电感耦合等离子体处理装置及等离子体刻蚀方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种等离子体处理装置，包括反应腔室，其具有进气单元、夹持基片的静电夹盘和设于基片外周侧的聚焦环。聚焦环包括固定设置的第一部分和可移动地设置在第一部分上的第二部分。第二部分的最小内径大于第一部分的内径。驱动单元用于驱动聚焦环的第二部分在接触第一部分的第一位置和距第一部分上表面5mm-15mm的第二位置之间垂直移动。该聚焦环的第二部分位于第一位置时配合该第一部分共同调节基片附近的工艺气体及其等离子体的分布，当位于第二位置时遮蔽到达基片边缘的工艺气体及其等离子体。本发明专利技术能够根据不同需要调节等离子体分布。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及半导体加工设备，特别涉及一种电感耦合等离子体处理装置及应用该处理装置的等离子体刻蚀方法。
技术介绍
等离子体处理装置被广泛应用于各种半导体制造工艺，例如沉积工艺(如化学气相沉积)、刻蚀工艺(如干法刻蚀)等。以等离子体刻蚀工艺为例，图1示出现有技术的一种电感耦合等离子体刻蚀装置的结构示意图。反应腔室10顶部具有绝缘盖板11，反应腔室10底部设置有用于夹持待处理基片W的静电夹盘14，进气单元12设置于反应腔室10的侧壁绝缘盖板11下方。绝缘盖板11上设置电感耦合线圈13，线圈通过匹配器(图中未示)与射频源(图中未示)连接，通过在线圈13中通入射频电流产生交变的磁场，进而在反应腔室10内感生出电场，将通过进气单元11进入反应腔室10的反应气体电离生成等离子体以对待处理基片W表面进行等离子体处理。聚焦环15设于基片W的周围，用于收敛基片W表面的等离子体。绝缘环16位于聚焦环15下方，用于支撑聚焦环15。不同的蚀刻制程对等离子体分布密度的要求不同，例如在进行无图形刻蚀制程时，基片的边缘区域与中间区域刻蚀速率显著不同，边缘区域的刻蚀速率偏快，容易造成整个基片范围内器件特征尺寸的不一致，因此需要对基片边缘区域和中间区域的刻蚀速率加以调节；而在进行深沟槽图形刻蚀制程时，则并不需要降低边缘区域的刻蚀速率。因此，需要提供一种改进的电感耦合等离子体处理装置，可根据不同的等离子体刻蚀制程调节等离子体分布。<br>
技术实现思路
本专利技术的主要目的在于克服现有技术的缺陷，提供一种能够调节等离子体密度、提高基片表面等离子体分布均一性的电感耦合等离子体处理装置。为达成上述目的，本专利技术提供一种电感耦合等离子体处理装置，其包括反应腔室和驱动单元。所述反应腔室具有用于向所述反应腔室内部输入工艺气体的进气单元；用于夹持待处理基片的静电夹盘；以及围绕设于所述基片外周侧的聚焦环，其中所述聚焦环包括围绕所述基片外周缘而固定设置的第一部分以及可移动地设置于所述第一部分上的第二部分，其中，所述聚焦环的第二部分的最小内径大于等于所述聚焦环的第一部分的内径。所述驱动单元用于驱动所述聚焦环的第二部分在第一位置和第二位置之间垂直移动，其中当所述聚焦环的第二部分定位于所述第一位置时其与所述聚焦环的第一部分接触并配合该第一部分共同调节所述基片附近的工艺气体及其等离子体的分布，当所述聚焦环的第二部分定位于所述第二位置时其距所述聚焦环的第一部分的上表面5mm-15mm的距离以遮蔽到达所述基片边缘的工艺气体及其等离子体。优选的，所述驱动单元还驱动所述聚焦环的第二部分使其定位于第三位置，当所述聚焦环的第二部分定位于所述第三位置时其邻近所述进气单元处并作为辅助气体聚集环用于调节所述进气单元附近的工艺气体及其等离子体分布。优选的，所述反应腔室还包括水平设于所述进气单元下方的气体聚集环。优选的，当所述聚焦环的第二部分位于所述第三位置时，其位于所述气体聚集环下方0～10mm。优选的，所述聚焦环的第一部分具有主体部及突出部，所述突出部自所述主体部的上表面突出，当所述聚焦环的第二部分定位于所述第一位置时，其下表面与所述主体部的上表面接触且上表面与所述突出部的上表面平齐。优选的，所述聚焦环的突出部突出于所述基片的上表面1～3mm。优选的，所述聚焦环的第一部分突出于所述基片的上表面1～3mm。优选的，所述聚焦环的第二部分的最大内径小于所述气体聚集环的内径。优选的，所述聚焦环的第二部分的内径小于所述气体聚集环的内径。优选的，所述聚焦环的第二部分的截面形状为矩形或梯形。优选的，所述聚焦环的第二部分的截面形状为矩形，其宽度为所述反应腔室半径的1/4～2/3。优选的，所述反应腔室还包括围绕所述静电夹盘外周侧的绝缘环，所述聚焦环的第一部分设置于所述绝缘环之上并覆盖所述绝缘环的上表面。优选的，所述聚焦环的材料为陶瓷或石英，所述气体聚集环的材料为铝合金。本专利技术还提供了一种利用上述电感耦合等离子体处理装置的等离子体刻蚀方法，所述刻蚀方法包括原位执行深沟槽图形刻蚀制程和无图形刻蚀制程，包括以下步骤：将所述聚焦环的第二部分定位至所述第一位置，与所述聚焦环的第一部分接触；进行所述深沟槽图形刻蚀制程；将所述聚焦环的第二部分定位至所述第二位置；进行所述无图形刻蚀制程。相较于现有技术，本专利技术的等离子体处理装置利用可升降的聚焦环的第二部分分别定位于反应腔室内的不同位置，当与聚焦环的第一部分接触时与该第一部分成为一个整体的聚焦环，调节基片附近的等离子体鞘层和气体分布，当位于第一部分上方5～15mm时掩蔽或遮蔽基片周缘处的一部分等离子体以使基片边缘部分等离子体的密度减小、减小基片边缘的刻蚀速率，当位于腔室内上方时还可用作另一气体聚集环调节腔室内的气体分布和等离子体密度。附图说明图1为现有技术中电感耦合等离子体刻蚀装置的结构示意图；图2为本专利技术一实施例的电感耦合等离子体处理装置的结构示意图；图3为本专利技术一实施例的电感耦合等离子体处理装置的结构示意图；图4为应用本专利技术一实施例电感耦合等离子体处理装置的刻蚀方法的流程示意图。具体实施方式为使本专利技术的内容更加清楚易懂，以下结合说明书附图，对本专利技术的内容作进一步说明。当然本专利技术并不局限于该具体实施例，本领域内的技术人员所熟知的一般替换也涵盖在本专利技术的保护范围内。图2和图3显示了本专利技术的电感耦合等离子处理装置的不同实施方式，应该理解，电感耦合等离子体处理装置仅仅是示例性的，其可以包括更少或更多的组成元件，或该组成元件的安排可能与图中所示相同或不同。实施例1如图2所示，电感耦合等离子体处理装置包括反应腔室20，反应腔室20上方具有绝缘盖板21，绝缘盖板21通常为陶瓷介电材料。反应腔室侧壁靠近顶部处设有用于向反应腔室20内部输入工艺气体的进气单元22。反应腔室20底部设置有用于夹持待处理基片W的静电夹盘23。在绝缘盖板21的外侧上方配置电感耦合线圈23，通过未图示的射频源向线圈23提供射频电流在反应腔室20内感生出电场，以此对由进气单元22引入到腔室内的工艺气体进行电离并产生等离子体，以对基片W进行刻蚀等处理。此外，本实施例中，进气单元22是形成在反应腔室20的侧壁靠近绝缘盖板处，但在其他实施例中其也可以是形成于绝缘盖板中，本专利技术并不加以限制。在基片W外周侧环绕设有聚焦环。如图所示，聚焦环包括两个部分25a和25b。第一部分25a围绕基片本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电感耦合等离子体处理装置，其特征在于，包括：反应腔室，其具有：用于向所述反应腔室内部输入工艺气体的进气单元；用于夹持待处理基片的静电夹盘；以及围绕设于所述基片外周侧的聚焦环，所述聚焦环包括围绕所述基片外周缘而固定设置的第一部分以及可移动地设置于所述第一部分上的第二部分；其中，所述聚焦环的第二部分的最小内径大于等于所述聚焦环的第一部分的内径；驱动单元，用于驱动所述聚焦环的第二部分在第一位置和第二位置之间垂直移动，其中当所述聚焦环的第二部分定位于所述第一位置时其与所述聚焦环的第一部分接触并配合该第一部分共同调节所述基片附近的工艺气体及其等离子体的分布，当所述聚焦环的第二部分定位于所述第二位置时其距所述聚焦环的第一部分的上表面5mm‑15mm的距离以遮蔽到达所述基片边缘的工艺气体及其等离子体。

【技术特征摘要】
1.一种电感耦合等离子体处理装置，其特征在于，包括：
反应腔室，其具有：
用于向所述反应腔室内部输入工艺气体的进气单元；
用于夹持待处理基片的静电夹盘；以及
围绕设于所述基片外周侧的聚焦环，所述聚焦环包括围绕所述基片外周
缘而固定设置的第一部分以及可移动地设置于所述第一部分上的第二部分；
其中，所述聚焦环的第二部分的最小内径大于等于所述聚焦环的第一部分的
内径；
驱动单元，用于驱动所述聚焦环的第二部分在第一位置和第二位置之间垂
直移动，其中当所述聚焦环的第二部分定位于所述第一位置时其与所述聚焦环
的第一部分接触并配合该第一部分共同调节所述基片附近的工艺气体及其等离
子体的分布，当所述聚焦环的第二部分定位于所述第二位置时其距所述聚焦环
的第一部分的上表面5mm-15mm的距离以遮蔽到达所述基片边缘的工艺气体
及其等离子体。
2.根据权利要求1所述的电感耦合等离子体处理装置，其特征在于，所述
驱动单元还驱动所述聚焦环的第二部分使其定位于第三位置，当所述聚焦环的
第二部分定位于所述第三位置时其邻近所述进气单元处并作为辅助气体聚集环
用于调节所述进气单元附近的工艺气体及其等离子体分布。
3.根据权利要求1所述的电感耦合等离子体处理装置，其特征在于，所述
反应腔室还包括水平设于所述进气单元下方的气体聚集环。
4.根据权利要求3所述的电感耦合等离子体处理装置，其特征在于，当所
述聚焦环的第二部分位于所述第三位置时，其位于所述气体聚集环下方
0～10mm。
5.根据权利要求1所述的电感耦合等离子体处理装置，其特征在于，所述
聚焦环的第一部分具有主体部及突出部，所述突出部自所述主体部的上表面突
...

【专利技术属性】
技术研发人员：连增迪，吴狄，黄允文，倪图强，
申请(专利权)人：中微半导体设备上海有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31