温度稳定型高介电常数陶瓷介质材料及其制造方法技术

本发明专利技术温度稳定型高介电常数陶瓷介质材料及其制造方法属于电子功能材料技术领域。本发明专利技术材料的主料成分为ＢａＴｉＯ↓［３］，改性添加剂为氧化铌和氧化镁及ＢａＣＯ↓［３］和自制玻璃，自制玻璃成分为ＭｎＯ↓［２］、Ｂ↓［２］Ｏ↓［３］、Ｂｉ↓［２］Ｏ↓［３］、ＳｉＯ↓［２］。制备工艺为固相合成法。利用本发明专利技术的配方和工艺可以获得性能优良的Ｘ８Ｒ型陶瓷材料，具有较低的合成及烧成温度。材料的室温介电常数１５００，损耗≤０．８％，容量温度变化率≤±１５％（－５５℃～＋１５０℃），电阻率＞１０↑［１２］Ω.ｃｍ，击穿电压＞１１ＫＶ／ｍｍ。烧结温度≤１２５０℃。

Temperature stabilizing type high dielectric constant ceramic dielectric material and manufacturing method thereof

The invention relates to a temperature stable high dielectric constant ceramic dielectric material and a manufacturing method thereof, belonging to the technical field of electronic functional materials. The main components of the material of the invention is BaTiO: 3, modified additives for niobium oxide and Magnesium Oxide and BaCO down 3 and made of glass, made glass composition of MnO: 2, B: 2 O: 3, Bi: 2 O: 3, SiO: 2. The preparation process is solid phase synthesis. The X8R type ceramic material with excellent properties can be obtained by using the formula and the process of the invention, and has a low synthesis and burning temperature. The material of the dielectric constant at room temperature 1500, loss is less than 0.8%, the capacity of the temperature change rate less than 15% (- 55 DEG C to + 150 C), 12 increase in resistivity > 10 ohm.Cm, breakdown voltage higher than 11KV / mm. The sintering temperature are less than 1250.

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种应用于电子元器件的陶瓷材料及其制造方法，更具体地说，是一种功能陶瓷材料及其制造方法。
技术介绍
在电子工业日新月异飞速发展的今天，电子信息技术的集成化和微型化发展趋势，正推动电子信息产品日益向薄型化、小型化、数字化、多功能化，以及高可靠和低成本的方向发展。陶瓷介质电容器以其体积小、性能优良、价格低廉的特点，在电容器行业始终占据主导地位。而多层陶瓷电容器(MLC)更具有体积小、比容大、可靠性高、内部电感小、高频特性好等优点。尤其凭借其易于片式化的结构优势，迅速成为片式电容器的主导品种。随着表面贴装技术(SMT)的兴起，MLC芯片演变为片式多层陶瓷电容器(MLCC)而直接贴装于PCB板，极大地提高了电路和功能组件的高频特性。片式多层陶瓷电容器所采用的介质陶瓷材料对其性能有着至关重要的决定作用。另一方面，利用介质陶瓷材料的低损耗、高介电常数、频率温度系数和热膨胀系数小、可承受高功率等特点设计制作EMI介质滤波器是介质陶瓷材料在电子领域的又一应用。人类生活在特定的电磁环境中，任何地方均存在电磁干扰。对工业、民用的大部分电力、电子设备而言，雷电是主要的电磁波干扰源；而人为干扰源就来源于那些平均工作频率都在10kHz到1GHz之间的微细半导体元件上，故称为电流磁场干扰(EMI)。滤波器是抗电磁干扰最有效的办法之一。利用介质陶瓷材料制作的EMI介质滤波器，由数个1/4波长型谐振器纵向多级串联或并联的梯形线路构成。其显著特点是插入损耗小、耐功率性好、带宽窄，特别适合便携电话、汽车电话、无线电台、无绳电话以及一体化收发双工器等的级向耦合滤波。目前大多数的片式多层陶瓷电容器和EMI滤波器适用的电容器其电介质采用X7R陶瓷配方。但是此种材料容量温度特性具有一定的局限性，在-55~+125℃温区内容量变化率小于±15％，超过+125℃则无法提供稳定的介电性能。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种温度稳定型(X8R)高介电常数的陶瓷介质材料及其制备方法。该陶瓷材料介电性能优异，在具有高介电常数、低介电损耗的同时具有优良的热稳定性能，制备介质陶瓷粉料的原料价格低廉，并且烧结可以在中温进行，因而制备成本较低。本专利技术温度稳定型高介陶瓷材料成分为钛酸钡，添加剂为氧化铌、氧化镁及BaCO3和自制玻璃，自制玻璃成分为MnO2、B2O3、Bi2O3、SiO2。所说的各材料的配方为(以摩尔计)BaTiO3+a Nb2O5+b MgO+c BaCO3+d G其中G代表自制玻璃，且0.1≤a≤3，0.1≤b≤2，1≤c≤1.5，1≤d≤1.5；玻璃G为e MnO2+fB2O3+g Bi2O3+h SiO2其中8≤e≤17，21≤f≤25，11≤g≤18，46≤h≤57。本专利技术配方中主料BaTiO3所占的摩尔数为94-97％；添加剂的用量占材料摩尔数总量的3-6％。本专利技术温度稳定型高介陶瓷材料的制造方法以MnO2、B2O3、Bi2O3、SiO2为原料按照上述自制玻璃配方的比例混合，进行熔融、淬冷、球磨、烘干、造粒得到自制玻璃，熔融是以5～6℃/分的升温速率升至750～950℃保温1～5小时；再以BaTiO3、氧化铌和氧化镁及BaCO3和自制玻璃为原料按照上述的温度稳定型高介陶瓷材料配方所述比例混合，进行球磨、烘干、造粒、压制成型、进行烧结得到陶瓷材料，烧结是以3℃/分的升温速率升至500～550℃后，再以5～6℃/分的升温速率升至1150～1250℃保温1～10小时。本专利技术提供一种温度稳定型(X8R)高介电常数的陶瓷介质材料及其制备方法。该陶瓷介质材料的介电常数1500以上，损耗小(≤0.8％)，突出特点是容量温度稳定性高，符合X8R特性要求。利用本专利技术的配方和工艺可以获得性能优良的X8R型陶瓷材料，具有较低的合成及烧成温度。材料的室温介电常数1500，损耗≤0.8％，容量温度变化率≤±15％(-55℃～+150℃)，电阻率＞1012Ω·cm，击穿电压＞11KV/mm。烧结温度≤1250℃。在我国，介质陶瓷正在不断的发展之中。本专利技术所提供的陶瓷材料及制造方法是一种新型的陶瓷材料系统，在具有高介电常数、低介电损耗的同时，具有优良的热稳定性能，同时原料价格低廉，并且烧结可以在中温进行，有良好的市场前景，可以作为同类材料的换代产品。附图说明图1为实施例1在1230℃烧结的样品的介电常数随环境温度变化的规律，图2为实施例2在1230℃烧结的样品的介电常数随环境温度变化的规律，图3为球磨10小时的样品的介电常数随环境温度变化的曲线。具体实施例方式下面结合实施例对本专利技术做进一步描述。实施例1以分析纯MnO2、B2O3、Bi2O3、SiO2为原料按照MnO29g、B2O322g、Bi2O313g、SiO256g的比例混合，进行熔融，即以6℃/分的升温速率升至860℃保温3小时，然后淬冷，用ZrO2球加去离子水球磨15小时，用电热干燥箱在120℃烘干后过40目筛，得到自制玻璃；再以BaTiO3、氧化铌和氧化镁及BaCO3和自制玻璃为原料按照BaTiO396g、Nb2O51.7g、MgO0.6g、BaCO31.1g、玻璃0.6g的比例混合，用ZrO2球加去离子水球磨10小时，用电热干燥箱在120℃烘干后加石蜡过80目筛，在80MPa压强下压制成直径约20mm，厚度约1mm的圆片状生坯，再进行烧结，即以3℃/分的升温速率升至500℃后，再以6℃/分的升温速率升至1150～1250℃保温6小时。烧结后的样品烧渗银电极，焊接引线，制成圆片电容器。然后测试并计算介质的相对介电常数ε、损耗角正切tanδ、介电常数温度系数αε、电阻率ρv，击穿电压Ub。表1给出了在不同烧结温度下制备样品的主要性能参数的测量结果。图1为1230℃烧结的样品的介电常数随环境温度变化的规律。表1样品的介电性能与烧结温度的关系 实施例2以分析纯MnO2、B2O3、Bi2O3、SiO2为原料按照MnO29g、B2O323g、Bi2O310g、SiO258g的比例混合，进行熔融，即以6℃/分的升温速率升至860℃保温3小时，然后淬冷，用ZrO2球加去离子水球磨15小时，用电热干燥箱在120℃烘干后过40目筛，得到自制玻璃；再以BaTiO3、氧化铌和氧化镁及BaCO3和自制玻璃为原料按照BaTiO396g、Nb2O51.7g、MgO0.6g、BaCO31.5g、玻璃0.2g的比例混合，用ZrO2球加去离子水球磨10小时，用电热干燥箱在120℃烘干后加石蜡过80目筛，在80MPa压强下压制成直径约20mm，厚度约1mm的圆片状生坯，再进行烧结，即以3℃/分的升温速率升至500℃后，再以6℃/分的升温速率升至1150～1250℃保温6小时。烧结后的样品烧渗银电极，焊接引线，制成圆片电容器。然后测试并计算介质的相对介电常数ε、损耗角正切tanδ、介电常数温度系数αε、电阻率ρv，击穿电压Ub。表2给出了在不同烧结温度下制备样品的主要性能参数的测量结果。图2给出了样品的介电常数随环境温度变化的规律。表2样品的介电性能与烧结温度的关系 实施例3以分析纯MnO2、B2O3、Bi2O3、SiO2为原料按照MnO29g、B2O322g、Bi2O313g、Si本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种温度稳定型高介电常数陶瓷介质材料，其特征在于，所述材料成分为钛酸钡，添加剂为氧化铌、氧化镁及ＢａＣＯ↓［３］和自制玻璃，所述自制玻璃成分为ＭｎＯ↓［２］、Ｂ↓［２］Ｏ↓［３］、Ｂｉ↓［２］Ｏ↓［３］、ＳｉＯ↓［２］，所述介质材料的配方为（以摩尔计）：［１００－（ａ＋ｂ＋ｃ＋ｄ）］ＢａＴｉＯ↓［３］＋ａＮｂ↓［２］Ｏ↓［５］＋ｂＭｇＯ＋ｃＢａＣＯ↓［３］＋ｄＧ其中Ｇ代表自制玻璃，且０．１≤ａ≤３，０．１≤ｂ≤２，１≤ｃ≤１．５，１≤ｄ≤１．５；自制玻 璃Ｇ为：ｅＭｎＯ↓［２］＋ｆＢ↓［２］Ｏ↓［３］＋ｇＢｉ↓［２］Ｏ↓［３］＋ｈＳｉＯ↓［２］其中８≤ｅ≤１７，２１≤ｆ≤２５，１１≤ｇ≤１８，４６≤ｈ≤５７。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：吴顺华，苏皓，王国庆，李媛，王爽，杨浩，
申请(专利权)人：天津大学，
类型：发明
国别省市：12[中国|天津]