局部轮胎表面异常的校正制造技术

本发明专利技术提供用于改进轮胎均匀性例如以减小由局部轮胎表面异常引起的空腔噪声和其它影响的系统和方法。所述局部轮胎表面异常可以体现为所述轮胎的径向偏心的局部峰值或其它均匀性参数(例如，径向力变化)。径向偏心的所述局部峰值可以处于径向偏心的均匀性公差内，但是仍可以通过由所述局部峰值引起的高谐波效果促进空腔噪声。根据本发明专利技术的方面，可以识别局部轮胎表面异常的位置和/或其它可识别特征。切除装置可以在所述轮胎的胎面上用于在与所述局部轮胎表面异常相关联的方位角位置处清除轮胎材料以改进所述轮胎的所述均匀性。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术大体上涉及用于改进轮胎均匀性的系统和方法，且更确切地说，涉及用于通过校正轮胎胎面上的局部轮胎表面异常来分析和改进轮胎的均匀性的系统和方法。
技术介绍
轮胎非均匀性与在轮胎的特定可计量特征中关于轮胎的旋转轴线的对称性(或缺乏对称性)有关。遗憾的是，常规轮胎成型方法具有产生轮胎非均匀性的许多机会。在轮胎旋转期间，存在于轮胎结构中的非均匀性在车轮轴线处产生周期性变化的力。当这些力变化作为明显的振动传输到车辆以及车辆乘员时，轮胎非均匀性是非常重要的。这些力通过车辆的悬架传输并且可以在座位以及车辆的方向盘上感觉到，或者作为噪声在乘客室中传输。传输到车辆乘员的振动的量已经被分类为轮胎的“乘坐舒适”或“舒适”。轮胎均匀性特征或属性通常被分类为维度或几何变化、质量方差和刚度变化。用于评估轮胎均匀性的常见测量包含几何变化测量(例如，径向偏心和横向偏心)和力变化测量(例如，径向力变化、横向力变化和切向力变化，有时也称为纵向或前后力变化)。均匀性测量机器通常通过在轮胎关于其轴线旋转时测量在围绕轮胎的多个点处的力和/或几何结构来测量上述以及其它均匀性特征。轮胎中的空腔噪声可以通过激励密闭轮胎空腔内含有的空气而产生。在当轮胎在平滑表面上滚动时(例如，在性能测试期间)空腔噪声出现时，促进空腔噪声的空气激励可以至少部分由轮胎非均匀性(例如，轮胎的径向偏心)引起。举例来说，例如由轮胎表面异常(例如，胎面接头)引起的轮胎的径向偏心的局部峰值可以处于在轮胎制造期间所评估的典型均匀性公差内。然而，径向偏心的局部峰值可以产生轮胎的径向偏心的高谐波(例如，大于10的谐波)。径向偏心的这些高谐波可以引起促进空腔噪声的空气激励。例如，可以通过磨削胎面的表面执行校正由表面异常引起的径向偏心。然而，通常执行此通用磨削以解决轮胎的径向偏心的低谐波和其它均匀性参数。此外，在某些情形中，磨削胎面可以使轮胎的胎面产生丑陋的外观。另外，磨削胎面可以引起其它非均匀性问题的形成，例如，切向力变化的形成。因此，需要一种用于减小通过由于胎面接头或其它轮胎特征产生的局部轮胎表面异常引起的谐波贡献的系统和方法。可以校正由轮胎表面异常引起的多个谐波的系统和方法将尤其有用。例如，多个谐波的减少，尤其高阶谐波的减少可以促进空腔噪声的减小。
技术实现思路
本专利技术的各方面以及优点将部分在以下描述中进行阐述，或者可以从所述描述中显而易见，或者可以通过本专利技术的实践来习得。本专利技术的一个实例方面涉及一种用于改进轮胎的均匀性的方法。所述方法包含识别具有用于均匀性校正的胎面的轮胎。所述方法进一步包含：识别轮胎胎面上的至少一个局部轮胎表面异常；以及通过一个或多个计算装置确定局部轮胎表面异常的至少一个可识别特征。所述方法进一步包含：通过一个或多个计算装置确定材料清除图案以至少部分地基于局部轮胎表面异常的至少一个可识别特征纠正局部轮胎表面异常。材料清除图案指定用于在与局部轮胎表面异常相关联的方位角位置处从轮胎的胎面清除材料的材料清除深度。所述方法进一步包含根据材料清除图案从轮胎胎面清除轮胎材料。本专利技术的另一实例方面涉及用于改进轮胎的均匀性的均匀性校正系统。均匀性校正系统包含经配置以接纳轮胎以供选择性旋转的轮胎夹具。均匀性校正系统包含：均匀性测量装置，其经配置以在围绕轮胎胎面的多个不同方位角位置处获得多个径向偏心测量；以及切除装置，其经配置以从轮胎胎面清除轮胎材料。均匀性校正系统进一步包含耦合到切除装置和轮胎夹具的控制系统。控制系统经配置以从多个径向偏心测量中识别径向偏心的局部峰值。控制系统进一步经配置以至少部分地基于径向偏心的局部峰值确定材料清除图案。材料清除图案指定用于从轮胎胎面清除轮胎材料以校正径向偏心的局部峰值的材料清除深度。控制系统进一步经配置以控制轮胎夹具和切除装置以根据材料清除图案从轮胎胎面清除轮胎材料。参考以下描述和所附权利要求书，本专利技术的这些和其它特征、方面和优点将得到更好的理解。并入在本说明书中且构成本说明书的一部分的附图说明了本专利技术的实施例，并且与所述描述一起用以说明本专利技术的原理。附图说明本专利技术的针对所属领域的技术人员的完整且令人能够实现的揭示(包含其最佳模式)在说明书中得到阐述，所述揭示参考附图，在所述附图中：图1描绘在轮胎胎面上具有轮胎表面异常的实例轮胎。图2描绘针对具有轮胎表面异常的实例轮胎测量的径向偏心的图形表示。图2描绘沿着横坐标的关于轮胎的方位角以及沿着纵坐标的径向偏心的量值(例如，以毫米为单位)。图3描绘可以是和/或可以促进局部轮胎表面异常的实例胎面接头的截面图。图4描绘具有可以是和/或可以促进局部轮胎表面异常的实例胎面接头的胎面的平面图。图5描绘具有可以是和/或可以促进局部轮胎表面异常的实例胎面接头的胎面的平面图。图6描绘根据本专利技术的实例方面的用于改进轮胎的均匀性的实例方法的流程图。图7绘制根据本专利技术的实例方面的可以经分析以识别局部轮胎表面异常的实例踏面映射。图7描绘沿着横坐标的胎面的周向方向、沿着纵坐标的胎面的横向宽度。图8描绘根据本专利技术的实例方面的沿着围绕轮胎表面的多条迹线的径向偏心测量。图9描绘根据本专利技术的实例方面的用于改进轮胎的均匀性的实例系统。图10至17描绘根据本专利技术的实例方面的用于提高轮胎的均匀性获得的实例模拟结果。具体实施方式所属领域的一般技术人员应了解，本论述仅是对示例性实施例的描述，且并不意欲限制本专利技术的更广泛的方面。每个实例是为了说明本专利技术而提供，而非限制本专利技术。事实上，所属领域的技术人员将清楚，在不脱离本专利技术的范围或精神的情况下可以在本发明中进行各种修改以及改变。举例来说，说明或描述为一个实施例的一部分的特征可以与另一实施例一起使用以产生再一实施例。因此，希望本专利技术涵盖这类修改以及改变，所述修改以及改变处于所附权利要求书以及其等效物的范围内。概述一般来说，本专利技术的实例方面涉及改进轮胎均匀性以减小由轮胎胎面的表面上的局部轮胎表面异常造成的影响。局部轮胎表面异常可以由用于构造轮胎的产品中的接头(例如，胎面接头)引起。局部轮胎表面异常可以体现为轮胎的径向偏心的局部峰值或其它均匀性参数(例如，径向力变化)。径向偏心的局部峰值可以处于径向偏心的均匀性公差内，但是仍可以造成影响，例如，通过由局部峰值引起的高谐波效果的空腔噪声。根据本专利技术的方面，可以识别局部轮胎表面异常的位置和/或其它可识别特征。材料清除装置可以在轮胎胎面上用于在与局部轮胎表面异常相关联的方位本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于改进轮胎的均匀性的方法，其包括：识别具有用于均匀性校正的胎面的轮胎；识别所述轮胎的所述胎面上的至少一个局部轮胎表面异常；通过一个或多个计算装置确定所述局部轮胎表面异常的至少一个可识别特征；通过所述一个或多个计算装置确定材料清除图案以至少部分地基于所述局部轮胎表面异常的所述至少一个可识别特征校正所述局部轮胎表面异常，所述材料清除图案指定用于在与所述局部轮胎表面异常相关联的一个或多个方位角位置处从所述轮胎的所述胎面清除材料的材料清除深度；以及根据所述材料清除图案从所述轮胎的所述胎面清除轮胎材料。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2013.09.26 US 61/882,6551.一种用于改进轮胎的均匀性的方法，其包括：
识别具有用于均匀性校正的胎面的轮胎；
识别所述轮胎的所述胎面上的至少一个局部轮胎表面异常；
通过一个或多个计算装置确定所述局部轮胎表面异常的至少一个可识别特征；
通过所述一个或多个计算装置确定材料清除图案以至少部分地基于所述局部轮
胎表面异常的所述至少一个可识别特征校正所述局部轮胎表面异常，所述材料清除图
案指定用于在与所述局部轮胎表面异常相关联的一个或多个方位角位置处从所述轮
胎的所述胎面清除材料的材料清除深度；以及
根据所述材料清除图案从所述轮胎的所述胎面清除轮胎材料。
2.根据权利要求1所述的方法，其中所述轮胎表面异常是可归因于胎面接头的径向
偏心的局部峰值。
3.根据权利要求1所述的方法，其中所述局部轮胎表面异常的所述至少一个可识别
特征包括所述局部轮胎表面异常的位置、所述局部轮胎表面异常的形状或所述局部轮胎
表面异常的大小中的一个或多个。
4.根据权利要求1所述的方法，其中至少部分地基于所述局部轮胎表面异常的所述
至少一个可识别特征确定所述材料清除深度。
5.根据权利要求1所述的方法，其中至少部分地基于围绕所述轮胎的所述胎面的多
个径向偏心测量通过所述一个或多个计算装置确定所述局部轮胎表面异常的所述至少
一个可识别特征。
6.根据权利要求5所述的方法，其中针对围绕所述胎面的所述表面的中心迹线获得
所述径向偏心测量。
7.根据权利要求5所述的方法，其中针对围绕所述胎面的所述表面的多条迹线获得
所述径向偏心测量。
8.根据权利要求1所述的方法，其中至少部分地基于所述轮胎的所述胎面的踏面映
射通过所述一个或多个计算装置确定所述接头的所述至少一个可识别特征。
9.根据权利要求1所述的方法，其中至少部分地基于与所述轮胎相关联的制造数据
通过所述一个或多个计算装置确定所述接头的...

【专利技术属性】
技术研发人员：D·D·弗雷利科，
申请(专利权)人：米其林集团总公司，米其林研究和技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：法国;FR