一种DDR器件读写信号的测试方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术实施例公开了一种DDR器件读写信号的测试方法及装置，解决了目前的主要采用示波器选择不同的触发方式来区分写数据与读数据，而造成的设置复杂、效率低的技术问题，且达到了成本低的技术效果。本发明专利技术实施例DDR器件读写信号的测试方法包括：将特定数据写入DDR器件；同时将示波器的逻辑触发数据设置为相对应的特定数据；控制示波器对写入特定数据的DDR器件进行数据采集，对采集的数据按照预置测试参数进行测量，并获取示波器读取的对采集的数据进行测量之后的第一测量结果。

Method and device for testing DDR device read-write signal

The embodiment of the invention discloses a device and the DDR device to read and write signal test method, solved the main current selection using oscilloscope trigger mode to distinguish different write data and read data, by setting low efficiency and complex technical problems, and achieves the technical effect and low cost. The test method including write signal read and the embodiment of the invention of DDR devices: specific data is written to the DDR device; at the same time the oscilloscope logic trigger data set to a specific data corresponding to the control; oscilloscope data acquisition for DDR devices is written to a specific data, the collected data is measured according to the preset test parameters, and access to the oscilloscope read the collected data were measured after the first measurement results.

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及信号测试
，尤其涉及一种DDR器件读写信号的测试方法及装置。
技术介绍
DDR＝DoubleDataRate双倍速率同步动态随机存储器。严格的说DDR应该叫DDRSDRAM，人们习惯称为DDR，其中，SDRAM是SynchronousDynamicRandomAccessMemory的缩写，即同步动态随机存取存储器。而DDRSDRAM是DoubleDataRateSDRAM的缩写，是双倍速率同步动态随机存储器的意思。DDR2/DDRII(DoubleDataRate2)SDRAM是由JEDEC(电子设备工程联合委员会)进行开发的新生代内存技术标准，它与上一代DDR内存技术标准最大的不同就是，虽然同是采用了在时钟的上升/下降沿同时进行数据传输的基本方式，但DDR2内存却拥有两倍于上一代DDR内存预读取能力(即：4bit数据读预取)。换句话说，DDR2内存每个时钟能够以4倍外部总线的速度读/写数据，并且能够以内部控制总线4倍的速度运行。DDR3是一种计算机内存规格。它属于SDRAM家族的内存产品，提供了相较于DDR2SDRAM更高的运行效能与更低的电压，是DDR2SDRAM(四倍资料率同步动态随机存取内存)的后继者(增加至八倍)。目前，无论是DDR，或是DDR2，再或是DDR3器件因数据读写均采用同一条数据线，在对数据信号时序或信号完整性测量时必须正确区分该数据线是读或写数据，当前主要采用示波器选择不同的触发方式来区分，然而造成了设置复杂、效率低的技术问题，同时示波器厂商也设计了对应的自动化工具，但价格昂贵。
技术实现思路
本专利技术实施例提供了一种DDR器件读写信号的测试方法及装置，解决了目前的主要采用示波器选择不同的触发方式来区分写数据与读数据，而造成的设置复杂、效率低的技术问题，且达到了成本低的技术效果。本专利技术实施例提供的一种DDR器件读写信号的测试方法，包括：将特定数据写入DDR器件；同时将示波器的逻辑触发数据设置为相对应的所述特定数据；控制所述示波器对写入所述特定数据的所述DDR器件进行数据采集，对采集的数据按照预置测试参数进行测量，并获取所述示波器读取的对采集的所述数据进行测量之后的第一测量结果。优选地，控制所述示波器对写入所述特定数据的所述DDR器件进行数据采集，对采集的数据按照预置测试参数进行测量，并获取所述示波器读取的对采集的所述数据进行测量之后的测量结果之后还包括：将所述示波器的逻辑触发数据设置为相对应的所述特定数据，并对写入所述特定数据后的所述DDR器件进行读操作；控制所述示波器对所述读操作之后读取的所述数据进行测量，获取所述示波器对所述数据的测量的第二测量结果。优选地，将示波器的逻辑触发数据设置为相对应的所述特定数据具体包括：将示波器的逻辑触发设置为相对应的所述特定数据；对所述示波器进行所述预置测试参数的设置。优选地，控制所述示波器对写入所述特定数据的所述DDR器件进行数据采集，对采集的数据按照预置测试参数进行测量，并获取所述示波器读取的对采集的所述数据进行测量之后的第一测量结果具体包括：控制所述示波器通过所述逻辑触发，采集写入所述特定数据的所述DDR器件的所述数据；控制所述示波器对采集的数据按照预置测试参数进行测量，并获取所述示波器读取的对采集的所述数据进行测量之后的第一测量结果。优选地，控制所述示波器对采集的数据按照预置测试参数进行测量，并获取所述示波器读取的对采集的所述数据进行测量之后的第一测量结果具体包括：控制所述示波器采集的数据按照预置测试参数进行测量；获取所述示波器基于所述预置测试参数进行进行测量之后的第一测量结果。本专利技术实施例提供的一种DDR器件读写信号的测试装置，包括：写入单元，用于将特定数据写入DDR器件；设置单元，用于触发所述写入单元的同时，将示波器的逻辑触发数据设置为相对应的所述特定数据；写入数据测试单元，用于控制所述示波器对写入所述特定数据的所述DDR器件进行数据采集，对采集的数据按照预置测试参数进行测量，并获取所述示波器读取的对采集的所述数据进行测量之后的第一测量结果。优选地，所述的DDR器件读写信号的测试装置还包括：读操作单元，用于将所述示波器的逻辑触发数据设置为相对应的所述特定数据，并对写入所述特定数据后的所述DDR器件进行读操作；读取数据测试单元，用于控制所述示波器对所述读操作之后读取的所述数据进行测量，获取所述示波器对所述数据的测量的第二测量结果。优选地，设置单元具体包括：第一设置子单元，用于将示波器的逻辑触发设置为相对应的所述特定数据；第二设置子单元，用于对所述示波器进行所述预置测试参数的设置。优选地，写入数据测试单元具体包括：第一控制子单元，用于控制所述示波器通过所述逻辑触发，采集写入所述特定数据的所述DDR器件的所述数据；第二控制子单元，用于控制所述示波器对采集的数据按照预置测试参数进行测量，并获取所述示波器读取的对采集的所述数据进行测量之后的第一测量结果。优选地，第二控制子单元具体包括：控制模块，用于控制所述示波器采集的数据按照预置测试参数进行测量；获取模块，用于获获取所述示波器基于所述预置测试参数进行进行测量之后的第一测量结果。从以上技术方案可以看出，本专利技术实施例具有以下优点：本专利技术实施例提供的一种DDR器件读写信号的测试方法及装置，其中，DDR器件读写信号的测试方法包括：将特定数据写入DDR器件；同时将示波器的逻辑触发数据设置为相对应的特定数据；控制示波器对写入特定数据的DDR器件进行数据采集，对采集的数据按照预置测试参数进行测量，并获取示波器读取的对采集的数据进行测量之后的第一测量结果。本实施例中，通过将特定数据写入DDR器件，同时将示波器的逻辑触发数据设置为相对应的特定数据，最后控制示波器对写入特定数据的DDR器件进行数据采集，对采集的数据按照预置测试参数进行测量，并获取示波器读取的对采集的数据进行测量之后的第一测量结果，从而通过特定逻辑触发，只获取特定的写入数据，从而将写数据与读数据区分开，解决了目前的主要采用示波器选择不同的触发方式来区分写数据与读数据，而造成的设置复杂、效率低的技术问题，且达到了成本低的技术效果。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。图1为本专利技术实施例中提供的一种DDR器件读写信号的测试方法的一个实施例的流程示意图；图2为本专利技术实施例中提供的一种DDR器件读写信号的测试方法的另一个实施例的流程示意图；图3为本专利技术实施例中提供的一种DDR器件读写信号的测试装置的一个实施例的结构示意图；图4为本专利技术实施例中提供的一种DDR器件读写信号的测试装置的另一个实施例的结构示意图；图5为DDR器件数据写入时序图；图6为DDR器件数据读取时序图；图7为DDR器件读写信号的测试系统结构示意图。具体实施方式本专利技术实施例提供了一种DDR器件读写信号的测试方法及装置，解决了目前的主要采用示波器选择不同的触发方式来区分写数据与读数据，而造成的设置复杂、效率低的技术问题，且达到了成本低本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种DDR器件读写信号的测试方法，其特征在于，包括：将特定数据写入DDR器件；同时将示波器的逻辑触发数据设置为相对应的所述特定数据；控制所述示波器对写入所述特定数据的所述DDR器件进行数据采集，对采集的数据按照预置测试参数进行测量，并获取所述示波器读取的对采集的所述数据进行测量之后的第一测量结果。

【技术特征摘要】
1.一种DDR器件读写信号的测试方法，其特征在于，包括：将特定数据写入DDR器件；同时将示波器的逻辑触发数据设置为相对应的所述特定数据；控制所述示波器对写入所述特定数据的所述DDR器件进行数据采集，对采集的数据按照预置测试参数进行测量，并获取所述示波器读取的对采集的所述数据进行测量之后的第一测量结果。2.根据权利要求1所述的DDR器件读写信号的测试方法，其特征在于，控制所述示波器对写入所述特定数据的所述DDR器件进行数据采集，对采集的数据按照预置测试参数进行测量，并获取所述示波器读取的对采集的所述数据进行测量之后的测量结果之后还包括：将所述示波器的逻辑触发数据设置为相对应的所述特定数据，并对写入所述特定数据后的所述DDR器件进行读操作；控制所述示波器对所述读操作之后读取的所述数据进行测量，获取所述示波器对所述数据的测量的第二测量结果。3.根据权利要求1或2所述的DDR器件读写信号的测试方法，其特征在于，将示波器的逻辑触发数据设置为相对应的所述特定数据具体包括：将示波器的逻辑触发设置为相对应的所述特定数据；对所述示波器进行所述预置测试参数的设置。4.根据权利要求3所述的DDR器件读写信号的测试方法，其特征在于，控制所述示波器对写入所述特定数据的所述DDR器件进行数据采集，对采集的数据按照预置测试参数进行测量，并获取所述示波器读取的对采集的所述数据进行测量之后的第一测量结果具体包括：控制所述示波器通过所述逻辑触发，采集写入所述特定数据的所述DDR器件的所述数据；控制所述示波器对采集的数据按照预置测试参数进行测量，并获取所述示波器读取的对采集的所述数据进行测量之后的第一测量结果。5.根据权利要求4所述的DDR器件读写信号的测试方法，其特征在于，控制所述示波器对采集的数据按照预置测试参数进行测量，并获取所述示波器读取的对采集的所述数据进行测量之后的第一测量结果具体包括：控制所述示波器采...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄世民，杨帆，
申请(专利权)人：广东威创视讯科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44