IC卡高速扭曲测试装置和方法制造方法及图纸

本发明专利技术实施例提供了一种IC卡高速扭曲测试装置和方法。该装置包括：四组IC卡测试装置和一个升降装置，每组测试装置由两个能双向转动的滚轮上下摆放，其中一个滚轮并以另一个滚轮的中心同心转动，使IC卡在传送过程中以滚轮外径弯曲变形实现了弯曲变形测试。其中中间两组测试装置根据弯曲量的多少由升降电机或和液压升降装置控制进行调节，使IC卡传输方向回到原方向。改变滚轮转动方向能实现IC卡逆向传送，该方案实现以偏移角度控制IC卡弯曲变形量，能进行一组四次或按四次的倍数次数的弯曲测试，两组设备联机可以同时实现IC卡双面弯曲测试，便于在收发卡设备中集成，适于IC卡批量自动化检测和弯曲疲劳测试。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及IC卡(IntegratedCircuitCard，集成电路卡)测试
，尤其涉及一种IC卡高速扭曲测试装置和方法。
技术介绍
IC卡在我们的生活中使用越来越普遍，使用数量越来越大，但是在使用过程中，经常出现IC卡使用一段时间后不能继续使用的现象。对损坏后返回的IC卡进行分析，除去人为损坏的IC卡，大部分是芯片虚接、虚焊或线圈变形造成线与线之间虚接，造成IC卡使用一段时间后出现不能继续使用的现象。目前，现有技术中的一种IC卡扭曲测试方法为：将IC卡放在两个卡槽中，通过两个卡槽之间距离变化强迫IC卡弯曲变形，弯曲测试设备卡槽之间距离变化的大小确定IC卡弯曲量的大小，卡弯曲量是两个固定不变的参数。上述现有技术中的IC卡扭曲测试方法的缺点为：该测试方法测试数量少，测试误差大，测试效率低，并且是破坏性测试，测试后就不能在成为产品出厂。该方法对IC卡在生产过程中和出厂前进行抽样测试，能对批量生产的IC卡进行在线批量测试。
技术实现思路
本专利技术的实施例提供了一种IC卡高速扭曲测试装置和方法，以实现对IC卡进行有效的扭曲测试。本专利技术提供了如下方案：一种IC卡高速弯曲测试装置，包括：四个从左到右排列的测试装置和一个使中间两个测试装置进行高度升降的升降装置，所述测试装置包括两个转动装置和偏转电机，所述两个转动装置分别为定轮装置和动轮装置，所述定轮装置由定轮圆轴和带动定轮圆轴转动的电机组成，所述动轮装置由动轮圆轴和带动动轮圆轴转动的电机组成。所述各个测试装置之间的距离间隔相同。所述偏转电机与所述动轮装置同心，所述偏转电机通过连接装置和所述动轮装置连接。所述升降装置由升降电机或液压装置、升降杆和与中间两个测试装置的连接梁组成。当所述各个测试装置中的定轮圆轴和动轮圆轴在电机的带动下自身转动时，所述定轮圆轴顺时针转动，所述动轮圆轴逆时针转动；或者，所述定轮圆轴逆时针转动，所述动轮圆轴顺时针转动。一种IC卡高速弯曲测试方法，包括：将IC卡设置在最左边或者最右边的测试装置中的定轮圆轴和动轮圆轴之间的间隔中，所述各个测试装置中的定轮圆轴和动轮圆轴在电机的带动下自身转动，利用摩擦力将所述IC卡向前移动，使所述IC卡依次经过各个测试装置；所述动轮装置还在所述偏转电机的带动下与定轮装置同心按圆周轨迹以一定的角度做偏转运动，迫使IC卡按定轮圆轴的轮廓形状弯曲。所述中间两个测试装置的升降高度H由相邻测试装置之间的距离L、定轮圆轴的半径r和设定的动轮偏转角度θ确定，H＝Ltanθ-2r[sinθcotan(90°-θ)+cosθ-1]。所述IC卡弯曲量v由所述定轮圆轴的半径r和所述动轮偏转角度θ确定，所述的方法还包括：将从左到右的4个测试装置分别称为第一个测试装置、第二个测试装置、第三个测试装置和第四个测试装置，当IC卡由左向右传输时，第一个测试装置中的上部的转动装置为定轮装置，该定轮装置逆时针转动，下部的转动装置为动轮装置，该动轮装置顺时针转动，向右偏转设定的动轮偏转角度θ；第二个测试装置中的上部的转动装置为动轮装置，该动轮装置逆时针转动，并且不发生偏转，下部的转动装置为定轮装置，该定轮装置顺时针转动；第三个测试装置中的上部的转动装置为动轮装置，该动轮装置逆时针转动，向右偏转设定的动轮偏转角度θ，下部的转动装置为定轮装置，该定轮装置顺时针转动；第四个测试装置中的上部的转动装置为定轮装置，该定轮装置逆时针转动，下部的转动装置为动轮装置，该动轮装置顺时针转动，不发生偏转。当IC卡由右向左传输时，第四个测试装置中的上部的转动装置为定轮装置，该定轮装置顺时针转动，下部的转动装置为动轮装置，该动轮装置逆时针转动，向左偏转设定的动轮偏转角度θ；第三个测试装置中的上部的转动装置为动轮装置，该动轮装置顺时针转动，并且不发生偏转，下部的转动装置为定轮装置，该定轮装置逆时针转动。第二个测试装置中的上部的转动装置为动轮装置，该动轮装置顺时针转动，向左偏转设定的动轮偏转角度θ，下部的转动装置为定轮装置，该定轮装置逆时针转动。第一个测试装置中的上部的转动装置为定轮装置，该定轮装置顺时针转动，下部的转动装置为动轮装置，该动轮装置逆时针转动，不发生偏转。所述的方法还包括：将第一个IC卡高速弯曲测试装置正向安装，将第二个IC卡高速弯曲测试装置倒立反方向安装，将IC卡从左向右或者从右向左同时经过所述第一个IC卡高速弯曲测试装置和第二个IC卡高速弯曲测试装置，同时对所述IC卡进行双面弯曲测试。由上述本专利技术的实施例提供的技术方案可以看出，本专利技术实施例的装置提供了一种能实现在生产中对IC卡进行在线测试和抽样数量大的IC卡进行弯曲疲劳压力测试，也能实现对小批量IC卡进行弯曲疲劳压力测试的测试方法，该方法测试方案灵活多变，实用性强，既能满足大批量IC卡生产在线进行弯曲测试，又能对抽样样卡进行弯曲疲劳压力测试。通过改变中间两个测试装置的升降高度H和动轮偏转角度θ实现改变IC卡的弯曲量。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例提供的一种IC卡高速扭曲测试装置的结构示意图；图2为本专利技术实施例提供的通过偏转电机的转动角度θ实现对IC卡弯曲量的改变的示意图；图3为本专利技术实施例提供的中间两个测试装置的升降高度H的计算原理示意图。具体实施方式为便于对本专利技术实施例的理解，下面将结合附图以几个具体实施例为例做进一步的解释说明，且各个实施例并不构成对本专利技术实施例的限定。实施例一本专利技术解决的问题是针对现有的IC卡弯曲测试方法的不足，提供一种能实现在生产中对IC卡进行在线测试和抽样数量大的IC卡进行弯曲疲劳压力测试，也能实现对小批量IC卡进行弯曲疲劳压力测试的测试方案。本专利技术实施例的工作原理是：将两个转动装置组成一个测试装置，上述两个转动装置分别为定轮装置和动轮装置。本专利技术实施例提供的IC卡高速扭曲测试装置的结构示意图如图1所示，该装置包括：四个测试装置，一个使中间两个测试装置进行高度升降的升降装置。所述测试装置中的定轮装置由定轮圆轴和带动定轮圆轴转动的电机组成，所述动轮装置由动轮圆轴和带本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种IC卡高速弯曲测试装置，其特征在于，包括：四个从左到右排列的测试装置和一个使中间两个测试装置进行高度升降的升降装置，所述测试装置包括两个转动装置和偏转电机，所述两个转动装置分别为定轮装置和动轮装置，所述定轮装置由定轮圆轴和带动定轮圆轴转动的电机组成，所述动轮装置由动轮圆轴和带动动轮圆轴转动的电机组成。

【技术特征摘要】
1.一种IC卡高速弯曲测试装置，其特征在于，包括：
四个从左到右排列的测试装置和一个使中间两个测试装置进行高度升降
的升降装置，所述测试装置包括两个转动装置和偏转电机，所述两个转动装
置分别为定轮装置和动轮装置，所述定轮装置由定轮圆轴和带动定轮圆轴转
动的电机组成，所述动轮装置由动轮圆轴和带动动轮圆轴转动的电机组成。
2.根据权利要求1所述的IC卡高速弯曲测试装置，其特征在于，所述各
个测试装置之间的距离间隔相同。
3.根据权利要求1所述的IC卡高速弯曲测试装置，其特征在于，所述偏
转电机与所述动轮装置同心，所述偏转电机通过连接装置和所述动轮装置连
接。
4.根据权利要求1所述的IC卡高速弯曲测试装置，其特征在于，所述升
降装置由升降电机或液压装置、升降杆和与中间两个测试装置的连接梁组
成。
5.根据权利要求1所述的IC卡高速弯曲测试装置，其特征在于，当所述
各个测试装置中的定轮圆轴和动轮圆轴在电机的带动下自身转动时，所述定
轮圆轴顺时针转动，所述动轮圆轴逆时针转动；或者，所述定轮圆轴逆时针
转动，所述动轮圆轴顺时针转动。
6.一种基于权利要求1至5任一项所述的装置的IC卡高速弯曲测试方法，
其特征在于，包括：
将IC卡设置在最左边或者最右边的测试装置中的定轮圆轴和动轮圆轴之
间的间隔中，所述各个测试装置中的定轮圆轴和动轮圆轴在电机的带动下自
身转动，利用摩擦力将所述IC卡向前移动，使所述IC卡依次经过各个测试装

\t置；所述动轮装置还在所述偏转电机的带动下与定轮装置同心按圆周轨迹以
一定的角度做偏转运动，迫使IC卡按定轮圆轴的轮廓形状弯曲。
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述中间两个测试装置的
升降高度H由相邻测试装置之间的距离L、定轮圆轴的半径r和设定的动轮偏
转角度θ确定，
H＝Ltanθ-2r[sinθcotan(90°-θ)+cosθ-1]。
8.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述IC卡弯曲量v由所述定
轮圆轴的半径r和所述动轮偏转角度θ确定，9.根...

【专利技术属性】
技术研发人员：王顺仁，马振洲，陈召安，王璀，夏栩，刘鑫，
申请(专利权)人：航天信息股份有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11