芯片标识符自动检查系统与其方法技术方案

本发明专利技术是提供一种芯片标识符自动检查系统，包括：一资料取得装置用以取得一芯片位置资料、一晶圆批号资料、一芯片刻号资料及一芯片随机码；一处理装置具有一编码模块，用以将该晶圆批号资料、晶圆刻号资料、该芯片随机码及该芯片位置资料进行编码，以形成一芯片标识符；以及一测试装置具有一确认模块，用以测试该芯片标识符是否正常。其中，当该确认模块发现该芯片标识符错误时，该确认模块传送一停止信号使与该系统连接的一探针组静止。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术是关于一种自动检查系统与其方法，特别是一种芯片标识符自动检查系统与其方法。
技术介绍
目前的芯片产品在出厂时，在每个芯片上都会被写入一个芯片标识符，在某些时候，每一个芯片的芯片标识符必须是独一无二的，换言之，不能有重复的芯片标识符，也因此在芯片的制造过程中，只要一晶圆上有两个芯片的芯片标识符产生重复时，则该片晶圆就可能因此而必须报销。此外，若每一批货的晶圆数量庞大，晶圆上的芯片数量更非轻易可计算，若是其中一片芯片的芯片标识符错误时，工作人员也很难实时发现，而使得后续的晶圆继续工作，直到出货时才发现问题，使得整批货都必须报销，进而造成难以估计的损失。虽然现在有些芯片的芯片标识符的编码上会加入一随机流水号，难而此种编码方式仍是会有机率造成重复的编码，因此仍无法完全解决上述的问题。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种改良的芯片标识符自动检查系统，提供多道的检查机制，不仅可产生不会重复的芯片标识符，更可以提供自动检查的功效，进而解决上述的问题。本专利技术提供一种芯片标识符自动检查系统，包括：一资料取得装置，具有一控制器、一位置记录模块、一批号读取模块、一刻号读取模块及一随机码产生模块，该控制器与所述模块各自连接并控制所述模块，该位置记录模块连接一晶圆探针装置的一探针组，用以根据该探针组的位置取得一芯片位置资料，该批号读取模块用以读取一晶圆批号资料，该刻号读取模块用以读取一芯片刻号资料，该随机码用以产生一芯片随机码；一处理装置，与该资料取得装置连结，用以取得该晶圆批号资料、晶圆刻号资料、该芯片随机码及该芯片位置资料，该处理装置并具有一编码模块，以将该晶圆批号资料、晶圆刻号资料、该芯片随机码及该芯片位置资料进行编码，以形成一芯片标识符；以及一测试装置，与该处理装置连结，用以取得该芯片标识符，该测试装置并具有一确认模块，用以测试该芯片标识符是否正常；其中，当该确认模块发现该芯片标识符错误时，该确认模块传送一停止信号使该探针组静止。由此，本专利技术的该芯片标识符检查模块可产生一特殊的芯片标识符，且通过特殊的确证方式，一旦发现错误的芯片标识符，可以实时停止该晶圆探针装置的该探针组的工作并告知使用者。在一较佳实施例里，该芯片标识符自动检查系统还包括一资料整合装置，用以储存正确的芯片标识符至一资料库，并将后续的芯片标识符与该资料库里的资料进行比对，以再次确保芯片标识符的正确性。本专利技术的另一目的是提供一种芯片标识符自动检查方法，是执行于一芯片标识符自动检查系统上，该方法包括步骤：通过与一晶圆探针装置的一探针组连结的一资料取得装置来取得一芯片位置资料、一晶圆批号资料、一晶圆刻号资料及一芯片随机码，其中该芯片位置资料是根据该探针组位置而产生；传送该芯片位置资料、该晶圆批号资料、该晶圆刻号资料及该芯片随机码至一处理装置；利用设置于该处理装置里的一编码模块将该芯片位置资料、该晶圆批号资料、该晶圆刻号资料及该芯片随机码编码为一芯片标识符；通过一测试装置取得该芯片标识符，并通过设置于该测试装置里的一确认模块来确认该芯片标识符是否正常；以及当该确认模块发现该芯片标识符错误时，通过该确认模块传送一停止信号使该探针组静止。由此，本专利技术的该芯片标识符检查方法可产生一特殊的芯片标识符，且通过特殊的确证方式，一旦发现错误的芯片标识符，可以实时停止该探针组的工作并告知使用者。在一较佳实施例里，该芯片标识符自动检查方法还包括将正确的芯片标识符储存至一资料库里，并通过一比对模块将该芯片标识符与该资料库中的多笔资料进行比对，以再次确保芯片标识符的正确性。附图说明为进一步说明本专利技术的
技术实现思路
，以下结合实施例及附图详细说明如后，其中：图1是本专利技术的芯片标识符自动检查系统的一实施例的系统架构图。图2是本专利技术的芯片标识符自动检查方法的一步骤流程图。图3是该芯片标识符自动检查方法的步骤S25的一细部流程图。图4是该芯片标识符自动检查方法的一资料整合步骤的流程图。图5是该芯片标识符自动检查方法的一资料数量计算步骤的流程图。图6是该资料数量计算步骤的步骤S52及S53所述的资料覆盖的示意图。具体实施方式图1是本专利技术是芯片标识符自动检查系统是一实施例是系统架构图，如图1所示，本专利技术是芯片标识符自动检查系统1主要包含一晶圆探针装置5、一资料取得装置10、一处理装置20及一测试装置30，其中该晶圆探针装置5连结该资料取得装置10，而该资料取得装置10连结至该处理装置20，该处理装置20与该测试装置30连结。该晶圆探针装置5设有一探针组110、一条形码读取器120、一镜头130及文字辩识模块131，再者，该资料取得装置10主要包括一位置记录模块11、一批号读取模块12、一刻号读取模块13、一随机码产生模块14及一控制器15，该控制器15控制所述模块的运作以取得多个的资料，该资料取得模块10并将所述资料传送至该处理模块20。该处理模块20主要包括一编码模块21，用以将来自该资料取得装置10的所述资料进行编码，该处理模块20并将所述编码后的资料传送至该测试装置30。该测试装置30主要包括一编码缓存器31及一确认模块32，该编码缓存器31用以暂存所述编码后的资料，该确认模块32用以确认所述编码后的资料是否属于正确的编码。另外，该芯片标识符自动检查系统1更可包括与该测试装置30连结的一资料整合装置40，用以从该测试装置30处接收所述编码后的资料。该资料整合装置40主要包括一资料库41及一比较模块42，更佳地，还包括一计算模块43，其中该资料库41用以储存多个编码后的资料，该比较模块42用以将接收到的编码后的资料与储存于该资料库41中的所述资料进行比对，该计算模块43则用以计算储存于资料库41中的资料数量。在一较佳实施例里，该资料取得装置10是与一晶圆探针装置5相连结至一计算机装置(图中未示)，或者该资料取得装置10是设置于该晶圆探针装置5上的一硬件(在此态样下，所述模块11-14及该控制器15可以是该资料取得装置10上的硬件元件，或者是安装在该晶圆探针装置5里的软件程序)，又或者该资料取得装置10是设置于与该晶圆探针装置5连接的计算机里或该晶圆探针装置5里的一主要程序软件(在此态样下，所述模块11-14及该控制器15即为子程序软件)，本专利技术并无限定，只要产生如本专利技术的运作且达成本专利技术的功效的实施态样，即属于本专利技术的范围。该资料取得模块10的该位置记录模块11较佳是与该晶圆探针装置5的一探针组110相连结，并根据该探针组110的位置来取得一芯片位置资料，较佳地，该芯片位置资料是由坐标的形式所记录。由于该晶圆探针装置5所放置的一晶圆上具有多个芯片，探针组110会在该晶圆上移动而在每个芯片上进行工作，也因此每个芯片的位置可视为一芯片坐标，当该探针组110移动至一芯片的位置上时，该坐标记录模块11可以将该芯片的坐标位置记录下来，以形成该芯片的一芯片坐标资料。较佳地，该坐标记录模块11是由该控制器15所控制，以将芯片坐标资料记录于该资料取得模块10里。该资料取得模块10的该批号读取模块12较佳是与一条形码读取器120连结，通过该条形码读取器120来读取每片晶圆的一批号，并将该批号储存于该资料取得模块10里。其中，该批号是指多片晶圆为一组本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种芯片标识符自动检查系统，包括：一晶圆探针装置，具有一探针组；一资料取得装置，具有一控制器、一位置记录模块、一批号读取模块、一刻号读取模块及一随机码产生模块，该控制器与所述模块各自连接并控制所述模块，该位置记录模块连接该探针组以根据该探针组的位置取得一芯片位置资料，该批号读取模块用以读取一晶圆批号资料，该刻号读取模块用以读取一芯片刻号资料，该随机码用以产生一芯片随机码；一处理装置，与该资料取得装置连结以取得该晶圆批号资料、晶圆刻号资料、该芯片随机码及该芯片位置资料，并具有一编码模块，用以将该晶圆批号资料、晶圆刻号资料、该芯片随机码及该芯片位置资料编码成一芯片标识符；以及一测试装置，与该处理装置连结以取得该芯片标识符，并具有一确认模块，用以测试该芯片标识符是否正常；其中，当该确认模块发现该芯片标识符错误时，该确认模块传送一停止信号使该探针组静止。

【技术特征摘要】
1.一种芯片标识符自动检查系统，包括：一晶圆探针装置，具有一探针组；一资料取得装置，具有一控制器、一位置记录模块、一批号读取模块、一刻号读取模块及一随机码产生模块，该控制器与所述模块各自连接并控制所述模块，该位置记录模块连接该探针组以根据该探针组的位置取得一芯片位置资料，该批号读取模块用以读取一晶圆批号资料，该刻号读取模块用以读取一芯片刻号资料，该随机码用以产生一芯片随机码；一处理装置，与该资料取得装置连结以取得该晶圆批号资料、晶圆刻号资料、该芯片随机码及该芯片位置资料，并具有一编码模块，用以将该晶圆批号资料、晶圆刻号资料、该芯片随机码及该芯片位置资料编码成一芯片标识符；以及一测试装置，与该处理装置连结以取得该芯片标识符，并具有一确认模块，用以测试该芯片标识符是否正常；其中，当该确认模块发现该芯片标识符错误时，该确认模块传送一停止信号使该探针组静止。2.如权利要求1所述的芯片标识符自动检查系统，其中还包括具有一比对模块与一资料库的一资料整合装置，该资料整合装置与该测试模块连结，用以取得来自该存储装置的该芯片标识符，该比对模块将该芯片标识符与该资料库中的多笔资料进行比对。3.如权利要求2所述的芯片标识符自动检查系统，其中当该比对模块发现该芯片标识符与该多个资料未有重复时，该资料整合装置将该该芯片标识符储存制该资料库里。4.如权利要求3所述的芯片标识符自动检查系统，其中该资料整合装置更具有一计算模块，用以计算该资料库里的资料数量是否大于一数值，假如大于该数值，则将后续所欲储存的资料由该第一笔资料开始覆盖储存。5.如权利要求2所述的芯片标识符自动检查系统，其中，当该比对模块发现该芯片标识符与该多笔资料中的一资料重复时，该资料整合装置产生并传送一错误信息至该测试...

【专利技术属性】
技术研发人员：邱浩志，
申请(专利权)人：京元电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71