一种光栅测微传感器标定装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种光栅测微传感器标定装置，包括底座、光栅测微传感器和微分头，所述底座上安装有支撑立柱，所述支撑立柱上安装有高度可调节的下测量支臂和高度可调节的上测量支臂，所述下测量支臂和上测量支臂平行且上测量支臂位于下测量支臂上方，所述光栅测微传感器竖直安装于下测量支臂上且光栅测微传感器的探头朝上，所述微分头安装于上测量支臂上且微分头的测杆朝下，所述测杆位于探头正上方。本实用新型专利技术结构简单，设计合理，使用方便，通过设计合理的将微分头与辅助设备组合成一种投资少、效率高、易操作和专业化程度高的测量装置，专门用于实验室光栅测微传感器的期间核查，具有效率高、操作简单、投资成本低和产品质量好等优点。

【技术实现步骤摘要】

本技术属于光栅测微传感器的实验室期间核查测量
，具体涉及一种光栅测微传感器标定装置。
技术介绍
光栅测微传感器的校准依据是JJG989-2004光栅式测微仪检定规程，在计量过程中要用到测力计、量块、斜块式测微仪检定器和激光测长装置等。计量部门需要测力、测杆受径向力引起的示值变化、重复性和示值误差等项。计量部门校准相对比较繁琐，但对于检测实验室来说不可能达到这种计量水平，因此要探讨使用简单可行的方法来对光栅测微传感器进行期间核查。本检测中心光栅测微传感器使用在金属材料高温蠕变试验中，用来测量金属材料蠕变的伸长。工作中使用频繁，时间较长，为了保证在计量部门两次计量期间光栅测微传感器器不失准，特探索研究用一种简单准确可行的装置对光栅测微传感器进行定期期间核查。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题在于针对上述现有技术的不足，提供一种光栅测微传感器标定装置。该装置结构简单，设计合理，使用方便，通过设计合理的将微分头与辅助设备组合成一种投资少、效率高、易操作和专业化程度高的测量装置，专门用于实验室光栅测微传感器的期间核查，具有效率高、操作简单、投资成本低和产品质量好等优点，核查过程中光栅测微传感器的安装与实验过程中一致，保证了两者之间的一致性，可保证实验室对光栅测微传感器进行期间核查的要求。为解决上述技术问题，本技术采用的技术方案是：一种光栅测微传感器标定装置，其特征在于，包括底座、光栅测微传感器和微分头，所述底座上安装有支撑立柱，所述支撑立柱上安装有高度可调节的下测量支臂和高度可调节的上测量支臂，所述下测量支臂和上测量支臂平行且上测量支臂位于下测量支臂上方，所述光栅测微传感器竖直安装于下测量支臂上且光栅测微传感器的探头朝上，所述微分头安装于上测量支臂上且微分头的测杆朝下，所述测杆位于探头正上方。上述的一种光栅测微传感器标定装置，其特征在于，所述下测量支臂和上测量支臂上均设置有锁紧手柄。上述的一种光栅测微传感器标定装置，其特征在于，所述支撑立柱固定安装于底座上。本技术与现有技术相比具有以下优点：1、本技术结构简单，设计合理，使用方便，通过设计合理的将微分头与辅助设备组合成一种投资少、效率高、易操作和专业化程度高的测量装置，专门用于实验室光栅测微传感器的期间核查。2、本技术的装置具有效率高、操作简单、投资成本低和产品质量好等优点，核查过程中光栅测微传感器的安装与实验过程中一致，保证了两者之间的一致性，可保证实验室对光栅测微传感器进行期间核查的要求。下面结合附图和实施例，对本技术的技术方案作进一步的详细说明。附图说明图1为本技术的结构示意图。附图标记说明：1—底座；2—锁紧手柄；3—支撑立柱；4—下测量支臂；5—上测量支臂；6—微分头；7—测杆；8—光栅测微传感器；9—探头。具体实施方式如图1所示的一种光栅测微传感器标定装置，包括底座1、光栅测微传感器8和微分头6，所述底座1上安装有支撑立柱3，所述支撑立柱3上安装有高度可调节的下测量支臂4和高度可调节的上测量支臂5，所述下测量支臂4和上测量支臂5平行且上测量支臂5位于下测量支臂4上方，所述光栅测微传感器8竖直安装于下测量支臂4上且光栅测微传感器8的探头9朝上，所述微分头6安装于上测量支臂5上且微分头6的测杆7朝下，所述测杆7位于探头9正上方。本实施例中，所述下测量支臂4和上测量支臂5上均设置有锁紧手柄2。本实施例中，所述支撑立柱3固定安装于底座1上。本技术的装置的工作原理为：测量光栅测微传感器8的进程时，将探头9与测杆7刚刚接触即可，顺时针缓慢旋转微分头6，测杆7就会下降压缩探头9，探头9的进程示值与微分头6的进程示值相比较，即可核查光栅测微传感器8的进程精度。测量光栅测微传感器8的回程时，将探头9在测杆7上压缩至最大量程，逆时针缓慢旋转微分头6，测杆7就会上升，探头9就会弹回，探头9的回程示值与微分头6的回程示值相比较，即可核查光栅测微传感器的回程精度。以最大量程15mm的光栅测微传感器为例，本技术的测试核查过程如下：(1)将光栅测微传感器8安装在下测量支臂4上；(2)核查光栅测微传感器8进程时，将微分头6的测杆7与探头9刚刚接触，将微分头6对零，光栅测微传感器8显示器清零，顺时针旋转微分头6，旋转至0.5mm，1mm，……，直至14mm，与之对应的记录光栅测微传感器8显示器上的数值，以微分头6为标准值，即可得出光栅测微传感器8的进程示值误差。(3)核查光栅测微传感器8回程时，将微分头6顺时针旋转，测杆7下降16mm左右，安装时将光栅测微传感器8的探头9与测杆7接触并压缩至14mm，将微分头6对整，光栅测微传感器8显示器清零，逆时针旋转微分头6，旋转至0.5mm，1mm，……，直至14mm，与之对应的记录光栅测微传感器8显示器上的数值，以微分头6为标准值，即可得出光栅测微传感器8的回程示值误差。(4)核查回程和进程示值误差需要重复测量3次，来验证测微传感器8的稳定性。以上所述，仅是本技术的较佳实施例，并非对本技术作任何限制，凡是根据本技术技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、变更以及等效结构变化，均仍属于本技术技术方案的保护范围内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光栅测微传感器标定装置，其特征在于，包括底座(1)、光栅测微传感器(8)和微分头(6)，所述底座(1)上安装有支撑立柱(3)，所述支撑立柱(3)上安装有高度可调节的下测量支臂(4)和高度可调节的上测量支臂(5)，所述下测量支臂(4)和上测量支臂(5)平行且上测量支臂(5)位于下测量支臂(4)上方，所述光栅测微传感器(8)竖直安装于下测量支臂(4)上且光栅测微传感器(8)的探头(9)朝上，所述微分头(6)安装于上测量支臂(5)上且微分头(6)的测杆(7)朝下，所述测杆(7)位于探头(9)正上方。

【技术特征摘要】
1.一种光栅测微传感器标定装置，其特征在于，包括底座(1)、光栅测微传感器(8)和微分头(6)，所述底座(1)上安装有支撑立柱(3)，所述支撑立柱(3)上安装有高度可调节的下测量支臂(4)和高度可调节的上测量支臂(5)，所述下测量支臂(4)和上测量支臂(5)平行且上测量支臂(5)位于下测量支臂(4)上方，所述光栅测微传感器(8)竖直安装于下测量支臂(4)上且光栅测微传...

【专利技术属性】
技术研发人员：房永强，杨军红，郑晓斐，王峰，
申请(专利权)人：西部金属材料股份有限公司，
类型：新型
国别省市：陕西;61