一种主板CMOS电池电压批量测试方法技术

本发明专利技术公开了一种主板CMOS电池电压批量测试方法，属于计算机主板测试技术领域。本发明专利技术的主板CMOS电池电压批量测试方法在主板功能测试设备上加装CMOS电池电压侦测探针、电源PS‑Enable信号探针和测试板，所述测试板包括CMOS电压输入连接器、电压比较电路和开关电路，CMOS电池电压侦测探针与CMOS电池、CMOS电压输入连接器相连接，电压比较电路与CMOS电压输入连接器、开关电路相连接，电源PS‑Enable信号探针与主板、开关电路相连接。该发明专利技术的主板CMOS电池电压批量测试方法可快速测试CMOS电池有效性问题，大大降低测试时间和成本，提高主板出货质量，具有很好的推广应用价值。

Batch test method for CMOS battery voltage of mainboard

The invention discloses a method for testing the battery voltage of a mainboard CMOS battery, which belongs to the technical field of computer mainboard testing. The motherboard CMOS battery voltage of the invention batch testing method of installation CMOS battery voltage detection probe, power PS Enable signal probe and test board in board functional test equipment, the test board comprises a CMOS voltage input connector, voltage comparison circuit and a switch circuit, CMOS battery voltage detection probe and CMOS battery, CMOS voltage input connector connect the voltage comparison circuit and the input voltage of CMOS connector, switch circuit is connected with the power supply PS Enable signal probe and switch circuit is connected to the motherboard. The main board CMOS battery voltage batch test method of the invention can quickly test the validity of the CMOS battery, greatly reduce the test time and cost, improve the quality of the main board, and has good popularization and application value.

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及计算机主板测试
，具体提供一种主板CMOS电池电压批量测试方法。
技术介绍
在当前的计算机中，都会有一颗CMOS芯片，是一块可读写的并行或串行FLASH芯片，用来保存计算机的基本启动信息，如日期、时间、启动设置等。CMOS芯片通过CMOS电池来供电，无论计算机在关机状态或者是掉电的状态下，CMOS芯片上的信息都不会丢失。CMOS电池安装在计算机主板中，为了确保CMOS芯片的正常工作，必须保证计算机主板上CMOS电池的正常工作。为了确保计算机主板产品CMOS电池出货性能良好，在主板批量生产时，必须防止CMOS电池电压偏低或者漏装，从而造成CMOS电池出货后使用不持久或者直接无效，给计算机主板造成极大的产品出货风险，也经常会出现因CMOS电池问题出现的主板退货，给生产企业带来经济损失，给客户的使用带来很大的不便。在之前的主板测试过程中，ICT测试和功能测试都无法有效的测试CMOS电池电压偏低或者漏装的问题，造成CMOS电池偏低或者漏装的计算机主板流入市场，给生产企业及使用客户带来很不利的影响。
技术实现思路
本专利技术的技术任务是针对上述存在的问题，提供一种可快速测试CMOS电池有效性问题，大大降低测试时间和成本，提高主板出货质量，并具有良好的测试直观性和易用性的主板CMOS电池电压批量测试方法。为实现上述目的，本专利技术提供了如下技术方案：一种主板CMOS电池电压批量测试方法，在主板功能测试设备上加装CMOS电池电压侦测探针、电源PS-Enable信号探针和测试板，所述测试板包括CMOS电压输入连接器、电压比较电路和开关电路，CMOS电池电压侦测探针与CMOS电池、CMOS电压输入连接器相连接，电压比较电路与CMOS电压输入连接器、开关电路相连接，电源PS-Enable信号探针与主板、开关电路相连接；其中，电压比较电路包括电压比较器、电阻R1和电阻R2，电压比较器的反相输入端通过CMOS电压输入连接器与CMOS电池相连接，电阻R1一端连接基准电源，另一端与电压比较器的正相输入端相连接；电阻R2一端接地，另一端与电压比较器的正相输入端相连接；开关电路包括三极管Q1、三极管Q2、电阻R5和电阻R6，三极管Q1的基极与电压比较器的输出端相连接，三极管Q1的发射极通过电阻R6接地，三极管Q1的集电极通过电阻R5与三极管Q2的基极相连接，三极管Q2的集电极接地，三极管Q2的发射极与电源PS-Enable信号探针相连接。所述电源PS-Enable信号探针与主板PS-Enable信号相接触。所述电阻R5、电阻R6均为限流电阻，防止通过三极管Q1和Q2的电流过大。服务器主板开机电路中PS_Enable为高电平有效，当主板开机电路中PS_Enable为高电平时，主板可以开机；当主板开机电路中PS_Enable为低电平时，主板无法开机。测试过程中，将主板固定在主板功能测试设备上，CMOS电池电压侦测探针与主板上的CMOS电池的3.3V输出针相接触，且CMOS电池电压侦测探针与CMOS电压输入连接器相连接，将CMOS电压引入到测试板。所述电压比较器的反相输入端获得CMOS电池电压值，电压比较器的正相输入端获得电阻R2上的电压值。电压比较器比较正相输入端与反相输入端的电压值，并输出一高电平或者低电平信号。若电压比较器输出的为高电平信号，Q1、Q2同时导通，开关电路的PS-Enable-T信号拉低，由于主板开机电路为PS_Enable高电平有效，故此状态下主板无法开机。若电压比较器输出的为低电平信号，Q1截止，Q2也截止，PS-Enable-T为高阻，主板开机电路PS_Enable高电平有效，故此状态下主板正常开机。作为优选，所述测试板还包括LED灯、电阻R3和电阻R4，LED灯一端接地，另一端通过电阻R4连接在电压比较器的输出端；电阻R3一端与基准电源相连接，另一端连接在电压比较器的输出端。所述电阻R4为限流电阻，限制通过LED灯的电流，防止电流过大损坏LED灯。在电压比较器输出的为高电平信号时，电阻R3上拉获取稳定3.0V高电平，LED灯亮；在电压比较器输出的为低电平信号，电阻R3上无电压，LED灯不亮。作为优选，所述电压比较器为一集成电路LM339。与现有技术相比，本专利技术具有以下突出的有益效果：（一）所述测试方法能够快速、有效的测试主板CMOS电池的有效性，测试方法简单，测试设备成本低，大大降低了测试时间和测试成本，可以方便的实现计算机主板大规模生产时的CMOS电池测试，并能确保产品出货质量；（二）所述测试板上设置有LED灯，当主板可以上电正常且LDE灯保持灭的状态时，可以确定CMOS电池电压正常，当主板不能开机，且LED灯亮时，可以确定CMOS电池出现了电压偏低或者漏装，操作人员可以及时对主板上的CMOS电池进行重新安装，确保主板出货的质量，当主板不能开机，且LED灯不亮时，可以确定开机问题与CMOS电池无关。附图说明图1是本专利技术所述主板CMOS电池电压批量测试方法的作业连接示意图；图2是本专利技术所述主板CMOS电池电压批量测试方法的电路原理图；图3是本专利技术所述主板CMOS电池电压批量测试方法的服务器主板开机电路PS_Enable高电平有效的结构示意图；图4是本专利技术所述主板CMOS电池电压批量测试方法的过程示意图。具体实施方式下面将结合附图和实施例，对本专利技术的主板CMOS电池电压批量测试方法作进一步详细说明。实施例本专利技术的主板CMOS电池电压批量测试方法在主板功能测试设备上加装CMOS电池电压侦测探针、电源PS-Enable信号探针和测试板。测试板由CMOS电压输入连接器（RTCInput）、电压比较电路、LED灯和开关电路构成。CMOS电池电压侦测探针与CMOS电池、CMOS电压输入连接器（RTCInput）相连接。如图1所示，测试板通过电源PS-Enable信号探针、CMOS电压输入连接器（RTCInput）分别与服务器主板相连接。如图2所示，电压比较电路由电压比较器、电阻R1、电阻R2和电阻R3构成。电压比较器为一集成电路LM339。电压比较器的反向输入端通过CMOS电压输入连接器（RTCInput）与服务器主板上的CMOS电池相连接。电阻R1的一端与基准电源VCC-3V相连接，另一端与电压比较器的正向输入端相连接。电阻R2的一端接地，另一端与电压比较器的正向输入端相连接。电阻R1、电阻R2分别采用阻值为1K、25K的电阻，将基准电源下限阀值Verf近似取值为2.9V，引入电压比较器的正向输入端。电阻R3一端与基准电源VCC-3V相连接，另一端与电压比较器的输出端相连接。LED灯通过电阻R4与电压比较器的输出端相连接。电阻R4为限流电阻，限制通过LED灯的电流，防止电流过大损坏LED灯。开关电路由三极管Q1、三极管Q2、电阻R5和电阻R6构成。三极管Q1的基极与电压比较器的输出端相连接，三极管Q1的发射极通过电阻R6接地，三极管Q1的集电极通过电阻R5与三极管Q2的基极相连接，三极管Q2的集电极接地，三极管Q2的发射极与电源PS-Enable信号探针相连接，电源PS-Enable信号探针再与服务器主板的PS-Enable信号相接触，实现测试板与服务器主板的连接。电阻R5、电阻R6均为限流电阻，防止本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种主板CMOS电池电压批量测试方法，其特征在于：在主板功能测试设备上加装CMOS电池电压侦测探针、电源PS‑Enable信号探针和测试板，所述测试板包括CMOS电压输入连接器、电压比较电路和开关电路，CMOS电池电压侦测探针与CMOS电池、CMOS电压输入连接器相连接，电压比较电路与CMOS电压输入连接器、开关电路相连接，电源PS‑Enable信号探针与主板、开关电路相连接；其中，电压比较电路包括电压比较器、电阻R1和电阻R2，电压比较器的反相输入端通过CMOS电压输入连接器与CMOS电池相连接，电阻R1一端连接基准电源，另一端与电压比较器的正相输入端相连接；电阻R2一端接地，另一端与电压比较器的正相输入端相连接；开关电路包括三极管Q1、三极管Q2、电阻R5和电阻R6，三极管Q1的基极与电压比较器的输出端相连接，三极管Q1的发射极通过电阻R6接地，三极管Q1的集电极通过电阻R5与三极管Q2的基极相连接，三极管Q2的集电极接地，三极管Q2的发射极与电源PS‑Enable信号探针相连接。

【技术特征摘要】
1.一种主板CMOS电池电压批量测试方法，其特征在于：在主板功能测试设备上加装CMOS电池电压侦测探针、电源PS-Enable信号探针和测试板，所述测试板包括CMOS电压输入连接器、电压比较电路和开关电路，CMOS电池电压侦测探针与CMOS电池、CMOS电压输入连接器相连接，电压比较电路与CMOS电压输入连接器、开关电路相连接，电源PS-Enable信号探针与主板、开关电路相连接；其中，电压比较电路包括电压比较器、电阻R1和电阻R2，电压比较器的反相输入端通过CMOS电压输入连接器与CMOS电池相连接，电阻R1一端连接基准电源，另一端与电压比较器的正相输入端相连接；电阻R2一端接地，另一端与电压比较器的正相输入端相连接...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙连震，王佩，亢泽坤，
申请(专利权)人：浪潮电子信息产业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：山东;37