本实用新型专利技术提供了一种多参数几何量量具综合检定仪,其包括:基座(3);立柱(8),其竖直置于基座(3)上;导轨(1),其固定于立柱(8)一侧面;锁止滑块(5),其安装在导轨(1)上,可相对于导轨上下滑动;位移传感器(2),其安装于锁止滑块(5)上,其中锁止滑块(5)用于锁定位移传感器(2)与导轨(1)的相对位置;真空吸附夹具(7),其吸附在立柱(8)另一侧面,且能够相对于立柱(8)上下移动;以及电感测微头(6),其安装在真空吸附夹具(7)上。与现有功能单一的几何量量具检定仪器相比,利用本实用新型专利技术可在一台仪器上完成对多种几何量量具的计量工作,且计量操作过程简单,工作效率高。
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及测量仪器,特别涉及一种多参数几何量量具综合检定仪。
技术介绍
随着信息技术及光机电一体化、系统化的发展,测量技术、测量仪器也正向着高精密度、高效率、智能化、集成化和非接触式方向发展。几何量计量测试技术虽属于传统的计量学科领域,然而随着现场计量、原位计量、遂行计量等更高计量要求的兴起,在保证高准确度测量的前提下对几何量测量仪器的便携性、集成度提出了更高的要求。由于几何量测量仪器一般具有较高的测量准确度,而且受限于测量仪器本身的机械结构,高准确度几何量集成计量设备的研发具有一定的难度。近年来也少见有几何量集成计量仪器研发相关文献的报道。因而常见的几何量计量仪器只具备单一的计量功能,通常一台几何量计量仪器只能完成对某个特定几何量量具的计量工作。因此研发高准确度、高集成度、功能丰富的几何量测量仪器具有越来越重要的意义。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种多参数几何量量具综合检定仪,以解决现有的几何量具检定仪器功能单一的问题。该综合检定仪包括:基座;立柱,其竖直置于所述基座上;导轨,其固定于所述立柱一侧面;锁止滑块,其安装在所述导轨上,可相对于所述导轨上下滑动;位移传感器,其安装于所述锁止滑块上,其中所述锁止滑块用于锁定所述位移传感器与所述导轨的相对位置;真空吸附夹具,其吸附在所述立柱另一侧面,且能够相对于所述立柱上下移动;以及电感测微头,其安装在所述真空吸附夹具上。优选地,所述综合检定仪还包括:真空吸附定位夹具,其吸附在所述基座上,用于定位通过电感测微头进行感测的几何量量具。优选地,所述导轨具有外燕尾槽,所述锁止滑块具有内燕尾槽,所述外燕尾槽与所述内燕尾槽相嵌合。优选地,所述位移传感器为光栅位移传感器。优选地,所述电感测微头为杠杆式电感测微头。优选地,所述真空吸附夹具的内表面上镀有多个环形陶瓷接触片,所述环形陶瓷接触片内具有吸气孔,所述真空吸附夹具利用气泵通过所述吸气孔在环形陶瓷接触片内形成负压腔从而吸附在所述立柱上。进一步优选地,所述真空吸附夹具的内表面上镀有4个环形陶瓷接触片。优选地,所述立柱和所述基座通过螺栓连接。优选地,所述导轨通过螺栓固定于所述立柱的一侧面。进一步优选地,所述基座为岩石基座。利用本技术可在一台仪器上完成对多种几何量量具的计量工作,而且本技术计量操作过程更简单,提高工作效率。本技术机械结构简单、可靠性高、便携性更强。应当理解,前述大体的描述和后续详尽的描述均为示例性说明和解释,并不应当用作对本技术所要求保护内容的限制。附图说明参考随附的附图,本技术更多的目的、功能和优点将通过本技术实施方式的如下描述得以阐明,其中:图1是本技术多参数几何量量具综合检定仪的结构示意图,为光栅位移传感器可视方向的斜轴测图。图2是本技术多参数几何量量具综合检定仪的结构示意图,为杠杆式电感测微头可视方向的斜轴测图。图3是利用本技术的多参数几何量量具综合检定仪对宽座角尺和等高块校准过程示意图。具体实施方式通过参考示范性实施例,本技术的目的和功能以及用于实现这些目的和功能的方法将得以阐明。然而,本技术并不受限于以下所公开的示范性实施例;可以通过不同形式来对其加以实现。说明书的实质仅仅是帮助相关领域技术人员综合理解本技术的具体细节。在下文中,将参考附图描述本技术的实施例。在附图中,相同的附图标记代表相同或类似的部件。如图1、图2所示,本技术的多参数几何量量具综合检定仪可包括基座3、立柱8、导轨1、位移传感器2、锁止滑块5、真空吸附夹具7和电感测微头6,此外还可包括真空吸附定位夹具4。立柱8可竖直置于基座3上,例如立柱8和基座3可通过螺栓联接共同组成测量基座,其中基座3可以是岩石基座,如大理石基座,但基座3并不限于是岩石基座,还可以是其他硬质材质的基座。导轨1可以通过螺栓联接固定于立柱8的一侧。锁止滑块5安装在导轨1上,与导轨1配合使用,锁止滑块5可在导轨1上上下滑动。位移传感器2安装于锁止滑块5上,锁止滑块5用于锁定位移传感器2与导轨1的相对位置。真空吸附夹具7通过负压吸附力吸紧在立柱8的另一侧,真空吸附夹具7既能吸附牢固又能沿立柱8自由上下移动。电感测微头6安装在真空吸附夹具7上。真空吸附定位夹具4通过负压吸附力吸附在基座3上。作为示例,导轨1可具有外燕尾槽型导轨,锁止滑块5可具有内燕尾槽型滑块,二者配合使用,即,外燕尾槽与所述内燕尾槽相嵌合,为位移传感器2提供安装和驱动的支撑基础。另选地,导轨1可具有内燕尾槽型导轨,锁止滑块5可具有外燕尾槽型滑块,此外导轨1和锁止滑块5还可以采用其他配合方式。作为示例,位移传感器2可为光栅位移传感器,可测量静、动态的直线位移和整圆角位移;电感测微头6可为杠杆式电感测微头,可利用线圈自感和互感的变化来实现非电量电测,能够测量微小尺寸变化。真空吸附夹具7可具有真空吸附系统,以形成负压吸附力。具体地,真空吸附夹具7的内表面上可以镀有多个(如四个,但并不限于四个)环形陶瓷接触片,环形陶瓷接触片内可分别具有吸气孔,真空吸附夹具7利用气泵通过吸气孔在环形陶瓷接触片内形成负压腔从而吸附在立柱8上。也就是说,真空吸附系统运行时气泵开关打开,将在环形陶瓷接触片内形成四个微小的负压腔,真空吸附夹具7通过这四个环形陶瓷接触片与测量立柱正立面接触并吸紧。下面将以对宽座角尺和量块的测量为例对综合检定仪的操作进行描述。实施例1如图3所示,以宽座角尺测量面相对基面的垂直度检定为例说明本技术的一种实施方式。在实验室环境温度(20±1)℃下,首先打开真空吸附夹具的真空吸附系统的气泵开关,此时真空吸附夹具7在负压吸附力下吸紧在立柱8上,且可在人手调节下在立柱8上自由的上下移动,将被检宽座角尺9放置于岩石基座3上,调整宽座角尺9的位置和电感测微头6的位置,使得杠杆式电感测微头6刚好能接触宽座角尺9的测量面,且能沿测量面从下至上进行打点测量。宽座角尺9的位置调整合适后,可用真空吸附定位夹具4将其进行定位,以进一步防止操作过程中宽座角尺9移动,导致测量结果不准确。位置调整合适后,用手握住真空吸附夹具7上的手柄,使杠杆式电感测微头6与宽座角尺9测量面的底部中心位置接触,可利用操作计量软件使此时杠杆式电感测微头6的测量值归零,然后使杠杆式电感测微头6开始从下至上缓慢移动,同时开始等间距进行打点测量,直至移动到宽座角尺9测量面的顶部,获取n个数据。对这n个数据用最小二乘法进行拟合,其斜率K与杠杆式电感测微头移动距离的乘积即为该宽座角尺9测量面相对基面的垂直度。实施例2如图3所示,以五等量块中心长度的检定为例说明本技术的另一种实施方式。本技术可采用绝对测量和相对测量的方式,绝对测量范围为例如可为25mm,相对测量范围为例如可为25~100mm,以便尽量消除环境温度等因素对量块造成的影响,在此,绝对测量和相对测量范围值仅为示例,本技术并不限于此。在实验室环境温度(20±1)℃下,对中心长度不大于25mm的五等量块可以进行绝对测量,对中心长度(25~100)mm的五等量块可以配合参考量块进行比较测量。对中心长度10mm及以下的较薄的量块,可配合五筋工作台进行检定操作,同时对该量块进行正反两次测量,以消除量块可能弯曲带来的影响本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种多参数几何量量具综合检定仪,其特征在于,该综合检定仪包括:基座(3);立柱(8),其竖直置于所述基座(3)上;导轨(1),其固定于所述立柱(8)一侧面;锁止滑块(5),其安装在所述导轨(1)上,可相对于所述导轨上下滑动;位移传感器(2),其安装于所述锁止滑块(5)上,其中所述锁止滑块(5)用于锁定所述位移传感器(2)与所述导轨(1)的相对位置;真空吸附夹具(7),其吸附在所述立柱(8)另一侧面,且能够相对于所述立柱(8)上下移动;以及电感测微头(6),其安装在所述真空吸附夹具(7)上。
【技术特征摘要】
1.一种多参数几何量量具综合检定仪,其特征在于,该综合检定仪包括:基座(3);立柱(8),其竖直置于所述基座(3)上;导轨(1),其固定于所述立柱(8)一侧面;锁止滑块(5),其安装在所述导轨(1)上,可相对于所述导轨上下滑动;位移传感器(2),其安装于所述锁止滑块(5)上,其中所述锁止滑块(5)用于锁定所述位移传感器(2)与所述导轨(1)的相对位置;真空吸附夹具(7),其吸附在所述立柱(8)另一侧面,且能够相对于所述立柱(8)上下移动;以及电感测微头(6),其安装在所述真空吸附夹具(7)上。2.如权利要求1所述的多参数几何量量具综合检定仪,其特征在于:所述综合检定仪还包括:真空吸附定位夹具(4),其吸附在所述基座上,用于定位通过电感测微头(6)进行感测的几何量量具。3.如权利要求1所述的多参数几何量量具综合检定仪,其特征在于:所述导轨(1)具有外燕尾槽,所述锁止滑块(5)具有内燕尾槽,所述外燕尾槽与所述内燕尾槽相嵌合。4.如权利要求1所述的多...
【专利技术属性】
技术研发人员:秦敏,易龙涛,韩悦,张爽,刘志国,
申请(专利权)人:北京师范大学,
类型:新型
国别省市:北京;11
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