虹膜产品老化测试方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种虹膜产品老化测试方法和装置，属于电子技术领域，所述方法包括：步骤1：判断是否到达预设条件，如果是，转至步骤2，否则，转至步骤3；步骤2：根据预设老化程序，进行电子元器件和硬件部件的测试，然后转至步骤1；步骤3：模拟输入，根据预设老化程序，进行产品的功能测试，然后转至步骤1。与现有技术相比，本发明专利技术中，在进行产品的功能测试时，充分利用了虹膜产品的等待或空运行的时间，剔除了在进行产品的功能测试时的空闲状态，使虹膜产品实时处于一种高强度的运行状态，从而达到较为彻底的老化。同时，本发明专利技术还省去了硬件测试和功能测试的分离，减少了生产环节的劳动，提高了生产效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电子
，特别是指一种电子产品老化测试方法和装置。
技术介绍
对于电子产品，其中最关键的部分就是控制电路或功能电路，而控制电路或功能电路又是由不同的电子元器件组成的。电子产品通过生产制造后，形成了完整的产品，已经可以发挥使用价值了，但使用以后发现会有这样或那样的毛病，又发现这些毛病绝大部分发生在开始的几小时至几十小时之内，通过老化测试后，把有问题的产品留在工厂，没问题的产品给用户，以保证卖给用户的产品是可靠的或者是问题较少的，这就是产品老化测试的意义。老化测试使产品的缺陷在出厂前暴露，如焊接点的可靠性、所选电子元器件的可靠性；老化测试使产品性能进入稳定区间后出厂，减少返修率。现有技术中的老化测试过程一般是将一段老化程序写入电子产品中，然后运行老化程序，老化测试完毕后擦除老化程序，最后写入电子产品的出厂程序。而现有技术中的老化程序只是对电子元器件和硬件功能部件进行测试，并没有对产品出厂程序的各个功能进行检测。对产品出厂程序功能检测将会在老化程序结束后进行。现有技术存在的问题是：1.最佳的产品老化测试要使电子产品的工作强度大于正常工作时候的强度，这样才能充分发挥老化的作用。而现有技术中的老化程序仅仅是对电子元器件和硬件功能部件的测试，并不能使电子产品处于一种高强度的运行状态。不仅如此，在对电子产品出厂程序的功能检测时，电子产品在没有输入时，大部分时间内电子产品一直处于等待或空运行的空闲状态中，没有达到所要求的强度。综合上述原因，现有技术中无法实现较为彻底的产品老化；2.老化程序和出厂程序是两套程序，对产品出厂程序的功能检测在老化程序结束后进行，老化测试完成后，需要被删除，然后重新写入出厂程序。由于老化程序和出厂程序是分开进行的，处于生产过程中的不同环节，这样就加重了生产环节不必要的劳动；3.老化程序仅仅是对电子元器件和硬件功能部件的测试，老化测试完成后，才对产品出厂程序的功能进行单独的测试。步骤繁琐，生产效率低。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是提供一种能够实现较为彻底的老化、减少生产劳动、提高生产效率的电子产品老化测试方法和装置。为解决上述技术问题，本专利技术提供技术方案如下：一种电子产品老化测试方法，包括：步骤1：判断是否到达预设条件，如果是，转至步骤2，否则，转至步骤3；步骤2：根据预设老化程序，进行电子元器件和硬件部件的测试，然后转至步骤1；步骤3：模拟输入，根据预设老化程序，进行产品的功能测试，然后转至步骤1。一种电子产品老化测试装置，包括：判断模块：用于判断是否到达预设条件，如果是，转至硬件测试模块，否则，转至功能测试模块；硬件测试模块：用于根据预设老化程序，进行电子元器件和硬件部件的测试，然后转至判断模块；功能测试模块：用于模拟输入，根据预设老化程序，进行产品的功能测试，然后转至判断模块。本专利技术具有以下有益效果：本专利技术的电子产品老化测试方法，当预设条件达到时，进行电子元器件和硬件部件的测试，当预设条件不满足时，进行产品的功能测试，无论执行完哪一种测试，均从判断预设条件开始重新执行，如此往复循环，直至老化结束。本专利技术中，老化程序不仅包括对电子元器件和硬件功能部件的测试，还包括对产品的功能测试，其中，对电子元器件和硬件部件的测试是分别运行电子产品内部的电子元器件和硬件部件，以便及时发现电子产品的硬件是否存在的问题。本专利技术在进行产品的功能测试时，模拟真实的输入，作为产品的功能测试的输入量，充分利用了电子产品的等待或空运行的时间，剔除了在进行产品的功能测试时的空闲状态，使电子产品实时处于一种高强度的运行状态，从而达到较为彻底的老化。本专利技术中，还省去了硬件测试和功能测试的分离，减少了生产环节的劳动，同时，也简化了测试流程，缩减了生产步骤，提高了生产效率。综上所述，与现有技术相比，本专利技术具有能够实现较为彻底的老化、减少生产劳动、提高生产效率的特点。附图说明图1为本专利技术的电子产品老化测试方法的一种实施例的方法流程图；图2为本专利技术的电子产品老化测试方法的一种改进实施例的方法流程图；图3为本专利技术的电子产品老化测试方法的另一种改进实施例的方法流程图；图4为本专利技术的电子产品老化测试方法的进一步改进实施例的方法流程图；图5为本专利技术的电子产品老化测试方法的虹膜产品老化方法实施例的电路结构示意图；图6为本专利技术的电子产品老化测试装置的一种实施例的结构示意图；图7为本专利技术的电子产品老化测试装置的一种改进实施例的结构示意图；图8为本专利技术的电子产品老化测试装置的进一步改进实施例的结构示意图。具体实施方式为使本专利技术要解决的技术问题、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图及具体实施例进行详细描述。一方面，本专利技术实施例提供一种电子产品老化测试方法，如图1所示，包括：步骤1：判断是否到达预设条件，如果是，转至步骤2，否则，转至步骤3；本步骤中，预设条件可以为预设的定时时间或预设的计数次数，还可以采用本领域技术人员容易想到的其它预设条件，均可以实现本步骤的技术效果。步骤2：根据预设老化程序，进行电子元器件和硬件部件的测试，然后转至步骤1；本步骤中，电子元器件和硬件部件的测试就是对电子产品中所使用的电子元器件和其它硬件部件进行逐个测试，其中，电子元器件为电阻、电容、电感、二极管、三极管或LED等基础电子元件，硬件部件为模拟电路集成芯片、运算放大器电路等由基础电子元件构成的硬件模块，本步骤判断电子元器件和其它硬件部件本身功能是否正常，以及焊接是否良好等等。本步骤中，对电子产品的电子元器件和硬件部件完成一次测试后，即可转至步骤1。此外，根据测试的需要，还可以对电子元器件和硬件部件进行部分测试，例如，测试完一个或几个电子元器件和/或硬件部件后，对当前的测试进度进行标记，然后转至步骤1，当再一次转至本步骤时，从标记的位置开始测试。步骤3：模拟输入，根据预设老化程序，进行产品的功能测试，然后转至步骤1。本步骤中，模拟输入是模拟真实的输入量作为电子产品的输入，用于进行产品的功能测试，例如，当电子产品为虹膜识别设备时，则模拟一个虹膜作为功能测试的输入，使虹膜识别设备对模拟输入的虹膜进行识别、比对等操作，完成一次虹膜识别后，即可转至步骤1，重新执行，其中本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电子产品老化测试方法，其特征在于，包括：步骤1：判断是否到达预设条件，如果是，转至步骤2，否则，转至步骤3；步骤2：根据预设老化程序，进行电子元器件和硬件部件的测试，然后转至步骤1；步骤3：模拟输入，根据预设老化程序，进行产品的功能测试，然后转至步骤1。

【技术特征摘要】
1.一种电子产品老化测试方法，其特征在于，包括：
步骤1：判断是否到达预设条件，如果是，转至步骤2，否则，转至
步骤3；
步骤2：根据预设老化程序，进行电子元器件和硬件部件的测试，然
后转至步骤1；
步骤3：模拟输入，根据预设老化程序，进行产品的功能测试，然后
转至步骤1。
2.根据权利要求1所述的电子产品老化测试方法，其特征在于，所
述预设条件为预设标志位为约定值；
所述步骤1进一步为：判断预设标志位是否为约定值，如果是，转至
步骤2，否则，转至步骤3。
3.根据权利要求1所述的电子产品老化测试方法，其特征在于，所
述预设条件为预设标志位为第一约定值；
所述步骤1进一步为：判断预设标志位为第一约定值、第二约定值还
是第三约定值，如果是第一约定值，转至步骤2，如果是第二约定值，转
至步骤31，如果是第三约定值，转至步骤32；
所述步骤3包括：
步骤31：模拟输入，根据预设老化程序，进行产品的单元功能测试，
然后转至步骤1；
步骤32：模拟输入，根据预设老化程序，进行产品的正常功能测试，
然后转至步骤1。
4.根据权利要求2或3中任一所述的电子产品老化测试方法，其特
征在于，所述步骤1之前还包括：
步骤10：开始计时；
步骤11：判断计时时间是否达到预设定时时间，如果到达，转至步骤
12，否则转至步骤1；
步骤12：更新预设标志位的数值，然后转至步骤10。
5.根据权利要求4所述的电子产品老化测试方法，其特征在于，
所述步骤2包括：在进行电子元器件和硬件部件的测试时，显示当前
测试信息；
所述步骤3包括：在进行产品的功能测试时，显示当时测试信息；
所述当前测试信息包括：测试项目名称、测试状态、和/或测试结果。
6.一种电子产品老化测试装置，其特征在于，包括：
判断模块：用于判断是否到达预设条件，如果是，转至...

【专利技术属性】
技术研发人员：贾天亮，
申请(专利权)人：北京天诚盛业科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11