一种阵列基板母板和显示面板母板制造技术

本发明专利技术提供一种阵列基板母板和显示面板母板。所述阵列基板母板包括栅线和与所述栅线连接的栅极驱动引线，所述阵列基板母板的非显示区域包括栅极测试引线和栅极测试电极，所述栅极测试引线的一端和所述栅极测试电极连接，所述栅极测试引线的另一端和所述栅极驱动引线对应连接，所述栅极测试电极、所述栅极测试引线与所述栅极驱动引线采用同种材料，且位于同层设置。本发明专利技术提供的阵列基板母板，能够防止利用栅线测试时因静电释放引起的点灯异常。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及显示
，尤其涉及一种阵列基板母板和显示面板母板。
技术介绍
TFT-LCD(ThinFilmTransistor-LiquidCrystalDisplay，薄膜晶体管液晶显示器)检测领域CellTest(液晶盒测试)采用BlockPinContact(探针接触)方式对PanelPad(面板电极)上的Lead(引脚)区加载信号，BlockPin(探针)与PanelPad上的Lead区一一对应，用于与检测探针接触的测试电极通过测试引线与阵列基板上的栅线连接，向栅线输送信号进行测试。由于栅线和栅极测试引线之间通常通过架桥搭建电路连接的方式进行接触，在接触过孔处会存在ESD(Electro-Staticdischarge，静电释放)的现象，从而会导致栅线容易被击穿，进而出现点灯异常。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术提供一种阵列基板母板。能够防止利用栅线测试时因静电释放引起的点灯异常。基于上述目的本专利技术提供的一种阵列基板母板，所述阵列基板母板包括栅线和与所述栅线连接的栅极驱动引线，所述阵列基板母板的非显示区域包括栅极测试引线和栅极测试电极，所述栅极测试引线的一端和所述栅极测试电极连接，所述栅极测试引线的另一端和所述栅极驱动引线对应连接，所述栅极测试电极、所述栅极测试引线与所述栅极驱动引线采用同种材料，且位于同层设置。可选的，所述栅极测试电极的宽度大于所述栅极测试引线的宽度。可选的，所述阵列基板母板还包括：至少一个预留栅极测试电极，所述预留栅极测试电极与所述栅极测试引线之间的连接是断开的。可选的，所述栅极驱动引线为所述栅线向非显示区域延长的延长线。可选的，所述阵列基板母板上还设置有第一激光发生定位标记，使得后续工艺中能够通过所述第一激光发生定位标记向阵列基板上的特定区域发射激光，从而将所述栅极驱动引线烧断。可选的，所述第一激光定位标记的一端与所述栅极驱动引线一端连线平齐。可选的，所述阵列基板母板上还设置有第一栅极测试引线段，一端与所述栅极测试电极连接，另一端延伸到所述阵列基板母板的上边缘。可选的，所述第一栅极测试引线段与所述栅极测试电极同层设置。可选的，还包括数据线；所述阵列基板母板的非显示区域还设有：数据线测试引线、数据线驱动引线、数据线测试电极；所述数据线测试引线一端连接所述数据线驱动引线，另一端连接所述数据线测试电极；所述数据线驱动引线一端连接所述数据线测试引线，另一端连接所述数据线；所述数据线测试电极、所述数据线测试引线采用同种材料，且位于同层设置。可选的，所述数据线测试电极的宽度大于所述数据线测试引线的宽度。可选的，所述阵列基板母板还包括：至少一个预留数据线测试电极，所述预留数据线测试电极与所述数据线测试引线之间的连接是断开的。可选的，所述数据线测试引线与数据线测试电极一一对应连接；所述数据线驱动引线与所述数据线一一对应连接；所述数据线测试引线设置有N个，第一个数据线测试引线与第1、第N+1、第2N+1……个数据线驱动引线连接，第二个数据线测试引线与第2、第N+2、第2N+2……个数据线驱动引线连接，依次类推，第N个数据线测试引线与第N、第2N、第3N个数据线驱动引线连接；其中，N为偶数或3的奇数倍。可选的，所述数据线测试引线和所述数据线驱动引线之间设置有绝缘层，所数据线测试引线的宽度大于所述数据线驱动引线的宽度，设置于所述数据线驱动引线的上方，每个数据线测试引线通过至少两个过孔与对应的数据线驱动引线连接。可选的，所述数据线驱动引线为数据线向非显示区的延长线。另一方面，本专利技术还提供一种显示面板母板，包括上述任一项所述的阵列基板母板。从上面所述可以看出，本专利技术提供的阵列基板母板和显示面板母板，将栅极驱动引线与栅极测试引线采用同种材料同层设置，栅极测试引线和栅极驱动引线之间不存在过孔连接，可以避免在阵列基板母板利用栅线测试时因过孔产生的静电释放问题，从而能够防止因为静电释放而引起的栅线被击穿、点灯异常、亮线等现象。附图说明图1为本专利技术实施例的阵列基板母板测试线路分布示意图；图2A为阵列基板的分区示意图；图2B为图2A中X1区域的信号线区及GOA区布局示意图；图2C为图2A中X6区域的信号线区及GOA区布局示意图；图2D为图2A中X2-X5区域的信号线区布局示意图；图3为本专利技术实施例的阵列基板母板非GOA区域的测试线路分布示意图。具体实施方式为使本专利技术要解决的技术问题、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图及具体实施例进行详细描述。本专利技术首先提供一种阵列基板母板，阵列基板母板包括栅线和与栅线连接的栅极驱动引线107，阵列基板母板的非显示区域包括栅极测试引线101和栅极测试电极1012，栅极测试引线101的一端和栅极测试电极1012连接，栅极测试引线101的另一端和栅极驱动引线107对应连接，栅极测试电极1012、栅极测试引线101与栅极驱动引线107采用同种材料，且位于同层设置。从上面所述可以看出，本专利技术提供的阵列基板母板，将栅极驱动引线与栅极测试引线采用同种材料同层设置，栅极测试引线和栅极驱动引线之间不存在过孔连接，可以避免在阵列基板母板利用栅线测试时因过孔产生的静电释放问题，从而能够防止因为静电释放而引起的栅线被击穿、点灯异常、亮线等现象。需要说明的是，上述阵列基板母板是指一张大的玻璃基板上制作有多个阵列基板，一个阵列基板可以满足形成一个显示器的使用需求。在本专利技术具体实施例中，所述栅极测试引线101与所述栅极测试电极1012同层设置。在本专利技术一些实施例中，仍然参照图1，栅极测试电极1012的宽度大于栅极测试引线101的宽度。现有技术中，相邻BlockPin之间距离为38-40um，相邻Lead之间距离为38-40um。由于LeadPitch(引脚间距)极小，BlockPinContact时极易发生偏移、划伤，在有CLK(时钟信号)等大电流信号通过极易产生烧伤，BlockPin自身由于尺寸过小亦容易损坏，设备维修成本极高。在本专利技术上述实施例中，栅极测试电极的宽度大于栅极测试引线的宽度，从而栅极测试电极与检测探针的有效接触范围变大，从而在BlockPinContact时，对接触的精度要求降低，探针即便偏移少量的距离，也能够接触到栅极测试电极。同时，所述栅极测试电极宽度较大，阻值低，当有大电流通过时不易烧伤损坏。在本专利技术一些实施例中，仍然参照图1，所述阵列基板母本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种阵列基板母板，所述阵列基板母板包括栅线和与所述栅线连接的栅极驱动引线，其特征在于，所述阵列基板母板的非显示区域包括栅极测试引线和栅极测试电极，所述栅极测试引线的一端和所述栅极测试电极连接，所述栅极测试引线的另一端和所述栅极驱动引线对应连接，所述栅极测试电极、所述栅极测试引线与所述栅极驱动引线采用同种材料，且位于同层设置。

【技术特征摘要】
1.一种阵列基板母板，所述阵列基板母板包括栅线和与所述栅线连接的
栅极驱动引线，其特征在于，所述阵列基板母板的非显示区域包括栅极测试引
线和栅极测试电极，所述栅极测试引线的一端和所述栅极测试电极连接，所述
栅极测试引线的另一端和所述栅极驱动引线对应连接，所述栅极测试电极、所
述栅极测试引线与所述栅极驱动引线采用同种材料，且位于同层设置。
2.根据权利要求1所述的阵列基板母板，其特征在于，所述栅极测试电
极的宽度大于所述栅极测试引线的宽度。
3.根据权利要求1所述的阵列基板母板，其特征在于，还包括：
至少一个预留栅极测试电极，所述预留栅极测试电极与所述栅极测试引线
之间的连接是断开的。
4.根据权利要求1-3中任意一项所述的阵列基板母板，其特征在于，所述
栅极驱动引线为所述栅线向非显示区域延长的延长线。
5.根据权利要求1所述的阵列基板母板，其特征在于，所述阵列基板母
板上还设置有第一激光发生定位标记，使得后续工艺中能够通过所述第一激光
发生定位标记向阵列基板上的特定区域发射激光，从而将所述栅极驱动引线烧
断。
6.根据权利要求5所述的阵列基板母板，其特征在于，所述第一激光定
位标记的一端与所述栅极驱动引线一端的连线平齐。
7.根据权利要求1所述的阵列基板母板，其特征在于，所述阵列基板母
板上还设置有第一栅极测试引线段，一端与所述栅极测试电极连接，另一端延
伸到所述阵列基板母板的上边缘。
8.根据权利要求7所述的阵列基板母板，其特征在于，所述第一栅极测
试引线段与所述栅极测试电极同层设置。
9.根据权利要求1所述的阵列基板母板，其特征在于，还包括数据线；
所述阵列基板母板的非显示区域还设有：数据线测试引线、数据线驱...

【专利技术属性】
技术研发人员：曹金虎，马明辉，于嘉鑫，于凤武，曹斌，权南仁，历伟，李志，曹鑫磊，郭恩科，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，北京京东方显示技术有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11