透镜的透射率测试系统及方法技术方案

本发明专利技术涉及光学领域，具体提供了一种透镜的透射率测试系统，所述系统包括测试光发生装置、光阑、光阑控制装置、积分球、光谱测试装置以及光谱分析装置，所述测试光发生装置用于提供测试光，所述光阑设置于所述测试光发生装置与所述积分球之间，所述光阑与所述积分球之间用于放置被测透镜，所述积分球的入光孔位于所述被测透镜的焦点位置，所述光阑控制装置用于控制所述光阑的移动以使所述测试光透过所述光阑的通光孔到所述被测透镜预定位置，所述光谱测试装置设置于所述积分球的出光孔方向，用于对所述积分球的输出光进行光谱测试，所述光谱分析装置与所述光谱测试装置电连接，用于对所述光谱测试装置获得的光谱进行光谱分析。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光学领域，具体而言，涉及一种透镜的透射率测试系统及方法。
技术介绍
被测透镜是一种广泛应用于各类光学系统的元件，其透射率分布关系着光学系统的成像质量和能量传递效率。现有的被测透镜透射率的测量方法，都只能测试被测透镜光轴处的透射率，不能获知被测透镜的各个不同位置的透射率，因此这种透射率测试无法真实地反映被测透镜的透射率的整体情况。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术提供了一种透镜的透射率测试系统及方法，以改善现有技术中只能测试被测透镜光轴处的透射率的问题。为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种透镜的透射率测试系统，所述系统包括测试光发生装置、光阑、光阑控制装置、积分球、光谱测试装置以及光谱分析装置，所述测试光发生装置用于提供测试光，所述光阑设置于所述测试光发生装置与所述积分球之间，所述光阑与所述积分球之间用于放置被测透镜，所述积分球的入光孔位于所述被测透镜的焦点位置，所述光阑控制装置用于控制所述光阑的移动以使所述测试光透过所述光阑的通光孔到所述被测透镜预定位置，所述光谱测试装置设置于所述积分球的出光孔方向，用于对所述积分球的输出光进行光谱测试，所述光谱分析装置与所述光谱测试装置电连接，用于对所述光谱测试装置获得的光谱进行光谱分析。一种透镜的透射率测试方法，应用于权利要求1所述的透镜的透射率测试系统，所述方法包括：光阑控制装置移动光阑使测试光通过所述光阑的通光孔进入所述积分球，以使所述光谱测试装置获得所述测试光的光谱图作为测试基线；放置被测透镜，所述光阑控制装置移动所述光阑，使所述测试光通过所述通光孔到所述被测透镜的预定位置，以使所述光谱测试装置获得所述测试光透过所述预定位置对应的测试光谱图；所述光谱分析装置根据所述测试基线以及所述预定位置的测试光谱图，获得所述被测透镜的预定位置的透射率。本专利技术实现的有益效果：本专利技术实施例提供的透镜的透射率测试系统及方法，可以通过光阑控制装置控制光阑的移动，以使测试光到达被测透镜的预定位置，通过对该预定位置投射出去的光的光谱图的分析，即可获得该预定位置的透射率。由于预定位置根据需要设置，即可以根据需要移动光阑以使测试光到达被测透镜的不同位置，因此可以测试被测透镜的不同位置的透射率，从而可以真实地反映该被测透镜的透射率的整体情况。附图说明为了更清楚的说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1示出了本专利技术第一实施例提供透镜的透射率测试系统的一种实施方式的结构示意图；图2示出了本专利技术第一实施例提供的光阑的结构示意图；图3示出了本专利技术第一实施例提供的透镜的透射率测试系统的另一种实施方式的结构示意图；图4示出了本专利技术第二实施例提供的透镜的透射率测试方法的流程图；图5示出了本专利技术第二实施例提供的透镜的示意图。其中，附图标记汇总如下：测试光发生装置110，光阑120，光阑控制装置121，控制单元122，移动单元123，通光孔124，积分球130，积分球130的入光孔131，积分球130的出光孔132，光谱测试装置140，光谱分析装置150，测试计算机160，被测透镜100。具体实施方式被测透镜的透射率分布于光学系统的成像质量及能量传递效率密切相关，但是现有的对被测透镜的透射率的测试方法，只能测试被测透镜光轴处的透射率，不能测试其他不同部位的透射率，从而不能获知整个被测透镜的透射率分布情况。鉴于上述情况，专利技术人经过长期的研究和大量的实践，提供了一种透镜的透射率测试系统及方法以改善现有问题。本透镜的透射率测试系统及方法中，测试光通过光阑的通光孔到达被测透镜，通过控制光阑的通光孔对应被测透镜的位置，测试被测透镜不同的部位的透射率，结构简单，应用方便。下面将结合本专利技术实施例中附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。以下对在附图中提供的本专利技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本专利技术的范围，而是仅仅表示本专利技术的选定实施例。基于本专利技术的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。第一实施例图1示出了本专利技术实施例提供的透镜的透射率测试系统，该测试系统用于测试被测透镜的透射率，并且，主要用于测试凸透镜的透射率。如图1所示，该系统包括测试光发生装置110、光阑120、光阑控制装置121、积分球130、光谱测试装置140以及光谱分析装置150。其中，测试光发生装置110用于提供测试光，具体的，该测试光发生装置110提供的测试光为平行光。测试光发生装置110可以设置有光源，并且将光源产生的光处理为满足要求的测试光。光阑120为用来限制光束出射的装置，包括限制光束的出射位置。在本实施例中，光阑120设置于测试光发生装置110与积分球130之间，测试光发生装置110提供的测试光的出射方向朝向光阑120，即从测试光发生装置110出射的测试光照射到光阑120，图1中位于光阑120两侧的虚线为对测试光的简单图示。在本实施例中，光阑120包括遮光区域以及通光孔124，部分测试光被遮光区域遮挡，部分测试光穿过通光孔124，即通光孔124对应的测试光穿过通光孔124。并且，在本实施中，光阑120与积分球130之间用于放置被测透镜100，积分球130的入光孔131位于被测透镜100的焦点位置，从光阑120的通光孔124到达被测透镜并透过被测透镜的测试光进入该积分球130。测试光发生装置110、光阑120、被测透镜100以及积分球130在同一方向上依次设置。进一步的，在本实施例中，该光阑120的通光孔124为矩形，当然，优选的，如图2所示，光阑120的通光孔124为正方形。并且，通光孔124的边长小于被测透镜的直径，根据实际需要确定，优选的，通光孔124的边长w的范围可以是0.1mm至10mm。另外，该光阑120的遮光区域的外边缘为矩形，优选的，如图2所示，光阑120的遮光区域的外边缘为正方形，在图2中，阴影部分表示遮光区域。并且，再进一步的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种透镜的透射率测试系统，其特征在于，所述系统包括测试光发生装置、光阑、光阑控制装置、积分球、光谱测试装置以及光谱分析装置，所述测试光发生装置用于提供测试光，所述光阑设置于所述测试光发生装置与所述积分球之间，所述光阑与所述积分球之间用于放置被测透镜，所述积分球的入光孔位于所述被测透镜的焦点位置，所述光阑控制装置用于控制所述光阑的移动以使所述测试光透过所述光阑的通光孔到所述被测透镜预定位置，所述光谱测试装置设置于所述积分球的出光孔方向，用于对所述积分球的输出光进行光谱测试，所述光谱分析装置与所述光谱测试装置电连接，用于对所述光谱测试装置获得的光谱进行光谱分析。

【技术特征摘要】
1.一种透镜的透射率测试系统，其特征在于，所述系统包括
测试光发生装置、光阑、光阑控制装置、积分球、光谱测试装置以
及光谱分析装置，所述测试光发生装置用于提供测试光，所述光阑
设置于所述测试光发生装置与所述积分球之间，所述光阑与所述积
分球之间用于放置被测透镜，所述积分球的入光孔位于所述被测透
镜的焦点位置，所述光阑控制装置用于控制所述光阑的移动以使所
述测试光透过所述光阑的通光孔到所述被测透镜预定位置，所述光
谱测试装置设置于所述积分球的出光孔方向，用于对所述积分球的
输出光进行光谱测试，所述光谱分析装置与所述光谱测试装置电连
接，用于对所述光谱测试装置获得的光谱进行光谱分析。
2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述光谱测试
装置包括用于测试所述被测透镜的透过率的分光光度计。
3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述光阑为矩
形，所述光阑的通光孔为矩形。
4.根据权利要求3所述的系统，其特征在于，所述光阑的最
短边长大于所述被测透镜的直径的两倍。
5.根据权利要求3所述的系统，其特征在于，所述光阑的通
光孔为正方形，所述通光孔的边长范围为0.1mm至10mm。
6.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述测试光为
包括多个波长的光。
7.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述测试光...

【专利技术属性】
技术研发人员：马骅，任寰，张霖，杨一，石振东，原泉，马玉荣，陈波，杨晓瑜，柴立群，马可，刘旭，姜宏振，刘勇，李东，
申请(专利权)人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心，
类型：发明
国别省市：四川;51