一种通用LCM测试平台制造技术
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及LCM测试领域，尤其涉及一种通用LCM测试平台。
技术介绍
LCM（液晶显示屏模组）在生产过程中，需要对其进行电性能测试，区分出良品与不良品。随着产品越来越高端，表现在以下几个方面：（1）分辨率的提升；（2）接口类型发生变化；（3）数据传输速度提升。由于这些因素，之前的测试平台已经无能为力。因此，现有技术存在缺陷，需要改进。
技术实现思路
本技术的目的是克服现有技术的不足，提供一种通用LCM测试平台。本技术的技术方案如下：一种通用LCM测试平台，包括中央处理单元、NORFLASH存储器、NANDFLASH存储器、SDRAM存储器、BUFFER缓冲器、外界接口、PC机、LCM接口；所述中央处理单元分别与NORFLASH存储器、NANDFLASH存储器、SDRAM存储器、BUFFER缓冲器连接，PC机通过外界接口与中央处理单元通信连接。较佳地，中央处理单元为ARM9芯片。较佳地，ARM9芯片型号为S3C2410。较佳地，外界接口包括JTAG、UART、及USB。较佳地，所述LCM接口包括LCMMCU接口与LCMRGB接口，LCMMCU接口、LCMRGB接口各经一BUFFER缓冲器与中央处理单元相连。有益效果：之前的51单片机测试平台，受到速度，内存扩展各方面的限制，无法测试新型产品，本技术的测试平台采用ARM9架构芯片，设有LCMMCU接口与LCMRGB接口，可以测试的产品分辨率可以达到540*960点阵，刷新速度可以稳定在60Hz，直接推动产品与市场接轨。附图说明图1为本技术的结构示意图。具体实施方式以下结合附图和具体实施例，对本技术进行详细说明。参照图...
【技术保护点】
一种通用LCM测试平台，其特征在于，包括中央处理单元、NOR FLASH存储器、NAND FLASH存储器、SDRAM存储器、BUFFER缓冲器、外界接口、PC机、LCM接口、MIPI桥接芯片、MIPI接口；所述中央处理单元分别与NOR FLASH存储器、NAND FLASH存储器、SDRAM存储器、BUFFER缓冲器连接，PC机通过外界接口与中央处理单元通信连接。
【技术特征摘要】
1.一种通用LCM测试平台，其特征在于，包括中央处理单元、NORFLASH存储器、NANDFLASH存储器、SDRAM存储器、BUFFER缓冲器、外界接口、PC机、LCM接口、MIPI桥接芯片、MIPI接口；所述中央处理单元分别与NORFLASH存储器、NANDFLASH存储器、SDRAM存储器、BUFFER缓冲器连接，PC机通过外界接口与中央处理单元通信连接。2.根据权利要求1所述的通用LCM测试平台，其特征...
【专利技术属性】
技术研发人员：向宝杰，吴长伟，
申请(专利权)人：深圳市科莱电子股份有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44
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