【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种对试样气体所包含的测定对象气体的气体浓度进行测定的气体分析仪。
技术介绍
例如在专利文献1中公开了气体分析仪的以往技术。参照图来说明该以往技术。图3是专利文献1所记载的以往技术的吸收分析仪。吸收分析仪100使用紫外吸收法来测定试样气体所包含的NO2(二氧化氮)的浓度。吸收分析仪100具备紫外光光源101、可见光光源102、参比室(referencecell)103、试样室104、光引导机构105、光检测部106、控制部107以及运算部108。紫外光光源101是照射紫外光的发光二极管。该紫外光的中心照射光波长为波长360nm~400nm,如图4的波长-吸收系数特性图所示,该紫外光的中心照射光波长包含于NO2的吸收波长带内。当向NO2射出这种紫外光时,NO2吸收该紫外光。可见光光源102是照射与NO2的吸收波长带不同的波长带的可见光的发光二极管。该可见光的中心照射光波长包含于图4的波长-吸收系数特性图所示的NO2的吸收波长带内,但是大于紫外光的中心波长。将可见光光源102的波长设定成:当向NO2射出这种可见光时NO2吸收该可见光,但是与上述的NO2对紫外光的吸收相比,NO2对可见光的吸收小。参比室103中封入有基准气体。该基准气体例如是氮气。紫外光、可见光通过窗103a、103b入射。试样室104被供给作为测定对象的试样气体。紫外光、可见光通过窗104a、104b入射。试样气体通过气体入口104c流入到试样室104内,并通过气体出口104d流出。光引导机构105具备反射镜105a、半透半反镜105b。来自紫外光光源101的紫外光、来自可见光 ...
【技术保护点】
一种气体分析仪,其特征在于,具备:光源部,其射出包含测定对象气体的吸收光谱的吸收波长带的照射光;驱动控制部,其对所述光源部进行驱动控制,使得所述光源部射出照射光;气体流通室,其具有筒体和检测空间,该检测空间是利用光透过窗对该筒体的两端进行区划而成的,包含测定对象气体的试样气体在该检测空间中流通,来自所述光源部的照射光透过一方的所述光透过窗而入射到所述检测空间;受光部,其接收在所述气体流通室内的所述检测空间中传播后透过了另一方的所述光透过窗的照射光;以及信号处理部,其使用考虑因漂移引起的光量变动来预测所述光源部的基准输出强度的预测校正式,根据预测出的基准输出强度以及照射光的受光输出强度,来计算试样气体所包含的测定对象气体的气体浓度。
【技术特征摘要】
2015.09.08 JP 2015-1766071.一种气体分析仪,其特征在于,具备:光源部,其射出包含测定对象气体的吸收光谱的吸收波长带的照射光;驱动控制部,其对所述光源部进行驱动控制,使得所述光源部射出照射光;气体流通室,其具有筒体和检测空间,该检测空间是利用光透过窗对该筒体的两端进行区划而成的,包含测定对象气体的试样气体在该检测空间中流通,来自所述光源部的照射光透过一方的所述光透过窗而入射到所述检测空间;受光部,其接收在所述气体流通室内的所述检测空间中传播后透过了另一方的所述光透过窗的照射光;以及信号处理部,其使用考虑因漂移引起的光量变动来预测所述光源部的基准输出强度的预测校正式,根据预测出的基准输出强度以及照射光的受光输出强度,来计算试样气体所包含的测定对象气体的气体浓度。2.根据权利要求1所述的气体分析仪,其特征在于,所述光源部具备多个发光部,所述多个发光部分别射出包含不同的测定对象气体的吸收光谱的吸收波长带的光,所述驱动控制部对所述多个发光部进行驱动控制,使得所述多个发光部以分时方式射出光,所述信号处理部测定多个不同的测定对象气体的气体浓度。3.根据权利要求2所述的气体分析仪,其特征在于,所述光源部具备:光源块,其固定所述多个发光部;温度检测部,其根据所述光源块的温度来输出检测信号;珀尔帖元件,其对所述光源块进行加热或冷却;以及散热块,其进行所述珀尔帖元件与外部空气之间的热交换,所述驱动控制部基于来自所述温度检测部的检测信号,以使所述光源块的温度固定的方式对向所述珀尔帖元件提供的电流进行驱动控制,来抑制所述发光部的输出强度的变动。4.一种气体分析仪,其特征在于,具备:NO2气体吸收用发光部,其射出NO2气体会吸收的320nm~600nm的波长的NO2气体吸收用照射光,该NO2气体吸收用发光部是发光二极管或激光二极管;SO2气体吸收用发光部,其射出SO2气体和NO2气体会吸收的250nm~320nm的波长的SO2气体吸收用照射光,该SO2气体吸收用发光部是发光二极管或激光二极管;驱动控制部,其对所述NO2气体吸收用发光部和所述SO2气体吸...
【专利技术属性】
技术研发人员:赤尾幸造,东亮一,谷口裕,小泉和裕,平山纪友,
申请(专利权)人:富士电机株式会社,
类型:发明
国别省市:日本;JP
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