一种RFID电子标签读取距离测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种RFID电子标签读取距离测试装置，包括ARM处理器、读写器芯片、发射通道、接收通道、双工器和测试天线；ARM处理器通过控制总线与读写器芯片、发射通道和接收通道连接；ARM处理器通过LAN/USB\RS232通信接口与上位机连接；读写器芯片的发射端口通过发射通道连接双工器的发射端口；读写器芯片的接收端口通过接收通道连接双工器的接收端口；测试天线连接双工器的天线端口。本实用新型专利技术采用测试天线和标签之间距离固定的测试方式，不需要标签距离调节装置；发射功率动态范围大，方便测试各种读写距离不同的标签；发射功率分辨率高且经过校准，确保测试结果具备高精度和准确性。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种RFID电子标签测试，特别是标签读取距离测试。
技术介绍
FRID是一种非接触自动识别技术，其基本原理是利用射频信号和空间传输特性，实现对被识别物体的自动识别。近年来随着物联网产业的发展，RFID技术得到了广泛的应用。一个RFID系统通常由应用系统、读写器、天线、RFID电子标签组成。RFID系统要能得到正确的识别信息，首先必须保证RFID电子标签是合格的。电子标签的一个重要指标是最大读写距离，其含义是在规定发射功率下能对电子标签进行读取的最大距离。常用的测试方式是把发射功率固定在规定值并固定天线位置，然后调节电子标签到天线之间的距离，当调整到一个最远的可以读写的距离即为电子标签的最大读写距离。但是这种方式有一个很大的缺陷是需要一个机械式标签距离调节装置，而且移动速度较慢，检测时间长，仅适合单个标签的验证测试，像一些需要快速的对大量标签进行测试的场合就无法满足了。比如电子标签生产厂家一般采用流水线生产，需要对大量的标签逐个进行快速测试，则上述的方式就不太适用。
技术实现思路
为了解决以上问题本技术提供了一种简单、低成本的RFID电子标签读取距离测试装置。本装置可测定标签的最大读写距离，该测试装置成本低，测试速度快，电子标签和测试天线之间的距离固定，不需要电子标签距离调节装置。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种RFID电子标签读取距离测试装置，其特征在于，包括ARM处理器、读写器芯片、发射通道、接收通道、双工器和测试天线；ARM处理器通过控制总线与读写器芯片、发射通道和接收通道连接；ARM处理器通过LAN/USB\\RS232通信接口与上位机连接；读写器芯片的发射端口通过发射通道连接双工器的发射端口；读写器芯片的接收端口通过接收通道连接双工器的接收端口；测试天线连接双工器的天线端口。发射通道包括滤波器、衰减器、放大器和功率放大器；从读写器芯片的TX管脚发出盘存信号，然后送入发射通道中，依次通过发射通道的滤波器、放大器、衰减器和功率放大器，信号从功率放大器出来送入到双工器，最后由双工器通过天线发射到电子标签。接收通道包括衰减器、滤波器和放大器；电子标签的反射信号被天线接收，然后经双工器送入接收通道，依次通过接收通道的衰减器、滤波器和放大器，信号从放大器出来后送到读写器芯片的RX管脚，最后读写器芯片会对信号进行解调，得到电子标签返回的具体信息并通知ARM处理器。从双工器天线端口输出的射频发射信号功率已校准，保证功率值的准确性；测试天线和电子标签之间采用固定距离；ARM处理器通过控制发射通道逐渐增大发射功率，直到达到一个刚好能读取标签的临界值，通过临界发射功率值计算出电子标签最大读写距离。本技术采用测试天线和标签之间距离固定的测试方式，不需要标签距离调节装置；发射功率动态范围大，方便测试各种读写距离不同的标签；发射功率分辨率高且经过校准，确保测试结果具备高精度和准确性；系统控制和数值计算采用高速ARM处理器，功率变化采用可调衰减器和放大器等高速集成电路实现，使得测试速度很快。附图说明图1是本技术的组成框图。图2发射通道和接收通道的原理图。具体实施方式下面结合附图对本技术做进一步详细的说明。如图1所示，本技术提供了一种RFID电子标签读取距离测试装置，包括ARM处理器、读写器芯片、发射通道、接收通道、双工器和测试天线；ARM处理器通过控制总线与读写器芯片、发射通道和接收通道连接；ARM处理器通过LAN/USB\\RS232通信接口与上位机连接；读写器芯片的发射端口通过发射通道连接双工器的发射端口；读写器芯片的接收端口通过接收通道连接双工器的接收端口；测试天线连接双工器的天线端口。如图2所示，发射通道包括滤波器、可调射频衰减器、可调射频放大器和功率放大器；接收通道包括可调射频衰减器和可调射频放大器。接收通道包括可调射频衰减器、滤波器和可调射频放大器；电子标签的反射信号被天线接收，然后经双工器送入接收通道，依次通过接收通道的衰减器、滤波器和放大器，信号从放大器出来后送到读写器芯片的RX管脚，最后读写器芯片会对信号进行解调，得到电子标签返回的具体信息并通知ARM处理器。信号发送：从读写器芯片的TX管脚发出盘存信号，然后送入发射通道中，依次通过发射通道的滤波器、放大器、衰减器和功率放大器，信号从功率放大器出来送入到双工器，最后由双工器通过天线发射到电子标签。信号接收:电子标签的反射信号被天线接收，然后经双工器送入接收通道，依次通过接收通道的衰减器、滤波器和放大器，信号从放大器出来后送到读写器芯片的RX管脚，最后读写器芯片会对信号进行解调，得到电子标签返回的具体信息并通知ARM处理器。本装置的工作过程如下：本装置的ARM处理器通过LAN/USB\\RS232等通信接口接收上位机的测试命令，命令中指定测试频率、功率范围。然后ARM处理器控制读写器芯片以固定功率发出电子标签盘存信号，信号经过发射通道调整发射功率后通过双工器、天线，然后以电磁波形式发送到电子标签，如果电磁波能量足够激活标签，电子标签会反射应答信号，天线接收到应答信号后经双工器送入接收通道，在接收通道衰减到一个合适的功率，最后送到读写器芯片，ARM处理器从读写器芯片读取盘存的结果。ARM处理器控制发起多次盘存信号同时从小到大调整发射功率和适当调整接收通道增益，当标签从无应答进入有应答的临界状态时，停止盘存，然后根据此时的发射功率计算电子标签的最大读写距离。最后ARM处理器把最大读写距离值上报给上位机完成一次测试。以上所述仅为本技术的优选实施例而已，并不限制于本技术，对于本领域的技术人员来说，本技术可以有各种更改和变化。凡在本技术的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本技术的权利要求范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种RFID电子标签读取距离测试装置，其特征在于，包括ARM处理器、读写器芯片、发射通道、接收通道、双工器和测试天线；ARM处理器通过控制总线与读写器芯片、发射通道和接收通道连接；ARM处理器通过LAN/USB\RS232通信接口与上位机连接；读写器芯片的发射端口通过发射通道连接双工器的发射端口；读写器芯片的接收端口通过接收通道连接双工器的接收端口；测试天线连接双工器的天线端口。

【技术特征摘要】
1.一种RFID电子标签读取距离测试装置，其特征在于，包括ARM处理器、读写器芯片、发射通道、接收通道、双工器和测试天线；ARM处理器通过控制总线与读写器芯片、发射通道和接收通道连接；ARM处理器通过LAN/USB\\RS232通信接口与上位机连接；读写器芯片的发射端口通过发射通道连接双工器的发射端口；读写器芯片的接收端口通过接收通道连接双工器的接收端口；测试天线连接双工器的天线端口。2.根据权利要求1所述的一种RFID电子标签读取距离测试装置，其特征在于，发射通道包括滤波器、衰减器、放大器和功率放大器...

【专利技术属性】
技术研发人员：钟景华，谭小骏，杨普查，
申请(专利权)人：南京国睿安泰信科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32