电路探测系统及其电路探测装置制造方法及图纸

本发明专利技术揭露一种电路探测系统及其电路探测装置。电路探测装置包含一探针卡与一保护罩。探针卡具有一探针区、一开孔与一第一磁吸件。第一磁吸件位于开孔内。保护罩包含一第二磁吸件。当保护罩覆盖探针区，且第二磁吸件插入开孔时，通过第二磁吸件与第一磁吸件相互吸引，保护罩固定于探针卡上。如此。能减少探针卡的探针区受损的机会，以免影响探针卡的电气性能与测试结果。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术有关于一种电路探测装置与系统，尤指一种能够覆盖其探针区的电路探测装置与系统。
技术介绍
传统半导体与光电产品(如发光二极管、液晶显示器、等离子显示面板)的制造过程中皆包含一品质测试程序。此品质测试程序为通过探针卡的探针电性接触测试电路的金属垫，以便量测此测试电路的连线可靠度和导通性，以便快速地判读或修正造成电路缺陷的参数，进而提升制程良率(yield)。然而，在操作人员取放探针卡时，常导致误触探针卡表面的探针，进而损坏探针卡表面的探针，而影响探针卡的电气性能与测试结果。为此，若能提供一种解决方案的设计，可解决上述需求，让业者于竞争中脱颖而出，即成为亟待解决的一重要课题。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术的一目的在于提供一种电路探测系统及其电路探测装置，用以解决以上先前技术所提到的困难。为了达到上述目的，依据本专利技术的一实施方式，此种电路探测装置，包含一探针卡与一保护罩。探针卡具有一探针区、至少一开孔与至少一第一磁吸件。第一磁吸件位于开孔内。保护罩具有至少一第二磁吸件。故，当保护罩覆盖探针区，且第二磁吸件插入开孔时，透过第二磁吸件与第一磁吸件相互吸引，保护罩固定于探针卡上。如此，透过此电路探测装置，本实施方式得以减少探针卡的探针区受损的机会，以免影响探针卡的电气性能与测试结果。在上述实施方式的基础下，一个细部实施方式更提到，第二磁吸件呈柱状，且连接保护罩的一面。在上述实施方式的基础下，一个细部实施方式更提到，第二磁吸件包含一柱状体与一磁性块，且磁性块位于柱状体的末端。在上述实施方式的基础下，一个细部实施方式更提到，第一磁吸件与该第二磁吸件分别为金属与磁铁；或者该第一磁吸件与该第二磁吸件分别为磁铁。在上述实施方式的基础下，一个细部实施方式更提到，开孔具有一柱状通道，柱状通道具有一长轴方向，且第二磁吸件沿此长轴方向进入柱状通道内。在上述实施方式的基础下，一个细部实施方式更提到，开孔具有一柱状通道与一开口周缘。开口周缘连接且围绕柱状通道，开口周缘包含一引导斜面，引导斜面用以引导第二磁吸件移入柱状通道内。在上述实施方式的基础下，一个细部实施方式更提到，探针卡还具有至少一荧光层。荧光层连接开孔，且荧光层具有荧光色。在上述实施方式的基础下，一个细部实施方式更提到，保护罩还具有至少一荧光层，荧光层位于第二磁吸件上，且荧光层具有荧光色。在上述实施方式的基础下，一个细部实施方式更提到，保护罩包含一圆弧面与一接合面，接合面的周缘连接圆弧面的周缘，且第二磁吸件位于接合面上。如此，当保护罩覆盖探针区时，接合面接触探针卡。在上述实施方式的基础下，一个细部实施方式更提到，保护罩还包含一握持部。握持部相对第二磁吸件设置，以供透过握持部将保护罩脱离探针卡。依据本专利技术的另一实施方式，此种电路探测系统包含如上述的电路探测装置、一取物装置与一传动装置。取物装置用以透过移动握持部，将保护罩沿一第二方向脱离探针卡，第二方向与第一方向相反。传动装置电性连接取物装置，用以带动取物装置运动。如此，透过自动化机械取下保护罩，本实施方式的电路探测系统得以降低，甚至省略，操作人员以人力移除保护罩的机会，不仅降低操作人员触摸到探针区的机会，更可让移除保护罩的步骤整合至整体测试程序中，进而加速整体测试流程。在上述实施方式的基础下，一个细部实施方式更提到，握持部包含一颈部与一握把头。握把头连接颈部，且握把头的直径大于颈部的直径。在上述实施方式的基础下，一个细部实施方式更提到，取物装置包含一取物模块。取物模块包含一装置主体与一U形叉件。U形叉件连接装置主体，用以伸至颈部并抵靠握把头。在上述实施方式的基础下，一个细部实施方式更提到，取物模块还包含一吸附头，吸附头可升降地连接装置主体，并与U形叉件之间间隔出一可调式间隙。当取物装置移动握持部时，握把头位于可调式间隙内、吸附头与U形叉件夹持握把头，且吸附头吸附至握把头背对颈部的一面。在上述实施方式的基础下，一个细部实施方式更提到，取物装置还包含一升降引导模块与一平移引导模块。取物模块可升降地接合于升降引导模块上，升降引导模块可平移地接合于平移引导模块上。以上所述仅是用以阐述本专利技术所欲解决的问题、解决问题的技术手段、及其产生的功效等等，本专利技术的具体细节将在下文的实施方式及相关附图中详细介绍。附图说明为让本专利技术的上述和其他目的、特征、优点与实施例能更明显易懂，所附附图的说明如下：图1绘示依照本专利技术第一实施方式的电路探测装置的探针卡与保护罩的分解图；图2绘示图1的探针卡的上视图；图3绘示图2沿线段A-A的剖视图；图4绘示本专利技术第二实施方式的保护罩的第二磁吸件的示意图；图5A至图5B绘示依照本专利技术第三实施方式的电路探测系统的操作示意图；以及图6A至图6B绘示依照本专利技术第四实施方式的电路探测系统的操作示意图。具体实施方式以下将以附图揭露本专利技术的多个实施方式，为明确说明起见，许多实务上的细节将在以下叙述中一并说明。然而，应了解到，这些实务上的细节不应用以限制本专利技术。也就是说，在本专利技术部分实施方式中，这些实务上的细节是非必要的。此外，为简化附图起见，一些已知惯用的结构与元件在附图中将以简单示意的方式绘示。第一实施方式图1绘示依照本专利技术第一实施方式的电路探测装置10的探针卡100与保护罩200的分解图。图2绘示图1的探针卡100的上视图。如图1与图2所示，电路探测装置10包含一探针卡100与一保护罩200。探针卡100包含一基板本体110、一探针区130与多数个第一磁吸件140。基板本体110具有相对的正面111与反面112。探针区130设置于基板本体110的正面111。基板本体110的正面111上还形成有多数个开孔120。每一第一磁吸件140固定于其中一开孔120内，且连接基板本体110。保护罩200可移除地固定于探针卡100上。保护罩200包含一罩体210与多数个第二磁吸件220。这些第二磁吸件220分布于罩体210上。当保护罩200覆盖基板本体110的正面111以遮蔽探针区130时，由于这些第二磁吸件220分别插入对应的开孔120，且第二磁吸件220与第一磁吸件140相互吸引，故，保护罩200固定于探针卡100上。如此，透过保护罩200固定地遮蔽探针区130，本实施方式的电路探测装置10得以降低探针卡100受到损坏的机会，进而避免影响探针卡100的电气性能与测试结果。具体来说，罩体210呈半球状，包含一圆弧面211与一接合面212。接合面212的周缘连接圆弧面211的周缘，且这些第二磁吸件220分别位于接合面212上。如此，在保护罩200组合至探针卡100上，且接合面212实体接触基板本体110的正面111时，由于保护罩200的圆弧面211具有一定弧度，若保护罩200受到外物撞击，圆弧面211得以有效转移外物的撞击力道，以降低外物损坏保护罩200与探针卡100的机会。罩体210不限为一金属罩或一透明塑胶罩。然而，本专利技术不限于保护罩的外型与材料。此外，在保护罩200覆盖基板本体110的正面111时，由于这些第二磁吸件220于接合面212上示意出一正多边形(例如为三角形)，使得保护罩200固定于探针卡100上的力量得以更加均匀。需了解到，在本实施方式中，只要能保护探针区130的这些探针不致本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电路探测装置，其特征在于，包含：一探针卡，具有一探针区、至少一开孔与至少一第一磁吸件，该第一磁吸件位于该开孔内；以及一保护罩，具有至少一第二磁吸件，其中，当该保护罩覆盖该探针区，且该第二磁吸件插入该开孔时，透过该第二磁吸件与该第一磁吸件相互吸引，该保护罩固定于该探针卡上。

【技术特征摘要】
2015.08.10 TW 1041259971.一种电路探测装置，其特征在于，包含：一探针卡，具有一探针区、至少一开孔与至少一第一磁吸件，该第一磁吸件位于该开孔内；以及一保护罩，具有至少一第二磁吸件，其中，当该保护罩覆盖该探针区，且该第二磁吸件插入该开孔时，透过该第二磁吸件与该第一磁吸件相互吸引，该保护罩固定于该探针卡上。2.根据权利要求1所述的电路探测装置，其特征在于，该第二磁吸件包含一柱状体与一磁性块，且该磁性块位于该柱状体的末端。3.根据权利要求1所述的电路探测装置，其特征在于，该第二磁吸件呈柱状，且连接该保护罩的一面。4.根据权利要求1所述的电路探测装置，其特征在于，该第一磁吸件与该第二磁吸件分别为金属与磁铁；或者该第一磁吸件与该第二磁吸件分别为磁铁。5.根据权利要求1所述的电路探测装置，其特征在于，该开孔具有一柱状通道，该柱状通道具有一长轴方向，其中该第二磁吸件沿该长轴方向进入该柱状通道内。6.根据权利要求1所述的电路探测装置，其特征在于，该开孔具有一柱状通道与一开口周缘，该开口周缘连接且围绕该柱状通道，其中该开口周缘包含一引导斜面，该引导斜面用以引导该第二磁吸件移入该柱状通道内。7.根据权利要求1所述的电路探测装置，其特征在于，该探针卡还具有至少一荧光层，该荧光层连接该开孔，其中该荧光层具有荧光色。8.根据权利要求1所述的电路探测装置，其特征在于，该保护罩还具有至少一荧光层，该荧光层位于该第二磁吸件上，其中该荧光层具有荧光色。9.根据权利要求1所述的电路探测装置，其特征在于，该保护罩包含一圆弧面与一接合面，该接合面的周缘连接该圆弧面的周缘，且该第二磁吸件位于该接合面上，其中，当该保护罩覆盖该探针区时，该接合面接触该探针卡。10.根据权利要求1所述的电路探测装置，其特征在于，该保护罩还包含一握持部，该握持部相对该第二磁吸件设置，以供透过该握持部将该保护罩脱离该探针卡。11.一种电路探测系统，其特征在于，包...

【专利技术属性】
技术研发人员：廖致傑，孙育民，程志丰，
申请(专利权)人：创意电子股份有限公司，台湾积体电路制造股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71