The invention relates to a vertical high-temperature high-power silicon carbide epitaxial material manufacturing device, in particular to a vertical cold wall high temperature large power silicon carbide (SiC) epitaxial material manufacturing device based on a copper spiral tube radio-frequency heating. The device comprises a double-layer quartz epitaxial growth chamber, sample transfer chamber, sample delivery and support device, bellows regulator, inserted in the cut off valve, the double quartz epitaxial growth chamber, inserted in partition valve, sample transfer chamber, bellows regulator, as well as the sample transfer and the support frame are connected in a vertical axis; sample transfer and vertical axis support frame in common. The invention adopts the vertical structure of the double water-cooled quartz growth chamber with axial symmetry, easy to control the flow state, high heating efficiency, no glow phenomenon; also with strong scalability, by increasing the diameter of the quartz tube, can be epitaxially grown larger size or small size multi piece of silicon carbide (SiC) epitaxial materials.
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种竖直式高温大功率碳化硅外延材料制造装置,特别涉及一种基于铜螺旋管射频加热的竖直式冷壁高温大功率碳化硅(SiC)外延材料制造装置。
技术介绍
近年来由于科学技术的发展及军事、航天、雷达通讯、石油钻探、汽车工业等对耐高温、大功率工作和抗辐照电子器件的大量需求,以碳化硅(SiC)为代表的宽带隙半导体材料及其器件研究为人们所关注。碳化硅(SiC)是继硅(Si)及砷化镓(GaAs)传统半导体之后出现的第三代半导体,具有禁带宽(Si的3倍)、热导率高(Si的3.3倍)、击穿场强高(Si的10倍)、饱和电子漂移速率高(Si的2.5倍)、工作温度高(400~600℃)、键合能高以及极好的物理及化学稳定性等许多优良特性,使其在高温、大功率、抗辐照的器件应用方面有着得天独厚的潜力和优势。当前,国际上高温、大功率、抗辐照的性能好的半导体器件大部分都是用碳化硅(SiC)材料制作的。正是因为碳化硅所具备的优良特性和碳化硅器件所展示的巨大应用潜力及在国防应用上具有的特殊地位,国际上非常注重碳化硅材料与器件的研究开发,许多西方政府和公司都正在投巨资从事碳化硅的研发工作。碳化硅的研究工作包括从碳化硅(SiC)单晶的制备、外延材料(包括同质外延与异质外延)的生长、特性表征,到碳化硅各种高温、高频、大功率器件的研发。其中碳化硅外延生长,是实现碳化硅器件的关键技术和瓶颈。要制备碳化硅器件,需要高质量的器件结构外延材料,如良好的表面形貌、厚度的有效控制、掺杂的有效控制、良好的厚度及掺杂均匀性等。在有效的几种外延生长技术中,化学气相沉积(CVD)技术已成为优质碳化硅(SiC) ...
【技术保护点】
一种竖直式高温大功率碳化硅外延材料制造装置,包括双层石英外延生长室、样品交接室、样品传递与支撑装置、波纹管调节器、插板隔断阀,其中,样品传递与支撑架垂直设置,其上套设有波纹管调节器,样品传递与支撑架的下部通过法兰圈与波纹管调节器的下端口固接;波纹管调节器的上方又套设有样品交接室,波纹管调节器的上端口与样品交接室的下端口固接;样品交接室的上方又套设有插板隔断阀,样品交接室的上端口与插板隔断阀的下端口固接;插板隔断阀的上方再套设有双层石英外延生长室,插板隔断阀的上端口与双层石英外延生长室的下端口固接;样品传递与支撑架的上部位于双层石英外延生长室的容腔内,样品传递与支撑架的顶端位于双层石英外延生长室的容腔中心处;双层石英外延生长室内有石墨感应加热器,石墨感应加热器水平设置,其下表面中心与样品传递与支撑架的顶端相接;双层石英外延生长室外周圆中部围有一铜螺旋管加热线圈,铜螺旋管加热线圈与生长室外壁之间有一定间隙;其特征在于:双层石英外延生长室、插板隔断阀、样品交接室、波纹管调节器、以及样品传递与支撑架上下依次连接在一条垂直轴线上;样品传递与支撑架位于共同垂直轴线上。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:孙国胜,王雷,赵万顺,曾一平,李晋闽,
申请(专利权)人:中国科学院半导体研究所,
类型:发明
国别省市:11[中国|北京]
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