测量过滤器污染的装置及测量过滤器污染的方法制造方法及图纸

技术编号:14841730 阅读:96 留言:0更新日期:2017-03-17 07:19
根据本实施例的测量过滤器污染的装置的一个形态,其包括:发光部,其向吸附异物的过滤器提供具有既定波长的光;受光部,其吸收反射到过滤器的反射光,将反射光信息转换为数字代码并输出;及污染度运算部,其对受光部提供的数字代码进行处理,运算过滤器的污染度,其中,污染度运算部运算反射到过滤器的反射光的波长由既定波长发生变化的程度,并对比发光部提供的光的光量与反射到过滤器的反射光的光量,由此,运算过滤器的污染度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及测量过滤器污染的装置及测量过滤器污染的方法(ApparatusandMethodForMeasuringContaminationofFilter)。
技术介绍
空气过滤器被广泛使用于家庭、工业设备中,例如家用真空吸尘器以及汽车的空气过滤器、半导体制造设备中的空气吹淋器设备等。空气过滤器配置在供给吸入的空气的通道中,过滤吸入的空气中包含的异物,由此净化吸入的空气。到使用期限的过滤器,过滤吸入的空气中的异物的净化度降低,因此不能正常发挥过滤器的功能,无法过滤吸入的异物而直接排出。从而,导致通过半导体制造设备制造的半导体晶片产生缺陷(defect),使得汽车引擎发生故障,进而可引起由吸尘器排出的灰尘导致的呼吸系统疾病,因此,需要能够测量空气过滤器的污染度的方法及其装置。现有技术中的关于空气过滤器的污染测量装置的现有文献有韩国专利第0909065号。
技术实现思路
(一)要解决的技术问题现有技术的空气测量过滤器污染的装置通过向空气过滤器的一面照射具有可充分透过空气过滤器的波长带宽的光,检测从反面透过的光量,由此,测量被吸附于过滤器的异物量及空气过滤器的污染度。但是,现有技术的空气测量过滤器污染的装置,由于采用对透过空气过滤器的光量进行检测的方式,因此,如果被吸附于空气过滤器的异物量微小,则照射的照射光光量与反射光光量之间没有差别,故无法充分掌握过滤器中吸附异物的程度,从而,存在无法充分感应过滤器的污染程度的问题。并且,现有的测量过滤器污染的装置中使用的受光元件是主要利用硫化镉(CdS)的光量传感器,其主要材料为污染环境的镉,因此,在其制造及废弃时,可产生环境污染问题。(二)技术方案根据本实施例的测量过滤器污染的装置的一个形态,包括:发光部,其向吸附异物的过滤器提供具有既定波长的光;受光部,其吸收反射到过滤器的反射光,将反射光信息转换为数字代码并输出;及污染度演算部,其对受光部提供的数字代码进行处理(process),并演算过滤器的污染度,其中,污染度演算部演算反射到过滤器的反射光的波长由所述既定波长发生变化(shift)的程度,并对比发光部提供的光的光量与反射到过滤器的反射光的光量,由此,演算过滤器的污染度。本实施例的过滤器的污染度演算方法,包括如下步骤:向过滤器照射光的步骤;吸收从过滤器反射的光的步骤;输出相应于吸收的反射光的光量和反射光的波长带宽的数字代码的步骤;利用数字代码,演算过滤器的污染度的步骤,其中,演算过滤器的污染度的步骤,演算向过滤器照射的光的波长反射到过滤器而发生变化的程度,比较向过滤器照射的光量和从过滤器反射的反射光的光量,由此,演算过滤器的污染度。本实施例的测量过滤器污染的装置的另一个形态,包括:发光部,其至少向过滤器表面的一部分照射光;受光部,其吸收从过滤器表面反射的光;污染判断部,其对比由发光部照射的光与从过滤器表面反射的光的波长,并对比由发光部照射的光的光量与从过滤器表面反射的光的光量,由此,判断过滤器的污染状态;及报警部,其在过滤器的污染状态超过既定的临界值时,发出警告。(三)有益效果本实施例通过检测已知波长带宽的照射光反射到过滤器而变化的反射光的波长带宽,并演算波长带宽的变化及变化的波长带宽的光量,掌握过滤器中吸附异物的程度,并对比照射光的光量与反射光的光量,从而掌握过滤器的污染程度。因此,能够通过两种相互不同的方式检测吸附于过滤器的异物的量,相比现有技术的过滤器污染度测量装置及过滤器污染度测量方法,具有以较高的信赖性对过滤器的污染度进行测量的优点。附图说明图1是表示本实施例的测量过滤器污染的装置的示意图。图2是表示本实施例的测量过滤器污染的方法的简要的流程图。图3a是表示应用色彩传感器的体现例的简图;图3b是表示照度传感器的概况图。图4作为受光部色彩传感器感应照射的光的波长的图,是表示单元传感器对于蓝色、绿色、红色及白色光的相对感应的图。图5是表示受光部的照度传感器感应照射的光的波长的图。附图标记说明100:发光部110:第1透镜200:过滤器300:受光部310:第2透镜400:污染度演算部具体实施方式关于本专利技术的说明只是为了进行结构性以及功能性说明的实施例,本专利技术的保护范围不能限定于本文中说明的实施例。即,实施例可进行各种变更,且可具有各种形态,因此,应当理解为本专利技术的保护范围可包括能够实现其技术性思想的均等物。另一方面,在本申请中使用的术语的意义应当参照以下说明进行理解。\第1\、\第2\等术语是为了将一个组成要件与其他组成要件进行区别,不能由这些术语来限制本专利技术的保护范围。例如,第1组成要件可命名为第2组成要件,类似地,第2组成要件也可命名为第1组成要件。在本专利技术中提及的某组成要件在其他组成要件的\上部\或\上面\时,应当理解为其可在另一组成要件的直上方,其中间也可存在其他的组成要件。反之,如提及某组成要件与其他组成要件\接触\时,应当理解为其中间不存在其他组成要件。另一方面,用于说明组成要件之间的关系的其他说明,即\介于\和\直接~介于\、\~之间\和\直接在~之间\或\邻接于~\和\直接邻接于~\等也要如前进行解释。只要在文中未明确地区别说明,表示单数的说明应当理解为包括复数,\包括\或\具有\等术语是为了指定其存在实行的特征、数字、步骤、动作、构成要素、部件或其组合,并非预先排除存在一个或一个以上的其他特征或数字、步骤、动作、组成要件、部件或其组合和附加可能性。各个步骤除非在文中明确地记载特定顺序,否则也可以不同于记述的顺序进行。即,各个步骤可按记述的顺序进行,也可实质性地同时进行,也可按相反的顺序进行。用于说明本专利技术的实施例的附图,为了便于说明和理解,可夸大表示其大小、高度、厚度等,并非根据比例而扩大或缩小。并且,附图中可有意地缩小表示某组成要件,有意地扩大表示其他组成要件。在此使用的所有术语,除另行定义,则与本专利技术所属
的技术人员通常理解的意义相同。与通常使用的词典中的定义相同的术语,应当解释为与有关技术的文章中的意义一致,并且,若在本说明中没有明确定义,则不能解释为具有异常或过于形式的意义。以下,参照附图对本专利技术的实施例的测量过滤器污染的装置和测量过滤器污染的方法进行说明。图1是表示本实施例的测量过滤器本文档来自技高网
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测量过滤器污染的装置及测量过滤器污染的方法

【技术保护点】
一种测量过滤器污染的装置,其包括:发光部,其向吸附异物的过滤器提供具有既定波长的光,受光部,其吸收反射到过滤器的反射光,将反射光信息转换为数字代码并输出,及污染度运算部,其对受光部提供的数字代码进行处理,运算过滤器的污染度;其中所述污染度运算部运算反射到过滤器的反射光的波长由所述既定波长发生变化的程度,并对比发光部提供的光的光量与反射到过滤器的反射光的光量,由此,运算过滤器的污染度。

【技术特征摘要】
2014.09.03 KR 10-2014-01167611.一种测量过滤器污染的装置,其包括:
发光部,其向吸附异物的过滤器提供具有既定波长的光,
受光部,其吸收反射到过滤器的反射光,将反射光信息转换为数
字代码并输出,及
污染度运算部,其对受光部提供的数字代码进行处理,运算过滤
器的污染度;
其中所述污染度运算部运算反射到过滤器的反射光的波长由所
述既定波长发生变化的程度,并对比发光部提供的光的光量与反射到
过滤器的反射光的光量,由此,运算过滤器的污染度。
2.根据权利要求1所述的测量过滤器污染的装置,其特征是,所
述测量过滤器污染的装置还包括:
第1透镜,其将发光部提供的光均匀地向过滤器照射;
第2透镜,其聚集从过滤器反射的光,向受光部照射。
3.根据权利要求1所述的测量过滤器污染的装置,其特征是,所
述受光部包括:
色彩传感器,其检测红色、绿色及蓝色区域带宽的波长,输出与
检测出的各个区域带宽相应的电信号;及
照度传感器,其检测光量。
4.根据权利要求3所述的测量过滤器污染的装置,其特征是,所
述色彩传感器包括:
单元传感器,其分别检测红色、绿色及蓝色波长带宽的光,
放大器,其放大由单元传感器输出的信号,
模拟数字转换器,其将由放大器输出的信号转换成数字代码;
所述照度传感器包括:
光量传感器,其检测吸收的光的光量,
放大器,其放大由光量传感器输出的信号,
模拟数字转换器,其将由放大器输出的信号转换成数字代码。
5.根据权利要求1所述的测量过滤器污染的装置,其特征是,所
述发光部提供400至500nm带宽的光。
6.根据权利要求1所述的测量过滤器污染的装置,其特征是,所
述受光部对400至600nm波长带宽的光的敏感度高于其他带宽。
7.根据权利要求1所述的测量过滤器污染的装置,其特征是,所
述过滤器为高效微粒空气过滤器。
8.一种测量过滤器污染的方法,包括如下步骤:
向过滤器照射光的步骤,
吸收从过滤器反射的光的步骤,
输出与吸收的反射光的光量及反射光的波长带宽相应的数字代
码的步骤,
利用数字代码,运算过滤器的污染度的步骤;
其中,运算所述过滤器的污染度的步骤,运算向过滤器照射的光
的波长反射到过滤器而发生变化的程度,并对比向过滤器照射的光量
与从过滤器反射的反射光的光量,由此,运算过滤器的污染度。
9.根据权利要求8所述的测量过滤器污染的方法,其特征是,向
所述过滤器照射光的步骤是利用第1透镜,使光源提供的光均匀地向
过滤器照射;
吸收从所述过滤器反射的光的步骤是利用第2透镜聚光,并向受
光部照射。
10.根据权利要求8所述的测量...

【专利技术属性】
技术研发人员:李贤荣张志雄
申请(专利权)人:罗伊电子有限公司
类型:发明
国别省市:韩国;KR

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