自校准投影仪器和过程制造技术

本发明专利技术涉及自校准投影仪器和过程。提供一种自校准投影仪器。所述投影仪器包括：具有存储器的投影器；图像扫描器；校准图像；以及用于分析所投影图像的质量特征并用于改变投影器设置的控制器。所述控制器通信地链接到所述图像扫描器和所述投影器。所述校准图像具有预定最优质量特征，所述校准图像驻留在投影器存储器中。所述投影器配置成在被启动时将所述校准图像投影在表面上。所述图像扫描器配置成获取所投影校准图像并将所获取图像传递到所述控制器。所述控制器配置成与所述预定最优质量特征相比较分析所投影校准图像的质量特征。所述控制器进一步配置成改变投影器设置，使得所述校准图像将以预定最优质量特征来投影。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及投影设备，并且尤其涉及所投影图像的自动调节。
技术介绍
一般来说，投影设备除了其他参数以外还需要调节聚焦、亮度、对比度、配色、和图像倾斜。大多数投影设备依靠手动控制以处理(address)每个质量参数。因此，调节依靠进行手动调节的人的特定人类感知。所投影图像的其他观看者可能以不同方式观看这些质量参数。因此，需要一种对所投影图像的不偏不倚质量调节。尤其是，需要的是在启动投影器时对投影图像的自动质量参数调节。
技术实现思路
因此，在一个方面，本专利技术包括自校准投影仪器。在一个示范实施例中，所述自校准投影仪器包括：具有存储能力的投影器；图像扫描器；校准图像，具有预定最优质量特征，所述校准图像驻留在投影器存储器中；以及用于分析质量特征并用于改变投影器设置的控制器。所述控制器通信地链接到所述图像扫描器和所述投影器。所述投影器配置成在被启动时将所述校准图像投影在表面上。所述图像扫描器配置成获取所投影校准图像并将所获取图像传递到所述控制器。所述控制器配置成与预定最优质量特征相比较分析所投影校准图像的质量特征。所述控制器配置成基于所述控制器分析所述质量特征来改变投影器设置，以便调节所述校准图像以满足最优质量特征。在另一示范实施例中，系统的配置由以下各项构成：所述投影器配置成在被启动时投影校准图像；所述图像扫描器配置成获取所投影校准图像并将所获取图像传递到所述控制器；所述控制器配置成与所述预定最优质量特征相比较分析所投影校准图像的质量特征；以及所述控制器配置成改变投影器设置来调节所述校准图像以满足最优质量特征，构成例程。重复所述例程直至所投影校准图像的质量特征基本上类似于所述校准图像的所述最优质量特征。在另一示范实施例中，所述预定质量特征包括聚焦、亮度、对比度、色调、色彩、梯形畸变(keystone)和配色。在另一示范实施例中，所述控制器提供有用预定最优质量特征分析所投影校准图像质量特征的算法。在另一示范实施例中，所述控制器由主控制器和至少一个辅助控制器组成。所述主控制器配置成实现所述算法。所述算法配置用于基于算法分析自动调节投影器设置。在又一示范实施例中，所述算法提供有启动装置。基于所述投影器被启动而根据用户动作和自动动作选择启动装置。在另一示范实施例中，所述控制器是中央处理单元。在进一步示范实施例中，所述控制器由多个控制器组成。在再一进一步示范实施例中，所述控制器由投影控制器和图像捕获控制器组成。所述投影控制器驻留在投影器中。所述图像捕获控制器驻留在图像扫描器中。所述图像捕获控制器配置成分析所投影校准图像的质量特征。另外，所述图像捕获控制器配置成基于与校准图像的预定最优质量特征相比较分析所投影校准图像质量特征而将命令发送到投影控制器。所述投影控制器配置成基于来自所述图像捕获控制器的命令改变投影器设置。在另一示范实施例中，所述投影器和所述图像扫描器是通信地链接的离散设备。在另一示范实施例中，所述图像扫描器包括用于获取所投影图像的图像传感器。在又一示范实施例中，所述图像扫描器提供有条形码扫描能力。在另一方面，本专利技术包含一种用于自动校准投影设备的过程。在一个示范实施例中，所述过程包括以下步骤：将校准图像投影到表面上；用图像扫描器获取所投影校准图像；将所获取图像发送到控制器；与所述校准图像的预定最优质量特征相比较分析所获取的所投影校准图像的质量特征；以及基于分析步骤改变投影器设置来调节所述校准图像以满足最优质量特征。所述校准图像具有预定最优质量特征。在另一示范实施例中，所述过程还包括以下步骤：重复过程直至所投影校准图像的质量特征基本上类似于所述校准图像的预定最优质量特征。在另一示范实施例中，最优质量特征包括聚焦、亮度、对比度、色调、色彩、梯形畸变及配色。另外，分析步骤是通过提供到所述控制器的算法完成的。在另一示范实施例中，所述投影器设置对应于所述质量特征。在又一示范实施例中，所述分析步骤包括将所投影图像的每个质量特征与每个预定最优质量特征单独地比较。改变步骤包括单独地改变对应于每个质量特征的每个投影器设置。在进一步示范实施例中，用算法完成分析步骤。在另一示范实施例中，所述分析步骤和所述改变步骤用至少一个控制器和用具有自动调节功能的算法来完成。在又一示范实施例中，所述分析步骤是由图像捕获控制器完成的。所述改变步骤由投影控制器完成。另外，所述分析步骤包括命令所述投影控制器做出投影器调节的步骤。前述说明性总结，以及本专利技术的其它示范目标和/或优点，及其实现方式在下面具体实施方式及其附图内被进一步解释。附图说明图1示意性地描绘根据本专利技术的操作中的自校准投影仪器的示范实施例。图2示意性地描绘根据其中有一个控制器的本专利技术的示范实施例的自校准投影仪器的部件。图3示意性地描绘根据其中有多个控制器的本专利技术的另一示范实施例的自校准投影仪器的部件。图4以流程图描绘根据本专利技术的示范实施例的用于自动校准投影设备的过程。图5以流程图描绘根据本专利技术的另一示范实施例的用于自动校准投影设备的过程。具体实施方式本专利技术包含一种自校准投影仪器。参考图1，在示范实施例中，自校准投影装置(10)包括具有存储能力的投影器(12)、图像扫描器(14)、驻留在投影器存储器中具有预定最优质量特征的校准图像(16)、以及用于分析质量特征并改变投影器(12)设置的控制器。图2和3示出具有针对控制器的不同选项的自校准投影仪器(10)的示意图。这些将在后面进行讨论。该控制器通信地链接到图像扫描器(14)和投影器(12)。投影器(12)配置成在被启动时将校准图像(16)投影在表面上。投影器(12)的启动可以通过按压控制按钮(24)诸如开/关按钮来实现，或可以用遥控(未示出)来实现。图像扫描器(14)配置成获取所投影校准图像(16)以及将所获取图像传递到控制器。该控制器配置成与预定最优质量特征相比较分析所投影校准图像(16)的质量特征。该控制器配置成基于控制器分析质量特征来改变投影器设置，以便调节校准图像(16)以满足最优质量特征。校准图像(16)可以是任何合适的图像，所述图像展现包括颜色、亮度、对比度、色调、色彩及配色的质量。仪器(10)以及尤其是投影器(12)相对于表面(18)的实际放置将影响投影到表面(18)上的校准图像(16)的聚焦和梯形畸变。梯形畸变校正允许在投影器，或更具体来说，投影器的光轴并未完全垂直于在其上要投影图像的表面时校正图像。在图1中，校准图像(16)被描绘为如本领域中已知的典型投影测试模式。在图1中，投影器(12)是经由控件(24)启动的，并且自校准仪器(10)的投影器(12)部分将校准图像(16)投影到表面(18)上。图像扫描器(14)用图像传感器(未示出)获取校准图像(16)，例如，图像扫描器(14)获取以虚线示出。自校准仪器(10)的控制器功能被最佳地图示在图2和3的示意图中。现在参考图2，仍结合并且还参考图1中编号的部件，在示范实施例中，在图像扫描器(14)获取校准图像(16)之后，图像扫描器(14)将所获取校准图像(16)发送到控制器(20)以相对于校准图像的预定最优质量特征进行分析。控制器(20)可以是中央处理单元(CPU)的一部分，其将既分析图像又控制投影器设置以再调节投影器(12)使得在以预定最优质量特征投影时校准图像(1本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种自校准投影仪器，包括：具有存储器的投影器；图像扫描器；校准图像，所述校准图像具有预定最优质量特征，所述校准图像驻留在所述投影器存储器中；以及用于分析所投影图像的质量特征并用于改变投影器设置的控制器，所述控制器通信地链接到所述图像扫描器和所述投影器；所述投影器配置成在被启动时将所述校准图像投影在表面上；所述图像扫描器配置成获取所投影校准图像并将所获取图像传递到所述控制器；所述控制器配置成与所述预定最优质量特征相比较分析所投影校准图像的质量特征；以及所述控制器配置成基于所述控制器分析所述质量特征改变投影器设置来调节所述校准图像以满足最优质量特征。

【技术特征摘要】
2015.09.30 US 14/8700591.一种自校准投影仪器，包括：具有存储器的投影器；图像扫描器；校准图像，所述校准图像具有预定最优质量特征，所述校准图像驻留在所述投影器存储器中；以及用于分析所投影图像的质量特征并用于改变投影器设置的控制器，所述控制器通信地链接到所述图像扫描器和所述投影器；所述投影器配置成在被启动时将所述校准图像投影在表面上；所述图像扫描器配置成获取所投影校准图像并将所获取图像传递到所述控制器；所述控制器配置成与所述预定最优质量特征相比较分析所投影校准图像的质量特征；以及所述控制器配置成基于所述控制器分析所述质量特征改变投影器设置来调节所述校准图像以满足最优质量特征。2.如权利要求1所述的自校准投影仪器，其中：所述投影器配置成在被启动时投影校准图像，所述图像扫描器配置成获取所投影校准图像并将所感测的所获取图像传递到所述控制器，所述控制器配置成与所述预定最优质量特征相比较分析所投影校准图像的质量特征，以及所述控制器配置成改变所述投影器设置来调节所述校准图像以满足最优质量特征，构成例程；并且其中重复所述例程直至所投影校准图像的质量特征基本上类似于所述校准图像的最优质量特征。3.如权利要求1所述的自校准投影仪器，其中所述预定质量特征包括聚焦、亮度、对比度、色调、色彩、梯形畸变和配色。4.如权利要求1所述的自校准投影仪器，其中所述控制器提供有用预定最优质量特征分析所投影校准图像质量特征的算法。5.如权利要求1所述的自校准投影仪器，其中所述控制器是中央处理单元。6.如权利要求1所述的自校准投影仪器，其中所述控制器由多个控制器组成。7.如权利要求1所述的自校准投影仪器，其中所述控制器由投影控制器和图像捕获...

【专利技术属性】
技术研发人员：G·杰曼，S·J·科拉维托，R·皮尔斯，G·吕布林格，
申请(专利权)人：手持产品公司，
类型：发明
国别省市：美国;US