一种闪存颗粒检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术提出了一种闪存颗粒检测装置，包括固定单元、检测单元、供电单元及显示单元，该检测单元分别与该显示单元及该固定单元电连接，该供电单元分别与该检测单元、该显示单元及该固定单元电连接；其中，待测闪存颗粒固定在该固定单元上，该检测单元读取待测闪存颗粒的型号，并调出待测闪存颗粒的特性参数，再根据该特性参数生成相应的检测参数对所述待测闪存颗粒的每一个块进行检测分析，最后将检测结果发送给该显示单元显示。本发明专利技术的闪存颗粒检测装置大大提高了固态存储设备的存储品质，有效杜绝了数据安全隐患，可满足不同的固态存储设备使用要求，具有结构简单、使用方便、适用性强等特点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及固态存储
，特别涉及一种闪存颗粒检测装置。
技术介绍
目前，在固态存储领域，固态存储设备上闪存颗粒的好坏决定着固态存储设备的稳定性。固态存储设备采用的主控制芯片不同，对于闪存颗粒的品质要求不同。由于闪存颗粒的特性，具有擦写次数限制的寿命问题，并且坏块的判别采用ECC校验和纠错的方式，现有的闪存颗粒检测一般采用软件测试的方法，无法针对闪存颗粒中每一个块进行全方位的检测，因而不能评估出闪存颗粒中每一个块的健康程度等，在使用时会存在一些数据安全隐患；另外也无法适用于所有的主控制芯片，不能满足不同的固态存储设备使用要求，无法保证固态存储设备的品质。
技术实现思路
本专利技术的目的解决克服闪存颗粒检测装置遇到的技术困扰，提供一种结构简单、使用方便、适用性强的闪存颗粒检测装置，采用硬件检测的方式对闪存颗粒的每一个块进行全面检测，大大提高了固态存储设备的存储品质，有效杜绝了数据安全隐患，满足不同的固态存储设备使用要求。为达到上述目的，本专利技术提出了一种闪存颗粒检测装置，包括固定单元、检测单元、供电单元及显示单元，所述检测单元分别与所述显示单元及所述固定单元电连接，所述供电单元分别与所述检测单元、所述显示单元及所述固定单元电连接；其中，待测闪存颗粒固定在所述固定单元上，所述检测单元读取待测闪存颗粒的型号，并调出待测闪存颗粒的特性参数，再根据所述特性参数生成相应的检测参数对所述待测闪存颗粒的每一个块进行检测分析，最后将检测结果发送给所述显示单元显示。进一步地，所述检测单元内存储有多种闪存颗粒的特性参数。进一步地，所述特性参数包括品牌、型号、制造工艺、块的数量和大小、ECC（纠错单元）。进一步地，所述检测参数包括原始坏块阀值、新增坏块阀值、ECC阀值。进一步地，所述检测结果包括待测闪存颗粒的原始坏块数、可使用块数、块的品质状况及每一块的可使用寿命，所述检测单元根据所述检测结果评估待测闪存颗粒是否适合制造固态存储设备，并以红圈和绿圈加以区分。本专利技术的有益效果是：区别于现有技术的情况，本专利技术的闪存颗粒检测装置采用硬件检测的方式，通过检测单元读取待测闪存颗粒的型号，并调出待测闪存颗粒的特性参数，再根据特性参数生成相应的检测参数对待测闪存颗粒的每一个块进行检测分析，最后将检测结果发送给所述显示单元显示。本专利技术的闪存颗粒检测装置通过硬件中预设的闪存颗粒的特性参数生成相应的检测参数，对闪存颗粒的每一个块进行全面检测，并将具有安全隐患的块标记出来，大大提高了固态存储设备的存储品质，有效杜绝了数据安全隐患，可满足不同的固态存储设备使用要求，具有结构简单、使用方便、适用性强等特点。附图说明图1为本专利技术闪存颗粒检测装置一实施例的结构示意图。具体实施方式下面结合附图详细说明本专利技术的优选实施例。请参阅图1，本专利技术的闪存芯片检测装置一种闪存颗粒检测装置，包括固定单元1、检测单元2、供电单元3及显示单元4，检测单元2分别与显示单元4及固定单元1电连接，供电单元3分别与检测单元2、显示单元4及固定单元1电连接；其中，待测闪存颗粒固定在固定单元1上，检测单元2读取待测闪存颗粒的型号，并调出待测闪存颗粒的特性参数，再根据特性参数生成相应的检测参数对待测闪存颗粒的每一个块进行检测分析，最后将检测结果发送给显示单元4显示。其中，在本实施例中，固定单元1用于固定待测闪存颗粒，以供检测单元2对其进行检测。供电单元3用于给检测单元2、固定单元1及显示单元4供电。显示单元3用于显示待测闪存颗粒的检测结果。在本实施例中，检测单元2内存储有多种闪存颗粒的特性参数，特性参数包括品牌、型号、制造工艺、块的数量和大小、ECC（纠错单元）。检测参数包括原始坏块阀值、新增坏块阀值、ECC阀值。检测结果包括待测闪存颗粒的原始坏块数、可使用块数、块的品质状况及每一块的可使用寿命，检测单元根据所述检测结果评估待测闪存颗粒是否适合制造固态存储设备，并以红圈和绿圈加以区分。请一并参阅图1，本专利技术闪存颗粒检测装置的工作过程如下：首先，将待检测的闪存颗粒放置在固定单元1上，接通供电单元3，供电单元3供电给检测单元2，固定单元1和显示单元4，显示单元4显示出闪存颗粒检测介面；接着，通过点击显示单元4闪存颗粒检测介面的上自动检测按键，检测单元2将先识别待测闪存颗粒的特性参数，特性参数包括品牌、型号、制造工艺、块的数量和大小、ECC（纠错单元）等；检测单元2会根据检测出来的特性参数自动生成设定相对应的检测参数，检测参数包括原始坏块阀值、新增坏块阀值、ECC阀值等；然后，检测单元2开始对待测闪存颗粒进行检测；检测单元2分别对闪存颗粒的两个区域（原始坏块区，可使用区）进行检测分析，记录原始坏块区中的坏块数量，并根据待测闪存颗粒的特性参数计算出可使用的块及可使用容量；对可使用区的每一个块进行检测分析，分析出块的健康程度和块的可使用寿命；其中，检测单元2采用数据写入读取校验的方式进行检测分析；最后，检测单元2会将检测结果通过数字的方式显示在显示单元4上，检测结果包括待测闪存颗粒的原始坏块数、可使用块数、块的品质状况及每一块的可使用寿命，检测单元2根据所述检测结果评估待测闪存颗粒是否适合制造固态存储设备，并以红圈和绿圈加以区分，红圈代表不可使用，绿圈代表可以使用。本专利技术的闪存颗粒检测装置采用硬件检测的方式，通过检测单元读取待测闪存颗粒的型号，并调出待测闪存颗粒的特性参数，再根据特性参数生成相应的检测参数对待测闪存颗粒的每一个块进行检测分析，最后将检测结果发送给所述显示单元显示。本专利技术的闪存颗粒检测装置通过硬件中预设的闪存颗粒的特性参数生成相应的检测参数，对闪存颗粒的每一个块进行全面检测，并将具有安全隐患的块标记出来，大大提高了固态存储设备的存储品质，有效杜绝了数据安全隐患，可满足不同的固态存储设备使用要求，具有结构简单、使用方便、适用性强等特点。这里本专利技术的描述和应用是说明性的，并非想将本专利技术的范围限制在上述实施例中。这里所披露的实施例的变形和改变是可能的，对于那些本领域的普通技术人员来说实施例的替换和等效的各种部件是公知的。本领域技术人员应该清楚的是，在不脱离本专利技术的精神或本质特征的情况下，本专利技术可以以其它形式、结构、布置、比例，以及用其它组件、材料和部件来实现。在不脱离本专利技术范围和精神的情况下，可以对这里所披露的实施例进行其它变形和改变。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种闪存颗粒检测装置，其特征在于，包括固定单元、检测单元、供电单元及显示单元，所述检测单元分别与所述显示单元及所述固定单元电连接，所述供电单元分别与所述检测单元、所述显示单元及所述固定单元电连接；其中，待测闪存颗粒固定在所述固定单元上，所述检测单元读取待测闪存颗粒的型号，并调出待测闪存颗粒的特性参数，再根据所述特性参数生成相应的检测参数对所述待测闪存颗粒的每一个块进行检测分析，最后将检测结果发送给所述显示单元显示。

【技术特征摘要】
1.一种闪存颗粒检测装置，其特征在于，包括固定单元、检测单元、供电单元及显示单元，所述检测单元分别与所述显示单元及所述固定单元电连接，所述供电单元分别与所述检测单元、所述显示单元及所述固定单元电连接；其中，待测闪存颗粒固定在所述固定单元上，所述检测单元读取待测闪存颗粒的型号，并调出待测闪存颗粒的特性参数，再根据所述特性参数生成相应的检测参数对所述待测闪存颗粒的每一个块进行检测分析，最后将检测结果发送给所述显示单元显示。
2.根据权利要求1所述的闪存颗粒检测装置，其特征在于，所述检测单元内存储有多种闪存颗粒的特...

【专利技术属性】
技术研发人员：沈金良，
申请(专利权)人：深圳市金胜电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44