一种电子产品温度筛选方案的设计方法技术

本发明专利技术属于电子产品温度筛选技术领域，涉及一种电子产品温度筛选方案的设计方法。本设计方法确定的筛选方案更加符合产品的实际情况，由于进行了验证环节，所以能够保证所确定的温度筛选剖面更加合理，采集的温度更加接近产品的实际响应，产品的温度响应速率更快。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于电子产品温度筛选
，涉及一种电子产品温度筛选方案的设计方法。
技术介绍
现有技术中，对电子产品使用的温度筛选方案，并没有经过详细的设计验证，只是在理论分析的基础上确定了筛选方案。这种设计方法，导致筛选方案与实际产品的情况不相符，出现产品受热不均、温度筛选剖面不合理和温度响应时间长的问题，进而导致筛选结果不准确。
技术实现思路
本专利技术解决的技术问题为：提供一种快速、准确根据温度响应筛选产品的筛选方案设计方法。本专利技术的技术方案为：所述的设计方法包括如下步骤：步骤1，通过对现行温度筛选过程进行梳理以及产品内部环境响应数据的调查，摸清现行温度筛选过程中存在的问题；步骤2，使产品内部所有点的温度响应趋于一致，并提高产品内部的温度响应速率；步骤3，使用具备基本功能的产品，在其内部有代表性的点上安装温度传感器，通过试验的方法确定其安全的温度应力范围；步骤4，使用产品安全的温度应力范围以及现有温度筛选设备的最大升降温速率，通过产品内部的温度响应值确定温度筛选的单个温度循环剖面；步骤5，单个温度循剖面确定之后，通过筛选度计算公式，SS＝1-exp{-0.0017(R+0.6)0.5〔ln(e+v)〕3·N

【技术保护点】
一种电子产品温度筛选方案设计方法，其特征为所述的设计方法包括如下步骤：步骤1，通过对现行温度筛选过程进行梳理以及产品内部环境响应数据的调查，摸清现行温度筛选过程中存在的问题；步骤2，使产品内部所有点的温度响应趋于一致，并提高产品内部的温度响应速率；步骤3，使用具备基本功能的产品，在其内部有代表性的点上安装温度传感器，通过试验的方法确定其安全的温度应力范围；步骤4，使用产品安全的温度应力范围以及现有温度筛选设备的最大升降温速率，通过产品内部的温度响应值确定温度筛选的单个温度循环剖面；步骤5，单个温度循剖面确定之后，通过筛选度计算公式，SS＝|‑exp{‑0.0017(R+0.6)0.5〔ln(e+v)〕3·N}确定温度筛选的循环数，并确定初步的温度筛选方案，其中：SS‑‑‑‑‑筛选度R‑‑‑‑‑‑温度差v‑‑‑‑‑‑升降温速率N‑‑‑‑‑‑循环数；步骤6,，通过对比对温度筛选方法进行效率验证；步骤7，对温度筛选方法进行寿命损失评估；步骤8，根据验证和评估结果确定最终的温度筛选方案。

【技术特征摘要】
1.一种电子产品温度筛选方案设计方法，其特征为所述的设计
方法包括如下步骤：
步骤1，通过对现行温度筛选过程进行梳理以及产品内部环境响
应数据的调查，摸清现行温度筛选过程中存在的问题；
步骤2，使产品内部所有点的温度响应趋于一致，并提高产品内
部的温度响应速率；
步骤3，使用具备基本功能的产品，在其内部有代表性的点上安...

【专利技术属性】
技术研发人员：张熙川，连晓棠，杨光辉，郑铁新，李锋，张露，林琳，
申请(专利权)人：中国航空工业第六一八研究所，
类型：发明
国别省市：陕西;61