此例中电路板1的尺寸大小为4196mil×7605mil，双列直插插座4的尺寸为1008mil×298mil。电路板1上器件的位置关系根据电路板1尺寸和器件尺寸合理设置。在此例中，位于同侧相邻位置的分立夹具2的双列直插插座4之间的距离为1206mil，测试板上各器件位置双列直插插座4各管脚与对应的排插5之间的距离为287mil，排插5与对应保护电阻6之间的距离为200mil，位于同侧相邻位置的分立夹具2的对应位置的排插5之间的距离为1206mil，对应位置的保护电阻6之间的距离为1052mil。显然，本技术的上述实施例仅仅是为清楚地说明本技术所作的举例，而并非是对本技术的实施方式的限定，对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动，这里无法对所有的实施方式予以穷举，凡是属于本技术的技术方案所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本技术的保护范围之列。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种适用于多器件辐照评估试验的测试板，其特征在于，包括电路板(1)、固定于所述电路板(1)上的多个分立夹具(2)和正负极接口(3)；所述每一分立夹具(2)包括双列直插插座(4)、分别与双列直插插座(4)的各管脚一一对应的排插(5)和保护电阻(6)；所述正负极接口(3)包括用于外接电源的正极端(7)和负极端(8)；每一排插(5)包括相互绝缘的第一端子(9)、第二端子(10)和第三端子(11)，其中，第一端子(9)，与所述负极端(8)电连接；第二端子(10)，与所述双列直插插座(4)的相应管脚电连接；第三端子(11)，与相应的保护电阻(6)的一端电连接；所述保护电阻(6)的另一端与所述测试板的正极端(7)电连接。

【技术特征摘要】
1.一种适用于多器件辐照评估试验的测试板，其特征在于，包括电路板(1)、固定于所述电路板(1)上的多个分立夹具(2)和正负极接口(3)；所述每一分立夹具(2)包括双列直插插座(4)、分别与双列直插插座(4)的各管脚一一对应的排插(5)和保护电阻(6)；所述正负极接口(3)包括用于外接电源的正极端(7)和负极端(8)；每一排插(5)包括相互绝缘的第一端子(9)、第二端子(10)和第三端子(11)，其中，第一端子(9)，与所述负极端(8)电连接；第二端子(10)，与所述双列直插插座(4)的相应管脚电连接；第三端子(11)，与相应的保护电阻(6)的一端电连接；所述保护电阻(6)的另一端与所述测试板的正极端(7)电连接。2.根据权利要求1所述测试板，其特征在于，该测试板进一步包括多个用于短接第一端子(9)和第二端子(10)或用于短接第二端子(10)和第三端子(11)的跳线帽。3.根据权利要求2所述测试板，其特征在于，当所述跳线帽短接第一端子(9)和第二端子(10)时，所述双列直插插座(4)对应管脚为低电位；当所述跳线帽短接第二端子(10)和第三端子(11)时，所述双列直插插座(4)...

【专利技术属性】
技术研发人员：张薇，闫蕊，刘刚，边庆刚，
申请(专利权)人：北京锐达芯集成电路设计有限责任公司，
类型：新型
国别省市：北京;11