测定方法以及测定系统技术方案

一种用于对被测定物的物质量进行测定的测定方法。包含：保持工序，在具有相互对置的一对主面且具有贯通两主面的多个空隙部的空隙配置构造体，通过使包含所述被测定物的试样流体通过，来保持所述被测定物；计时工序，对从所述保持工序开始时刻或者所述保持工序开始起经过了规定时间的时刻，到所述空隙配置构造体的特性值达到规定的阈值的时刻为止的经过时间进行测量；和定量工序，将所述经过时间换算为所述被测定物的所述物质量。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及用于对被测定物的特性进行测定的测定方法以及测定系统。
技术介绍
作为用于对被测定物的特性进行测定的测定方法，已知如下方法：在空隙配置构造体(例如金属网格)保持被测定物，对该被测定物的存在所导致的空隙配置构造体的各种特性变化进行解析来测定被测定物的特性(物质量等)。例如，专利文献1(国际公开第2014/017430号)中公开了如下方法：在具有空隙部的空隙配置构造体保持有被测定物的状态下，向空隙配置构造体照射电磁波，通过对透过了空隙配置构造体的电磁波进行检测，来基于被测定物的存在导致的透过率的频率特性的变化，对被测定物的特性进行测定。在先技术文献专利文献专利文献1：国际公开第2014/017430号
技术实现思路
-专利技术要解决的课题-在专利文献1中公开的测定方法中，例如，在试样(试样流体)间的被测定物的浓度变化较大的情况下，针对全部试样，通过相同的方法，在一定时间内通过空隙配置构造体来过滤试样，在过滤后对保持有被测定物的空隙配置构造体的特性进行测定，在被测定物的浓度小于定量下限的情况、超过定量上限的情况下，不能得到正确的测定值。因此，在现有的测定方法中，在试样间的被测定物的浓度变化等被测定物的特性变化较大的情况下，存在不能对全部试样实施高灵敏度的测定的问题。另外，在被测定物的浓度小于定量下限的情况下，也考虑延长过滤试样的时间，增加空隙配置构造体中保持的被测定物的量来再次实施测定。此外，在被测定物的浓度超过定量上限的情况下，也考虑通过缩短时间并再次过滤试样，从而减少空隙配置构造体中保持的被测定物的量来再次实施测定。但是，在任何情况下，都存在整体的测定所需的工序以及时间变多、不能高效地进行被测定物的特性测定的问题。本专利技术鉴于上述课题，其目的在于，提供一种即使在试样间的被测定物的浓度变化等被测定物的特性变化较大的情况下，也能够实施高灵敏度并且高效率的测定的测定方法以及测定系统。-解决课题的手段-本专利技术是一种测定方法，用于测定被测定物的物质量，其特征在于，包含：保持工序，在具有相互对置的一对主面且具有贯通两主面的多个空隙部的空隙配置构造体，通过使包含所述被测定物的试样流体通过，来保持所述被测定物；计时工序，对从所述保持工序开始时刻或者所述保持工序开始起经过了规定时间的时刻，到所述空隙配置构造体的特性值达到规定的阈值的时刻为止的经过时间进行测量；和定量工序，将所述经过时间换算为所述被测定物的所述物质量。优选在所述保持工序的中途，基于所述空隙配置构造体的所述特性值，将所述试样流体的流速最佳化。优选所述特性值是与照射电磁波时的所述空隙配置构造体的频率特性有关的参数。优选所述特性值是通过所述空隙配置构造体的所述试样流体的速度、流量、或者所述试样流体通过所述空隙配置构造体时的压力损耗的任意一个以上。此外，本专利技术涉及一种测定系统，用于测定被测定物的特性，其特征在于，具备：空隙配置构造体，具有相互对置的一对主面，并具有贯通两主面的多个空隙部；吸排气机构，使包含所述被测定物的试样流体通过所述空隙配置构造体；检测机构，在所述试样流体的通过中，检测保持有所述被测定物的所述空隙配置构造体的特性值；时间测量机构，对所述试样流体的空隙配置构造体通过开始后的一时刻起的经过时间进行测量；和定量机构，将所述特性值达到规定的阈值的时刻的所述经过时间换算为所述被测定物的物质量。-专利技术效果-根据本专利技术，提供一种即使在试样间的被测定物的浓度变化等被测定物的特性变化较大的情况下也能够实施高灵敏度并且高效率的测定的测定方法以及测定系统。附图说明图1是表示本专利技术的测定方法的顺序的流程图。图2是表示实施方式1的测定方法的顺序的流程图。图3是用于对实施方式1中使用的测定系统进行说明的示意图。图4是图3的局部放大图。图5是用于对实施方式1中使用的空隙配置构造体的一个例子进行说明的示意图。图6是表示实施方式1中的1次校准曲线的一个例子的图。图7是表示实施方式1中的2次校准曲线的一个例子的图。图8是表示实施方式2的测定方法的顺序的流程图。图9是表示实施方式3的测定方法的顺序的流程图。图10是用于对实施方式3中使用的测定系统进行说明的示意图。具体实施方式参照附图来对本专利技术的实施方式进行说明。另外，对于图中的相同或者相当部分，付与相同符号且不重复其说明。参照图1所示的流程图，对本专利技术的测定方法进行说明。首先，在从试样流体向空隙配置构造体流入的开始时刻或者试样流体流入开始起经过了规定的时间的时刻(S1)起到流入结束(S4)为止的期间(保持工序)的至少一定时间，连续检测空隙配置构造体的特性值(S2)。按照每次该特性值的检测，对特性值与规定的阈值进行比较(S3)，若特性值小于阈值，则反复进行特性值的检测(S2)(检测工序)。在特性值为阈值以上时(达到阈值时)，结束被测定物的保持(S4)，测量从被测定物的保持开始(S1)起的经过时间(S5)。另外，使试样向空隙配置构造体的流入结束的操作(S4)不是必须在该阶段进行。最后，将经过时间换算为被测定物的物质量(S6：定量工序)，从而结束测定。另外，所谓从试样流体流入开始经过了规定的时间的时刻，例如举例有与试样流体流入开始时刻相比，空隙配置构造体的特性值开始产生变化的时刻等。作为在本专利技术中测定的“被测定物的物质量”，例如举例有流体(气体、液体等)试样中的被测定物的浓度或含量。作为在本专利技术中被检测的空隙配置构造体的“特性值”，虽并不特别限定，但例如举例有与照射电磁波时的空隙配置构造体的频率特性有关的参数。作为该参数，例如举例有：空隙配置构造体中前向散射(透过)的电磁波的频率特性中产生的波谷波形的极小值的频率、后向散射(反射)的电磁波的频率特性中产生的波峰波形的极大值的频率、特定的频率下电磁波的透过率或反射率、或者其变化量(变化率)。另外，所谓波谷波形，是指在检测到的电磁波相对于照射的电磁波的比率(例如，电磁波的透过率)相对变大的频率范围，空隙配置构造体的频率特性(例如，透过率谱)中被局部观察到的谷型(向下凸)的部分的波形。此外，所谓波峰波形，是指在检测到的电磁波相对于照射的电磁波的比率(例如，电磁波的反射率)相对变小的频率范围，空隙配置构造体的频率特性(例如，反射率谱)中被局部观察到的山型(向上凸)的波形。频率特性的检测中使用的电磁波例如是能够根据空隙配置构造体的构造而产生散射的电磁波，具体而言，举例有：电波、红外线、可见光线、紫外线、X射线、γ射线等。从测定系统中使用的装置的小型化等观点来看，优选使用可见光或者红外线。此外，为了以高灵敏度测定微量的被测定物，优选使用具有1GHz～1PHz的频率的电磁波，更优选使用具有20GHz～200THz的频率的太赫兹波。使用这样的电磁波，通过太赫兹时间区域分光法(THz-TDS)、傅立叶变换红外分光法(FT-IR)等，能够检测空隙配置构造体的频率特性。此外，作为空隙配置构造体的其他特性值，例如举例有：通过空隙配置构造体的试样流体的速度、或者试样流体的流量、或者试样流体通过空隙配置构造体时的压力损耗。在与特性值的测定位置处的流体的行进方向垂直的剖面积清楚明了的情况下，流体的速度与流量成正比，因此只要检测试样流体的速度或者流量的任意一者，就能够通过计算来求出另一者。在本专利技术中，在本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测定方法，用于测定被测定物的物质量，其特征在于，包含：保持工序，在具有相互对置的一对主面且具有贯通两主面的多个空隙部的空隙配置构造体，通过使包含所述被测定物的试样流体通过，来保持所述被测定物；计时工序，对从所述保持工序开始时刻或者所述保持工序开始起经过了规定时间的时刻，到所述空隙配置构造体的特性值达到规定的阈值的时刻为止的经过时间进行测量；和定量工序，将所述经过时间换算为所述被测定物的所述物质量。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2014.06.03 JP 2014-1148091.一种测定方法，用于测定被测定物的物质量，其特征在于，包含：保持工序，在具有相互对置的一对主面且具有贯通两主面的多个空隙部的空隙配置构造体，通过使包含所述被测定物的试样流体通过，来保持所述被测定物；计时工序，对从所述保持工序开始时刻或者所述保持工序开始起经过了规定时间的时刻，到所述空隙配置构造体的特性值达到规定的阈值的时刻为止的经过时间进行测量；和定量工序，将所述经过时间换算为所述被测定物的所述物质量。2.根据权利要求1所述的测定方法，其中，在所述保持工序的中途，基于所述空隙配置构造体的所述特性值，将所述试样流体的流速最佳化。3.根据权利要求1或者2所述的测定方法，其中，所述特...

【专利技术属性】
技术研发人员：近藤孝志，神波诚治，河原直树，清水尚，
申请(专利权)人：株式会社村田制作所，
类型：发明
国别省市：日本;JP