一种复合式影像量测系统,包括机架(3),所述的机架(3)上安装线阵式CCD影像量测系统(1)和面阵式CCD影像量测系统(2),所述的线阵式CCD影像量测系统(1)包括线扫描镜头(11)、线阵式CCD(12)、第一表面光源组(13)及第一轮廓光源组(14),所述的面阵式CCD影像量测系统(2)包括镜头(21)、面阵式CCD(22)、第二表面光源组(23)及第二轮廓光源组(24),本实用新型专利技术的有益效果在于:本实用新型专利技术利用线阵式CCD影像量测系统和面阵式CCD影像量测系统的搭配,快速并精准的量测物件的尺寸。本实用新型专利技术搭配面阵CCD量测系统,当物体某些尺寸需超高精度时可以利用面阵系统辅助量测,以达到量测精度的需求。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种影像量测系统,具体涉及一种线扫描尺寸量测及一种面阵影像尺寸辅助结合的影像量测系统,测量待测物相关形位公差的光学影像量测系统。
技术介绍
目前,在工业领域量测物体尺寸,大多采用影像投影仪、2D面阵式影像量测仪,前者缺点为可看范围小、只能看物体外观轮廓,看不清楚物体内部细节;而利用2D面阵式影像量测仪搭配表面光源及轮廓光源可以解决影像投影仪量测物体尺寸的问题。但因现在工艺除了讲求精准外,对速度的要求越来越重视,传统的2D面阵式影像量测仪速度已经慢慢不符使用。本技术旨在开发一种线性扫描影像量测搭配面阵式影像量测的复合型量测系统,以满足目前市场需求。
技术实现思路
本技术涉及一种复合式影像量测系统,其旨在改善传统量测系统在量测过程比较费时的缺点,利用线阵式CCD扫描方式搭配高精度优势的面阵CCD构成一符合缩短量测时间同时提供较高的测量精度。为了解决上述问题,本技术提供的复合式影像量测系统采用了如下的技术方案:一种复合式影像量测系统,包括机架,其特征在于:所述的机架上安装线阵式CCD影像量测系统和面阵式CCD影像量测系统,所述的线阵式CCD影像量测系统包括线扫描镜头、线阵式CCD、第一表面光源组及第一轮廓光源组,所述的面阵式CCD影像量测系统包括镜头、面阵式CCD、第二表面光源组及第二轮廓光源组,所述的线阵式CCD安装在机架的上部,线阵式CCD的下侧安装线扫描镜头,所述的线扫描镜头下侧安装第一表面光源组和第一轮廓光源组,所述的机架通过运转机构安装面阵式CCD影像量测系统,所述的面阵式CCD影像量测系统的最上端为面阵式CCD,所述的面阵式CCD下侧安装镜头,所述的镜头下侧安装第二表面光源组和第二轮廓光源组。优选的,所述的线阵式CCD影像量测系统的扫描路线为蛇形。本技术的有益效果在于:本技术利用线阵式CCD影像量测系统和面阵式CCD影像量测系统的搭配,快速并精准的量测物件的尺寸。目前硬件上的限制,线阵式CCD量测系统的精度极限在于5微米左右,所以本技术搭配面阵CCD量测系统,当物体某些尺寸需超高精度时可以利用面阵系统辅助量测,以达到量测精度的需求。附图说明图1为本技术的优选实施例的结构示意图。图2为本技术的线阵式CCD影像量测系统的移动方式。图3复合式影像量测系统的工作步骤。其中:1.线阵式CCD影像量测系统;11.线扫描镜头;12.线阵式CCD;13.第一表面光源组;14.第一轮廓光源组;2.面阵式CCD影像量测系统;21.镜头;22.面阵式CCD;23.第二表面光源组;24.第二轮廓光源组;3.机架;31.运转机构。具体实施方式为了方便理解本专利技术提供的一种复合式影像量测系统,下面结合附图和实施例对本技术做进一步的说明。实施例如图1所示,一种复合式影像量测系统,包括机架3,所述的机架3上安装线阵式CCD影像量测系统1和面阵式CCD影像量测系统2,所述的线阵式CCD影像量测系统1包括线扫描镜头11、线阵式CCD12、第一表面光源组13及第一轮廓光源组14,所述的面阵式CCD影像量测系统2包括镜头21、面阵式CCD22、第二表面光源组23及第二轮廓光源组24,所述的线阵式CCD12安装在机架3的上部,线阵式CCD12的下侧安装线扫描镜头11,所述的线扫描镜头11下侧安装第一表面光源组13和第一轮廓光源组14,所述的机架3通过运转机构31安装面阵式CCD影像量测系统2,所述的面阵式CCD影像量测系统2的最上端为面阵式CCD22,所述的面阵式CCD22下侧安装镜头21,所述的镜头21下侧安装第二表面光源组23和第二轮廓光源组24。如图2所示,线阵式CCD影像量测系统量测时移动的方式,采取蛇行方式以节省量测时间。如图3所示,复合式影像量测系统的工作步骤如下:第一步建立所要量测的尺寸相关元素位置的档案;第二设定影像定位点,建立量测坐标;第三调整合适光源参数,开始利用线阵CCD影像量测系统扫描,并经由光学尺纪录个元素坐标;第四步,当扫完第一列及第二列,在扫描第三列的同时进行第一列及第二列的图像拼接,扫完第三列,在扫地四列同时进行第二列及第三列图像拼接……依此类推,第五当线阵式CCD影像量测系统扫描完成后,若有超高精度尺寸需量测,设定由面阵式CCD影像量测系统进行定点辅助量测;第六经由线阵式CCD影像量测系统及面阵式CCD影像量测系统所撷取的影像对应光学尺读数可记录尺寸量测时所需元素的坐标值;第七根据建立的尺寸量测档及拼接图像元素光学尺坐标计算所需量测的尺寸;第八输出报表,量测结束。本技术的有益效果在于:本技术利用线阵式CCD影像量测系统和面阵式CCD影像量测系统的搭配,快速并精准的量测物件的尺寸。目前硬件上的限制,线阵式CCD量测系统的精度极限在于5微米左右,所以本技术搭配面阵CCD量测系统,当物体某些尺寸需超高精度时可以利用面阵系统辅助量测,以达到量测精度的需求。上述实施例只为说明本技术的技术构思及特点,其目的在于让熟悉此项技术的人士能够了解本技术的内容并据以实施,并不能以此限制本技术的保护范围。凡根据本技术所做的等效变化或修饰,都应该涵盖在本技术的保护范围之内。本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种复合式影像量测系统,包括机架,其特征在于:所述的机架上安装线阵式CCD影像量测系统和面阵式CCD影像量测系统,所述的线阵式CCD影像量测系统包括线扫描镜头、线阵式CCD、第一表面光源组及第一轮廓光源组,所述的面阵式CCD影像量测系统包括镜头、面阵式CCD、第二表面光源组及第二轮廓光源组,所述的线阵式CCD安装在机架的上部,线阵式CCD的下侧安装线扫描镜头,所述的线扫描镜头下侧安装第一表面光源组和第一轮廓光源组,所述的机架通过运转机构安装面阵式CCD影像量测系统,所述的面阵式CCD影像量测系统的最上端为面阵式CCD,所述的面阵式CCD下侧安装镜头,所述的镜头下侧安装第二表面光源组和第二轮廓光源组。
【技术特征摘要】
1.一种复合式影像量测系统,包括机架,其特征在于:所述的机架上安装线阵式CCD影像量测系统和面阵式CCD影像量测系统,所述的线阵式CCD影像量测系统包括线扫描镜头、线阵式CCD、第一表面光源组及第一轮廓光源组,所述的面阵式CCD影像量测系统包括镜头、面阵式CCD、第二表面光源组及第二轮廓光源组,所述的线阵式CCD安装在机架的上部,线阵式CCD的下侧安装线扫描镜头,所述...
【专利技术属性】
技术研发人员:郑杰仁,郭进顺,张家齐,
申请(专利权)人:昆山万像光电有限公司,
类型:新型
国别省市:江苏;32
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