一种无线设备测试系统技术方案

一种无线设备测试系统，包括以45°间隔的呈圆环状围绕屏蔽壳体内壁排列的8个复用的双极化探头天线以及沿同一圆环排列的3个SISO测试用的双极化探头天线，且SISO测试用的双极化探头天线的分布方式使得这些双极化探头天线构成在一个圆环上按照15°的逻辑间隔分布的11个天线序列，从而，本测试系统中实现了对部分天线复用，即一定数量的天线既用于SISO测试，又用于MIMO测试，相比传统测试系统，本实用新型专利技术可使用较少的天线且兼顾多种测试，不必增设天线支撑环，且可采用较小尺寸的暗室来实现良好的测量精度。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及通信领域，具体涉及一种无线设备测试系统。
技术介绍
无线通信技术是利用电磁波能够在自由空间中传播的特性，在两点或多点之间通过空中(非有线)的方式进行信息传递和交换的技术。因此，天线作为发送和接收无线通信信息载体——电磁波的核心部件，其性能好坏直接决定了无线终端实现通讯的能力。传统的通信系统使用单个发射天线和单个接收天线，称之为SISO(Single-InputSingle-Output)系统，而MIMO(Multiple-InputMultiple-Output)系统包含多个发射天线和多个接收天线，它能充分利用空间资源，通过多个天线实现多发多收，在不增加频谱资源和天线发射功率的情况下，可以成倍的提高系统信道容量和传输速率。无线终端空口(OTA，OverTheAir)测试是无线设备性能的一个重要测试项目。SISO终端的OTA测试方案，其模拟实现的受控环境即自由空间传播环境，在自由空间传播环境下，测试被测终端的收发性能，其主要的测试指标是TRP(总辐射功率)和TIS(总全向灵敏度)，采用的标准是CTIA或3GPP制定的。而MIMO终端的OTA测试，必须将信道模型在实验室中进行真实的复现，模拟真实的无线传播环境。目前MIMO测试方法主要包括三类:暗室多探头法(MPAC,Multi-ProbeAnechoicChamber)，辐射两阶段法(RTS,RadiatedTwo-Stage)及混响室法。多探头无反射暗室中，测量天线通常设于环状支撑结构上，常规的SISO/MIMO暗室中，为了满足既能兼顾多探头SISO测试，又能实现MIMO测试，所需天线数量会很多，为了保证测试精度，需要保证天线之间间隔一定的距离，以将天线之间的耦合干扰控制在一定程度(例如-30dB)，通常在暗室中加设一个或多个天线支撑环，通常一个环上的天线用于SISO测试，另一个环上的天线用于MIMO测试，然而这样做会加大系统复杂程度，增加的机械支撑结构同时也会增加测量干扰。若建造一个足够大的暗室，也可以将所有天线设于一个支撑环上，同时保证天线与天线之间有足够的距离，但此设计会极大地增加暗室的建造成本。
技术实现思路
本技术的主要目的在于克服现有技术的不足，提供一种无线设备测试系统,在同一硬件测试环境中，采用较少数量的天线，实现兼顾SISOOTA测试和MIMOOTA测试。为实现上述目的，本技术采用以下技术方案：一种无线设备测试系统，包括屏蔽壳体、安装于所述屏蔽壳体内壁的测试天线、以及设于所述屏蔽壳体内中央位置的测试转台，所述测试天线包括以45°间隔的呈圆环状围绕所述屏蔽壳体内壁排列的8个复用的双极化探头天线、以及与所述8个复用的双极化探头天线沿同一圆环排列的3个SISO测试用的双极化探头天线，在所述3个SISO测试用的双极化探头天线中，SISO测试用的第一双极化探头天线与SISO测试用的第二双极化探头天线之间间隔90°，SISO测试用的第一双极化探头天线与SISO测试用的第二双极化探头天线分别与SISO测试用的第三双极化探头天线之间间隔135°，且SISO测试用的第一双极化探头天线与所述8个复用的双极化探头天线中的一个双极化探头天线之间间隔15°，从而8个复用的双极化探头天线和3个SISO测试用的双极化探头天线共同构成在一个圆环上按照15°的逻辑间隔分布的11个天线序列。进一步地：还包括与所述8个复用的双极化探头天线沿同一圆环排列的8个MIMO测试用的双极化探头天线，其中每个MIMO测试用的双极化探头天线与两侧相邻的复用的双极化探头天线之间分别间隔22.5°。所述测试转台为在一个方向可转动的单轴转台，其旋转轴垂直于天线所在的平面。所述测试转台为在两个方向可转动的双轴转台，其中一个旋转轴垂直于天线所在的平面，另一个旋转轴位于天线所在平面。所述屏蔽壳体内壁设置有吸波材料。所述屏蔽壳体为24边等边柱状多边体。所述8个复用的双极化探头天线和所述3个SISO测试用的双极化探头天线均设置在所述等边柱状多边体中的对应边的中间位置。所述屏蔽壳体为24边等边柱状多边体，所述8个复用的双极化探头天线和所述3个SISO测试用的双极化探头天线均设置在所述等边柱状多边体中的对应边的中间位置，所述8个MIMO测试用的双极化探头天线设置在所述等边柱状多边体中的对应边与边的交接处。所述屏蔽壳体例如采用内切圆直径为7米、高为3.6米的24边等边柱状多边体。本技术的有益效果：本技术的测试系统中，测试天线包括以45°间隔的呈圆环状围绕屏蔽壳体内壁排列的8个复用的双极化探头天线以及与8个复用的双极化探头天线沿同一圆环排列的3个SISO测试用的双极化探头天线，且SISO测试用的双极化探头天线的分布方式使得8个复用的双极化探头天线和3个SISO测试用的双极化探头天线共同构成在一个圆环上按照15°的逻辑间隔分布的11个天线序列，从而，本测试系统中实现了对部分天线复用，即一定数量的天线既用于SISO测试，又用于MIMO测试，相比传统测试系统具有以下显著优势：1.可使用较少的天线且兼顾多种测试，包括基于暗室多探头法的MIMOOTA测试，基于辐射两阶段法的MIMOOTA测试，基于大圆(GreatCircle)法的SISOOTA测试和基于锥切(ConicalCut)法的SISOOTA测试。2.不必增设天线支撑环(但本技术不排除设置天线支撑环)，也不用扩大暗室体积，相比传统测试系统，本技术可采用较小尺寸的暗室来实现良好的测量精度。附图说明图1是本技术实施例暗室的外部结构立体图；图2-图3是本技术实施例暗室的立体剖视图，其中，为了清楚的展示暗室内部的测试转台和天线，图3中未示出吸波材料；图4是本技术实施例暗室的天线排布示意图。具体实施方式以下对本技术的实施方式作详细说明。应该强调的是，下述说明仅仅是示例性的，而不是为了限制本技术的范围及其应用。参阅图1至图4，在一种实施例中，一种无线设备测试系统，包括形成暗室的屏蔽壳体600、安装于屏蔽壳体600内壁的测试天线300、以及设于屏蔽壳体600内中央位置的测试转台400。测试转台400上用于放置待测的无线设备，如手机等无线终端。测试天线300包括以45°间隔的呈圆环状围绕屏蔽壳体600内壁排列的8个复用的双极化探头天线301-308、以及与8个复用的双本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种无线设备测试系统，包括屏蔽壳体、安装于所述屏蔽壳体内壁的测试天线、以及设于所述屏蔽壳体内中央位置的测试转台，其特征在于,所述测试天线包括以45°间隔的呈圆环状围绕所述屏蔽壳体内壁排列的8个复用的双极化探头天线、以及与所述8个复用的双极化探头天线沿同一圆环排列的3个SISO测试用的双极化探头天线，在所述3个SISO测试用的双极化探头天线中，SISO测试用的第一双极化探头天线与SISO测试用的第二双极化探头天线之间间隔90°，SISO测试用的第一双极化探头天线与SISO测试用的第二双极化探头天线分别与SISO测试用的第三双极化探头天线之间间隔135°，且SISO测试用的第一双极化探头天线与所述8个复用的双极化探头天线中的一个双极化探头天线之间间隔15°。

【技术特征摘要】
1.一种无线设备测试系统，包括屏蔽壳体、安装于所述屏蔽壳体内
壁的测试天线、以及设于所述屏蔽壳体内中央位置的测试转台，其特征在
于,所述测试天线包括以45°间隔的呈圆环状围绕所述屏蔽壳体内壁排
列的8个复用的双极化探头天线、以及与所述8个复用的双极化探头天线
沿同一圆环排列的3个SISO测试用的双极化探头天线，在所述3个SISO
测试用的双极化探头天线中，SISO测试用的第一双极化探头天线与SISO
测试用的第二双极化探头天线之间间隔90°，SISO测试用的第一双极化
探头天线与SISO测试用的第二双极化探头天线分别与SISO测试用的第三
双极化探头天线之间间隔135°，且SISO测试用的第一双极化探头天线与
所述8个复用的双极化探头天线中的一个双极化探头天线之间间隔15°。
2.如权利要求1所述的无线设备测试系统，其特征在于,还包括与所
述8个复用的双极化探头天线沿同一圆环排列的8个MIMO测试用的双极
化探头天线，其中每个MIMO测试用的双极化探头天线与两侧相邻的复用
的双极化探头天线之间分别间隔22.5°。
3.如权利要求1所述的无线设备...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘克峰，谢辉，刘列，郑常胜，
申请(专利权)人：深圳市通用测试系统有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44