【技术实现步骤摘要】
本公开涉及非易失性存储器技术。
技术介绍
半导体存储器针对在各种电子装置中的使用已经变得越来越受关注。例如,非易失性半导体存储器被用在蜂窝电话、数码相机、个人数字助理、移动计算装置、非移动计算装置和其它装置中。电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)和闪存存储器是其中最受关注的非易失性半导体存储器。相比传统的全特征EEPROM,利用闪存存储器(其也是EEPROM的一种),整个存储器阵列或存储器的一部分的内容可以在一个步骤中被擦除。传统的EEPROM和闪存存储器利用浮置栅极,该浮置栅极位于半导体基板中通道区的上方并且与该通道区隔离。浮置栅极位于源区和漏区之间。控制栅极设置在浮置栅极之上并且与该浮置栅极隔离。由此形成的晶体管的阈值电压(VTH)通过在浮置栅极上保留的电荷量来控制。亦即,必须在晶体管接通之前被施加到控制栅极以允许晶体管的源极和漏极之间的导通的最小电压量通过浮置栅极上的电荷的电平来控制。在闪存EEPROM系统中有用的另一类存储单元利用非导电介电材料代替导电浮置栅极,以采用非易失性方式存储电荷。一些EEPROM和闪存存储器装置具有浮置栅极,用于存储两个范围的电荷,并且因此,存储元件可以在两个状态如擦除状态和编程状态之间被编程/擦除。这样的闪存存储器装置有时被称为二进制闪存存储器装置,这是因为每个存储器元件可以存储一个比特的数据。多状态(也被称为多电平)闪存装置通过识别多个不同的允许/ ...
【技术保护点】
一种读取非易失性存储器的方法,包括:选择与读取操作相关联的字线,所述字线与可编程到多个物理状态的非易失性存储元件组进行通信;向所述字线施加连续扫描电压信号,所述连续扫描电压信号跨越针对所述多个物理状态的读取参考电平的范围;在施加所述连续扫描电压信号的同时,基于时域感测确定每个非易失性存储元件的阈值电压;基于来自所述时域感测的阈值电压,确定针对每个非易失性存储元件的状态信息,其中,所述状态信息超过每个非易失性存储元件中的编码比特的数目;从所述非易失性存储器传送针对每个存储元件的状态信息;以及执行初始解码,以基于针对每个非易失性存储元件的状态信息来确定多个存储元件的数据。
【技术特征摘要】
2014.12.08 US 14/563,8201.一种读取非易失性存储器的方法,包括:
选择与读取操作相关联的字线,所述字线与可编程到多个物理状态的
非易失性存储元件组进行通信;
向所述字线施加连续扫描电压信号,所述连续扫描电压信号跨越针对
所述多个物理状态的读取参考电平的范围;
在施加所述连续扫描电压信号的同时,基于时域感测确定每个非易失
性存储元件的阈值电压;
基于来自所述时域感测的阈值电压,确定针对每个非易失性存储元件
的状态信息,其中,所述状态信息超过每个非易失性存储元件中的编码比
特的数目;
从所述非易失性存储器传送针对每个存储元件的状态信息;以及
执行初始解码,以基于针对每个非易失性存储元件的状态信息来确定
多个存储元件的数据。
2.根据权利要求1所述的方法,其中:
初始解码是硬比特解码,其使用与编码比特的数目相等的针对每个存
储元件的状态信息中的比特的数目。
3.根据权利要求2所述的方法,进一步包括:
在初始解码之后,基于所述状态信息执行一个或多个软比特解码,所
述一个或多个软比特解码使用超过编码比特的数目的针对每个存储元件
的状态信息中的比特的数目。
4.根据权利要求1、2或3所述的方法,其中:
所述状态信息包括针对每个非易失性存储元件的索引,所述索引指示
所述非易失性存储元件的感测阈值电压。
5.根据权利要求4所述的方法,其中:
向所述字线施加连续扫描电压信号包括针对所述字线通过数字模拟
转换器施加连续扫描电压;以及
确定每个非易失性存储元件的阈值电压包括:确定在施加所述连续扫
描电压的情况下当所述非易失性存储元件开始导通时所述数字模拟转换
\t器的控制设置。
6.根据权利要求5所述的方法,其中,所述索引基于所述数字模拟
转换器的控制设置。
7.根据权利要求1、2、3、4、5或6所述的方法,其中:
所述状态信息包括针对每个非易失性存储元件的多个硬比特和一个
或多个软比特;
传送所述状态信息包括连同针对每个非易失性存储元件的一个或多
个软比特一起从所述存储器传送针对每个非易失性存储元件的所有硬比
特;以及
所述方法进一步包括:从...
【专利技术属性】
技术研发人员:凯文·迈克尔·康利,劳尔亚德里恩·塞尔内亚,埃兰·沙伦,伊詹·阿尔罗德,
申请(专利权)人:桑迪士克技术有限公司,
类型:发明
国别省市:美国;US
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