本发明专利技术涉及一种实现触摸屏自动校准的方法,包括以下步骤:(1)计算各通道的偏差值;(2)根据所述的偏差值对实际的采样值进行校准;(3)将校准后的数据输出值滤波器。采用该实现触摸屏自动校准的方法,原MCD通道校准的电流校准模块采用了大尺寸的MOS管,牺牲了面积换取精度,而本发明专利技术中,没有了电流校准,无需再采用大尺寸MOS管,从而节省了面积;本发明专利技术就原先减少了电流校准模块,增加了数字部分的硬件校准,相比较实现了功耗的降低;并且,硬件数字部分校准比模拟部分校准提高了校准的精度,具有广泛的应用范围。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及触摸屏
,尤其涉及触摸屏校准
,具体是指一种实现触摸屏自动校准的方法。
技术介绍
原触摸屏电路的模拟信号经过MCD通道校准,即单次或多次采样求平均值的方法得到通道实测值。再由PipelineADC采样送至软件部分,由软件进行校准。缺点:首先,MCD通道校准设计中也有电流校准,与软件校准重复,增加了功耗;其次,该方法得到的实测值与理论值偏差最大可达10%,偏差较大。以已量产的某款触摸屏控制电路CS9603产品具体应用线路图为例进行
技术介绍
介绍:MCD通道正常工作是通过在TX0~TXN上打入一串波形来控制的,如图1所示。MCD通道校准的框架如图2所示。MCD的测试校准可以进行MCD初始值的采样。通道RX0~RX8使用ADC0进行采样,通道RX9~RX17使用ADC1进行采样。以表一为例,MCD各通道初始值理论值和实测值(采样24次,求平均值)如下:表一由图3和图4可以看出即使是用同一个adc进行采样,各通道之间初始值具有一定的偏差,有些通道和理想值很接近,有些通道和理想值偏差将近10%;ADC采样后的数据则如图5所示直接交由数字部分进行数据处理。现有的技术中MCD通道校准部分包含的电流校准模块与软件校准相结合的方法,并没有有效的提高校准精度,同时,造成了模拟MCD通道部分的面积和功耗的增大。
技术实现思路
本专利技术的目的是克服了上述现有技术的缺点,提供了一种能够实现的实现触摸屏自动校准的方法。为了实现上述目的,本专利技术的具有如下构成:该实现触摸屏自动校准的方法,包括以下步骤:(1)计算各通道的偏差值;(2)根据所述的偏差值对实际的采样值进行校准;(3)将校准后的数据输出值滤波器。较佳地,所述的步骤(1)包括以下步骤:(1-1)输入针对TX端的冗余扫描波形;(1-2)对通道RX0~RXM使用流水线型模数转换电路PipelineADC进行采样;(1-3)根据理论值计算偏差值;(1-4)将所述的偏差值存放于寄存器中。更佳地,所述的根据理论值计算偏差值,具体为:根据以下公式计算偏差值:ΔRXM=(RXM初始值)-理论值,其中,ΔRXM为第M个RX通道的偏差值,RXM初始值为第M个通道的采样值。较佳地,所述的步骤(2)包括以下步骤:(2-1)对TX0~TXN进行正常的场扫描,得到N×M个数据;(2-2)根据所述的偏差值对每组RX数据进行校准。更佳地,所述的根据所述的偏差值对每组RX数据进行校准,具体为:根据以下公式对每组RX数据进行:TXN校准值=TXN(M)+ΔRXM,其中,TXN(M)为第M个RX通道下的第N个TX通道采样值。采用了该专利技术中的实现触摸屏自动校准的方法,原MCD通道校准的电流校准模块为了达到高校准精度,采用了大尺寸的MOS管,牺牲了面积换取精度,而本专利技术中,没有了电流校准,无需再采用大尺寸MOS管,从而节省了面积;本专利技术就原先减少了电流校准模块,增加了数字部分的硬件校准,相比较实现了功耗的降低;并且,硬件数字部分校准比模拟部分校准提高了校准的精度,具有广泛的应用范围。附图说明图1为现有技术的通道采样示意图。图2为现有技术的MCD通道校准的框图。图3为现有技术的ADC采样的理论值和校准值的比较示意图。图4为现有技术的ADC采样的偏差率的示意图。图5为现有技术的采样数据处理的框图。图6为本专利技术的实现触摸屏自动校准的方法的冗余扫描示意图。图7为本专利技术的实现触摸屏自动校准的方法的MCD通道校准的框图。图8为本专利技术的实现触摸屏自动校准的方法的采样数据处理的框图。图9为本专利技术的实现触摸屏自动校准的方法的数字校准原理示意图。图10为本专利技术的实现触摸屏自动校准的方法的流程图。具体实施方式为了能够更清楚地描述本专利技术的
技术实现思路
,下面结合具体实施例来进行进一步的描述。该实现触摸屏自动校准的方法,包括以下步骤:(1)计算各通道的偏差值;(2)根据所述的偏差值对实际的采样值进行校准;(3)将校准后的数据输出值滤波器。在一种较佳的实施方式中,所述的步骤(1)包括以下步骤:(1-1)输入针对TX端的冗余扫描波形;(1-2)对通道RX0~RXM使用流水线型模数转换电路PipelineADC进行采样;(1-3)根据理论值计算偏差值;(1-4)将所述的偏差值存放于寄存器中。在一种更佳的实施方式中,所述的根据理论值计算偏差值,具体为:根据以下公式计算偏差值:ΔRXM=(RXM初始值)-理论值,其中,ΔRXM为第M个RX通道的偏差值,RXM初始值为第M个通道的采样值。在一种较佳的实施方式中,所述的步骤(2)包括以下步骤:(2-1)对TX0~TXN进行正常的场扫描,得到N×M个数据;(2-2)根据所述的偏差值对每组RX数据进行校准。在一种更佳的实施方式中,所述的根据所述的偏差值对每组RX数据进行校准,具体为:根据以下公式对每组RX数据进行:TXN校准值=TXN(M)+ΔRXM,其中,TXN(M)为第M个RX通道下的第N个TX通道采样值。本专利技术中,在进行MCD通道校准前,需单独空出一段时间用于计算每个通道初始的偏差值。如图6所示,与原方式相比,先不接TX端,直接打入一段时序用于计算偏差值,由此增加一段冗余扫描。另外,该专利技术中,将MCD通道校准的电流校准模块与软件校准进行整合,移至ADC采样后做硬件校准,省掉MCD通道校准部分的电流校准模块。将校准全部交由硬件实现,有效的节省了面积和功耗,同时提高了校准精度。如图7所示,MCD通道校准改为如下结构将电流增益控制与窗口整流控制部分直接相连。通道校准部分移至ADC采样后进行。结果由PipelineADC进行采样,交至数字部分做数据处理,如图8所示。其中,数字校准原理为;关闭正负积分窗口,利用积分电容初始电压进行adc采样,如图9所示。通道RX0~RXM使用PipelineADC进行采样,此种方法是进行MCD初始值的采样。RX0~RXM每个通道较之理论值都存在一定的偏差。ΔRX0=(RX0初始值)-理论值;依次类推,RX0~RXM每组通道对应一个偏差值。将偏差值存放于寄存器中。以上过程称为“校准扫描”,如图10所示,偏差值取完后,对TX0~TXN进行正常的场扫描,得到TXN×RXM个数据,每组RXM数组中包含N个数据点。将每组RXM数据加上对应的ΔRXM进行校准,即可完成硬件校准。将通过此法校准后的数据输出至数字部分进行数据处理,能有效的提高校准的精度。采用了该专利技术中的实现触摸屏自动校准的方法,原MCD通道校准的电流校准模块为了达到高校准精度,采用了大尺寸的MOS管,牺牲了面积换取精度,而本专利技术中,没有了电流校准,无需再采用大尺寸MOS管,从而节省了面积;本专利技术就原先减少了电流校准模块,增加了数字部分的硬件校准,相比较实现了功耗的降低;并且,硬件数字部分校准比模拟部分校准提高了校准的精度,具有广泛的应用范围。在此说明书中,本专利技术已参照其特定的实施例作了描述。但是,很显然仍可以作出各种修改和变换而不背离本专利技术的精神和范围。因此,说明书和附图应被认为是说明性的而非限制性的。本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种实现触摸屏自动校准的方法,其特征在于,所述的方法包括以下步骤:(1)计算各通道的偏差值;(2)根据所述的偏差值对实际的采样值进行校准;(3)将校准后的数据输出值滤波器。
【技术特征摘要】
1.一种实现触摸屏自动校准的方法,其特征在于,所述的方法包括以下步骤:(1)计算各通道的偏差值;(2)根据所述的偏差值对实际的采样值进行校准;(3)将校准后的数据输出值滤波器。2.根据权利要求1所述的实现触摸屏自动校准的方法,其特征在于,所述的步骤(1)包括以下步骤:(1-1)输入针对TX端的冗余扫描波形;(1-2)对通道RX0~RXM使用流水线型模数转换电路PipelineADC进行采样;(1-3)根据理论值计算偏差值;(1-4)将所述的偏差值存放于寄存器中。3.根据权利要求2所述的实现触摸屏自动校准的方法,其特征在于,所述的根据理论值计算偏差值,具体为:根据以下公...
【专利技术属性】
技术研发人员:凌春丽,陈长华,顾宇飞,徐佰新,
申请(专利权)人:无锡华润矽科微电子有限公司,
类型:发明
国别省市:江苏;32
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