一种基于CMOS拍摄成像的测量系统技术方案

本发明专利技术公开了一种基于CMOS拍摄成像的测量系统，包括：控制系统；工作台；设于所述工作台上的待测物固定组件；以及固定在所述工作台上的导轨组件，其中，所述导轨组件包括上导轨、平行设置且相距一定距离的左导轨与右导轨，所述上导轨可滑动地横跨于所述左导轨与右导轨之间，所述上导轨之上可往复滑动地设有CMOS检测组件，所述导轨组件及所述CMOS检测组件分别与所述控制系统电连接。本发明专利技术具有确保在保证测量精度的前提下通过减少人工辅助操作的步骤来提高自动化程度，从而导致减少整个测量过程所耗费的时间的有益效果。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种非接触式尺寸测量系统，更具体地，涉及一种基于CMOS拍摄成像的测量系统。
技术介绍
非接触式尺寸测量装置以光电、电磁、超声波等技术为基础，在仪器的测量元件不与被测物体表面接触的情况下，即可获得被测物体的各种外表或内在的尺寸数据特征。非接触式尺寸测量系统与传统的接触式测距系统相比精度更高、操作更方便、安全系数更高、洁净度高、测量过程中对被测物的污染程度小，从而被应用于工业生产及科学研究的多个领域。典型的非接触式尺寸测量方法如激光三角法、电涡流法、超声测量法、视觉成像测量法、超声波测量法等等，其中视觉成像测量法是指通过机器视觉产品(即图像摄取装置，分CMOS相机和CCD相机两种)将被摄取目标转换成图像信号，传送给专用的图像处理系统，根据像素分布和亮度、颜色等信息，转变成数字化信号，图像系统对这些信号进行各种运算来抽取目标的特征，进而根据判别的结果来控制现场的设备动作，在测量缺陷和防止缺陷产品被配送到消费者的功能方面具有不可估量的价值。现有技术中的测量系统需要人工辅助操作的步骤多、自动化程度低，从而导致整个测量过程耗费时间过长，且测量不精确。
技术实现思路
针对上述技术中存在的不足之处，本专利技术的目的是提供一种基于CMOS拍摄成像的测量系统，对现有的非接触式测量系统进行优化改进，确保在保证测量精度的前提下通过减少人工辅助操作的步骤来提高自动化程度，从而导致减少整个测量过程所耗费的时间。为了实现根据本专利技术的这些目的和其他优点，提供了一种基于CMOS拍摄成像的测量系统，其特征在于，包括：控制系统；工作台；设于所述工作台上的待测物固定组件；以及固定在所述工作台上的导轨组件，其中，所述导轨组件包括上导轨、平行设置且相距一定距离的左导轨与右导轨，所述上导轨可滑动地横跨于所述左导轨与右导轨之间，所述上导轨之上可往复滑动地设有CMOS检测组件，所述导轨组件及所述CMOS检测组件分别与所述控制系统电连接。优选的是，所述CMOS检测组件包括套设在所述上导轨上并且可往复滑动的CMOS支架、设于所述CMOS支架的一侧并且可上下滑动的CMOS相机、以及设于所述CMOS相机旁侧的读码器。优选的是，所述CMOS相机的镜头外圈设置有环形光源。优选的是，所述CMOS支架的下方连接有L形的连接臂。优选的是，所述连接臂的末端设有与所述CMOS相机相对的颜色传感器，所述CMOS支架、CMOS相机、读码器、环形光源、以及颜色传感器与所述控制系统电连接。优选的是，所述待测物固定组件设于所述上导轨之下、左导轨与右导轨之间，所述待测物固定组件包括支架组件、设于所述支架组件上的固定盘组件。优选的是，所述支架组件包括设有安装槽的支架板以及用于支持所述支架板的左支脚与右支脚，所述左支脚与右支脚平行设置。优选的是，所述固定盘组件包括带有减重槽的固定盘以及设于所述减重槽周围的至少四个固定夹具。本专利技术与现有技术相比，其有益效果是：1.由于所述导轨组件包括上导轨、平行设置且相距一定距离的左导轨与右导轨，所述上导轨可滑动地横跨于所述左导轨与右导轨之间，所述上导轨之上可滑动地设有CMOS检测组件，从而使得所述CMOS检测组件可实现三个自由度的位移运动。2.由于所述CMOS检测组件包括套设在所述上导轨上并且可往复滑动的CMOS支架、设于所述CMOS支架的一侧并且可上下滑动的CMOS相机、以及设于所述CMOS相机旁侧的读码器，从而使得所述CMOS相机可在CMOS支架的调整下来调整焦距，提高拍摄清晰度，读码器亦可在CMOS相机拍摄过程中对产品上的条码进行扫描。3.由于所述CMOS相机的镜头外圈设置有环形光源，所述CMOS支架的下方连接有L形的连接臂，所述连接臂的末端设有与所述CMOS相机相对的颜色传感器，所述CMOS支架、CMOS相机、读码器、环形光源、以及颜色传感器与所述控制系统电连接，使得所述CMOS支架、CMOS相机、读码器、环形光源、以及颜色传感器可在所述控制系统的协同作用下，实现CMOS支架与CMOS相机的焦距自动调节；实现对于不同的产品表面颜色，通过颜色传感器读取产品表面颜色，而环形光源选取不同的打光方式，如光线的强弱、打光的方向等等，使得成像图片不至于曝光过度或曝光不够，充分保证测量精度。4.由于所述待测物固定组件设于所述上导轨之下、左导轨与右导轨之间，所述待测物固定组件包括支架组件、设于所述支架组件上的固定盘组件，从而使得CMOS检测组件在移动过程中可方便地进行拍摄测量，提高测量效率。本专利技术的其他优点、目标和特征将部分通过下面的说明体现，部分还将通过对本专利技术的研究和实践而为本领域的技术人员所理解。附图说明图1是根据本专利技术的基于CMOS拍摄成像的测量系统的一实施例的轴测图；图2是根据本专利技术的基于CMOS拍摄成像的测量系统的一实施例的正视图；图3是根据本专利技术的基于CMOS拍摄成像的测量系统的一实施例的俯视图；图4是根据本专利技术的基于CMOS拍摄成像的测量系统的一实施例中的上导轨与CMOS检测组件的轴测图；图5是根据本专利技术的基于CMOS拍摄成像的测量系统的一实施例中的待测物固定组件的轴测图；图6是根据本专利技术的基于CMOS拍摄成像的测量系统的一实施例中的待测物固定组件的爆炸图。具体实施方式下面结合附图对本专利技术做进一步的详细说明，本专利技术的前述和其它目的、特征、方面和优点将变得更加明显，以令本领域技术人员参照说明书文字能够据以实施。参照图1、图2及图3，基于CMOS拍摄成像的测量系统100包括：控制系统(略画)、工作台组件110、导轨组件、CMOS检测组件120、以及待测物固定组件130，其中，所述工作台组件110包括工作台111，导轨组件设于工作台111上，导轨组件包括上导轨114、平行设置且相距一定距离的左导轨112与右导轨113，上导轨114可滑动地横跨于左导轨112与右导轨113之间，CMOS检测组件120可往复滑动地设于上导轨114之上，待测物固定组件130设于工作台111之上，所述导轨组件及CMOS检测组件120分别与所述控制系统电连接。参照图4，所述CMOS检测组件120包括套设在上导轨114上并且可往复滑动的CMOS支架121、设于CMOS支架121的一侧并且可上下滑动的CMOS相机122、以及设于CMOS相机122旁侧的读码器123。作为一种实...

【技术保护点】
一种基于CMOS拍摄成像的测量系统，其特征在于，包括：控制系统；工作台；设于所述工作台上的待测物固定组件；以及固定在所述工作台上的导轨组件，其中，所述导轨组件包括上导轨、平行设置且相距一定距离的左导轨与右导轨，所述上导轨可滑动地横跨于所述左导轨与右导轨之间，所述上导轨之上可往复滑动地设有CMOS检测组件，所述导轨组件及所述CMOS检测组件分别与所述控制系统电连接。

【技术特征摘要】
1.一种基于CMOS拍摄成像的测量系统，其特征在于，包括：
控制系统；
工作台；
设于所述工作台上的待测物固定组件；以及
固定在所述工作台上的导轨组件，
其中，所述导轨组件包括上导轨、平行设置且相距一定距离的左导轨与右导
轨，所述上导轨可滑动地横跨于所述左导轨与右导轨之间，所述上导轨之上
可往复滑动地设有CMOS检测组件，所述导轨组件及所述CMOS检测组件分
别与所述控制系统电连接。
2.如权利要求1所述的基于CMOS拍摄成像的测量系统，其特征在于，
所述CMOS检测组件包括套设在所述上导轨上并且可往复滑动的CMOS支
架、设于所述CMOS支架的一侧并且可上下滑动的CMOS相机、以及设于所
述CMOS相机旁侧的读码器。
3.如权利要求2所述的基于CMOS拍摄成像的测量系统，其特征在于，
所述CMOS相机的镜头外圈设置有环形光源。
4.如权利要求3所述的基于CMOS拍摄成像的测量系统...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴加富，缪磊，曹强强，
申请(专利权)人：苏州富强科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32