带存储单元的集成芯片复测方法技术
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及集成电路芯片测试领域，特别是涉及一种带存储单元的集成芯片复测方法。
技术介绍
在现在的应用中，因测试环境影响及存储单元数据保存功能的不可重复测试性，对测试流程的可复测性提出了更高的要求。环境影响包括：针卡问题、测试板问题、甚至设备问题。环境影响可导致测试中断、数据误判；同时测试中断、数据误判在复测时可能导致芯片所带存储单元内的数据改变，影响对芯片数据保存功能判断。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是提供一种带存储单元的集成芯片复测方法，能够保证测试结果的准确性并节省复测时间。为解决上述技术问题，本专利技术的带存储单元的集成芯片复测方法是采用如下技术方案实现的：在每个关键节点对存储单元写入标志位，用于标记该节点测试项的通过或失效；读取每个关键节点的标志位，决定是否进行该节点测项测试及之后测试内容。采用本专利技术的方法，可以在任一测试项中断、数据误判时进行复测，得到与初测相同的测试结果并最大限度节省复测试时间。本专利技术可用于多个测试流程间的反复复测，保证不影响测试结果。附图说明下面结合附图与具体实施方式对本专利技术作进一步详细的说明：图1是所述带存储单元的集成芯片复测方法一实施例流程图。具体实施方式结合图1所示，所述带存储单元的集成芯片复测方法在下面的实施例中，具体实施过程如下：芯片存储单元背景为全0；设置一测试通过标记(地址1)，用于判断芯片是否完全通过测试；设置一数据保存标记(地址2)，用于判断是否进行过数据保存功能测试；设置一数据保存测试标记(地址3)，用于判断芯片是否通过数据保存功能测试；包括如下步骤：步骤一，读取地址1处测试通过...
【技术保护点】
一种带存储单元的集成芯片的复测方法，其特征在于：在每个关键节点对存储单元写入标志位，用于标记该节点测试项的通过或失效；读取每个关键节点的标志位，决定是否进行该节点测项测试及之后测试内容。
【技术特征摘要】
1.一种带存储单元的集成芯片的复测方法，其特征在于：在每个关键节点对存储单元写入标志位，用于标记该节点测试项的通过或失效；读取每个关键节点的标志位，决定是否进行该节点测项测试及之后测试内容。2.如权利要求1所述的方法...
【专利技术属性】
技术研发人员：邓俊萍，
申请(专利权)人：上海华虹集成电路有限责任公司，
类型：发明
国别省市：上海;31
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