用于运行成像的定位设备的方法以及成像的定位设备技术

技术编号:14754295 阅读:148 留言:0更新日期:2017-03-02 12:11
本发明专利技术基于用于运行成像的定位设备(10、10’)的方法,在该方法中,通过定位被隐藏在研究表面(34)下的定位对象(36),产生至少二维的图片信息(20)。所建议的是,在使用定位设备(10、10’)的评估装置(30)的情况下,从借助于所述定位设备(10、10’)的定位装置(38)所求取的定位数据和/或从借助于定位设备(10、10’)的位置传感器(46)所求取的位置数据和/或从所述定位设备(10、10’)的系统参数中,导出用于导引所述定位设备(10、10’)的操作提示,以便获得对涉及定位的图片信息(20)的经优化的获益。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
技术介绍
在DE102008043190中已经建议了用于定位在研究物体中的对象的方法,在其中,运动传感器单元的至少一个运动特征参量和定位单元的至少一个定位特征参量彼此被评估。
技术实现思路
本专利技术基于用于运行成像的定位设备的方法,在其中,通过定位被隐藏在研究表面下的定位对象,产生了至少二维的图片信息。所建议的是,在使用定位设备的评估装置的情况下,从借助于所述定位设备的定位装置所求取的定位数据和/或从借助于定位设备的位置传感器所求取的位置数据和/或从所述定位设备的系统参数中,导出用于导引所述定位设备的操作提示,以便获得对涉及定位的图片信息的经优化的获益。将成像的定位设备尤其理解为这样的装置,其用于定位被隐藏在研究表面下的定位对象。所述定位设备有利地被设置用于:通过转移定位(尤其由于相对于所述研究表面的移动或位移),在被隐藏在所述研究表面下的定位对象方面,执行连续地研究和测量所述研究表面。优选地,所述定位设备还用于至少以直观地能够理解的图片的形式输出(尤其定位结果的)测量结果并且在此意义中表现为“成像的”定位设备。“成像”由此尤其表征定位设备的性能,由于定位过程而提供所述定位结果的、尤其至少二维的图片信息的图像方面的展示并且将该展示输出给所述定位设备的使用者。将“转换定位”尤其理解为在任意的方向上的所执行的移动、运动、位移、旋转、转动或相对于所述研究表面的定位设备的位置的和/或定向的另外方式的改变。将研究表面尤其理解为关于隐藏的定位对象有待研究的物品或工件的表面。例如并且并不封闭地,所述工件能够指的是建筑材料、壁、底部、盖部、无缝地面、有机的产物(也尤其是体部的部分)和/或场地的部分。所述物体或所述工件能够例如尤其由木、玻璃、塑料、混凝土、石、瓷砖、石膏、金属、有机材料等。此外,在原则上也能够研究液体。材料(该材料与有待研究的物体的材料不同或该材料的物理性质不同于有待研究的物体的材料的物理性质)的夹杂物表现为示例的定位对象。对于这样的定位对象的典型的示例是电流线路、管、气体线路、中空室、钢筋等,它们隐藏在建筑物壁中。所述成像的定位设备为了执行定位而具有至少一个定位装置,该定位装置设置用于:测定用于被隐藏在研究表面下的定位对象的定位数据。优选地,在所述定位时,不需要在所述定位装置和有待定位的定位对象之间的直接的、尤其触觉的接触。应该将定位装置尤其理解为一种装置,其具有器件,该器件被设置用于:测定物理的和/或化学的参量并且转换为电地能够评估的信号,该参量能够推断出存在定位对象。优选地,定位装置被设置用于:借助于评估电的和/或磁性的场变化或被照射进有待研究的材料的辐射的运行时间变化,侦测被隐藏在工件中的定位对象。尤其,所述定位装置包括为了运行所述器件而必要的组件、电的电路等。优选地,所述定位装置的所述器件具有由一个编组的传感器形成的定位传感器,该编组至少包括:电感式的传感器、例如涡流传感器、脉冲感应传感器、发射-接收-传感器或磁场传感器,以及电容式的传感器、AC传感器、雷达传感器、尤其超宽带雷达传感器和宽带脉冲雷达传感器、微波传感器、超声波传感器、温度传感器、冲击回波传感器、势场传感器、电阻传感器、传导率传感器、湿度传感器、NMR传感器等。应该将“设置”尤其理解为专门地进行“编程”、“设计”和/或“配备”。应该将“将一个对象“设置”用于特定的功能”尤其理解为:该对象在至少一个使用状态和/或运行状态中满足和/或实施此特定的功能或被设计用于满足所述功能。尤其,所述定位装置、尤其定位装置的定位传感器在所述定位设备的相应的关于所述研究表面的测量位置处测定一个或多个传感器原始值Sk,n,其中,指标k能够表征所述定位传感器的不同的传感器值,并且指标n表征所述传感器原始值对于相应的测量位置(xn,yn)的从属性,在该测量位置处测量该传感器原始值。定位装置,尤其所述定位装置的被设置用于运行所述定位传感器的器件从定位传感器的原始值Sk,n中计算传感器值Sm,n。在最简单的情况中,所述计算通过相同的构形,在复杂的情况中通过线性的构形,例如求和、求差、加权,也或者非线性的构形,例如通过分类来实现。这些传感器值Sm,n表现为所述定位装置的在该专利的框架中所提到的定位数据。为了确定所述相应的测量位置,所述成像的定位设备优选地具有位置传感器。将位置传感器尤其理解为一种装置,该装置设置用于:确定相对于所述研究表面的所述位置传感器的当前的位置(优选地以及所述位置传感器的定向)和由此所述定位设备的当前的位置并且以位置数据的形式输出给所述定位设备,以用于进一步的处理。在此,所述当前的位置和/或定向能够相对于或绝对于先前的位置和/或定向,尤其关于至少一个位置固定的基准点,尤其关于不依赖于所述定位设备的位置固定的基准点被测定。在一个优选的实施方式中,所述位置传感器能够例如构造为光学的和/或机械的行程路径传感器,其在一个运行状态中测定定位设备在所述研究表面上的运动和/或转动。作为备选方案或附加方案,所述位置传感器也能够基于其它的、对本领域技术人员表现为适当的测量方法,例如在使用惯性传感装置的情况下或在构造超声波传感器、气压传感器或GPS传感器的情况中。尤其,所述位置传感器能够具有由一个编组的传感器形成的一个或多个传感器,该编组至少包括:倾斜敏感的、角度敏感的、距离敏感的、位移敏感的、加速度敏感的以及转动速率敏感的传感器。由所述位置传感器所求取的和所输出的位置数据至少涉及在两个方向上的坐标,该坐标确定在所述研究表面上的所述位置传感器的和由此所述定位设备的位置,例如被代表作为关于所述研究表面的、至少二维的坐标对(xn,yn)。此外同样能够考虑的是,所述位置数据指的是多维的坐标,该坐标例如也考虑关于所述研究表面的所述定位设备的定向。所述位置数据能够以带有等距的间距的栅格为形式均匀地布置在所述研究表面上,或者优选地(跟随所述定位设备关于所述研究表面的任意的运动行程)不均匀地分配在所述研究表面上。将评估装置理解为一种装置,该装置具有信息输进部、信息处理单元以及信息输出部。信息输进部用于接纳被借助于所述定位装置所求取的定位数据以及被借助于所述位置传感器所求取的位置数据。信息处理单元用于处理、尤其评估所接纳的数据。所述信息输出部用于继续传递或输出所加工的和/或所评估的数据给所述定位设备的另外的组件,尤其给至控制装置和/或给至存储装置和/或给至数据通信接口和/或给至显示装置。有利地,所述评估装置具有组件,该组件包括所述至少一个处理器、存储器和带有评估和计算程式的运行程序。尤其,所述评估装置的电子的构件能够布置在电板上。尤其优选地,所述评估装置的电子的构件实现为微控制器的形式。此外,所述控制装置和评估装置能够尤其优选地也构造为单个的构件。作为备选方案或附加方案,所述评估装置也能够与所述显示装置的组件构造为单个的构件。评估装置至少被设置用于:通过将至少一个定位装置的定位数据配设给位置数据,确定和/或提供至少二维的图片信息尤其给所述定位设备的另外的组件,以便进一步进行处理。所述评估装置还能够优选地具有用于加工和/或分析定位数据和/和位置数据的评估程式,尤其调节程式、控制程式、分析程式、计算程式、配设程式、换算程式、统计的评估程式本文档来自技高网...
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【技术保护点】
用于运行成像的定位设备(10、10’)的方法,在该方法中,通过定位被隐藏在研究表面(34)下的定位对象(36),产生至少二维的图片信息(20),其特征在于,在使用定位设备(10、10’)的评估装置(30)的情况下,从借助于所述定位设备(10、10’)的定位装置(38)所求取的定位数据和/或从借助于定位设备(10、10’)的位置传感器(46)所求取的位置数据和/或从所述定位设备(10、10’)的系统参数中,导出用于导引所述定位设备(10、10’)的操作提示,以便获得对涉及定位的图片信息(20)的经优化的获益。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2014.06.25 DE 102014212131.01.用于运行成像的定位设备(10、10’)的方法,在该方法中,通过定位被隐藏在研究表面(34)下的定位对象(36),产生至少二维的图片信息(20),其特征在于,在使用定位设备(10、10’)的评估装置(30)的情况下,从借助于所述定位设备(10、10’)的定位装置(38)所求取的定位数据和/或从借助于定位设备(10、10’)的位置传感器(46)所求取的位置数据和/或从所述定位设备(10、10’)的系统参数中,导出用于导引所述定位设备(10、10’)的操作提示,以便获得对涉及定位的图片信息(20)的经优化的获益。2.按照权利要求1所述的用于运行成像的定位设备(10、10’)的方法,其特征在于,在使用评估装置(30)的情况下,通过优化目标函数来计算操作提示。3.按照权利要求2所述的用于运行成像的定位设备(10、10’)的方法,其特征在于,所述操作提示通过优化所述目标函数在考虑来自一个编组的参数的至少一个参数的情况下来计算,其中,该编组的参数至少包括:-定位设备(10、10’)的位置数据的分布,-在关于所述研究表面(34)的所述定位设备(10、10’)的不同的位置处的定位数据的信噪比,-关于所使用的评估算法和/或内插算法的特性的经验认知,-在相邻的定位数据的关联中的偏差,-经验的和/或在定位期间所获得的关于对于在定位设备(10、10’)的相对于所述研究表面(34)的预期的和实际的位置之间的偏差的概率的认知。4.按照权利要求2-3中任一项所述的用于运行成像的定位设备(10、10’)的方法,其特征在于,所述目标函数在参考栅格(70)的栅格点(72)以及测量位置(44)的情况下被限定为间距参量与平均的间距参量的偏差的总和,-其中,所述间距参量对于栅格点(72)的至少一个子集的每个栅格点(72)被计算作为所述栅格点(72)与N个最接近的测量位置44(Rn)的平均的间距,并且-所述平均的间距参量被计算作为所述间距参量的平均值。5.按照权利要求2-4中任一项所述的用于运行成像的定位设备(10、10’)的方法,其特征在于,目标函数被定义为分布函数,其中,该分布函数的值在一个位置处利用在该位置的周围环境中的所述定位数据的离差进行放缩,并且该放缩因数依赖于多个在该周围环境中的定位数据。6.按照权利要求1-5中任一项所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员:T齐博尔德
申请(专利权)人:罗伯特·博世有限公司
类型:发明
国别省市:德国;DE

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