本实用新型专利技术涉及一种半入耳式耳机测试工装。该测试工装中具有用于容纳半入耳式耳机的容纳槽,所述容纳槽具有与外界连通的主声孔和入口,所述入口配置为供半入耳式耳机从入口处插入容纳槽,容纳槽的侧壁上具有从所述主声孔延伸到所述入口的泄声槽,所述主声孔配置为与半入耳式耳机的出声孔位置相对,所述泄声槽配置为与半入耳式耳机的泄声孔位置相对。本实用新型专利技术所要解决的一个技术问题是如何更准确的模拟半入式耳机的使用环境。
【技术实现步骤摘要】
本技术属于电子产品加工
,具体地,本技术涉及一种半入耳式耳机的测试工装。
技术介绍
随着电子产品的逐渐发展,相关的电子配件例如耳机、连接线等也需要更新换代。对于耳机产品,为了产生更好的声音效果,为用户提供优质的声音体验,本领域技术人员开发了半入耳式耳机。这种耳机具有一个主声孔和一个泄声孔,在佩戴时,主声孔朝向耳道的内部,而泄声孔则朝向耳道侧壁。泄声孔可能与耳道贴合,也有可能存在一定间隙。这种耳机能够提供更好的声音效果,但是由于设置有主声孔和泄声孔两个出声结构,所以性能测试的难度较大,不易模拟出实际使用时的环境,难以得到准确的声音性能数据。在现有技术中,常用的有两种半入耳式耳机的测试方法。一种是将耳机放入HATS仿真假人的耳部进行测试,由于仿真假人的结构高度接近人体,且材料的性质类似与人体,所以,这种测试方式得到的声音性能数据被本领域技术人员认为具有代表性和可靠性。但是,由于HATS仿真假人的价格昂贵,如果在生产中采用HATS仿真假人进行批量测试,则成本过高。这种测试方法不适合工业生产。另一种测试方法是将半入耳式耳机放入封闭的测试工装中,工装具有声口,耳机主声孔发出的声音可以从声口传出。将测试工装安装到例如IEC711等仿真耳中,之后对耳机的声音进行测试。这种测试方式虽然也能够得到耳机的声音性能数据,但是,由于半入耳式耳机的特殊结构,测试环境与实际佩戴时的环境有所不同,测试数据无法准确反映耳机在佩戴时的声音情况。所以,有必要对半入耳式耳机的测试方式进行改进,提高测试条件与真是佩戴环境的相似度,降低测试成本。
技术实现思路
本技术的一个目的是提供一种改进的耳机测试工装。根据本技术的一个方面,提供了一种半入耳式耳机测试工装,该测试工装中具有用于容纳半入耳式耳机的容纳槽,所述容纳槽具有与外界连通的主声孔和入口,所述入口配置为供半入耳式耳机从入口处插入容纳槽,容纳槽的侧壁上具有从所述主声孔延伸到所述入口的泄声槽,所述主声孔配置为与半入耳式耳机的出声孔位置相对,所述泄声槽配置为与半入耳式耳机的泄声孔位置相对。可选地,所述测试工装整体呈圆柱体结构,所述容纳槽沿圆柱体结构的轴线延伸,所述主声孔从圆柱体结构的一个底面与外界连通,所述入口从圆柱体结构的另一个底面与外界连通。可选地,所述测试工装的入口处具有台阶结构,所述台阶结构位于所述泄声槽一侧,所述泄声槽以及泄声槽两侧的容纳槽的侧壁沿所述台阶结构向上延伸。可选地,所述测试工装中设置有与所述主声孔连通的装配结构,所述装配结构配置为能与仿真耳对接。可选地,所述装配结构为装配槽。可选地,所述泄声槽的宽度配置为大于半入耳式耳机的泄声孔的直径。可选地,所述容纳槽的侧壁配置为具有与半入耳式耳机的外形相匹配的曲面。本技术的一个技术效果在于,所述半入耳式耳机测试工装能够更准确的模拟出半入耳式耳机佩戴在耳道中的环境条件,提高测试准确度。通过以下参照附图对本技术的示例性实施例的详细描述,本技术的其它特征及其优点将会变得清楚。附图说明构成说明书的一部分的附图描述了本技术的实施例,并且连同说明书一起用于解释本技术的原理。图1是本技术提供的半入耳式耳机测试工装的立体结构图;图2是本技术提供的半入耳式耳机测试工装的俯视图;图3是本技术提供的半入耳式耳机测试工装的侧面剖视图。具体实施方式现在将参照附图来详细描述本技术的各种示例性实施例。应注意到:除非另外具体说明,否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、数字表达式和数值不限制本技术的范围。以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的,决不作为对本技术及其应用或使用的任何限制。对于相关领域普通技术人员已知的技术和设备可能不作详细讨论,但在适当情况下,所述技术和设备应当被视为说明书的一部分。在这里示出和讨论的所有例子中,任何具体值应被解释为仅仅是示例性的,而不是作为限制。因此,示例性实施例的其它例子可以具有不同的值。应注意到:相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项,因此,一旦某一项在一个附图中被定义,则在随后的附图中不需要对其进行进一步讨论。本技术提供了一种改进的半入耳式耳机测试工装,这种测试工装能够更好的模拟半入耳式耳机佩戴在耳内时的环境条件,从而得到更准确的耳机性能测试数据。所述测试工装中具有用于容纳半入耳式耳机的容纳槽,该容纳槽中具有与外界连通的主声孔和入口,半入耳式耳机可以从所述入口处放入容纳槽中。其中,容纳槽的侧壁上具有从所述主声孔延伸到入口处的泄声槽。当半入耳式耳机从所述入口放入容纳槽中时,耳机的出声孔正对所述容纳槽的主声孔的位置,而耳机的泄声孔与所述泄声槽的位置相对。本技术提供的测试工装能够与半入耳式耳机配合模拟出耳机佩戴时的环境条件。具体地,耳机的出声孔朝向耳道内部,测试工装的主声孔与出声孔位置相对,形成一条模拟耳道的声音通道;耳机的泄声孔朝向耳道侧壁,泄声孔与耳道侧壁之间通常有缝隙,该缝隙有可能连通到耳道内部和外部,测试工装的泄声槽与泄声孔位置对应,泄声槽避让出一条连通所述主声孔和入口的空隙,模拟耳机泄声孔与耳道之间的环境。容纳槽的侧壁包封在半入耳式耳机的外壳上,至少在所述主声孔以及泄声槽的周围形成与耳机外壳形成密封条件,模拟出耳机佩戴在耳道中的环境。通过本技术提供的测试工装对耳机进行测试,得到的性能数据与使用HATS仿真假人进行测试得到的性能数据接近,可靠性更强。具体地,如图1、2所示,在本技术的一种具体实施方式中,所述测试工装整体呈圆柱体结构,所述容纳槽1在圆柱体结构内部,特别地,容纳槽1的延伸方向沿着圆柱体结构的轴线。其中,所述主声孔2从圆柱体结构的一个底面与外界连通,即圆柱体结构的一个底面上具有主声孔2的开口;所述入口3从圆柱体结构的另一个底面与外界连通,即所述容纳槽1从圆柱体结构的另一个底面向外开口。圆柱体的测试工装更适合用于容纳耳机,且整体结构易于其它测试设备装配。半入耳式耳机在佩戴时,其泄声孔与耳道侧壁相对,耳道侧壁从与泄声孔相对的位置继续向耳道外侧延伸。为了模拟这段向外延伸的耳道,优选地,如图1、3所示,所述测试工装的入口3处可以具有台阶结构31,所述台阶结构31位于容纳槽1的泄声槽12一侧。所述台阶结构31将泄声槽12一侧的入口3向上抬高,也即延长了泄声槽12和容纳槽1的侧壁11的高度。所述泄声槽12以及泄声槽12两侧的容纳槽1的侧壁11沿着台阶结构31继续向上延伸一段距离,直到所述入口3的端面处。这种优选的实施方式更接近耳机佩戴在耳道中的环境,能够得到可靠性更高的测试数据。特别地,所述测试工装中可以设置有装配结构,所述装配结构与所述主声孔连通,以便声音能够从主声孔传到装配结构所在的区域。为了进行声音测试,所述测试工装往往需要设置在其它测试设备上。所述装配结构起到固定装配的作用,以使测试工装能够稳定、不漏声地设置在测试设备上。例如,与测试工装对接的测试设备可以是仿真耳等,本技术并不对此进行限制。可选地,在一种实施方式中,如图3所示,所述装配结构4为呈圆柱体的装配槽,所述装配槽用于使所述测试工装套接在仿真耳上。可选地,所述泄声槽12的宽度可以配置为略宽于半入耳式耳机的泄声孔的直径,这样,泄声孔的全部区域都本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种半入耳式耳机测试工装,其特征在于,测试工装中具有用于容纳半入耳式耳机的容纳槽(1),所述容纳槽(1)具有与外界连通的主声孔(2)和入口(3),所述入口(3)配置为供半入耳式耳机从入口(3)处插入容纳槽(1),容纳槽(1)的侧壁(11)上具有从所述主声孔(2)延伸到所述入口(3)的泄声槽(12),所述主声孔(2)配置为与半入耳式耳机的出声孔位置相对,所述泄声槽(12)配置为与半入耳式耳机的泄声孔位置相对。
【技术特征摘要】
1.一种半入耳式耳机测试工装,其特征在于,测试工装中具有用于容纳半入耳式耳机的容纳槽(1),所述容纳槽(1)具有与外界连通的主声孔(2)和入口(3),所述入口(3)配置为供半入耳式耳机从入口(3)处插入容纳槽(1),容纳槽(1)的侧壁(11)上具有从所述主声孔(2)延伸到所述入口(3)的泄声槽(12),所述主声孔(2)配置为与半入耳式耳机的出声孔位置相对,所述泄声槽(12)配置为与半入耳式耳机的泄声孔位置相对。2.根据权利要求1所述的半入耳式耳机测试工装,其特征在于,所述测试工装整体呈圆柱体结构,所述容纳槽(1)沿圆柱体结构的轴线延伸,所述主声孔(2)从圆柱体结构的一个底面与外界连通,所述入口(3)从圆柱体结构的另一个底面与外界连通。3.根据权利要求1所述的半入耳式耳机测试工装,...
【专利技术属性】
技术研发人员:徐世超,张献春,
申请(专利权)人:歌尔股份有限公司,
类型:新型
国别省市:山东;37
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